logo

AtomExplorer: Microscópio de Força Atómica de Resolução Subnanométrica

Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento altamente versátil e confiável, projetado para fornecer imagens de topografia em nanoescala precisas com precisão e estabilidade excepcionais. Projetado para pesquisadores e profissionais que exigem capacidade...
Detalhes do produto
Operating Mode: Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift, Modo de Imagem de Fase
Tip Protection Technology: Modo de inserção segura de agulha
Multifunctional Measurements: Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscópio de Varredura Kelvin (KPFM), Microscópio de For
Z-Axis Noise Level: 0,04 nm
Image Sampling Points: 32×32-4096×4096
Scanning Method: Digitalização de amostra completa de três eixos XYZ
Sample Size: Φ25mm
Scanning Range: 100 μm×100 μm×10 μm / 30 μm×30 μm×5 μm

Propriedades básicas

Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: AtomExplorer

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact Us For A Detailed Quote
Descrição do produto

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento altamente versátil e confiável, projetado para fornecer imagens de topografia em nanoescala precisas com precisão e estabilidade excepcionais. Projetado para pesquisadores e profissionais que exigem capacidades de varredura de alto desempenho, este AFM oferece um conjunto abrangente de recursos que o tornam uma ferramenta indispensável no campo da nanotecnologia e da ciência dos materiais.

Uma das características de destaque deste Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é sua impressionante faixa de varredura. Ele suporta dois modos de operação: uma ampla faixa de varredura de 100 μm * 100 μm * 10 μm e um modo mais focado e de maior resolução de 30 μm * 30 μm * 5 μm. Essa flexibilidade permite que os usuários capturem estruturas de superfície detalhadas em uma variedade de tamanhos e tipos de amostras, tornando-o ideal tanto para pesquisas amplas quanto para análises aprofundadas em nível de nanoescala.

O microscópio utiliza um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, que garante cobertura abrangente e controle preciso sobre o processo de varredura. Essa técnica avançada de varredura permite que o instrumento mantenha precisão e repetibilidade consistentes em toda a superfície da amostra. Seja examinando superfícies planas ou topografias complexas, a capacidade de varredura de três eixos garante resultados de imagem completos e confiáveis.

Acomodando amostras de até um diâmetro de Φ 25 mm, o AFM do tipo Básico oferece espaço amplo para uma ampla gama de tamanhos de espécimes. Essa capacidade o torna adequado para várias aplicações de pesquisa, incluindo materiais semicondutores, amostras biológicas, polímeros e outros materiais nanoestruturados. A compatibilidade com tamanhos de amostra grandes aumenta a versatilidade e a usabilidade do instrumento em diversas investigações científicas.

Além da imagem topográfica padrão, este modelo de AFM inclui recursos de medição multifuncionais que expandem significativamente sua gama de aplicações. Ele pode funcionar como um Microscópio de Força Eletrostática (EFM), permitindo a análise de distribuições de carga de superfície e propriedades eletrostáticas. Como um Microscópio de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), ele fornece informações valiosas sobre o potencial de superfície e as variações da função de trabalho, que são críticas na ciência dos materiais e na pesquisa de semicondutores.

O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico também suporta Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), permitindo o estudo de materiais piezoelétricos e ferroelétricos, medindo as respostas eletromecânicas em nanoescala. Além disso, ele opera como um Microscópio de Força Magnética (MFM), que é essencial para investigar domínios magnéticos e nanoestruturas magnéticas. Esses modos multifuncionais tornam o instrumento uma poderosa plataforma analítica para caracterização abrangente de superfície e material.

Outro aspecto crítico do AFM do tipo Básico é seu excepcional nível de ruído no eixo Z, que é tão baixo quanto 0,04 nm. Este nível de ruído ultrabaixo é uma prova do design de alta estabilidade e da engenharia de precisão do instrumento, garantindo que até mesmo as características de superfície mais sutis sejam capturadas com precisão, sem interferência ou distorção. O baixo nível de ruído é particularmente benéfico ao realizar medições sensíveis que exigem alta resolução e repetibilidade.

Para pesquisadores e laboratórios que procuram comprar equipamentos de Microscópio de Força Atômica que combinem confiabilidade, funcionalidade avançada e facilidade de uso, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico se destaca como uma excelente escolha. Seu design AFM de alta estabilidade garante desempenho consistente, permitindo que os usuários conduzam investigações detalhadas em nanoescala com confiança.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico oferece um equilíbrio perfeito entre faixa de varredura, recursos de medição multifuncionais e desempenho de precisão. Seja para pesquisa acadêmica, aplicações industriais ou controle de qualidade, este instrumento fornece imagens de topografia em nanoescala com precisão e versatilidade superiores. Seus recursos robustos e operação amigável o tornam um ativo essencial para quem busca explorar e entender as propriedades dos materiais em nanoescala.


Recursos:

  • Nome do produto: Microscópio de força atômica do tipo básico
  • Medições multifuncionais, incluindo Microscópio de força eletrostática (EFM), Microscópio Kelvin de varredura (KPFM), Microscópio de força piezoelétrica (PFM) e Microscópio de força magnética (MFM)
  • Suporta microscopia de força de sonda Kelvin para análise avançada de potencial de superfície
  • Método de varredura: varredura de amostra completa de três eixos XYZ para cobertura abrangente da amostra
  • Nível de ruído do eixo Z: 0,04 Nm, garantindo alta precisão e sensibilidade
  • Compatibilidade de tamanho de amostra: Φ 25 mm, acomodando uma ampla gama de espécimes
  • Modos de operação: Modo Tap, Modo de contato, Modo de elevação e Modo de imagem de fase para opções de imagem versáteis
  • Oferece soluções AFM personalizáveis ​​adaptadas às necessidades específicas de pesquisa
  • Projetado como um microscópio em nanoescala para caracterização detalhada da superfície em escala nanométrica

Parâmetros técnicos:

Faixa de varredura 100 μm*100 μm*10 μm / 30 μm*30 μm*5 μm
Nível de ruído do eixo Z 0,04 Nm
Medições multifuncionais Microscópio de força eletrostática (EFM), Microscópio Kelvin de varredura (KPFM), Microscópio de força piezoelétrica (PFM), Microscópio de força magnética (MFM)
Tecnologia de proteção da ponta Modo de inserção segura da agulha
Tamanho da amostra Φ 25 mm
Pontos de amostragem de imagem 32*32 - 4096*4096
Modo de operação Modo Tap, Modo de contato, Modo de elevação, Modo de imagem de fase
Método de varredura Varredura de amostra completa de três eixos XYZ

Aplicações:

O AtomExplorer da Truth Instruments, um Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico originário da China, foi projetado para atender a uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação de produtos. Seus recursos versáteis o tornam uma ferramenta indispensável para pesquisadores, cientistas e engenheiros que trabalham em nanotecnologia, ciência dos materiais, pesquisa de semicondutores e estudos biológicos.

Uma das principais ocasiões de aplicação para o Microscópio AFM AtomExplorer é a imagem de topografia em nanoescala. O método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ permite a varredura precisa e abrangente de superfícies de amostras de até Φ 25 mm de tamanho, permitindo a visualização detalhada de estruturas de superfície em nanoescala. Isso o torna ideal para caracterizar materiais como filmes finos, polímeros, nanocompósitos e amostras biológicas, onde a morfologia da superfície desempenha um papel crucial.

Os recursos de medição multifuncionais do AtomExplorer expandem significativamente sua usabilidade. Com modos integrados como Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM), o instrumento pode ser empregado em diversos cenários de pesquisa. Por exemplo, a Microscopia de Força Magnética MFM permite a investigação de domínios e propriedades magnéticas em materiais magnéticos, tornando-a essencial na pesquisa de armazenamento de dados e spintrônica.

Os modos de operação como Modo Tap, Modo de contato, Modo de elevação e Modo de imagem de fase oferecem flexibilidade na imagem de diferentes tipos de amostras com propriedades mecânicas variadas. O Modo Tap é frequentemente usado para espécimes macios ou delicados, enquanto o Modo de contato fornece imagens de alta resolução para superfícies rígidas. O Modo de elevação ajuda a separar os sinais topográficos e magnéticos ou eletrostáticos durante as medições MFM e EFM, aprimorando a clareza dos dados.

Além disso, o AtomExplorer incorpora o Modo de Inserção Segura da Agulha, uma tecnologia de proteção da ponta que garante a longevidade da ponta da sonda e evita danos durante o engajamento da amostra, reduzindo o tempo de inatividade e os custos de manutenção. Esse recurso é particularmente benéfico em ambientes de alto rendimento, onde confiabilidade e precisão são primordiais.

Em resumo, o AtomExplorer da Truth Instruments é um Microscópio AFM altamente adaptável, adequado para aplicações que exigem imagens de topografia em nanoescala detalhadas e medições de força multifuncionais. Seja usado em pesquisa acadêmica, controle de qualidade industrial ou desenvolvimento avançado de materiais, os recursos abrangentes e as capacidades de varredura deste instrumento o tornam uma excelente escolha. Para preços, o preço é negociável, e os clientes interessados ​​são incentivados a entrar em contato com a Truth Instruments para obter uma cotação detalhada.


Enviar uma Consulta

Obter uma Cotação Rápida