AtomExplorer: Resolusi Sub-Nanometer Mikroskop Kekuatan Atom

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) adalah instrumen yang sangat serbaguna dan dapat diandalkan yang dirancang untuk memberikan pencitraan topografi nanoskala yang tepat dengan akurasi dan stabilitas yang luar biasa.Dirancang untuk peneliti dan profesional yang menuntut kemampuan pemindaian berkinerja tinggi, AFM ini menawarkan serangkaian fitur yang komprehensif yang menjadikannya alat yang sangat diperlukan di bidang nanoteknologi dan ilmu material.

Salah satu fitur yang menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic ini adalah rentang pemindainya yang mengesankan.dengan rentang pemindaian luas 100 μm * 100 μm * 10 μm dan pemindaian yang lebih fokus, mode resolusi yang lebih tinggi 30 μm * 30 μm * 5 μm. Fleksibilitas ini memungkinkan pengguna untuk menangkap struktur permukaan yang rinci di berbagai ukuran dan jenis sampel,membuatnya ideal untuk survei luas dan analisis mendalam pada tingkat nanoscale.

Mikroskop menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, yang memastikan cakupan yang komprehensif dan kontrol yang tepat atas proses pemindaian.Teknik pemindaian canggih ini memungkinkan instrumen untuk mempertahankan akurasi yang konsisten dan repeatability di seluruh permukaan sampelApakah Anda memeriksa permukaan datar atau topografi yang kompleks, kemampuan pemindaian tiga sumbu menjamin hasil pencitraan yang menyeluruh dan dapat diandalkan.

Dengan kapasitas sampel hingga diameter Φ 25 mm, AFM tipe Basic menyediakan ruang yang cukup untuk berbagai ukuran sampel.termasuk bahan semikonduktor, sampel biologis, polimer, dan bahan nanostruktur lainnya. Kompatibilitas ukuran sampel yang besar meningkatkan fleksibilitas dan kegunaan instrumen dalam berbagai penyelidikan ilmiah.

Selain pencitraan topografi standar, model AFM ini mencakup kemampuan pengukuran multifungsi yang secara signifikan memperluas jangkauan aplikasinya.Ini dapat berfungsi sebagai Mikroskop Kekuatan Elektrostatik (EFM), memungkinkan analisis distribusi muatan permukaan dan sifat elektrostatik.memberikan informasi berharga tentang potensi permukaan dan variasi fungsi kerja, yang sangat penting dalam ilmu material dan penelitian semikonduktor.

Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar juga mendukung Mikroskop Kekuatan Piezoelektrik (PFM),memungkinkan studi bahan piezoelektrik dan ferroelektrik dengan mengukur respons elektromekanik pada skala nanometerSelain itu, ia beroperasi sebagai Mikroskop Kekuatan Magnetik (MFM), yang penting untuk menyelidiki domain magnetik dan struktur nanomagnetik.Modus multifungsi ini membuat instrumen platform analitis yang kuat untuk komprehensif permukaan dan karakteristik material.

Aspek penting lain dari AFM tipe Basic adalah tingkat kebisingan sumbu Z yang luar biasa, yang setinggi 0,04 nm.Lantai yang sangat rendah kebisingan ini adalah bukti dari desain stabilitas tinggi instrumen dan teknik presisi, memastikan bahwa bahkan fitur permukaan yang paling halus ditangkap dengan akurat tanpa gangguan atau distorsi.Tingkat kebisingan yang rendah sangat bermanfaat saat melakukan pengukuran sensitif yang membutuhkan resolusi tinggi dan kebalikan.

Untuk para peneliti dan laboratorium yang ingin membeli peralatan Mikroskop Angkatan Atom yang menggabungkan keandalan, fungsionalitas canggih, dan kemudahan penggunaan,Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar menonjol sebagai pilihan yang sangat baikDesain AFM stabilitasnya yang tinggi menjamin kinerja yang konsisten, memungkinkan pengguna untuk melakukan penyelidikan nanoscale yang terperinci dengan percaya diri.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menawarkan keseimbangan sempurna antara rentang pemindaian, kemampuan pengukuran multifungsi, dan kinerja presisi.aplikasi industri, atau kontrol kualitas, instrumen ini menyediakan pencitraan topografi skala nano dengan akurasi dan fleksibilitas yang unggul.Fiturnya yang kuat dan operasi yang mudah digunakan membuatnya menjadi aset penting bagi siapa saja yang ingin mengeksplorasi dan memahami sifat material pada skala nanometer.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• Pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), dan Magnetic Force Microscope (MFM)
• Mendukung Kelvin Probe Force Microscopy untuk analisis potensial permukaan lanjutan
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Tiga-Axis untuk cakupan sampel yang komprehensif
• Tingkat kebisingan sumbu Z: 0,04 Nm memastikan presisi dan sensitivitas yang tinggi
• Kompatibilitas ukuran sampel: Φ 25 mm untuk berbagai sampel
• Mode Operasi: Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Imaging Phase untuk opsi pencitraan serbaguna
• Menawarkan solusi AFM yang dapat disesuaikan dengan kebutuhan penelitian tertentu
• Dirancang sebagai Mikroskop Nanoscale untuk karakteristik permukaan rinci pada skala nanometer

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments AtomExplorer, sebuah Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) tipe dasar yang berasal dari China, dirancang untuk memenuhi berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk.Kemampuannya yang serbaguna membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti, ilmuwan, dan insinyur yang bekerja dalam nanoteknologi, ilmu material, penelitian semikonduktor, dan studi biologi.

Salah satu kesempatan aplikasi utama untuk Mikroskop AtomExplorer AFM adalah dalam pencitraan topografi skala nano.Metode XYZ Three-Axis Full-Sample Scanning memungkinkan pemindaian yang tepat dan komprehensif dari permukaan sampel hingga Φ 25 mm ukuran, memungkinkan visualisasi struktur permukaan yang terperinci pada skala nano. Hal ini membuatnya ideal untuk karakterisasi bahan seperti film tipis, polimer, nanocomposite,dan sampel biologis di mana morfologi permukaan memainkan peran penting.

Kemampuan pengukuran multifungsi AtomExplorer memperluas kegunaannya secara signifikan.Pemindaian Mikroskopi Probe Kelvin (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM), instrumen ini dapat digunakan dalam berbagai skenario penelitian.Mikroskopi Kekuatan Magnetik MFM memungkinkan untuk penyelidikan domain magnetik dan sifat dalam bahan magnetik, sehingga sangat penting dalam penelitian penyimpanan data dan spintronics.

Mode operasi seperti Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode, dan Phase Imaging Mode menawarkan fleksibilitas dalam memotret berbagai jenis sampel dengan sifat mekanik yang bervariasi.Tap Mode sering digunakan untuk spesimen lembut atau halus, sementara Mode Kontak menyediakan pencitraan resolusi tinggi untuk permukaan kaku. Mode Lift membantu dalam memisahkan sinyal topografi dan magnetik atau elektrostatik selama pengukuran MFM dan EFM,meningkatkan kejelasan data.

Selain itu, AtomExplorer menggabungkan Safe Needle Insertion Mode, teknologi perlindungan ujung yang memastikan umur panjang ujung probe dan mencegah kerusakan selama penggabungan sampel,mengurangi waktu henti dan biaya pemeliharaanFitur ini sangat bermanfaat di lingkungan dengan throughput tinggi di mana keandalan dan presisi sangat penting.

Singkatnya, Truth Instruments AtomExplorer adalah Mikroskop AFM yang sangat mudah beradaptasi yang cocok untuk aplikasi yang membutuhkan pencitraan topografi nanoskala rinci dan pengukuran gaya multifungsi.Apakah digunakan dalam penelitian akademik, kontrol kualitas industri, atau pengembangan bahan canggih, fitur komprehensif dan kemampuan pemindaian instrumen ini menjadikannya pilihan yang sangat baik.dan pelanggan yang tertarik didorong untuk menghubungi Instrumen Kebenaran untuk penawaran rinci.