AtomExplorer : Microscope à force atomique à résolution sub-nanométrique

Description du produit:

Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un instrument très polyvalent et fiable conçu pour fournir des images topographiques précises à l'échelle nanométrique avec une précision et une stabilité exceptionnelles.Conçu pour les chercheurs et les professionnels qui exigent des capacités de balayage de haute performance, cet AFM offre une gamme complète de caractéristiques qui en font un outil indispensable dans le domaine des nanotechnologies et des sciences des matériaux.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de ce microscope de force atomique de type Basic est sa portée de balayage impressionnante.une large plage de balayage de 100 μm * 100 μm * 10 μm et une plage de balayage plus ciblée, mode de résolution plus élevée de 30 μm * 30 μm * 5 μm. Cette flexibilité permet aux utilisateurs de capturer des structures de surface détaillées dans une variété de tailles et de types d'échantillons,ce qui le rend idéal à la fois pour des enquêtes générales et des analyses approfondies au niveau nanométrique.

Le microscope utilise une méthode de numérisation à échantillon complet XYZ à trois axes, qui assure une couverture complète et un contrôle précis du processus de numérisation.Cette technique de numérisation avancée permet à l'instrument de maintenir une précision et une répétabilité constantes sur toute la surface de l'échantillonQue vous examiniez des surfaces plates ou des topographies complexes, la capacité de balayage à trois axes garantit des résultats d'imagerie complets et fiables.

Avec des échantillons jusqu'à un diamètre de Φ 25 mm, l'AFM de type Basic offre un espace suffisant pour une large gamme de tailles d'échantillons.y compris les matériaux semi-conducteursLa large compatibilité de la taille de l'échantillon améliore la polyvalence et l'utilisabilité de l'instrument dans diverses enquêtes scientifiques.

En plus de l'imagerie topographique standard, ce modèle AFM comprend des capacités de mesure multifonctionnelles qui élargissent considérablement sa plage d'application.Il peut fonctionner comme un microscope de force électrostatique (EFM), permettant l'analyse des répartitions de charge de surface et des propriétés électrostatiques.Il fournit des informations précieuses sur le potentiel de surface et les variations de la fonction de travail, qui sont essentiels dans la science des matériaux et la recherche sur les semi-conducteurs.

Le microscope de force atomique de type Basic prend également en charge la microscopie de force piézoélectrique (PFM),permettant d'étudier des matériaux piézoélectriques et ferroélectriques en mesurant les réponses électromécaniques à l'échelle nanométriqueEn outre, il fonctionne comme un microscope à force magnétique (MFM), qui est essentiel pour enquêter sur les domaines magnétiques et les structures nanomagnétiques.Ces modes multifonctionnels font de l'instrument une plateforme d'analyse puissante pour la caractérisation complète de la surface et du matériau.

Un autre aspect critique de l'AFM de type Basic est son niveau exceptionnel de bruit de l'axe Z, qui est aussi bas que 0,04 nm.Ce plancher ultra-faible bruit est un témoignage de la haute stabilité de l'instrument et de la précision de l'ingénierie, assurant que même les caractéristiques de surface les plus subtiles sont capturées avec précision sans interférence ni distorsion.Le faible niveau de bruit est particulièrement bénéfique lors de mesures sensibles nécessitant une haute résolution et une répétabilité.

Pour les chercheurs et les laboratoires qui cherchent à acheter un équipement de microscope de force atomique qui combine fiabilité, fonctionnalités avancées et facilité d'utilisation,le microscope de force atomique de type Basic se distingue comme un excellent choixSa conception AFM de haute stabilité garantit des performances constantes, permettant aux utilisateurs de mener des enquêtes détaillées à l'échelle nanométrique en toute confiance.

En résumé, le microscope de force atomique de type Basic offre un équilibre parfait entre la portée de balayage, les capacités de mesure multifonctionnelles et les performances de précision.Applications industrielles, ou contrôle de qualité, cet instrument fournit des images de topographie à l'échelle nanométrique avec une précision et une polyvalence supérieures.Ses caractéristiques robustes et son fonctionnement convivial en font un atout essentiel pour tous ceux qui cherchent à explorer et à comprendre les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• Mesures multifonctionnelles comprenant le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à scanner Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM) et le microscope à force magnétique (MFM)
• Prend en charge la microscopie de la force de la sonde Kelvin pour une analyse avancée du potentiel de surface
• Méthode de numérisation: XYZ Numérisation à échantillon complet sur trois axes pour une couverture complète des échantillons
• Niveau de bruit de l'axe Z: 0,04 Nm assurant une grande précision et sensibilité
• Compatibilité de la taille des échantillons: Φ 25 mm pour une large gamme de spécimens
• Mode de fonctionnement: Mode de toucher, Mode de contact, Mode de levage et Mode d'imagerie de phase pour des options d'imagerie polyvalentes
• Offre des solutions AFM personnalisables adaptées aux besoins spécifiques de la recherche
• Conçu comme un microscope à l'échelle nanométrique pour une caractérisation détaillée de la surface à l'échelle nanométrique

Paramètres techniques:

Applications:

Le Truth Instruments AtomExplorer, un microscope de force atomique de type de base (AFM) originaire de Chine, est conçu pour répondre à un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits.Sa polyvalence en fait un outil indispensable pour les chercheurs, des scientifiques et des ingénieurs travaillant dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux, de la recherche sur les semi-conducteurs et des études biologiques.

L'une des principales applications du microscope AtomExplorer AFM est l'imagerie topographique à l'échelle nanométrique.La méthode de numérisation à échantillon complet à trois axes XYZ permet de numériser de manière précise et complète des surfaces d'échantillons jusqu'à Φ 25 mm de taille, permettant une visualisation détaillée des structures de surface à l'échelle nanométrique, ce qui le rend idéal pour la caractérisation de matériaux tels que des films minces, des polymères, des nanocomposites, deset des échantillons biologiques où la morphologie de surface joue un rôle crucial.

Les capacités de mesure multifonctionnelles de l'AtomExplorer élargissent considérablement sa facilité d'utilisation.Microscopie par sonde à scanner Kelvin (KPFM)L'instrument peut être utilisé dans divers scénarios de recherche.La microscopie par force magnétique MFM permet d'étudier les domaines et propriétés magnétiques des matériaux magnétiques, ce qui le rend essentiel dans la recherche sur le stockage de données et la spintronie.

Les modes de fonctionnement tels que le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode Phase Imaging offrent une flexibilité dans l'imagerie de différents types d'échantillons aux propriétés mécaniques variables.Tap Mode est souvent utilisé pour les spécimens doux ou délicats, tandis que le mode contact fournit des images haute résolution pour les surfaces rigides. Le mode ascenseur aide à séparer les signaux topographiques et magnétiques ou électrostatiques lors des mesures MFM et EFM,amélioration de la clarté des données.

En outre, l'AtomExplorer intègre le mode d'insertion de l'aiguille sûre, une technologie de protection de la pointe qui assure la longévité de la pointe de la sonde et empêche les dommages lors de l'engagement de l'échantillon,réduire les temps d'arrêt et les coûts de maintenanceCette caractéristique est particulièrement bénéfique dans les environnements à haut débit où la fiabilité et la précision sont primordiales.

En résumé, l'AtomExplorer de Truth Instruments est un microscope AFM hautement adaptable adapté aux applications nécessitant une imagerie topographique détaillée à l'échelle nanométrique et des mesures de force multifonctionnelles.Qu'ils soient utilisés dans la recherche académique, le contrôle de qualité industriel ou le développement de matériaux avancés, les caractéristiques complètes et les capacités de numérisation de cet instrument en font un excellent choix.Les clients intéressés sont invités à contacter Truth Instruments pour un devis détaillé..