AtomExplorer: Microscopio a forza atomica con risoluzione sub-nanometrica

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è uno strumento altamente versatile e affidabile progettato per fornire un'imaging topografico su scala nanometrica preciso con eccezionale accuratezza e stabilità. Progettato per ricercatori e professionisti che richiedono capacità di scansione ad alte prestazioni, questo AFM offre una suite completa di funzionalità che lo rendono uno strumento indispensabile nel campo della nanotecnologia e della scienza dei materiali.

Una delle caratteristiche principali di questo Microscopio a Forza Atomica di tipo Base è la sua impressionante gamma di scansione. Supporta due modalità di funzionamento: un'ampia gamma di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm e una modalità più focalizzata, ad alta risoluzione, di 30 μm * 30 μm * 5 μm. Questa flessibilità consente agli utenti di acquisire strutture superficiali dettagliate su una varietà di dimensioni e tipi di campioni, rendendolo ideale sia per indagini generali che per analisi approfondite a livello nanoscopico.

Il microscopio utilizza un metodo di scansione a tre assi XYZ a campione completo, che garantisce una copertura completa e un controllo preciso sul processo di scansione. Questa tecnica di scansione avanzata consente allo strumento di mantenere un'accuratezza e una ripetibilità costanti su tutta la superficie del campione. Che si stiano esaminando superfici piane o topografie complesse, la capacità di scansione a tre assi garantisce risultati di imaging completi e affidabili.

Adatto a campioni fino a un diametro di Φ 25 mm, l'AFM di tipo Base offre ampio spazio per una vasta gamma di dimensioni di campioni. Questa capacità lo rende adatto a varie applicazioni di ricerca, tra cui materiali semiconduttori, campioni biologici, polimeri e altri materiali nanostrutturati. La compatibilità con campioni di grandi dimensioni aumenta la versatilità e l'usabilità dello strumento in diverse indagini scientifiche.

Oltre all'imaging topografico standard, questo modello AFM include capacità di misurazione multifunzionali che espandono significativamente la sua gamma di applicazioni. Può funzionare come un Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), consentendo l'analisi delle distribuzioni di carica superficiale e delle proprietà elettrostatiche. Come Microscopio a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), fornisce preziose informazioni sul potenziale superficiale e sulle variazioni della funzione di lavoro, che sono fondamentali nella scienza dei materiali e nella ricerca sui semiconduttori.

Il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base supporta anche la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), consentendo lo studio di materiali piezoelettrici e ferroelettrici misurando le risposte elettromeccaniche su scala nanometrica. Inoltre, funziona come un Microscopio a Forza Magnetica (MFM), essenziale per l'indagine sui domini magnetici e sulle nanostrutture magnetiche. Queste modalità multifunzionali rendono lo strumento una potente piattaforma analitica per la caratterizzazione completa della superficie e dei materiali.

Un altro aspetto critico dell'AFM di tipo Base è il suo eccezionale livello di rumore sull'asse Z, che è di soli 0,04 nm. Questo livello di rumore ultra-basso è una testimonianza dell'elevata stabilità dello strumento e dell'ingegneria di precisione, garantendo che anche le caratteristiche superficiali più sottili vengano catturate accuratamente senza interferenze o distorsioni. Il basso livello di rumore è particolarmente vantaggioso quando si eseguono misurazioni sensibili che richiedono alta risoluzione e ripetibilità.

Per i ricercatori e i laboratori che desiderano acquistare apparecchiature per Microscopio a Forza Atomica che combinano affidabilità, funzionalità avanzate e facilità d'uso, il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base si distingue come una scelta eccellente. Il suo design AFM ad alta stabilità garantisce prestazioni costanti, consentendo agli utenti di condurre indagini dettagliate su scala nanometrica con sicurezza.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base offre un perfetto equilibrio tra gamma di scansione, capacità di misurazione multifunzionali e prestazioni di precisione. Che si tratti di ricerca accademica, applicazioni industriali o controllo qualità, questo strumento fornisce imaging topografico su scala nanometrica con accuratezza e versatilità superiori. Le sue robuste funzionalità e il funzionamento intuitivo lo rendono un elemento essenziale per chiunque cerchi di esplorare e comprendere le proprietà dei materiali su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica di tipo Base
• Misurazioni multifunzionali tra cui Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio Kelvin a Scansione (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM) e Microscopio a Forza Magnetica (MFM)
• Supporta la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin per l'analisi avanzata del potenziale superficiale
• Metodo di scansione: Scansione a tre assi XYZ a campione completo per una copertura completa del campione
• Livello di rumore sull'asse Z: 0,04 Nm che garantisce alta precisione e sensibilità
• Compatibilità delle dimensioni del campione: Φ 25 mm per l'alloggiamento di una vasta gamma di campioni
• Modalità operative: Modalità Tap, Modalità Contact, Modalità Lift e Modalità Phase Imaging per opzioni di imaging versatili
• Offre soluzioni AFM personalizzabili su misura per specifiche esigenze di ricerca
• Progettato come un Microscopio su scala nanometrica per la caratterizzazione dettagliata della superficie su scala nanometrica

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomExplorer di Truth Instruments, un Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base originario della Cina, è progettato per soddisfare una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto. Le sue versatili capacità lo rendono uno strumento indispensabile per ricercatori, scienziati e ingegneri che lavorano nella nanotecnologia, nella scienza dei materiali, nella ricerca sui semiconduttori e negli studi biologici.

Una delle principali occasioni di applicazione per il microscopio AFM AtomExplorer è l'imaging topografico su scala nanometrica. Il metodo di scansione a tre assi XYZ a campione completo consente la scansione precisa e completa delle superfici dei campioni fino a Φ 25 mm di dimensioni, consentendo la visualizzazione dettagliata delle strutture superficiali su scala nanometrica. Questo lo rende ideale per la caratterizzazione di materiali come film sottili, polimeri, nanocompositi e campioni biologici in cui la morfologia della superficie gioca un ruolo cruciale.

Le capacità di misurazione multifunzionali dell'AtomExplorer ne espandono significativamente l'usabilità. Con modalità integrate come la Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), la Microscopia a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM) e la Microscopia a Forza Magnetica (MFM), lo strumento può essere impiegato in diversi scenari di ricerca. Ad esempio, la Microscopia a Forza Magnetica MFM consente l'indagine sui domini magnetici e sulle proprietà nei materiali magnetici, rendendola essenziale nella ricerca sull'archiviazione dei dati e nella spintronica.

Le modalità operative come la Modalità Tap, la Modalità Contact, la Modalità Lift e la Modalità Phase Imaging offrono flessibilità nell'imaging di diversi tipi di campioni con proprietà meccaniche variabili. La Modalità Tap viene spesso utilizzata per campioni morbidi o delicati, mentre la Modalità Contact fornisce imaging ad alta risoluzione per superfici rigide. La Modalità Lift aiuta a separare i segnali topografici e magnetici o elettrostatici durante le misurazioni MFM ed EFM, migliorando la chiarezza dei dati.

Inoltre, l'AtomExplorer incorpora la Modalità di inserimento sicuro dell'ago, una tecnologia di protezione della punta che garantisce la longevità della punta della sonda e previene i danni durante l'ingaggio del campione, riducendo i tempi di inattività e i costi di manutenzione. Questa funzionalità è particolarmente vantaggiosa in ambienti ad alto rendimento in cui l'affidabilità e la precisione sono fondamentali.

In sintesi, l'AtomExplorer di Truth Instruments è un microscopio AFM altamente adattabile, adatto per applicazioni che richiedono imaging topografico dettagliato su scala nanometrica e misurazioni di forza multifunzionali. Che venga utilizzato nella ricerca accademica, nel controllo qualità industriale o nello sviluppo di materiali avanzati, le caratteristiche complete e le capacità di scansione di questo strumento lo rendono una scelta eccellente. Per i prezzi, il prezzo è negoziabile e i clienti interessati sono invitati a contattare Truth Instruments per un preventivo dettagliato.