AtomExplorer: Atoomkrachtmicroscoop met sub-nanometer resolutie

Productbeschrijving:

De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer veelzijdig en betrouwbaar instrument dat is ontworpen om nauwkeurige nano-schaal topografiebeelden te leveren met uitzonderlijke nauwkeurigheid en stabiliteit.Ontworpen voor onderzoekers en professionals die hoge scanningskwaliteiten vereisen, biedt deze AFM een uitgebreide reeks functies die het een onmisbaar hulpmiddel maken op het gebied van nanotechnologie en materiaalwetenschappen.

Een van de opvallende kenmerken van deze basistype Atoomkrachtmicroscoop is het indrukwekkende scanningbereik.een breed scanningbereik van 100 μm * 100 μm * 10 μm en een meer gefocusteDeze flexibiliteit stelt gebruikers in staat om gedetailleerde oppervlakte-structuren van verschillende monstergroottes en -soorten vast te leggen.Het maakt het ideaal voor zowel brede enquêtes als diepgaande analyses op nanoschaalniveau..

De microscoop maakt gebruik van een XYZ-drie-assige full-sample-scanmethode, die een uitgebreide dekking en nauwkeurige controle over het scanningsproces garandeert.Deze geavanceerde scanningstechniek stelt het instrument in staat om een consistente nauwkeurigheid en herhaalbaarheid op het gehele monsteroppervlak te behoudenOf u nu vlakke oppervlakken of complexe topografieën onderzoekt, de drie-assige scanning garandeert grondige en betrouwbare beeldresultaten.

De AFM van het Basic-type is geschikt voor monsters tot een diameter van Φ 25 mm en biedt voldoende ruimte voor een breed scala aan monsters.met inbegrip van halfgeleidermaterialenDe grote compatibiliteit van de steekproefgrootte verbetert de veelzijdigheid en bruikbaarheid van het instrument in diverse wetenschappelijke onderzoeken.

Naast de standaard topografische beeldvorming bevat dit AFM-model multifunctionele meetmogelijkheden die het toepassingsbereik aanzienlijk uitbreiden.Het kan functioneren als een elektrostatische krachtmicroscoop (EFM), waardoor de oppervlakteladingsverdelingen en elektrostatische eigenschappen kunnen worden geanalyseerd.Het biedt waardevolle informatie over oppervlaktepotentieel en variaties in de werkfunctie., die van cruciaal belang zijn in materiaalwetenschappen en halfgeleideronderzoek.

Het basistype Atoomkrachtmicroscoop ondersteunt ook Piezoelektrische Krachtmicroscopie (PFM),het mogelijk maken om piezo- en ferro-elektrische materialen te bestuderen door elektromechanische reacties op nanoschaal te metenBovendien werkt het als een magnetische krachtmicroscoop (MFM), die essentieel is voor het onderzoeken van magnetische domeinen en nanomagnetische structuren.Deze multifunctionele modi maken het instrument tot een krachtig analytisch platform voor uitgebreide oppervlakte- en materiaalkarakterisering.

Een ander kritisch aspect van de AFM van het Basic-type is het uitzonderlijke geluidsniveau van de Z-as, dat zo laag is als 0,04 nm.Deze ultra-laag lawaai vloer is een bewijs van de instrument's hoge stabiliteit ontwerp en precisie engineering, zodat zelfs de meest subtiele oppervlaktefuncties nauwkeurig worden vastgelegd zonder interferentie of vervorming.Het lage geluidsniveau is vooral gunstig bij het uitvoeren van gevoelige metingen waarvoor een hoge resolutie en herhaalbaarheid vereist zijn.

Voor onderzoekers en laboratoria die Atomic Force Microscope apparatuur willen kopen die betrouwbaarheid, geavanceerde functionaliteit en gebruiksgemak combineert,de Basic-type Atomic Force Microscope is een uitstekende keuzeHet hoogstabiele AFM-ontwerp garandeert een consistente prestatie, waardoor gebruikers met vertrouwen gedetailleerde nanoschaalonderzoeken kunnen uitvoeren.

Kortom, de Basic-type Atoomkrachtmicroscoop biedt een perfecte balans tussen scanning, multifunctionele meetmogelijkheden en nauwkeurige prestaties.industriële toepassingen, of kwaliteitscontrole, biedt dit instrument topografie op nanoschaal met een superieure nauwkeurigheid en veelzijdigheid.De robuuste kenmerken en de gebruiksvriendelijke werking maken het een essentiële aanwinst voor iedereen die de eigenschappen van materialen op nanoschaal wil onderzoeken en begrijpen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van basistype
• Multifunctionele metingen, waaronder elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin microscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM) en magnetische krachtimicroscoop (MFM)
• Ondersteunt Kelvin Probe Force Microscopy voor geavanceerde oppervlakte potentiële analyse
• Scanmethode: XYZ Drie-assige volledige-sample-scan voor een uitgebreide steekproefdekking
• Ruisniveau op de Z-as: 0,04 Nm, waardoor een hoge precisie en gevoeligheid worden gewaarborgd
• Samenhangend met de grootte van de monsters: Φ 25 mm voor een breed scala aan monsters
• Operatiemodi: Tikmodus, Contactmodus, Liftmodus en Fase Imagingmodus voor veelzijdige beeldopties
• Biedt op maat gemaakte AFM-oplossingen op maat van specifieke onderzoeksbehoeften
• Ontworpen als een microscoop op nanoschaal voor gedetailleerde oppervlaktekarakterisering op nanometer schaal

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomExplorer, een basistype atoomkrachtmicroscoop (AFM) van oorsprong uit China, is ontworpen voor een breed scala aan producttoepassingen en scenario's.De veelzijdigheid ervan maakt het een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers, wetenschappers en ingenieurs die werkzaam zijn in nanotechnologie, materiaalwetenschappen, halfgeleideronderzoek en biologische studies.

Een van de belangrijkste toepassingsmogelijkheden voor de AtomExplorer AFM microscoop is in nanoschaal topografie beeldvorming.De XYZ-methode voor het scannen van volledige monsters met drie assen maakt een nauwkeurige en uitgebreide scanning mogelijk van monsteroppervlakken met een afmeting tot Φ 25 mm, waardoor een gedetailleerde visualisatie van oppervlakte-structuren op nanoschaal mogelijk is, waardoor het ideaal is voor het karakteriseren van materialen zoals dunne films, polymeren, nanocomposites,en biologische monsters waarbij de oppervlaktemorfologie een cruciale rol speelt.

De multifunctionele meetmogelijkheden van de AtomExplorer vergroten de bruikbaarheid ervan aanzienlijk.Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM)Het instrument kan worden gebruikt in diverse onderzoeksscenario's.Magnetic Force Microscopy MFM maakt onderzoek mogelijk naar magnetische domeinen en eigenschappen in magnetische materialen, waardoor het essentieel is voor onderzoek naar gegevensopslag en spintronics.

Operatiemodi zoals Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode bieden flexibiliteit bij het afbeelden van verschillende soorten monsters met verschillende mechanische eigenschappen.Tap-modus wordt vaak gebruikt voor zachte of delicate exemplaren, terwijl de contactmodus beeldvorming met hoge resolutie biedt voor starre oppervlakken. De liftmodus helpt bij het scheiden van topografische en magnetische of elektrostatische signalen tijdens MFM- en EFM-metingen,verbetering van de duidelijkheid van de gegevens.

Bovendien bevat de AtomExplorer de Safe Needle Insertion Mode, een technologie voor het beschermen van de punt die de levensduur van de punt van de sonde garandeert en schade voorkomt tijdens het opnemen van monsters.vermindering van stilstandstijden en onderhoudskostenDeze eigenschap is vooral nuttig in omgevingen met een hoge doorvoer, waar betrouwbaarheid en precisie van het grootste belang zijn.

Samengevat is de Truth Instruments AtomExplorer een zeer aanpasbare AFM-microscoop die geschikt is voor toepassingen die gedetailleerde nanoschaal topografie-imaging en multifunctionele krachtmetingen vereisen.Of zij worden gebruikt voor academisch onderzoekHet instrument is een uitstekende keuze voor de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de productie, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, de verkoop, deen geïnteresseerde klanten worden aangemoedigd om contact op te nemen met Truth Instruments voor een gedetailleerde offerte.