AtomExplorer: Субнанометровый микроскоп атомной силы

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и надежный прибор, предназначенный для получения точных изображений наноразмерной топографии с исключительной точностью и стабильностью. Разработанный для исследователей и профессионалов, которым требуются высокопроизводительные возможности сканирования, этот АСМ предлагает полный набор функций, которые делают его незаменимым инструментом в области нанотехнологий и материаловедения.

Одной из выдающихся особенностей этого атомно-силового микроскопа базового типа является его впечатляющий диапазон сканирования. Он поддерживает два режима работы: широкий диапазон сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм и более сфокусированный режим с более высоким разрешением 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм. Эта гибкость позволяет пользователям получать детальные структуры поверхности для различных размеров и типов образцов, что делает его идеальным как для широких обзоров, так и для углубленного анализа на наноуровне.

Микроскоп использует трехкоординатный метод сканирования образца по трем осям XYZ, что обеспечивает всесторонний охват и точный контроль над процессом сканирования. Эта передовая технология сканирования позволяет прибору поддерживать постоянную точность и повторяемость по всей поверхности образца. Независимо от того, изучаете ли вы плоские поверхности или сложные топографии, возможность сканирования по трем осям гарантирует тщательные и надежные результаты визуализации.

Рассчитанный на образцы диаметром до Φ 25 мм, АСМ базового типа предоставляет достаточно места для широкого спектра размеров образцов. Эта возможность делает его подходящим для различных исследовательских применений, включая полупроводниковые материалы, биологические образцы, полимеры и другие наноструктурированные материалы. Совместимость с большими размерами образцов повышает универсальность и удобство использования прибора в различных научных исследованиях.

В дополнение к стандартной топографической визуализации, эта модель АСМ включает в себя многофункциональные возможности измерения, которые значительно расширяют область ее применения. Он может функционировать как электростатический силовой микроскоп (EFM), позволяющий анализировать распределение поверхностного заряда и электростатические свойства. В качестве сканирующего микроскопа Кельвина (KPFM) он предоставляет ценную информацию об изменениях поверхностного потенциала и работы выхода, что имеет решающее значение в материаловедении и исследованиях полупроводников.

Атомно-силовой микроскоп базового типа также поддерживает пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), позволяющую изучать пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические материалы путем измерения электромеханических откликов на наноуровне. Кроме того, он работает как магнитный силовой микроскоп (MFM), который необходим для исследования магнитных доменов и наномагнитных структур. Эти многофункциональные режимы делают прибор мощной аналитической платформой для всесторонней характеристики поверхности и материала.

Еще одним важным аспектом АСМ базового типа является его исключительный уровень шума по оси Z, который составляет всего 0,04 нм. Этот сверхнизкий уровень шума является свидетельством высокой стабильности конструкции прибора и точной инженерии, гарантируя, что даже самые тонкие особенности поверхности будут точно зафиксированы без помех или искажений. Низкий уровень шума особенно полезен при выполнении чувствительных измерений, требующих высокого разрешения и повторяемости.

Для исследователей и лабораторий, желающих купить оборудование для атомно-силового микроскопа, которое сочетает в себе надежность, расширенную функциональность и простоту использования, атомно-силовой микроскоп базового типа выделяется как отличный выбор. Его конструкция АСМ с высокой стабильностью гарантирует стабильную производительность, позволяя пользователям проводить детальные наноразмерные исследования с уверенностью.

В заключение, атомно-силовой микроскоп базового типа предлагает идеальный баланс между диапазоном сканирования, многофункциональными возможностями измерения и точностью работы. Будь то для академических исследований, промышленных применений или контроля качества, этот прибор обеспечивает наноразмерную топографическую визуализацию с превосходной точностью и универсальностью. Его надежные функции и удобное управление делают его незаменимым активом для всех, кто стремится исследовать и понимать свойства материалов на наноуровне.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп базового типа
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Поддерживает силовую микроскопию Кельвина для расширенного анализа поверхностного потенциала
• Метод сканирования: трехкоординатное сканирование образца по трем осям XYZ для всестороннего охвата образца
• Уровень шума по оси Z: 0,04 нм, обеспечивающий высокую точность и чувствительность
• Совместимость с размером образца: Φ 25 мм, вмещающий широкий спектр образцов
• Режимы работы: режим касания, режим контакта, режим подъема и режим фазовой визуализации для универсальных вариантов визуализации
• Предлагает настраиваемые решения АСМ, адаптированные к конкретным исследовательским потребностям
• Разработан как наноразмерный микроскоп для детальной характеристики поверхности на нанометровом уровне

Технические параметры:

Применения:

AtomExplorer от Truth Instruments, атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа, произведенный в Китае, предназначен для удовлетворения широкого спектра случаев и сценариев применения продукта. Его универсальные возможности делают его незаменимым инструментом для исследователей, ученых и инженеров, работающих в области нанотехнологий, материаловедения, исследований полупроводников и биологических исследований.

Одним из основных случаев применения микроскопа AtomExplorer AFM является наноразмерная топографическая визуализация. Метод трехкоординатного сканирования образца по трем осям XYZ позволяет выполнять точное и всестороннее сканирование поверхностей образцов размером до Φ 25 мм, обеспечивая детальную визуализацию структур поверхности на наноуровне. Это делает его идеальным для характеристики таких материалов, как тонкие пленки, полимеры, нанокомпозиты и биологические образцы, где морфология поверхности играет решающую роль.

Многофункциональные возможности измерения AtomExplorer значительно расширяют его удобство использования. Благодаря интегрированным режимам, таким как электростатическая силовая микроскопия (EFM), сканирующая микроскопия Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) и магнитная силовая микроскопия (MFM), прибор может использоваться в различных исследовательских сценариях. Например, магнитная силовая микроскопия MFM позволяет исследовать магнитные домены и свойства в магнитных материалах, что делает ее незаменимой в исследованиях хранения данных и спинтронике.

Режимы работы, такие как режим касания, режим контакта, режим подъема и режим фазовой визуализации, обеспечивают гибкость при визуализации различных типов образцов с различными механическими свойствами. Режим касания часто используется для мягких или деликатных образцов, в то время как режим контакта обеспечивает визуализацию с высоким разрешением для жестких поверхностей. Режим подъема помогает в разделении топографических и магнитных или электростатических сигналов во время измерений MFM и EFM, повышая четкость данных.

Кроме того, AtomExplorer включает в себя режим безопасного ввода иглы, технологию защиты наконечника, которая обеспечивает долговечность кончика зонда и предотвращает повреждение во время взаимодействия с образцом, сокращая время простоя и затраты на техническое обслуживание. Эта функция особенно полезна в средах с высокой пропускной способностью, где надежность и точность имеют первостепенное значение.

В заключение, AtomExplorer от Truth Instruments - это очень адаптируемый микроскоп АСМ, подходящий для применений, требующих детальной наноразмерной топографической визуализации и многофункциональных измерений силы. Независимо от того, используется ли он в академических исследованиях, промышленном контроле качества или разработке передовых материалов, всесторонние функции и возможности сканирования этого прибора делают его отличным выбором. Что касается ценообразования, цена договорная, и заинтересованным клиентам рекомендуется связаться с Truth Instruments для получения подробной информации.