AtomExplorer: مجهر القوة الذرية بدقة دون النانومتر
الخصائص الأساسية
تداول العقارات
وصف المنتج:
المجهر القوة الذرية (AFM) من النوع الأساسي هو أداة متعددة الاستخدامات وموثوقة للغاية مصممة لتقديم تصوير طوبوغرافي دقيق على مستوى النانو بدقة وثبات استثنائيين. تم تصميمه للباحثين والمهنيين الذين يطلبون قدرات مسح عالية الأداء، يوفر هذا المجهر القوة الذرية مجموعة شاملة من الميزات التي تجعله أداة لا غنى عنها في مجال تكنولوجيا النانو وعلوم المواد.
إحدى الميزات البارزة لهذا المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي هي نطاق المسح الضوئي المثير للإعجاب. وهو يدعم وضعين للتشغيل: نطاق مسح واسع يبلغ 100 ميكرومتر * 100 ميكرومتر * 10 ميكرومتر ووضع أكثر تركيزًا ودقة أعلى يبلغ 30 ميكرومتر * 30 ميكرومتر * 5 ميكرومتر. تتيح هذه المرونة للمستخدمين التقاط هياكل سطحية مفصلة عبر مجموعة متنوعة من أحجام وأنواع العينات، مما يجعلها مثالية لكل من الدراسات الاستقصائية الواسعة والتحليلات المتعمقة على مستوى النانو.
يستخدم المجهر طريقة مسح كاملة للعينة ثلاثية المحاور XYZ، مما يضمن تغطية شاملة وتحكمًا دقيقًا في عملية المسح. تتيح تقنية المسح المتقدمة هذه للأداة الحفاظ على دقة واتساق متسقين عبر سطح العينة بأكمله. سواء كنت تفحص أسطحًا مسطحة أو طوبوغرافيات معقدة، فإن قدرة المسح ثلاثية المحاور تضمن نتائج تصوير شاملة وموثوقة.
استيعاب عينات يصل قطرها إلى Φ 25 مم، يوفر المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي مساحة واسعة لمجموعة واسعة من أحجام العينات. هذه القدرة تجعلها مناسبة لتطبيقات بحثية مختلفة، بما في ذلك مواد أشباه الموصلات، والعينات البيولوجية، والبوليمرات، والمواد الأخرى ذات البنية النانوية. تعمل توافق حجم العينة الكبير على تعزيز تنوع الأداة وقابليتها للاستخدام في التحقيقات العلمية المتنوعة.
بالإضافة إلى التصوير الطبوغرافي القياسي، يشتمل نموذج المجهر القوة الذرية هذا على إمكانات قياس متعددة الوظائف تعمل على توسيع نطاق تطبيقه بشكل كبير. يمكن أن يعمل كمجهر قوة كهروستاتيكية (EFM)، مما يسمح بتحليل توزيعات الشحنات السطحية والخصائص الكهروستاتيكية. كمجهر مسبار كلفن الماسح (KPFM)، فإنه يوفر معلومات قيمة حول إمكانات السطح واختلافات وظيفة العمل، والتي تعتبر حاسمة في علوم المواد وأبحاث أشباه الموصلات.
يدعم المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي أيضًا مجهر القوة الكهروضغطية (PFM)، مما يتيح دراسة المواد الكهروضغطية والكهروحرارية عن طريق قياس الاستجابات الكهروميكانيكية على مستوى النانو. علاوة على ذلك، فإنه يعمل كمجهر قوة مغناطيسية (MFM)، وهو أمر ضروري للتحقيق في المجالات المغناطيسية والهياكل النانوية المغناطيسية. هذه الأوضاع متعددة الوظائف تجعل الأداة منصة تحليلية قوية لتوصيف السطح والمواد الشاملة.
جانب آخر حاسم في المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي هو مستوى ضوضاء المحور Z الاستثنائي، والذي يبلغ 0.04 نانومتر. يعد هذا المستوى المنخفض للغاية من الضوضاء بمثابة شهادة على تصميم الثبات العالي للأداة والهندسة الدقيقة، مما يضمن التقاط حتى أدق ميزات السطح بدقة دون تدخل أو تشويه. يعتبر مستوى الضوضاء المنخفض مفيدًا بشكل خاص عند إجراء قياسات حساسة تتطلب دقة عالية وقابلية للتكرار.
بالنسبة للباحثين والمختبرات الذين يتطلعون إلى شراء معدات المجهر القوة الذرية التي تجمع بين الموثوقية والوظائف المتقدمة وسهولة الاستخدام، يبرز المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي كخيار ممتاز. يضمن تصميم المجهر القوة الذرية عالي الثبات أداءً متسقًا، مما يمكّن المستخدمين من إجراء تحقيقات مفصلة على مستوى النانو بثقة.
باختصار، يوفر المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي توازنًا مثاليًا بين نطاق المسح الضوئي وقدرات القياس متعددة الوظائف والأداء الدقيق. سواء كان ذلك للبحث الأكاديمي أو التطبيقات الصناعية أو مراقبة الجودة، توفر هذه الأداة تصويرًا طوبوغرافيًا على مستوى النانو بدقة وتنوع فائقين. ميزاته القوية وتشغيله سهل الاستخدام يجعله رصيدًا أساسيًا لأي شخص يسعى إلى استكشاف وفهم خصائص المواد على مستوى النانو.
الميزات:
- اسم المنتج: مجهر القوة الذرية من النوع الأساسي
- قياسات متعددة الوظائف بما في ذلك مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM)، ومجهر كلفن الماسح (KPFM)، ومجهر القوة الكهروضغطية (PFM)، ومجهر القوة المغناطيسية (MFM)
- يدعم مجهر قوة مسبار كلفن لتحليل إمكانات السطح المتقدم
- طريقة المسح: مسح كامل للعينة ثلاثية المحاور XYZ لتغطية شاملة للعينة
- مستوى ضوضاء المحور Z: 0.04 نانومتر مما يضمن دقة وحساسية عالية
- توافق حجم العينة: Φ 25 مم يستوعب مجموعة واسعة من العينات
- أوضاع التشغيل: وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع تصوير الطور لخيارات التصوير المتنوعة
- يوفر حلول AFM قابلة للتخصيص مصممة خصيصًا لتلبية احتياجات البحث المحددة
- مصمم كمجهر على مستوى النانو لتوصيف السطح التفصيلي على مقياس النانومتر
المعايير الفنية:
| نطاق المسح | 100 ميكرومتر * 100 ميكرومتر * 10 ميكرومتر / 30 ميكرومتر * 30 ميكرومتر * 5 ميكرومتر |
| مستوى ضوضاء المحور Z | 0.04 نانومتر |
| قياسات متعددة الوظائف | مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM)، مجهر كلفن الماسح (KPFM)، مجهر القوة الكهروضغطية (PFM)، مجهر القوة المغناطيسية (MFM) |
| تقنية حماية الطرف | وضع إدخال الإبرة الآمن |
| حجم العينة | Φ 25 مم |
| نقاط أخذ عينات الصورة | 32*32 - 4096*4096 |
| وضع التشغيل | وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع تصوير الطور |
| طريقة المسح | مسح كامل للعينة ثلاثية المحاور XYZ |
التطبيقات:
تم تصميم Truth Instruments AtomExplorer، وهو مجهر القوة الذرية (AFM) من النوع الأساسي من الصين، لتلبية مجموعة واسعة من مناسبات وسيناريوهات تطبيق المنتج. قدراته المتنوعة تجعله أداة لا غنى عنها للباحثين والعلماء والمهندسين الذين يعملون في مجال تكنولوجيا النانو وعلوم المواد وأبحاث أشباه الموصلات والدراسات البيولوجية.
أحد التطبيقات الأساسية لمجهر AtomExplorer AFM هو في التصوير الطبوغرافي على مستوى النانو. تسمح طريقة المسح الكامل للعينة ثلاثية المحاور XYZ بالمسح الدقيق والشامل لأسطح العينات التي يصل حجمها إلى Φ 25 مم، مما يتيح التصور التفصيلي للهياكل السطحية على مستوى النانو. وهذا يجعله مثاليًا لتوصيف المواد مثل الأغشية الرقيقة والبوليمرات والمركبات النانوية والعينات البيولوجية حيث تلعب مورفولوجيا السطح دورًا حاسمًا.
تعمل إمكانات القياس متعددة الوظائف لـ AtomExplorer على توسيع قابليته للاستخدام بشكل كبير. مع الأوضاع المتكاملة مثل مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM)، ومجهر مسبار كلفن الماسح (KPFM)، ومجهر القوة الكهروضغطية (PFM)، ومجهر القوة المغناطيسية (MFM)، يمكن استخدام الأداة في سيناريوهات بحثية متنوعة. على سبيل المثال، يسمح مجهر القوة المغناطيسية MFM بالتحقيق في المجالات والخصائص المغناطيسية في المواد المغناطيسية، مما يجعله ضروريًا في أبحاث تخزين البيانات والإلكترونيات الدورانية.
توفر أوضاع التشغيل مثل وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع تصوير الطور المرونة في تصوير أنواع مختلفة من العينات ذات الخصائص الميكانيكية المختلفة. غالبًا ما يستخدم وضع النقر للعناصر اللينة أو الرقيقة، بينما يوفر وضع التلامس تصويرًا عالي الدقة للأسطح الصلبة. يساعد وضع الرفع في فصل الإشارات الطبوغرافية والمغناطيسية أو الكهروستاتيكية أثناء قياسات MFM و EFM، مما يعزز وضوح البيانات.
علاوة على ذلك، يشتمل AtomExplorer على وضع إدخال الإبرة الآمن، وهي تقنية لحماية الطرف تضمن طول عمر طرف المسبار وتمنع التلف أثناء تفاعل العينة، مما يقلل من وقت التوقف وتكاليف الصيانة. هذه الميزة مفيدة بشكل خاص في البيئات عالية الإنتاجية حيث تكون الموثوقية والدقة أمرًا بالغ الأهمية.
باختصار، فإن Truth Instruments AtomExplorer هو مجهر AFM قابل للتكيف للغاية ومناسب للتطبيقات التي تتطلب تصويرًا طوبوغرافيًا تفصيليًا على مستوى النانو وقياسات القوة متعددة الوظائف. سواء تم استخدامه في البحث الأكاديمي أو مراقبة الجودة الصناعية أو تطوير المواد المتقدمة، فإن ميزات هذه الأداة الشاملة وقدرات المسح تجعلها خيارًا ممتازًا. بالنسبة للتسعير، فإن السعر قابل للتفاوض، ويتم تشجيع العملاء المهتمين على الاتصال بـ Truth Instruments للحصول على عرض أسعار مفصل.