AtomExplorer: Microscopio a forza atomica con risoluzione sub-nanometrica

Descrizione del prodotto:

Il microscopio di forza atomica di tipo base (AFM) è uno strumento altamente versatile e affidabile progettato per fornire immagini topografiche precise su scala nanometrica con una precisione e una stabilità eccezionali.Progettato per ricercatori e professionisti che richiedono capacità di scansione ad alte prestazioni, questo AFM offre una serie completa di caratteristiche che lo rendono uno strumento indispensabile nel campo della nanotecnologia e della scienza dei materiali.

Una delle caratteristiche più importanti di questo microscopio di tipo Basic è la sua impressionante gamma di scansione.un ampio raggio di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm e un raggio di scansione più mirato, modalità di risoluzione superiore di 30 μm * 30 μm * 5 μm. Questa flessibilità consente agli utenti di catturare strutture superficiali dettagliate su una varietà di dimensioni e tipi di campioni,rendendolo ideale sia per ampie indagini che per analisi approfondite a livello nanoscale.

Il microscopio utilizza un metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ, che garantisce una copertura completa e un controllo preciso del processo di scansione.Questa tecnica di scansione avanzata consente allo strumento di mantenere una precisione e una ripetibilità costanti su tutta la superficie del campioneSia che si stia esaminando superfici piane o topografie complesse, la capacità di scansione a tre assi garantisce risultati di imaging accurati e affidabili.

Con capacità di accoglienza di campioni fino a un diametro di Φ 25 mm, l'AFM di tipo Basic offre ampio spazio per una vasta gamma di dimensioni di campioni.compresi i materiali semiconduttoriLa grande compatibilità delle dimensioni del campione migliora la versatilità e l'usabilità dello strumento in diverse indagini scientifiche.

Oltre all'imaging topografico standard, questo modello AFM include funzionalità di misurazione multifunzionali che ampliano significativamente la sua gamma di applicazioni.Può funzionare come un microscopio di forza elettrostatica (EFM), che consente l'analisi delle distribuzioni di carica superficiale e delle proprietà elettrostatiche.fornisce informazioni preziose sulle variazioni del potenziale di superficie e delle funzioni di lavoro, che sono fondamentali nella scienza dei materiali e nella ricerca sui semiconduttori.

Il microscopio di forza atomica di tipo base supporta anche la microscopia di forza piezoelettrica (PFM),che consente lo studio di materiali piezoelettrici e ferroelettrici misurando le risposte elettromeccaniche su scala nanometricaInoltre, esso funziona come un microscopio a forza magnetica (MFM), essenziale per indagare i domini magnetici e le strutture nanomagnetiche.Queste modalità multifunzionali rendono lo strumento una potente piattaforma analitica per la caratterizzazione completa delle superfici e dei materiali.

Un altro aspetto critico dell'AFM di tipo Basic è il suo eccezionale livello di rumore dell'asse Z, che è basso fino a 0,04 nm.Questo pavimento a bassissimo rumore è una testimonianza del design di alta stabilità dello strumento e dell'ingegneria di precisione, garantendo che anche le caratteristiche più sottili della superficie siano catturate con precisione senza interferenze o distorsioni.Il basso livello di rumore è particolarmente utile quando si eseguono misurazioni sensibili che richiedono un'elevata risoluzione e ripetibilità.

Per i ricercatori e i laboratori che cercano di acquistare apparecchiature per il microscopio atomico che combinano affidabilità, funzionalità avanzate e facilità d'uso,il microscopio di forza atomica di tipo base si distingue come una scelta eccellenteIl suo design AFM ad alta stabilità garantisce prestazioni costanti, consentendo agli utenti di condurre con sicurezza indagini dettagliate su scala nanometrica.

In sintesi, il microscopio di forza atomica di tipo Basic offre un perfetto equilibrio tra la gamma di scansione, le capacità di misurazione multifunzionale e le prestazioni di precisione.applicazioni industriali, o controllo qualità, questo strumento fornisce immagini topografiche su scala nanometrica con precisione e versatilità superiori.Le sue caratteristiche robuste e il suo funzionamento user-friendly lo rendono una risorsa essenziale per chiunque cerchi di esplorare e comprendere le proprietà dei materiali su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica di tipo base
• Misurazioni multifunzionali, tra cui microscopio elettrostatico (EFM), microscopio di Kelvin (KPFM), microscopio piezoelettrico (PFM) e microscopio di forza magnetica (MFM)
• Supporta la microscopia di forza della sonda Kelvin per analisi avanzata del potenziale superficiale
• Metodo di scansione: XYZ Scansione a campione completo su tre assi per una copertura completa del campione
• Livello di rumore dell'asse Z: 0,04 nm che garantisce un'elevata precisione e sensibilità
• Compatibilità delle dimensioni del campione: Φ 25 mm per una vasta gamma di campioni
• Moduli operativi: Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode per opzioni di imaging versatili
• Offre soluzioni AFM personalizzabili su misura per esigenze di ricerca specifiche
• Progettato come un microscopio su nanoscala per la caratterizzazione dettagliata della superficie su scala nanometrica

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomExplorer di Truth Instruments, un microscopio di forza atomica di tipo base (AFM) originario della Cina, è progettato per soddisfare una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto.La sua versatilità ne fa uno strumento indispensabile per i ricercatori, scienziati e ingegneri che lavorano in nanotecnologia, scienza dei materiali, ricerca sui semiconduttori e studi biologici.

Una delle principali applicazioni del microscopio AtomExplorer AFM è la topografia su scala nanometrica.Il metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ consente una scansione precisa e completa di superfici di campione fino a Φ 25 mm di dimensione, che consente la visualizzazione dettagliata delle strutture superficiali a nanoscala, rendendola ideale per la caratterizzazione di materiali quali film sottili, polimeri, nanocompositi,e campioni biologici in cui la morfologia superficiale svolge un ruolo cruciale.

Le capacità di misurazione multifunzionale dell'AtomExplorer ne ampliano significativamente l'usabilità.Microscopia a sonda di Kelvin di scansione (KPFM), la microscopia di forza piezoelettrica (PFM) e la microscopia di forza magnetica (MFM), lo strumento può essere impiegato in diversi scenari di ricerca.La microscopia della forza magnetica MFM consente di indagare i domini magnetici e le proprietà dei materiali magnetici, rendendolo essenziale nella ricerca sullo storage dei dati e nella spintronica.

Le modalità operative come Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode offrono flessibilità nell'imaging di diversi tipi di campioni con proprietà meccaniche diverse.La modalità Tap è spesso utilizzata per campioni morbidi o delicati, mentre la modalità di contatto fornisce immagini ad alta risoluzione per superfici rigide.miglioramento della chiarezza dei dati.

Inoltre, l'AtomExplorer incorpora la modalità di inserimento sicuro dell'ago, una tecnologia di protezione della punta che garantisce la longevità della punta della sonda e previene danni durante l'impegno del campione,ridurre i costi di inattività e di manutenzioneQuesta caratteristica è particolarmente utile in ambienti ad elevato throughput in cui l'affidabilità e la precisione sono fondamentali.

In sintesi, l'AtomExplorer di Truth Instruments è un microscopio AFM altamente adattabile adatto alle applicazioni che richiedono immagini topografiche dettagliate su nanoscala e misurazioni di forza multifunzionali.Se utilizzato nella ricerca accademica, controllo di qualità industriale o sviluppo di materiali avanzati, le caratteristiche complete e le capacità di scansione di questo strumento lo rendono una scelta eccellente.e i clienti interessati sono invitati a contattare Truth Instruments per un preventivo dettagliato.