AtomExplorer: Atomkraftmikroskop mit Sub-Nanometer-Auflösung

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein äußerst vielseitiges und zuverlässiges Instrument, das präzise Nanotopographie-Bildgebung mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Stabilität liefert. Dieses AFM wurde für Forscher und Fachleute entwickelt, die leistungsstarke Scanfunktionen benötigen, und bietet eine umfassende Reihe von Funktionen, die es zu einem unverzichtbaren Werkzeug in der Nanotechnologie und Materialwissenschaft machen.

Eines der herausragenden Merkmale dieses Rasterkraftmikroskops vom Basistyp ist sein beeindruckender Scanbereich. Es unterstützt zwei Betriebsarten: einen weiten Scanbereich von 100 μm * 100 μm * 10 μm und einen fokussierteren Modus mit höherer Auflösung von 30 μm * 30 μm * 5 μm. Diese Flexibilität ermöglicht es Benutzern, detaillierte Oberflächenstrukturen über eine Vielzahl von Probengrößen und -typen zu erfassen, was es ideal für sowohl breite Übersichten als auch detaillierte Analysen auf der Nanoskala macht.

Das Mikroskop verwendet eine XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanmethode, die eine umfassende Abdeckung und präzise Kontrolle über den Scanvorgang gewährleistet. Diese fortschrittliche Scantechnik ermöglicht es dem Instrument, über die gesamte Probenoberfläche hinweg eine gleichbleibende Genauigkeit und Wiederholbarkeit aufrechtzuerhalten. Egal, ob Sie flache Oberflächen oder komplexe Topografien untersuchen, die Drei-Achsen-Scanfunktion garantiert gründliche und zuverlässige Bildergebnisse.

Das AFM vom Basistyp kann Proben mit einem Durchmesser von bis zu Φ 25 mm aufnehmen und bietet somit ausreichend Platz für eine Vielzahl von Probengrößen. Diese Kapazität macht es für verschiedene Forschungsanwendungen geeignet, darunter Halbleitermaterialien, biologische Proben, Polymere und andere nanostrukturierte Materialien. Die Kompatibilität mit großen Probengrößen erhöht die Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit des Instruments bei verschiedenen wissenschaftlichen Untersuchungen.

Zusätzlich zur Standard-Topographie-Bildgebung umfasst dieses AFM-Modell multifunktionale Messfunktionen, die seinen Anwendungsbereich erheblich erweitern. Es kann als Elektrostatikkraftmikroskop (EFM) fungieren und so die Analyse von Oberflächenladungsverteilungen und elektrostatischen Eigenschaften ermöglichen. Als Raster-Kelvin-Sondenmikroskop (KPFM) liefert es wertvolle Informationen über Oberflächenpotential- und Arbeitsfunktionsvariationen, die in der Materialwissenschaft und Halbleiterforschung von entscheidender Bedeutung sind.

Das Rasterkraftmikroskop vom Basistyp unterstützt auch die piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), die die Untersuchung piezoelektrischer und ferroelektrischer Materialien durch Messung elektromechanischer Reaktionen auf der Nanoskala ermöglicht. Darüber hinaus arbeitet es als Magnetkraftmikroskop (MFM), das für die Untersuchung magnetischer Domänen und nanomagnetischer Strukturen unerlässlich ist. Diese multifunktionalen Modi machen das Instrument zu einer leistungsstarken Analyseplattform für die umfassende Oberflächen- und Materialcharakterisierung.

Ein weiterer kritischer Aspekt des AFM vom Basistyp ist sein außergewöhnlicher Rauschpegel in der Z-Achse, der nur 0,04 nm beträgt. Dieser extrem niedrige Rauschpegel ist ein Beweis für das hochstabile Design und die Präzisionstechnik des Instruments und stellt sicher, dass selbst die subtilsten Oberflächenmerkmale ohne Störungen oder Verzerrungen genau erfasst werden. Der niedrige Rauschpegel ist besonders vorteilhaft bei der Durchführung empfindlicher Messungen, die eine hohe Auflösung und Wiederholbarkeit erfordern.

Für Forscher und Labore, die Geräte zum Kauf von Rasterkraftmikroskopen suchen, die Zuverlässigkeit, erweiterte Funktionalität und Benutzerfreundlichkeit kombinieren, zeichnet sich das Rasterkraftmikroskop vom Basistyp als eine ausgezeichnete Wahl aus. Sein hochstabiles AFM-Design garantiert eine konstante Leistung und ermöglicht es Benutzern, detaillierte Untersuchungen im Nanobereich mit Zuversicht durchzuführen.

Zusammenfassend bietet das Rasterkraftmikroskop vom Basistyp eine perfekte Balance aus Scanbereich, multifunktionalen Messfunktionen und Präzisionsleistung. Ob für die akademische Forschung, industrielle Anwendungen oder die Qualitätskontrolle, dieses Instrument bietet Nanotopographie-Bildgebung mit überlegener Genauigkeit und Vielseitigkeit. Seine robusten Funktionen und die benutzerfreundliche Bedienung machen es zu einem unverzichtbaren Vorteil für alle, die Materialeigenschaften auf der Nanoskala erforschen und verstehen möchten.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop vom Basistyp
• Multifunktionale Messungen einschließlich Elektrostatikkraftmikroskop (EFM), Raster-Kelvin-Mikroskop (KPFM), piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM) und Magnetkraftmikroskop (MFM)
• Unterstützt die Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie für erweiterte Oberflächenpotentialanalyse
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scannen für eine umfassende Probenabdeckung
• Z-Achsen-Rauschpegel: 0,04 Nm, was hohe Präzision und Empfindlichkeit gewährleistet
• Probenkompatibilität: Φ 25 mm für eine Vielzahl von Proben
• Betriebsarten: Tap-Modus, Kontaktmodus, Lift-Modus und Phasenbildgebungsmodus für vielseitige Bildgebungsoptionen
• Bietet anpassbare AFM-Lösungen, die auf spezifische Forschungsbedürfnisse zugeschnitten sind
• Entwickelt als Nanometer-Mikroskop für detaillierte Oberflächencharakterisierung im Nanometerbereich

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomExplorer, ein Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp aus China, wurde entwickelt, um eine breite Palette von Produktanwendungen und -szenarien zu bedienen. Seine vielseitigen Fähigkeiten machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher, Wissenschaftler und Ingenieure, die in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Halbleiterforschung und biologische Studien arbeiten.

Einer der primären Anwendungsfälle für das AtomExplorer AFM-Mikroskop ist die Nanotopographie-Bildgebung. Die XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanmethode ermöglicht das präzise und umfassende Scannen von Probenoberflächen bis zu einer Größe von Φ 25 mm und ermöglicht so die detaillierte Visualisierung von Oberflächenstrukturen im Nanobereich. Dies macht es ideal für die Charakterisierung von Materialien wie Dünnschichten, Polymeren, Nanokompositen und biologischen Proben, bei denen die Oberflächenmorphologie eine entscheidende Rolle spielt.

Die multifunktionalen Messfunktionen des AtomExplorer erweitern seine Benutzerfreundlichkeit erheblich. Mit integrierten Modi wie Elektrostatikkraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sondenmikroskopie (KPFM), piezoelektrischer Kraftmikroskopie (PFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM) kann das Instrument in verschiedenen Forschungsszenarien eingesetzt werden. Beispielsweise ermöglicht die Magnetkraftmikroskopie MFM die Untersuchung magnetischer Domänen und Eigenschaften in magnetischen Materialien, was sie für die Forschung im Bereich Datenspeicherung und Spintronik unerlässlich macht.

Betriebsarten wie Tap-Modus, Kontaktmodus, Lift-Modus und Phasenbildgebungsmodus bieten Flexibilität bei der Bildgebung verschiedener Arten von Proben mit unterschiedlichen mechanischen Eigenschaften. Der Tap-Modus wird häufig für weiche oder empfindliche Proben verwendet, während der Kontaktmodus eine hochauflösende Bildgebung für starre Oberflächen bietet. Der Lift-Modus hilft bei der Trennung topografischer und magnetischer oder elektrostatischer Signale während MFM- und EFM-Messungen und verbessert so die Datenklarheit.

Darüber hinaus enthält der AtomExplorer den sicheren Nadeleinführungsmodus, eine Spitzenschutztechnologie, die die Langlebigkeit der Sondenspitze gewährleistet und Schäden während des Probeneingriffs verhindert, wodurch Ausfallzeiten und Wartungskosten reduziert werden. Diese Funktion ist besonders vorteilhaft in Umgebungen mit hohem Durchsatz, in denen Zuverlässigkeit und Präzision von größter Bedeutung sind.

Zusammenfassend ist das Truth Instruments AtomExplorer ein hochgradig anpassungsfähiges AFM-Mikroskop, das für Anwendungen geeignet ist, die eine detaillierte Nanotopographie-Bildgebung und multifunktionale Kraftmessungen erfordern. Ob in der akademischen Forschung, der industriellen Qualitätskontrolle oder der fortschrittlichen Materialentwicklung eingesetzt, die umfassenden Funktionen und Scanfunktionen dieses Instruments machen es zu einer ausgezeichneten Wahl. Für die Preisgestaltung ist der Preis verhandelbar, und interessierte Kunden werden gebeten, sich für ein detailliertes Angebot an Truth Instruments zu wenden.