Hedefli bilimsel çalışmalar için çok fonksiyonel ölçüm (MFM/EFM)

Ürün Tanımı:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), çok fonksiyonel ölçüm için tasarlanmış son derece gelişmiş bir enstrüman olup, nanoskalede görüntüleme ve analizde eşsiz çok yönlülük ve hassasiyet sunar.Bu en son AFM çeşitli ölçüm modlarını entegre ediyorElektrostatik Kuvvet Mikroskopu (EFM), Tarama Kelvin Sonda Kuvvet Mikroskopu (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskopu (PFM), Manyetik Kuvvet Mikroskopu (MFM) ve Kuvvet Eğri Analizi dahil olmak üzere,Nanoteknoloji ve malzeme bilimi konusunda ön planda çalışan araştırmacılar ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç haline getirmek.

Bu AFM'nin öne çıkan özelliklerinden biri, 100 μm * 100 μm * 10 μm olağanüstü tarama aralığıdır.Kullanıcıların geniş bir alanda yüzey topografilerini ve özelliklerini yüksek hassasiyetle keşfetmelerini sağlayanBu kapsamlı tarama yeteneği, hem büyük ölçekli hem de ince nano ölçekli özelliklerin çözünürlüğü veya ayrıntıları tehlikeye atmadan doğru bir şekilde karakterize edilebilmesini sağlar.

Enstrüman, sadece 0.04 Nm olarak ölçülen Z yönünde etkileyici derecede düşük bir gürültü seviyesine sahiptir. Bu minimum gürültü ayak izi, yüksek sadakat ölçümleri ve güvenilir veriler elde etmek için çok önemlidir.Araştırmacıların yüzey morfolojisinde ve malzeme özelliklerinde nanometre çözünürlüğünde ince değişiklikler tespit etmelerini sağlarBu tür bir hassasiyet, atomik veya moleküler ölçekte kesin kuvvet ölçümleri ve yüzey etkileşimleri gerektiren uygulamalar için gereklidir.

AFM, çok çeşitli numune türlerini ve deney koşullarını karşılamak için çoklu çalışma modlarını destekler.sondanın örnek yüzeyiyle sürekli temas halinde olduğu· Tap Modu, yüzeye aralıksız temas ederek hassas örneklere zarar vermeyi en aza indirgenir; Faz Görüntüleme Modu, malzeme özelliklerine göre ayrıntılı kontrast sağlar; Lift Modu,Topografik ve manyetik veya elektrostatik sinyalleri ayırmak için kullanılır; ve Çok yönlü Tarama Modu, örnekleri çeşitli açılardan tarayarak görüntü doğruluğunu arttırır.Bu esneklik, kullanıcıların yaklaşımlarını araştırmalarının özel gereksinimlerine uyarlayabilmelerini sağlar..

Teknik yeteneklerine ek olarak, AFM, çeşitli numune türleri için geniş bir alan sağlayarak, 25 mm'ye kadar örnek alabilir.Yarım iletken levhalardan ve biyolojik dokulardan polimerlere ve nanostrukturlu malzemelereBu cömert numune boyutu uyumluluğu potansiyel çalışmaların kapsamını genişletir ve mevcut laboratuvar iş akışlarına sorunsuz entegrasyonu kolaylaştırır.

Çekirdekinde nanometre çözünürlüğü ile tasarlanan bu AFM, nanoloji ve nanoteknolojinin ilerlemesi için kritik olan ayrıntılı yüzey görüntüleme ve nicel analiz sunar.Çok fonksiyonel ölçüm modlarını geniş tarama aralığı ve ultra düşük gürültü performansı ile birleştirerek, kullanıcılara nanoskalede elektrik, manyetik, piezoelektrik ve mekanik özelliklerin kapsamlı araştırmalarını gerçekleştirmelerini sağlar.

Akademik araştırma, endüstriyel kalite kontrolü veya gelişmiş malzeme geliştirme için kullanılırsa kullanılsın, bu AFM güçlü ve güvenilir bir araç olarak öne çıkar.Tek bir platformda birden fazla mikroskopi tekniğinin entegre edilmesi sadece deneysel süreçleri kolaylaştırmakla kalmaz aynı zamanda elde edilebilecek verilerin derinliğini ve genişliğini de artırırBu, nano ölçekli karakterizasyon ve inovasyon sınırlarını zorlamak isteyen herkes için paha biçilmez bir varlık haline getiriyor.

Özellikleri:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskopu
• Doğruluk dışı: XY yönünde% 0,15 ve Z yönünde% 1
• Örnek boyutu: 25 mm'ye kadar
• Çok fonksiyonel ölçüm yetenekleri:
  • Elektrostatik Kuvvet Mikroskopu (EFM)
  • Tarama Kelvin Mikroskopu (KPFM)
  • Piezoelektrik kuvvet mikroskopu (PFM)
  • Manyetik Kuvvet Mikroskopu (MFM)
  • Nanomekanik test için kuvvet eğrisi analizi
• Görüntü Örnekleme Noktası: Tarama sondası görüntüsünün maksimum çözünürlüğü 4096*4096 piksel
• Çalışma modları:
  • İletişim Kipi
  • Dokunma Modu
  • Faz Görüntüleme Modu
  • Asansör Modu
  • Çok yönlü tarama modu
• Kesin malzeme karakterize için gelişmiş Nanomekanik Test yetenekleri

Teknik parametreler:

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobu, çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalar için Atomik Çözünürlükle Nanoscale Analizini mümkün kılan en gelişmiş Nanoscale Karakterizasyon Platformu olarak hizmet vermektedir.

Uygulamalar:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskopu, gururla Çin'de üretilen, ileri bilimsel uygulamaların geniş bir yelpazesi için tasarlanmış en gelişmiş bir araçtır.Çok fonksiyonel ölçüm yetenekleri arasında Elektrostatik Kuvvet Mikroskopisi (EFM) vardır., Tarama Kelvin Sonda Kuvvet Mikroskopi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskopi (PFM), Manyetik Kuvvet Mikroskopi (MFM) ve Kuvvet Eğri Analizi,Bu sayede nanoskalada çalışan araştırmacılar ve mühendisler için son derece çok yönlü bir araç haline geldi..

Nanomekanik testler alanında AtomEdge Pro, nanomekanik ölçekte mekanik özelliklerin kesin ölçümlerini sağlayarak öne çıkıyor.Yarım iletken araştırmaları, ve biomaterialler geliştirme, çok küçük ölçeklerde yüzey mekaniğini ve etkileşimlerini anlamak, ürün tasarımında ve performansında yeniliklere yol açabilir.Sistemin sadece 0'luk doğrusal olmamasıXY yönünde %15 ve Z yönünde %1, bu zorlu alanlarda niceliksel analiz için gerekli olan son derece doğru ve güvenilir verileri sağlar.

Piezoresponse Force Microscopy (PFM), AtomEdge Pro için bir diğer önemli uygulama alanıdır.Bu teknik, araştırmacıların pizoelektrik ve ferroelektrik malzemeleri nanoskalet çözünürlüğü ile elektromekanik davranışlarını haritalandırarak incelemelerine izin verir.Bu tür anlayışlar sensörlerin, aktüatörlerin ve enerji toplama cihazlarının geliştirilmesi için hayati önem taşımaktadır.100 μm * 100 μm * 10 μm yüksek tarama aralığı, 0 arasında ayarlanabilir bir tarama hızı ile birleştirildi.1 ila 30 Hz, detaylı yüzey özelliklerini verimli bir şekilde yakalamak için esneklik sağlar.En yüksek görüntü örnekleme noktası çözünürlüğü 4096 * 4096, sonda görüntüsünün en ince ayrıntılarının bile olağanüstü netlikle yakalandığını sağlar.

PFM'nin yanı sıra, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleBu uygulamalar spintronik, korozyon araştırması ve yarı iletken cihaz karakterize edilmesi gibi alanlarda paha biçilmez.

Genel olarak, Truth Instruments'tan AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskopu, en ileri nanobilim ve nano teknoloji araştırmalarıyla uğraşan laboratuvarlar için idealdir.Çok fonksiyonel ölçüm yetenekleri, yüksek hassasiyet ve çözünürlük ile birlikte, çeşitli koşullar altında malzeme özelliklerinin ayrıntılı bir şekilde incelenmesini sağlar, bu da onu akademik araştırma, endüstriyel Ar-Ge,ve kalite kontrolü senaryoları.

Destek ve Hizmetler:

Atomik Kuvvet Mikroskobumuz (AFM) ürünü, en iyi performansı ve müşteri memnuniyetini sağlamak için kapsamlı teknik destek ve hizmetlerle desteklenmektedir.Uzman ekibimiz kurulumda yardımcı oluyor., kalibrasyon ve AFM'nizin en yüksek verimlilikte çalışmasını sağlamak için rutin bakım.

AFM'inizin tüm yeteneklerini anlamanıza ve yaygın sorunları çözmenize yardımcı olmak için ayrıntılı kullanıcı kılavuzları ve çevrimiçi kaynaklar sunuyoruz.İşlevselliği artırmak ve en son teknolojik gelişmeleri dahil etmek için düzenli yazılım güncellemeleri ve yükseltmeleri mevcuttur.

Karmaşık teknik sorunlar için, destek uzmanlarımız uzaktan teşhis sağlamaya ve gerekirse, duraklama süresini en aza indirmek için servis yapmaya hazırdır.Kullanıcıların AFM sistemlerinin potansiyelini en üst düzeye çıkarmasına yardımcı olmak için eğitim seansları ve atölye çalışmaları sunuyoruz..

Atomik Kuvvet Mikroskopunuzun tüm yaşam döngüsü boyunca hızlı ve etkili destek vermeye kararlıyız.Araştırma ve analiz projelerinizin sorunsuz ve başarılı bir şekilde ilerlemesini sağlamak.

Sıkça sorulan sorular:

S1: Atomik Kuvvet Mikroskobunun markası ve modeli nedir?

A1: Atomik Kuvvet Mikroskobu, Truth Instruments markasından ve model numarası AtomEdge Pro'dur.

S2: AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskopu nerede üretiliyor?

A2: AtomEdge Pro Çin'de üretiliyor.

S3: Truth Instruments AtomEdge Pro'nun temel özellikleri nelerdir?

A3: AtomEdge Pro, yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme, hassas kuvvet ölçümleri ve çeşitli malzemeler ve uygulamalar için uygun çok yönlü tarama modları sunar.

S4: AtomEdge Pro ile hangi örnek türleri analiz edilebilir?

A4: AtomEdge Pro, biyolojik numuneler, polimerler, yarı iletkenler ve nanomaterialler de dahil olmak üzere çok çeşitli örnekleri analiz edebilir.

S5: AtomEdge Pro hem araştırma hem de endüstriyel uygulamalar için uygun mu?

A5: Evet, AtomEdge Pro, gelişmiş özellikleri ve güvenilirliği ile hem akademik araştırma hem de endüstriyel kalite kontrolü ihtiyaçlarını karşılamak için tasarlanmıştır.