Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y compris le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à force de sonde à balayage Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM), le microscope à force magnétique (MFM) et l'analyse de la courbe de force,en faisant un outil indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant à l'avant-garde de la nanotechnologie et des sciences des matériaux.

L'une des caractéristiques remarquables de cet AFM est sa plage de balayage exceptionnelle de 100 μm * 100 μm * 10 μm,qui permet aux utilisateurs d'explorer les topographies et les propriétés de surface sur une large zone avec une grande précisionCette vaste capacité de numérisation garantit que les caractéristiques à grande échelle et fines à l'échelle nanométrique peuvent être caractérisées avec précision sans compromettre la résolution ou les détails.

L'instrument possède un niveau de bruit impressionnamment bas dans la direction Z, mesuré à seulement 0,04 Nm. Cette empreinte sonore minimale est cruciale pour obtenir des mesures de haute fidélité et des données fiables,permettant aux chercheurs de détecter des variations subtiles de la morphologie de surface et des propriétés des matériaux avec une résolution nanométriqueUne telle sensibilité est essentielle pour les applications nécessitant des mesures précises des forces et des interactions de surface à l'échelle atomique ou moléculaire.

L'AFM prend en charge plusieurs modes de travail pour s'adapter à un large éventail de types d'échantillons et de conditions expérimentales.lorsque la sonde est en contact continu avec la surface de l'échantillonLe mode "Tap", qui minimise les dommages aux échantillons délicats en contactant intermittemment la surface; le mode "Phase Imaging", qui fournit un contraste détaillé en fonction des propriétés du matériau; le mode "Lift",utilisés pour séparer les signaux topographiques et magnétiques ou électrostatiques; et le mode de numérisation multidirectionnelle, qui améliore la précision de l'image en numérisant des échantillons sous différents angles.Cette flexibilité permet aux utilisateurs d'adapter leur approche aux besoins spécifiques de leur recherche..

En plus de ses capacités techniques, l'AFM peut accueillir des échantillons jusqu'à 25 mm, ce qui offre un espace suffisant pour divers types d'échantillons,des plaquettes à semi-conducteurs et des tissus biologiques aux polymères et matériaux nanostructurésCette grande compatibilité entre les tailles d'échantillons élargit la portée des études potentielles et facilite l'intégration sans heurts dans les processus de laboratoire existants.

Conçu avec une résolution nanométrique au cœur, cet AFM fournit une imagerie détaillée de la surface et une analyse quantitative essentielles à l'avancement des nanosciences et des nanotechnologies.En combinant des modes de mesure multifonctionnels avec une large plage de balayage et des performances de bruit ultra-faible, il permet aux utilisateurs de mener des enquêtes complètes sur les propriétés électriques, magnétiques, piézoélectriques et mécaniques à l'échelle nanométrique.

Qu'il soit utilisé pour la recherche académique, le contrôle de la qualité industrielle ou le développement de matériaux avancés, cet AFM se distingue comme un instrument puissant et fiable.L'intégration de plusieurs techniques de microscopie au sein d'une seule plate-forme simplifie non seulement les processus expérimentaux, mais augmente également la profondeur et l'étendue des données pouvant être obtenuesCela en fait un atout inestimable pour quiconque cherche à repousser les limites de la caractérisation et de l'innovation à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Non linéaire: 0,15% dans la direction XY et 1% dans la direction Z
• Taille de l'échantillon: jusqu'à 25 mm
• Capacités de mesure multifonctionnelles:
  • Microscope de force électrostatique (MEF)
  • Microscope à scanner Kelvin (KPFM) pour microscopie à sonde à scanner Kelvin
  • Microscope de force piézoélectrique (PFM)
  • Microscope à force magnétique (MFM)
  • Analyse de la courbe de force pour les essais nanomécaniques
• Point d'échantillonnage d'image: la résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096*4096 pixels
• Mode de fonctionnement:
  • Mode de contact
  • Mode de toucher
  • Mode d'imagerie de phase
  • Mode de levage
  • Mode de numérisation multi-directionnelle
• Des capacités avancées de test nanomécanique pour une caractérisation précise des matériaux

Paramètres techniques:

Ce microscope de force atomique sert de plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe, permettant l'analyse à l'échelle nanométrique avec résolution atomique pour diverses applications scientifiques et industrielles.

Applications:

Le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, fabriqué fièrement en Chine, est un outil de pointe conçu pour un large éventail d'applications scientifiques avancées.Ses capacités de mesure multifonctionnelles comprennent la microscopie de force électrostatique (EFM), la microscopie de force par sonde à balayage Kelvin (KPFM), la microscopie de force piézoélectrique (PFM), la microscopie de force magnétique (MFM) et l'analyse de la courbe de force,Il s'agit d'un instrument extrêmement polyvalent pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant à l'échelle nanométrique..

Dans le domaine des tests nanomécaniques, l'AtomEdge Pro excelle en fournissant des mesures précises des propriétés mécaniques à l'échelle nanométrique.recherche sur les semi-conducteurs, et le développement de biomatériaux, où la compréhension de la mécanique de surface et des interactions à très petite échelle peut conduire à des innovations dans la conception et les performances des produits.La non-linéarité du système de seulement 0.15% dans la direction XY et 1% dans la direction Z assurent des données très précises et fiables, indispensables à l'analyse quantitative dans ces domaines exigeants.

La microscopie de force de piézo-réponse (PFM) est un autre domaine d'application clé pour l'AtomEdge Pro.Cette technique permet aux chercheurs d'étudier les matériaux piézoélectriques et ferroélectriques en cartographiant leur comportement électromécanique avec une résolution à l'échelle nanométriqueCes connaissances sont essentielles pour le développement de capteurs, d'actionneurs et de dispositifs de collecte d'énergie.La large plage de balayage de 100 μm * 100 μm * 10 μm combinée à une vitesse de balayage réglable entre 0.1 à 30 Hz fournit une flexibilité pour capturer efficacement les caractéristiques de surface détaillées.la résolution maximale du point d'échantillonnage d'image de 4096 * 4096 garantit que même les plus petits détails de l'image de la sonde sont capturés avec une clarté exceptionnelle.

En plus du PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleCes applications sont inestimables dans des domaines tels que la spintronie, la recherche sur la corrosion et la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est idéal pour les laboratoires engagés dans la recherche de pointe en nanosciences et en nanotechnologie.Ses capacités de mesure multifonctionnelles, combinée à une haute précision et résolution, permettent une étude détaillée des propriétés des matériaux dans diverses conditions, ce qui en fait un instrument essentiel dans la recherche académique, la R & D industrielle,et les scénarios de contrôle de la qualité.

Assistance et services:

Notre produit de microscope de force atomique (AFM) est soutenu par un soutien technique complet et des services pour assurer des performances optimales et la satisfaction du client.Notre équipe d'experts fournit une assistance avec l'installation, l'étalonnage et l'entretien de routine pour maintenir votre AFM fonctionnant à un rendement maximal.

Nous offrons des manuels d'utilisation détaillés et des ressources en ligne pour vous aider à comprendre toutes les fonctionnalités de votre AFM et à résoudre les problèmes courants.Des mises à jour et des mises à niveau régulières du logiciel sont disponibles pour améliorer les fonctionnalités et intégrer les dernières avancées technologiques.

Pour des problèmes techniques complexes, nos spécialistes du support sont prêts à fournir un diagnostic à distance et, si nécessaire, un service sur place pour minimiser les temps d'arrêt.Nous offrons des séances de formation et des ateliers pour aider les utilisateurs à maximiser le potentiel de leurs systèmes AFM.

Nous nous engageons à fournir un soutien rapide et efficace tout au long du cycle de vie de votre microscope de force atomique,s'assurer que vos projets de recherche et d'analyse se déroulent sans heurts et avec succès.

FAQ:

Q1: Quelle est la marque et le modèle du microscope à force atomique?

R1: Le microscope de la force atomique est de la marque Truth Instruments, et le numéro de modèle est AtomEdge Pro.

Q2: Où est fabriqué le microscope AtomEdge Pro?

R2: L'AtomEdge Pro est fabriqué en Chine.

Q3: Quelles sont les principales caractéristiques de l'AtomEdge Pro de Truth Instruments?

R3: L'AtomEdge Pro offre une imagerie de surface haute résolution, des mesures de force précises et des modes de balayage polyvalents adaptés à divers matériaux et applications.

Q4: Quels types d'échantillons peuvent être analysés à l'aide de l'AtomEdge Pro?

R4: L'AtomEdge Pro peut analyser un large éventail d'échantillons, y compris des spécimens biologiques, des polymères, des semi-conducteurs et des nanomatériaux.

Q5: L'AtomEdge Pro est-il adapté à la recherche et aux applications industrielles?

R5: Oui, l'AtomEdge Pro est conçu pour répondre aux besoins de la recherche académique et du contrôle de la qualité industrielle avec ses fonctionnalités avancées et sa fiabilité.