logo

اندازه گیری چند عملکردی (MFM/EFM) برای مطالعات علمی هدفمند

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a highly advanced instrument designed for multifunctional measurement, offering unparalleled versatility and precision in nanoscale imaging and analysis. This state-of-the-art AFM integrates a variety of measurement modes, including Electrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Magnetic Force Microscope (MFM), and Force Curve analysis, making
جزئیات محصول
برجسته کردن:

میکروسکوپ نیروی اتمی برای مطالعات علمی,میکروسکوپ اندازه گیری MFM EFM,میکروسکوپ چند کارکردی برای تحقیقات هدفمند

,

MFM EFM measurement microscope

,

Multi-functional microscope for targeted research

Working Mode: حالت تماس، حالت ضربه زدن، حالت تصویربرداری فاز، حالت لیفت، حالت اسکن چند جهته
Image Sampling Point: حداکثر وضوح تصویر پروب اسکن 4096×4096 است
Scanning Range: 100μm×100μm×10μm
Sample Size: 25 میلی متر
Noise Level In The Z Direction: 0.04 نانومتر
Scanning Rate: 0.1-30 هرتز
Nonlinearity: 0.15% در جهت XY و 1% در جهت Z
Scanning Method: اسکن نمونه کامل سه محوره XYZ

ویژگی های اساسی

نام تجاری: Truth Instruments
شماره مدل: AtomEdge Pro
توضیحات محصول

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته است که برای اندازه‌گیری چند منظوره طراحی شده است و تطبیق‌پذیری و دقت بی‌نظیری را در تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو ارائه می‌دهد. این AFM پیشرفته، انواع حالت‌های اندازه‌گیری، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) و تجزیه و تحلیل منحنی نیرو را ادغام می‌کند و آن را به ابزاری ضروری برای محققان و مهندسانی تبدیل می‌کند که در خط مقدم فناوری نانو و علم مواد کار می‌کنند.

یکی از ویژگی‌های برجسته این AFM، محدوده اسکن استثنایی آن به اندازه 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر است که به کاربران اجازه می‌دهد توپوگرافی و خواص سطح را در یک ناحیه وسیع با دقت بالا بررسی کنند. این قابلیت اسکن گسترده تضمین می‌کند که هم ویژگی‌های بزرگ مقیاس و هم ویژگی‌های ریز مقیاس نانو را می‌توان با دقت و بدون به خطر انداختن وضوح یا جزئیات، مشخص کرد.

این ابزار دارای سطح نویز بسیار پایینی در جهت Z است که تنها 0.04 نانومتر اندازه‌گیری می‌شود. این ردپای نویز کم، برای دستیابی به اندازه‌گیری‌های با وفاداری بالا و داده‌های قابل اعتماد بسیار مهم است و محققان را قادر می‌سازد تا تغییرات ظریف در مورفولوژی سطح و خواص مواد را با وضوح نانومتری تشخیص دهند. چنین حساسیتی برای کاربردهایی که نیاز به اندازه‌گیری دقیق نیرو و تعاملات سطحی در مقیاس اتمی یا مولکولی دارند، ضروری است.

AFM از حالت‌های کاری متعددی برای تطبیق با طیف گسترده‌ای از انواع نمونه‌ها و شرایط آزمایشگاهی پشتیبانی می‌کند. این موارد شامل حالت تماس است، که در آن پروب تماس مداوم با سطح نمونه را حفظ می‌کند. حالت ضربه‌ای، که آسیب به نمونه‌های ظریف را با تماس متناوب با سطح به حداقل می‌رساند. حالت تصویربرداری فاز، که کنتراست دقیقی را بر اساس خواص مواد ارائه می‌دهد. حالت لیفت، که برای جدا کردن سیگنال‌های توپوگرافی و مغناطیسی یا الکترواستاتیک استفاده می‌شود. و حالت اسکن چند جهته، که دقت تصویر را با اسکن نمونه‌ها از زوایای مختلف افزایش می‌دهد. این انعطاف‌پذیری تضمین می‌کند که کاربران می‌توانند رویکرد خود را با الزامات خاص تحقیق خود تنظیم کنند.

علاوه بر قابلیت‌های فنی، AFM می‌تواند نمونه‌هایی تا 25 میلی‌متر را در خود جای دهد و فضای کافی را برای انواع مختلف نمونه‌ها، از ویفرهای نیمه‌رسانا و بافت‌های بیولوژیکی گرفته تا پلیمرها و مواد نانوساختار، فراهم می‌کند. این سازگاری با اندازه نمونه سخاوتمندانه، دامنه مطالعات بالقوه را گسترش می‌دهد و ادغام یکپارچه را در گردش کار آزمایشگاهی موجود تسهیل می‌کند.

این AFM که با وضوح نانومتری در هسته خود طراحی شده است، تصویربرداری دقیق از سطح و تجزیه و تحلیل کمی را ارائه می‌دهد که برای پیشبرد علوم نانو و فناوری نانو بسیار مهم است. با ترکیب حالت‌های اندازه‌گیری چند منظوره با محدوده اسکن وسیع و عملکرد نویز فوق‌العاده کم، به کاربران این امکان را می‌دهد تا تحقیقات جامعی را در مورد خواص الکتریکی، مغناطیسی، پیزوالکتریک و مکانیکی در مقیاس نانو انجام دهند.

چه برای تحقیقات دانشگاهی، کنترل کیفیت صنعتی یا توسعه مواد پیشرفته استفاده شود، این AFM به عنوان یک ابزار قدرتمند و قابل اعتماد برجسته است. ادغام چندین تکنیک میکروسکوپی در یک پلتفرم، نه تنها فرآیندهای آزمایشی را ساده می‌کند، بلکه عمق و وسعت داده‌هایی را که می‌توان به دست آورد، افزایش می‌دهد. این امر آن را به یک دارایی ارزشمند برای هر کسی که به دنبال پیشبرد مرزهای مشخصه‌سازی و نوآوری در مقیاس نانو است، تبدیل می‌کند.


ویژگی‌ها:

  • نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
  • غیرخطی بودن: 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z
  • اندازه نمونه: تا 25 میلی‌متر
  • قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره:
    • میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)
    • میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM) برای میکروسکوپ پروب کلوین اسکن
    • میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)
    • میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
    • تجزیه و تحلیل منحنی نیرو برای تست نانومکانیکی
  • نقطه نمونه‌برداری تصویر: حداکثر وضوح تصویر پروب اسکن 4096*4096 پیکسل است
  • حالت‌های کاری:
    • حالت تماس
    • حالت ضربه‌ای
    • حالت تصویربرداری فاز
    • حالت لیفت
    • حالت اسکن چند جهته
  • قابلیت‌های تست نانومکانیکی پیشرفته برای مشخصه‌سازی دقیق مواد

پارامترهای فنی:

روش اسکن اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ
حالت کاری حالت تماس، حالت ضربه‌ای، حالت تصویربرداری فاز، حالت لیفت، حالت اسکن چند جهته
نرخ اسکن 0.1-30 هرتز
اندازه نمونه 25 میلی‌متر
غیرخطی بودن 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z
نقطه نمونه‌برداری تصویر حداکثر وضوح تصویر پروب اسکن 4096*4096 است
سطح نویز در جهت Z 0.04 نانومتر
محدوده اسکن 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر
اندازه‌گیری چند منظوره میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)، منحنی نیرو

این میکروسکوپ نیروی اتمی به عنوان یک پلتفرم مشخصه‌سازی در مقیاس نانو پیشرفته عمل می‌کند و امکان تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو با وضوح اتمی را برای کاربردهای علمی و صنعتی متنوع فراهم می‌کند.


کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments، که با افتخار در چین ساخته شده است، یک ابزار پیشرفته است که برای طیف گسترده‌ای از کاربردهای علمی پیشرفته طراحی شده است. قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره آن شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) و تجزیه و تحلیل منحنی نیرو است که آن را به ابزاری استثنایی برای محققان و مهندسانی تبدیل می‌کند که در مقیاس نانو کار می‌کنند.

در زمینه تست نانومکانیکی، AtomEdge Pro با ارائه اندازه‌گیری‌های دقیق از خواص مکانیکی در مقیاس نانو، برتری دارد. این امر برای علم مواد، تحقیقات نیمه‌رساناها و توسعه مواد زیستی بسیار مهم است، جایی که درک مکانیک سطح و تعاملات در مقیاس‌های بسیار کوچک می‌تواند منجر به نوآوری در طراحی و عملکرد محصول شود. غیرخطی بودن سیستم تنها 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z، داده‌های بسیار دقیق و قابل اعتمادی را تضمین می‌کند که برای تجزیه و تحلیل کمی در این زمینه‌های پر تقاضا ضروری است.

میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو (PFM) یکی دیگر از زمینه‌های کاربردی کلیدی برای AtomEdge Pro است. این تکنیک به محققان اجازه می‌دهد تا مواد پیزوالکتریک و فروالکتریک را با ترسیم رفتار الکترومکانیکی آن‌ها با وضوح نانومقیاس مطالعه کنند. چنین بینش‌هایی برای توسعه حسگرها، محرک‌ها و دستگاه‌های برداشت انرژی حیاتی است. محدوده اسکن بالا 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر همراه با سرعت اسکن قابل تنظیم بین 0.1 تا 30 هرتز، انعطاف‌پذیری را برای گرفتن ویژگی‌های سطح دقیق به طور موثر فراهم می‌کند. علاوه بر این، حداکثر وضوح نقطه نمونه‌برداری تصویر 4096 * 4096 تضمین می‌کند که حتی ظریف‌ترین جزئیات تصویر پروب با شفافیت استثنایی ثبت می‌شوند.

علاوه بر PFM، قابلیت‌های AtomEdge Pro در میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) و میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM) امکانات بیشتری را برای بررسی خواص مغناطیسی و تغییرات پتانسیل سطح در مقیاس نانومتر باز می‌کند. این کاربردها در زمینه‌هایی مانند اسپینترونیک، تحقیقات خوردگی و مشخصه‌سازی دستگاه‌های نیمه‌رسانا بسیار ارزشمند هستند.

به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments برای آزمایشگاه‌هایی که در تحقیقات پیشرفته علوم نانو و فناوری نانو فعالیت می‌کنند، ایده‌آل است. قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره آن، همراه با دقت و وضوح بالا، امکان بررسی دقیق خواص مواد را تحت شرایط مختلف فراهم می‌کند و آن را به ابزاری حیاتی در تحقیقات دانشگاهی، تحقیق و توسعه صنعتی و سناریوهای کنترل کیفیت تبدیل می‌کند.


پشتیبانی و خدمات:

محصول میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ما با پشتیبانی و خدمات فنی جامع پشتیبانی می‌شود تا عملکرد بهینه و رضایت مشتری را تضمین کند. تیم متخصص ما در نصب، کالیبراسیون و نگهداری معمول به شما کمک می‌کند تا AFM شما با حداکثر راندمان کار کند.

ما دفترچه‌های راهنمای کاربر دقیق و منابع آنلاین را ارائه می‌دهیم تا به شما در درک قابلیت‌های کامل AFM و عیب‌یابی مشکلات رایج کمک کنیم. به‌روزرسانی‌ها و ارتقاهای نرم‌افزاری منظم برای افزایش عملکرد و گنجاندن آخرین پیشرفت‌های فناوری در دسترس هستند.

برای مشکلات فنی پیچیده، متخصصان پشتیبانی ما آماده ارائه تشخیص از راه دور و در صورت لزوم، خدمات در محل برای به حداقل رساندن زمان خرابی هستند. علاوه بر این، ما جلسات آموزشی و کارگاه‌هایی را برای کمک به کاربران در به حداکثر رساندن پتانسیل سیستم‌های AFM خود ارائه می‌دهیم.

ما متعهد به ارائه پشتیبانی سریع و موثر در طول چرخه عمر میکروسکوپ نیروی اتمی شما هستیم و اطمینان حاصل می‌کنیم که پروژه‌های تحقیقاتی و تجزیه و تحلیل شما به آرامی و با موفقیت پیش می‌روند.


سؤالات متداول:

سؤال 1: نام تجاری و مدل میکروسکوپ نیروی اتمی چیست؟

پاسخ 1: میکروسکوپ نیروی اتمی از برند Truth Instruments است و شماره مدل آن AtomEdge Pro است.

سؤال 2: میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro در کجا تولید می‌شود؟

پاسخ 2: AtomEdge Pro در چین تولید می‌شود.

سؤال 3: ویژگی‌های کلیدی Truth Instruments AtomEdge Pro چیست؟

پاسخ 3: AtomEdge Pro تصویربرداری با وضوح بالا از سطح، اندازه‌گیری‌های دقیق نیرو و حالت‌های اسکن متنوع مناسب برای مواد و کاربردهای مختلف را ارائه می‌دهد.

سؤال 4: از چه نوع نمونه‌هایی می‌توان با استفاده از AtomEdge Pro تجزیه و تحلیل کرد؟

پاسخ 4: AtomEdge Pro می‌تواند طیف گسترده‌ای از نمونه‌ها از جمله نمونه‌های بیولوژیکی، پلیمرها، نیمه‌رساناها و مواد نانو را تجزیه و تحلیل کند.

سؤال 5: آیا AtomEdge Pro برای کاربردهای تحقیقاتی و صنعتی مناسب است؟

پاسخ 5: بله، AtomEdge Pro برای پاسخگویی به نیازهای تحقیقات دانشگاهی و کنترل کیفیت صنعتی با ویژگی‌های پیشرفته و قابلیت اطمینان آن طراحی شده است.


درخواست ارسال کنید

دریافت قیمت سریع