AtomExplorer: Субнанометровый микроскоп атомной силы

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и надежный прибор, предназначенный для получения точных изображений наноразмерной топографии с исключительной точностью и стабильностью. Разработанный для исследователей и профессионалов, которым требуются высокопроизводительные возможности сканирования, этот АСМ предлагает полный набор функций, которые делают его незаменимым инструментом в области нанотехнологий и материаловедения.

Одной из выдающихся особенностей этого атомно-силового микроскопа базового типа является впечатляющий диапазон сканирования. Он поддерживает два режима работы: широкий диапазон сканирования 100 μм * 100 μм * 10 μм и более сфокусированный режим с более высоким разрешением 30 μм * 30 μм * 5 μм. Эта гибкость позволяет пользователям получать детальные структуры поверхности для различных размеров и типов образцов, что делает его идеальным как для широких обзоров, так и для углубленного анализа на наноуровне.

Микроскоп использует трехкоординатный метод сканирования образца по трем осям XYZ, что обеспечивает всесторонний охват и точный контроль над процессом сканирования. Эта передовая технология сканирования позволяет прибору поддерживать постоянную точность и повторяемость по всей поверхности образца. Независимо от того, изучаете ли вы плоские поверхности или сложные топографии, трехкоординатная возможность сканирования гарантирует тщательные и надежные результаты визуализации.

Рассчитанный на образцы диаметром до Φ 25 мм, АСМ базового типа предоставляет достаточно места для широкого спектра размеров образцов. Эта возможность делает его подходящим для различных исследовательских применений, включая полупроводниковые материалы, биологические образцы, полимеры и другие наноструктурированные материалы. Совместимость с большими размерами образцов повышает универсальность и удобство использования прибора в различных научных исследованиях.

В дополнение к стандартной топографической визуализации, эта модель АСМ включает в себя многофункциональные измерительные возможности, которые значительно расширяют область ее применения. Он может функционировать как микроскоп электростатических сил (EFM), позволяющий анализировать распределение поверхностного заряда и электростатические свойства. Как микроскоп сканирующего зонда Кельвина (KPFM), он предоставляет ценную информацию о поверхностном потенциале и изменениях работы выхода, которые имеют решающее значение в материаловедении и исследованиях полупроводников.

Атомно-силовой микроскоп базового типа также поддерживает пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), позволяющую изучать пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические материалы путем измерения электромеханических откликов на наноуровне. Кроме того, он работает как микроскоп магнитных сил (MFM), который необходим для исследования магнитных доменов и наномагнитных структур. Эти многофункциональные режимы делают прибор мощной аналитической платформой для всесторонней характеристики поверхности и материала.

Еще одним важным аспектом АСМ базового типа является его исключительный уровень шума по оси Z, который составляет всего 0,04 нм. Этот сверхнизкий уровень шума является свидетельством высокой стабильности конструкции прибора и прецизионной инженерии, гарантируя, что даже самые тонкие особенности поверхности будут точно зафиксированы без помех или искажений. Низкий уровень шума особенно полезен при выполнении чувствительных измерений, требующих высокого разрешения и повторяемости.

Для исследователей и лабораторий, желающих купить оборудование для атомно-силового микроскопа, которое сочетает в себе надежность, расширенную функциональность и простоту использования, атомно-силовой микроскоп базового типа выделяется как отличный выбор. Его конструкция АСМ с высокой стабильностью гарантирует стабильную производительность, позволяя пользователям проводить детальные наноразмерные исследования с уверенностью.

В заключение, атомно-силовой микроскоп базового типа предлагает идеальный баланс между диапазоном сканирования, многофункциональными измерительными возможностями и прецизионной производительностью. Будь то для академических исследований, промышленных применений или контроля качества, этот прибор обеспечивает наноразмерную топографическую визуализацию с превосходной точностью и универсальностью. Его надежные функции и удобное управление делают его незаменимым активом для всех, кто стремится исследовать и понимать свойства материалов на наноуровне.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп базового типа
• Многофункциональные измерения, включая микроскоп электростатических сил (EFM), микроскоп сканирующего зонда Кельвина (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и микроскоп магнитных сил (MFM)
• Поддерживает микроскопию силового зонда Кельвина для расширенного анализа поверхностного потенциала
• Метод сканирования: трехкоординатное сканирование образца по трем осям XYZ для всестороннего охвата образца
• Уровень шума по оси Z: 0,04 нм, обеспечивающий высокую точность и чувствительность
• Совместимость с размером образца: Φ 25 мм, вмещающий широкий спектр образцов
• Режимы работы: режим касания, контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации для универсальных вариантов визуализации
• Предлагает настраиваемые решения АСМ, адаптированные к конкретным исследовательским потребностям
• Разработан как наноразмерный микроскоп для детальной характеристики поверхности в нанометровом масштабе

Технические параметры:

Применения:

AtomExplorer от Truth Instruments, атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа, произведенный в Китае, предназначен для удовлетворения широкого спектра случаев и сценариев применения продукта. Его универсальные возможности делают его незаменимым инструментом для исследователей, ученых и инженеров, работающих в области нанотехнологий, материаловедения, исследований полупроводников и биологических исследований.

Одним из основных случаев применения микроскопа АСМ AtomExplorer является наноразмерная топографическая визуализация. Метод трехкоординатного сканирования образца по трем осям XYZ позволяет выполнять точное и всестороннее сканирование поверхностей образцов размером до Φ 25 мм, обеспечивая детальную визуализацию структур поверхности в наномасштабе. Это делает его идеальным для характеристики таких материалов, как тонкие пленки, полимеры, нанокомпозиты и биологические образцы, где морфология поверхности играет решающую роль.

Многофункциональные измерительные возможности AtomExplorer значительно расширяют его удобство использования. Благодаря интегрированным режимам, таким как микроскопия электростатических сил (EFM), микроскопия сканирующего зонда Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) и микроскопия магнитных сил (MFM), прибор может использоваться в различных исследовательских сценариях. Например, микроскопия магнитных сил MFM позволяет исследовать магнитные домены и свойства в магнитных материалах, что делает ее незаменимой в исследованиях хранения данных и спинтронике.

Режимы работы, такие как режим касания, контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации, обеспечивают гибкость при визуализации различных типов образцов с различными механическими свойствами. Режим касания часто используется для мягких или деликатных образцов, в то время как контактный режим обеспечивает визуализацию с высоким разрешением для жестких поверхностей. Режим подъема помогает разделять топографические и магнитные или электростатические сигналы во время измерений MFM и EFM, повышая четкость данных.

Кроме того, AtomExplorer включает в себя режим безопасного ввода иглы, технологию защиты наконечника, которая обеспечивает долговечность кончика зонда и предотвращает повреждение во время взаимодействия с образцом, сокращая время простоя и затраты на техническое обслуживание. Эта функция особенно полезна в средах с высокой пропускной способностью, где надежность и точность имеют первостепенное значение.

В заключение, AtomExplorer от Truth Instruments - это хорошо адаптируемый микроскоп АСМ, подходящий для применений, требующих детальной наноразмерной топографической визуализации и многофункциональных измерений силы. Независимо от того, используется ли он в академических исследованиях, контроле качества на производстве или разработке передовых материалов, всесторонние функции и возможности сканирования этого прибора делают его отличным выбором. Для получения информации о ценах цена договорная, и заинтересованным клиентам рекомендуется связаться с Truth Instruments для получения подробной расценки.