Pengukuran Multi-Fungsi (MFM/EFM) Untuk Studi Ilmiah yang Ditargetkan

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih yang dirancang untuk pengukuran multifungsi, menawarkan fleksibilitas dan presisi yang tak tertandingi dalam pencitraan dan analisis skala nano.AFM canggih ini mengintegrasikan berbagai mode pengukuran, termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Magnetic Force Microscope (MFM) dan analisis Force Curve,membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja di garis depan nanoteknologi dan ilmu material.

Salah satu fitur menonjol dari AFM ini adalah rentang pemindaian yang luar biasa dari 100 μm * 100 μm * 10 μm,yang memungkinkan pengguna untuk mengeksplorasi topografi permukaan dan properti di seluruh area yang luas dengan presisi tinggiKemampuan pemindaian yang luas ini memastikan bahwa fitur nanoskala besar dan halus dapat ditandai dengan akurat tanpa mengorbankan resolusi atau detail.

Instrumen ini memiliki tingkat kebisingan yang sangat rendah di arah Z, diukur hanya 0,04 Nm.memungkinkan peneliti untuk mendeteksi variasi halus dalam morfologi permukaan dan sifat material dengan resolusi nanometerSensitivitas seperti itu sangat penting untuk aplikasi yang membutuhkan pengukuran kekuatan yang tepat dan interaksi permukaan pada skala atom atau molekul.

AFM mendukung beberapa mode kerja untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan kondisi eksperimen.di mana probe mempertahankan kontak terus menerus dengan permukaan sampelTap Mode, yang meminimalkan kerusakan pada sampel yang halus dengan secara intermiten bersentuhan dengan permukaan; Mode Imaging Phase, yang memberikan kontras rinci berdasarkan sifat material; Lift Mode,digunakan untuk memisahkan sinyal topografi dan sinyal magnetik atau elektrostatik; dan Multi-directional Scanning Mode, yang meningkatkan akurasi gambar dengan memindai sampel dari berbagai sudut.Fleksibilitas ini memastikan bahwa pengguna dapat menyesuaikan pendekatan mereka dengan kebutuhan khusus penelitian mereka.

Selain kemampuan teknisnya, AFM dapat menampung sampel hingga ukuran 25 mm, menyediakan ruang yang cukup untuk berbagai jenis spesimen,dari wafer semikonduktor dan jaringan biologis hingga polimer dan bahan nanostrukturKompatibilitas ukuran sampel yang murah hati ini memperluas ruang lingkup studi potensial dan memfasilitasi integrasi yang mulus ke dalam alur kerja laboratorium yang ada.

Dirancang dengan resolusi nanometer di intinya, AFM ini memberikan pencitraan permukaan yang rinci dan analisis kuantitatif yang penting untuk memajukan nanosains dan nanoteknologi.Dengan menggabungkan mode pengukuran multifungsi dengan rentang pemindaian yang luas dan kinerja kebisingan yang sangat rendah, memungkinkan pengguna untuk melakukan penyelidikan komprehensif tentang sifat listrik, magnet, piezoelektrik, dan mekanik pada skala nanometer.

Apakah digunakan untuk penelitian akademik, kontrol kualitas industri, atau pengembangan bahan canggih, AFM ini menonjol sebagai instrumen yang kuat dan dapat diandalkan.Integrasi dari beberapa teknik mikroskop dalam satu platform tidak hanya merampingkan proses eksperimen tetapi juga meningkatkan kedalaman dan luas data yang dapat diperolehHal ini membuatnya aset yang tak ternilai bagi siapa saja yang ingin mendorong batas-batas nanoscale karakterisasi dan inovasi.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Nonlinearity: 0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z
• Ukuran sampel: Hingga 25 mm
• Kemampuan pengukuran multifungsi:
  • Mikroskop Kekuatan Elektrostatik (EFM)
  • Scanning Kelvin Microscope (KPFM) untuk Scanning Kelvin Probe Microscopy
  • Mikroskop Kekuatan Piezoelektrik (PFM)
  • Mikroskop Kekuatan Magnetik (MFM)
  • Analisis kurva gaya untuk pengujian nanomekanik
• Titik Sampling Gambar: Resolusi maksimum gambar probe pemindaian adalah 4096*4096 piksel
• Modus Kerja:
  • Mode Kontak
  • Mode Ketuk
  • Mode Pencitraan Fase
  • Mode Angkat
  • Mode Pemindaian Berbagai Arah
• Kemampuan pengujian nanomekanik lanjutan untuk karakterisasi bahan yang tepat

Parameter teknis:

Mikroskop Kekuatan Atom ini berfungsi sebagai Platform Karakterisasi Nanoskala mutakhir, memungkinkan Analisis Nanoskala dengan Resolusi Atom untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri.

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, dengan bangga dibuat di Cina, adalah alat mutakhir yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah canggih.Kemampuan pengukuran multifungsi termasuk Mikroskopi Kekuatan Elektrostatik (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), dan analisis Force Curve,membuat alat yang sangat serbaguna untuk peneliti dan insinyur yang bekerja di nanoscale.

Dalam bidang pengujian nanomekanik, AtomEdge Pro unggul dengan memberikan pengukuran yang tepat dari sifat mekanik pada skala nanometer.penelitian semikonduktor, dan pengembangan biomaterial, di mana pemahaman mekanika permukaan dan interaksi pada skala yang sangat kecil dapat mengarah pada inovasi dalam desain dan kinerja produk.Sistem nonlinearitas hanya 0.15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z memastikan data yang sangat akurat dan dapat diandalkan, penting untuk analisis kuantitatif di bidang yang menuntut ini.

Piezoresponse Force Microscopy (PFM) adalah bidang aplikasi kunci lain untuk AtomEdge Pro.Teknik ini memungkinkan para peneliti untuk mempelajari bahan piezoelektrik dan ferroelektrik dengan memetakan perilaku elektromekanis mereka dengan resolusi nanoscaleWawasan seperti itu sangat penting untuk pengembangan sensor, aktuator, dan perangkat pengumpulan energi.Rentang pemindaian tinggi 100 μm * 100 μm * 10 μm dikombinasikan dengan kecepatan pemindaian diatur antara 0.1 hingga 30 Hz memberikan fleksibilitas untuk menangkap fitur permukaan rinci secara efisien.Resolusi titik pengambilan sampel gambar maksimum 4096 * 4096 memastikan bahwa bahkan detail terkecil dari gambar probe ditangkap dengan kejelasan yang luar biasa.

Selain PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleAplikasi ini sangat berharga di bidang seperti spintronics, penelitian korosi, dan karakteristik perangkat semikonduktor.

Secara keseluruhan, AtomEdge Pro Atomic Force Microscope dari Truth Instruments sangat ideal untuk laboratorium yang terlibat dalam penelitian nanosains dan nanoteknologi mutakhir.Kemampuan pengukuran multifungsi, dikombinasikan dengan presisi dan resolusi tinggi, memungkinkan penyelidikan rinci tentang sifat material di bawah berbagai kondisi, menjadikannya instrumen penting dalam penelitian akademis, industri R & D,dan skenario kontrol kualitas.

Dukungan dan Layanan:

Produk Atomic Force Microscope (AFM) kami didukung oleh dukungan dan layanan teknis yang komprehensif untuk memastikan kinerja dan kepuasan pelanggan yang optimal.Tim ahli kami memberikan bantuan dengan instalasi, kalibrasi, dan pemeliharaan rutin untuk menjaga AFM Anda beroperasi pada efisiensi puncak.

Kami menawarkan manual pengguna dan sumber daya online yang rinci untuk membantu Anda memahami kemampuan penuh AFM Anda dan memecahkan masalah umum.Pembaruan dan peningkatan perangkat lunak secara teratur tersedia untuk meningkatkan fungsionalitas dan menggabungkan kemajuan teknologi terbaru.

Untuk masalah teknis yang kompleks, spesialis dukungan kami siap untuk menyediakan diagnostik jarak jauh dan, jika perlu, layanan di tempat untuk meminimalkan downtime.kami menyediakan sesi pelatihan dan lokakarya untuk membantu pengguna memaksimalkan potensi sistem AFM mereka.

Kami berkomitmen untuk memberikan dukungan cepat dan efektif sepanjang siklus hidup Mikroskop Kekuatan Atom Anda,memastikan bahwa proyek penelitian dan analisis Anda berjalan dengan lancar dan sukses.

FAQ:

T1: Apa merek dan model dari Atom Force Microscope?

A1: Mikroskop Kekuatan Atom berasal dari merek Truth Instruments, dan nomor modelnya adalah AtomEdge Pro.

T2: Di mana mikroskop AtomEdge Pro Atomic Force diproduksi?

A2: AtomEdge Pro diproduksi di Cina.

T3: Apa fitur utama dari Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro menawarkan pencitraan permukaan resolusi tinggi, pengukuran gaya yang tepat, dan mode pemindaian serbaguna yang cocok untuk berbagai bahan dan aplikasi.

T4: Jenis sampel apa yang dapat dianalisis menggunakan AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro dapat menganalisis berbagai sampel termasuk spesimen biologis, polimer, semikonduktor, dan nanomaterial.

T5: Apakah AtomEdge Pro cocok untuk penelitian dan aplikasi industri?

A5: Ya, AtomEdge Pro dirancang untuk memenuhi kebutuhan penelitian akademis dan kontrol kualitas industri dengan fitur canggih dan keandalan.