AtomExplorer: Mikroskop sił atomowych o rozdzielczości subnanometrowej

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic to wysoce wszechstronne i niezawodne urządzenie, zaprojektowane w celu zapewnienia precyzyjnego obrazowania topografii w nanoskali z wyjątkową dokładnością i stabilnością. Zaprojektowany dla naukowców i profesjonalistów, którzy wymagają wysokiej wydajności skanowania, ten AFM oferuje kompleksowy zestaw funkcji, które czynią go niezbędnym narzędziem w dziedzinie nanotechnologii i nauki o materiałach.

Jedną z wyróżniających cech tego mikroskopu sił atomowych typu Basic jest jego imponujący zakres skanowania. Obsługuje on dwa tryby pracy: szeroki zakres skanowania 100 μm * 100 μm * 10 μm oraz bardziej skupiony tryb o wyższej rozdzielczości 30 μm * 30 μm * 5 μm. Ta elastyczność pozwala użytkownikom na rejestrowanie szczegółowych struktur powierzchni w różnych rozmiarach i typach próbek, co czyni go idealnym zarówno do szerokich przeglądów, jak i dogłębnych analiz na poziomie nanometrycznym.

Mikroskop wykorzystuje metodę skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ, co zapewnia kompleksowe pokrycie i precyzyjną kontrolę nad procesem skanowania. Ta zaawansowana technika skanowania pozwala urządzeniu na utrzymanie stałej dokładności i powtarzalności na całej powierzchni próbki. Niezależnie od tego, czy badasz płaskie powierzchnie, czy złożone topografie, możliwość skanowania w trzech osiach gwarantuje dokładne i wiarygodne wyniki obrazowania.

Pomieści próbki o średnicy do Φ 25 mm, AFM typu Basic zapewnia wystarczającą przestrzeń dla szerokiego zakresu rozmiarów próbek. Ta pojemność sprawia, że nadaje się do różnych zastosowań badawczych, w tym materiałów półprzewodnikowych, próbek biologicznych, polimerów i innych materiałów nanostrukturalnych. Kompatybilność z dużymi rozmiarami próbek zwiększa wszechstronność i użyteczność instrumentu w różnorodnych badaniach naukowych.

Oprócz standardowego obrazowania topograficznego, ten model AFM zawiera wielofunkcyjne możliwości pomiarowe, które znacznie rozszerzają jego zakres zastosowań. Może funkcjonować jako mikroskop sił elektrostatycznych (EFM), umożliwiając analizę rozkładów ładunków powierzchniowych i właściwości elektrostatycznych. Jako mikroskop skaningowy z sondą Kelvina (KPFM) dostarcza cennych informacji na temat potencjału powierzchniowego i zmian funkcji pracy, które są krytyczne w nauce o materiałach i badaniach nad półprzewodnikami.

Mikroskop sił atomowych typu Basic obsługuje również mikroskopię sił piezoelektrycznych (PFM), umożliwiając badanie materiałów piezoelektrycznych i ferroelektrycznych poprzez pomiar odpowiedzi elektromechanicznych w nanoskali. Ponadto działa jako mikroskop sił magnetycznych (MFM), który jest niezbędny do badania domen magnetycznych i nanostruktur magnetycznych. Te wielofunkcyjne tryby sprawiają, że instrument jest potężną platformą analityczną do kompleksowej charakterystyki powierzchni i materiałów.

Kolejnym krytycznym aspektem AFM typu Basic jest jego wyjątkowy poziom szumów w osi Z, który wynosi zaledwie 0,04 nm. Ten ultra-niski poziom szumów jest świadectwem wysokiej stabilności konstrukcji instrumentu i precyzyjnej inżynierii, zapewniając, że nawet najbardziej subtelne cechy powierzchni są dokładnie rejestrowane bez zakłóceń i zniekształceń. Niski poziom szumów jest szczególnie korzystny podczas wykonywania czułych pomiarów, które wymagają wysokiej rozdzielczości i powtarzalności.

Dla naukowców i laboratoriów poszukujących sprzętu do zakupu mikroskopu sił atomowych, który łączy w sobie niezawodność, zaawansowaną funkcjonalność i łatwość obsługi, mikroskop sił atomowych typu Basic wyróżnia się jako doskonały wybór. Jego konstrukcja AFM o wysokiej stabilności gwarantuje stałą wydajność, umożliwiając użytkownikom prowadzenie szczegółowych badań w nanoskali z pewnością.

Podsumowując, mikroskop sił atomowych typu Basic oferuje idealną równowagę między zakresem skanowania, wielofunkcyjnymi możliwościami pomiarowymi i precyzyjną wydajnością. Niezależnie od tego, czy chodzi o badania akademickie, zastosowania przemysłowe czy kontrolę jakości, to urządzenie zapewnia obrazowanie topografii w nanoskali z najwyższą dokładnością i wszechstronnością. Jego solidne funkcje i przyjazna dla użytkownika obsługa sprawiają, że jest to niezbędny atut dla każdego, kto chce badać i rozumieć właściwości materiałów w nanoskali.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych typu Basic
• Wielofunkcyjne pomiary, w tym mikroskop sił elektrostatycznych (EFM), mikroskop skaningowy Kelvina (KPFM), mikroskop sił piezoelektrycznych (PFM) i mikroskop sił magnetycznych (MFM)
• Obsługuje mikroskopię sił z sondą Kelvina do zaawansowanej analizy potencjału powierzchniowego
• Metoda skanowania: skanowanie pełnej próbki w trzech osiach XYZ dla kompleksowego pokrycia próbki
• Poziom szumów w osi Z: 0,04 Nm zapewniający wysoką precyzję i czułość
• Kompatybilność rozmiaru próbki: Φ 25 mm, mieszcząca szeroki zakres próbek
• Tryby pracy: tryb Tap, tryb Contact, tryb Lift i tryb obrazowania fazowego dla wszechstronnych opcji obrazowania
• Oferuje konfigurowalne rozwiązania AFM dostosowane do specyficznych potrzeb badawczych
• Zaprojektowany jako mikroskop w nanoskali do szczegółowej charakterystyki powierzchni w skali nanometrów

Parametry techniczne:

Zastosowania:

AtomExplorer firmy Truth Instruments, mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic pochodzący z Chin, został zaprojektowany tak, aby zaspokoić szeroki zakres okazji i scenariuszy zastosowań produktu. Jego wszechstronne możliwości sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie dla naukowców, badaczy i inżynierów pracujących w nanotechnologii, nauce o materiałach, badaniach nad półprzewodnikami i badaniach biologicznych.

Jedną z podstawowych okazji zastosowania mikroskopu AFM AtomExplorer jest obrazowanie topografii w nanoskali. Metoda skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ pozwala na precyzyjne i kompleksowe skanowanie powierzchni próbek o rozmiarze do Φ 25 mm, umożliwiając szczegółową wizualizację struktur powierzchni w nanoskali. To sprawia, że jest idealny do charakteryzowania materiałów takich jak cienkie warstwy, polimery, nanokompozyty i próbki biologiczne, w których morfologia powierzchni odgrywa kluczową rolę.

Wielofunkcyjne możliwości pomiarowe AtomExplorera znacznie rozszerzają jego użyteczność. Dzięki zintegrowanym trybom, takim jak mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM), mikroskopia skaningowa z sondą Kelvina (KPFM), mikroskopia sił piezoelektrycznych (PFM) i mikroskopia sił magnetycznych (MFM), instrument może być wykorzystywany w różnych scenariuszach badawczych. Na przykład mikroskopia sił magnetycznych MFM pozwala na badanie domen magnetycznych i właściwości w materiałach magnetycznych, co czyni ją niezbędną w badaniach nad przechowywaniem danych i spintronice.

Tryby pracy, takie jak tryb Tap, tryb Contact, tryb Lift i tryb obrazowania fazowego, oferują elastyczność w obrazowaniu różnych typów próbek o zróżnicowanych właściwościach mechanicznych. Tryb Tap jest często używany do miękkich lub delikatnych próbek, podczas gdy tryb Contact zapewnia obrazowanie o wysokiej rozdzielczości dla sztywnych powierzchni. Tryb Lift pomaga w oddzieleniu sygnałów topograficznych i magnetycznych lub elektrostatycznych podczas pomiarów MFM i EFM, poprawiając przejrzystość danych.

Ponadto AtomExplorer zawiera tryb bezpiecznego wprowadzania igły, technologię ochrony końcówki, która zapewnia trwałość końcówki sondy i zapobiega uszkodzeniom podczas kontaktu z próbką, zmniejszając przestoje i koszty konserwacji. Ta funkcja jest szczególnie korzystna w środowiskach o dużej przepustowości, gdzie niezawodność i precyzja są najważniejsze.

Podsumowując, Truth Instruments AtomExplorer to wysoce adaptowalny mikroskop AFM odpowiedni do zastosowań wymagających szczegółowego obrazowania topografii w nanoskali i wielofunkcyjnych pomiarów sił. Niezależnie od tego, czy jest używany w badaniach akademickich, kontroli jakości przemysłowej czy zaawansowanym rozwoju materiałów, kompleksowe funkcje i możliwości skanowania tego instrumentu sprawiają, że jest to doskonały wybór. Jeśli chodzi o cenę, cena jest do negocjacji, a zainteresowani klienci są zachęcani do kontaktu z Truth Instruments w celu uzyskania szczegółowej wyceny.