AtomExplorer: میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح کمتر از نانومتر

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک ابزار بسیار متنوع و قابل اعتماد است که برای ارائه تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو با دقت و پایداری استثنایی طراحی شده است. این AFM که برای محققان و متخصصانی که به قابلیت‌های اسکن با کارایی بالا نیاز دارند، مهندسی شده است، مجموعه‌ای جامع از ویژگی‌ها را ارائه می‌دهد که آن را به ابزاری ضروری در زمینه فناوری نانو و علم مواد تبدیل می‌کند.

یکی از ویژگی‌های برجسته این میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه، محدوده اسکن چشمگیر آن است. این دستگاه از دو حالت عملکرد پشتیبانی می‌کند: یک محدوده اسکن وسیع 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر و یک حالت متمرکزتر و با وضوح بالاتر 30 میکرومتر * 30 میکرومتر * 5 میکرومتر. این انعطاف‌پذیری کاربران را قادر می‌سازد تا ساختارهای سطحی دقیقی را در اندازه‌ها و انواع مختلف نمونه‌ها ثبت کنند و آن را برای بررسی‌های گسترده و تجزیه و تحلیل‌های عمیق در سطح نانو ایده‌آل می‌کند.

این میکروسکوپ از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ استفاده می‌کند که پوشش جامع و کنترل دقیق بر فرآیند اسکن را تضمین می‌کند. این تکنیک اسکن پیشرفته به ابزار اجازه می‌دهد تا دقت و تکرارپذیری ثابتی را در سراسر سطح نمونه حفظ کند. چه در حال بررسی سطوح صاف باشید و چه توپوگرافی‌های پیچیده، قابلیت اسکن سه محوره نتایج تصویربرداری کامل و قابل اعتمادی را تضمین می‌کند.

AFM از نوع پایه با تطبیق نمونه‌هایی تا قطر 25 میلی‌متر، فضای کافی را برای طیف وسیعی از اندازه‌های نمونه فراهم می‌کند. این ظرفیت آن را برای کاربردهای مختلف تحقیقاتی، از جمله مواد نیمه‌رسانا، نمونه‌های بیولوژیکی، پلیمرها و سایر مواد نانوساختار مناسب می‌کند. سازگاری با اندازه نمونه بزرگ، تطبیق‌پذیری و قابلیت استفاده ابزار را در تحقیقات علمی متنوع افزایش می‌دهد.

علاوه بر تصویربرداری توپوگرافی استاندارد، این مدل AFM شامل قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره است که دامنه کاربرد آن را به طور قابل توجهی گسترش می‌دهد. این دستگاه می‌تواند به عنوان یک میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) عمل کند و امکان تجزیه و تحلیل توزیع بار سطحی و خواص الکترواستاتیکی را فراهم می‌کند. به عنوان یک میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، اطلاعات ارزشمندی در مورد پتانسیل سطح و تغییرات تابع کار ارائه می‌دهد که در علم مواد و تحقیقات نیمه‌رسانا حیاتی هستند.

میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه همچنین از میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) پشتیبانی می‌کند و امکان مطالعه مواد پیزوالکتریک و فروالکتریک را با اندازه‌گیری پاسخ‌های الکترومکانیکی در مقیاس نانو فراهم می‌کند. علاوه بر این، به عنوان یک میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) عمل می‌کند که برای بررسی دامنه‌های مغناطیسی و ساختارهای نانومغناطیسی ضروری است. این حالت‌های چند منظوره، این ابزار را به یک پلتفرم تحلیلی قدرتمند برای مشخصه‌سازی جامع سطح و مواد تبدیل می‌کند.

یکی دیگر از جنبه‌های مهم AFM از نوع پایه، سطح نویز محور Z استثنایی آن است که به اندازه 0.04 نانومتر است. این کف نویز فوق‌العاده کم، گواهی بر طراحی پایداری بالا و مهندسی دقیق ابزار است و اطمینان می‌دهد که حتی ظریف‌ترین ویژگی‌های سطح نیز بدون تداخل یا اعوجاج به دقت ثبت می‌شوند. سطح نویز کم، به ویژه هنگام انجام اندازه‌گیری‌های حساسی که به وضوح و تکرارپذیری بالا نیاز دارند، مفید است.

برای محققان و آزمایشگاه‌هایی که به دنبال خرید تجهیزات میکروسکوپ نیروی اتمی هستند که ترکیبی از قابلیت اطمینان، عملکرد پیشرفته و سهولت استفاده را ارائه می‌دهد، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه به عنوان یک انتخاب عالی برجسته می‌شود. طراحی AFM با پایداری بالا، عملکرد ثابت را تضمین می‌کند و کاربران را قادر می‌سازد تا تحقیقات دقیق در مقیاس نانو را با اطمینان انجام دهند.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه تعادل کاملی از محدوده اسکن، قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره و عملکرد دقیق را ارائه می‌دهد. چه برای تحقیقات دانشگاهی، کاربردهای صنعتی یا کنترل کیفیت، این ابزار تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو را با دقت و تطبیق‌پذیری برتر ارائه می‌دهد. ویژگی‌های قوی و عملکرد کاربرپسند آن، آن را به یک دارایی ضروری برای هر کسی که به دنبال کشف و درک خواص مواد در مقیاس نانو است، تبدیل می‌کند.

ویژگی‌ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه
• اندازه‌گیری‌های چند منظوره شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
• پشتیبانی از میکروسکوپ نیروی پروب کلوین برای تجزیه و تحلیل پیشرفته پتانسیل سطح
• روش اسکن: اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ برای پوشش جامع نمونه
• سطح نویز محور Z: 0.04 نانومتر که دقت و حساسیت بالا را تضمین می‌کند
• سازگاری با اندازه نمونه: 25 میلی‌متر که طیف وسیعی از نمونه‌ها را در خود جای می‌دهد
• حالت‌های عملکرد: حالت ضربه‌ای، حالت تماسی، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز برای گزینه‌های تصویربرداری متنوع
• راه‌حل‌های AFM قابل تنظیم را متناسب با نیازهای تحقیقاتی خاص ارائه می‌دهد
• به عنوان یک میکروسکوپ مقیاس نانو برای مشخصه‌سازی دقیق سطح در مقیاس نانومتر طراحی شده است

پارامترهای فنی:

کاربردها:

AtomExplorer Truth Instruments، یک میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه که منشا آن چین است، برای پاسخگویی به طیف گسترده‌ای از موارد و سناریوهای کاربرد محصول طراحی شده است. قابلیت‌های متنوع آن، آن را به ابزاری ضروری برای محققان، دانشمندان و مهندسانی تبدیل می‌کند که در فناوری نانو، علم مواد، تحقیقات نیمه‌رسانا و مطالعات بیولوژیکی کار می‌کنند.

یکی از موارد اصلی کاربرد میکروسکوپ AFM AtomExplorer، تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو است. روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ امکان اسکن دقیق و جامع سطوح نمونه را تا اندازه 25 میلی‌متر فراهم می‌کند و امکان تجسم دقیق ساختارهای سطحی را در مقیاس نانو فراهم می‌کند. این امر آن را برای مشخصه‌سازی موادی مانند فیلم‌های نازک، پلیمرها، نانوکامپوزیت‌ها و نمونه‌های بیولوژیکی که در آن ریخت‌شناسی سطح نقش مهمی ایفا می‌کند، ایده‌آل می‌کند.

قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره AtomExplorer، قابلیت استفاده آن را به طور قابل توجهی گسترش می‌دهد. این ابزار با حالت‌های یکپارچه‌ای مانند میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) می‌تواند در سناریوهای تحقیقاتی متنوعی مورد استفاده قرار گیرد. به عنوان مثال، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی MFM امکان بررسی دامنه‌ها و خواص مغناطیسی را در مواد مغناطیسی فراهم می‌کند و آن را در تحقیقات ذخیره‌سازی داده‌ها و اسپینترونیک ضروری می‌کند.

حالت‌های عملکردی مانند حالت ضربه‌ای، حالت تماسی، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز، انعطاف‌پذیری را در تصویربرداری انواع مختلف نمونه‌ها با خواص مکانیکی متفاوت ارائه می‌دهند. حالت ضربه‌ای اغلب برای نمونه‌های نرم یا ظریف استفاده می‌شود، در حالی که حالت تماسی تصویربرداری با وضوح بالا را برای سطوح سفت و سخت فراهم می‌کند. حالت بالابر به جداسازی سیگنال‌های توپوگرافی و مغناطیسی یا الکترواستاتیکی در طول اندازه‌گیری‌های MFM و EFM کمک می‌کند و وضوح داده‌ها را افزایش می‌دهد.

علاوه بر این، AtomExplorer حالت درج سوزن ایمن را در خود جای داده است، یک فناوری محافظت از نوک که طول عمر نوک پروب را تضمین می‌کند و از آسیب در طول درگیری نمونه جلوگیری می‌کند، زمان خرابی و هزینه‌های نگهداری را کاهش می‌دهد. این ویژگی به ویژه در محیط‌های با توان عملیاتی بالا که قابلیت اطمینان و دقت در اولویت هستند، مفید است.

به طور خلاصه، AtomExplorer Truth Instruments یک میکروسکوپ AFM بسیار سازگار است که برای کاربردهایی که نیاز به تصویربرداری توپوگرافی دقیق در مقیاس نانو و اندازه‌گیری‌های چند منظوره نیرو دارند، مناسب است. چه در تحقیقات دانشگاهی، کنترل کیفیت صنعتی یا توسعه مواد پیشرفته استفاده شود، ویژگی‌های جامع و قابلیت‌های اسکن این ابزار، آن را به یک انتخاب عالی تبدیل می‌کند. برای قیمت‌گذاری، قیمت قابل مذاکره است و مشتریان علاقه‌مند تشویق می‌شوند تا برای دریافت قیمت دقیق با Truth Instruments تماس بگیرند.