AtomExplorer: Microscopio de fuerza atómica con resolución subnanométrica

Descripción del producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico es un instrumento altamente versátil y confiable diseñado para ofrecer imágenes de topografía a nanoescala precisas con una exactitud y estabilidad excepcionales. Diseñado para investigadores y profesionales que exigen capacidades de escaneo de alto rendimiento, este AFM ofrece un conjunto completo de características que lo convierten en una herramienta indispensable en el campo de la nanotecnología y la ciencia de los materiales.

Una de las características destacadas de este Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es su impresionante rango de escaneo. Admite dos modos de funcionamiento: un amplio rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm y un modo más enfocado y de mayor resolución de 30 μm * 30 μm * 5 μm. Esta flexibilidad permite a los usuarios capturar estructuras de superficie detalladas en una variedad de tamaños y tipos de muestras, lo que lo hace ideal tanto para estudios generales como para análisis en profundidad a nivel de nanoescala.

El microscopio utiliza un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, lo que garantiza una cobertura completa y un control preciso sobre el proceso de escaneo. Esta técnica de escaneo avanzada permite que el instrumento mantenga una precisión y repetibilidad constantes en toda la superficie de la muestra. Ya sea que esté examinando superficies planas o topografías complejas, la capacidad de escaneo de tres ejes garantiza resultados de imagen completos y confiables.

Con capacidad para muestras de hasta un diámetro de Φ 25 mm, el AFM de tipo Básico proporciona un amplio espacio para una amplia gama de tamaños de especímenes. Esta capacidad lo hace adecuado para diversas aplicaciones de investigación, incluidos materiales semiconductores, muestras biológicas, polímeros y otros materiales nanoestructurados. La compatibilidad con muestras de gran tamaño mejora la versatilidad y usabilidad del instrumento en diversas investigaciones científicas.

Además de las imágenes topográficas estándar, este modelo de AFM incluye capacidades de medición multifuncionales que amplían significativamente su rango de aplicación. Puede funcionar como un Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), lo que permite el análisis de las distribuciones de carga superficial y las propiedades electrostáticas. Como un Microscopio de Sonda Kelvin de Barrido (KPFM), proporciona información valiosa sobre el potencial de superficie y las variaciones de la función de trabajo, que son fundamentales en la ciencia de los materiales y la investigación de semiconductores.

El Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico también admite la Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), lo que permite el estudio de materiales piezoeléctricos y ferroeléctricos mediante la medición de respuestas electromecánicas a nanoescala. Además, funciona como un Microscopio de Fuerza Magnética (MFM), que es esencial para investigar dominios magnéticos y estructuras nanomagnéticas. Estos modos multifuncionales convierten al instrumento en una poderosa plataforma analítica para la caracterización integral de superficies y materiales.

Otro aspecto crítico del AFM de tipo Básico es su excepcional nivel de ruido en el eje Z, que es tan bajo como 0,04 nm. Este nivel de ruido ultrabajo es un testimonio del diseño de alta estabilidad y la ingeniería de precisión del instrumento, lo que garantiza que incluso las características de superficie más sutiles se capturen con precisión sin interferencias ni distorsiones. El bajo nivel de ruido es particularmente beneficioso al realizar mediciones sensibles que requieren alta resolución y repetibilidad.

Para los investigadores y laboratorios que buscan comprar equipos de Microscopio de Fuerza Atómica que combinen confiabilidad, funcionalidad avanzada y facilidad de uso, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico se destaca como una excelente opción. Su diseño AFM de alta estabilidad garantiza un rendimiento constante, lo que permite a los usuarios realizar investigaciones detalladas a nanoescala con confianza.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico ofrece un equilibrio perfecto entre rango de escaneo, capacidades de medición multifuncionales y rendimiento de precisión. Ya sea para investigación académica, aplicaciones industriales o control de calidad, este instrumento proporciona imágenes de topografía a nanoescala con una precisión y versatilidad superiores. Sus sólidas características y su funcionamiento fácil de usar lo convierten en un activo esencial para cualquiera que busque explorar y comprender las propiedades de los materiales a nanoescala.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico
• Mediciones multifuncionales que incluyen Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopio de Fuerza Magnética (MFM)
• Admite la Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin para el análisis avanzado del potencial de superficie
• Método de escaneo: Escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ para una cobertura completa de la muestra
• Nivel de ruido del eje Z: 0,04 Nm que garantiza alta precisión y sensibilidad
• Compatibilidad con el tamaño de la muestra: Φ 25 mm que acomoda una amplia gama de especímenes
• Modos de funcionamiento: Modo Tap, Modo Contacto, Modo Lift y Modo de Imagen de Fase para opciones de imagen versátiles
• Ofrece soluciones AFM personalizables adaptadas a las necesidades específicas de la investigación
• Diseñado como un Microscopio a nanoescala para la caracterización detallada de la superficie a escala nanométrica

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomExplorer, un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico originario de China, está diseñado para satisfacer una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos. Sus versátiles capacidades lo convierten en una herramienta indispensable para investigadores, científicos e ingenieros que trabajan en nanotecnología, ciencia de materiales, investigación de semiconductores y estudios biológicos.

Una de las principales ocasiones de aplicación del Microscopio AFM AtomExplorer es la obtención de imágenes de topografía a nanoescala. El método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ permite un escaneo preciso y completo de las superficies de las muestras de hasta Φ 25 mm de tamaño, lo que permite la visualización detallada de las estructuras de la superficie a nanoescala. Esto lo hace ideal para caracterizar materiales como películas delgadas, polímeros, nanocompuestos y muestras biológicas donde la morfología de la superficie juega un papel crucial.

Las capacidades de medición multifuncionales del AtomExplorer amplían significativamente su usabilidad. Con modos integrados como Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Sonda Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), el instrumento se puede emplear en diversos escenarios de investigación. Por ejemplo, la Microscopía de Fuerza Magnética MFM permite la investigación de dominios y propiedades magnéticas en materiales magnéticos, lo que la hace esencial en la investigación del almacenamiento de datos y la espintrónica.

Los modos de funcionamiento como el Modo Tap, el Modo Contacto, el Modo Lift y el Modo de Imagen de Fase ofrecen flexibilidad para obtener imágenes de diferentes tipos de muestras con diferentes propiedades mecánicas. El Modo Tap se utiliza a menudo para especímenes blandos o delicados, mientras que el Modo Contacto proporciona imágenes de alta resolución para superficies rígidas. El Modo Lift ayuda a separar las señales topográficas y magnéticas o electrostáticas durante las mediciones MFM y EFM, lo que mejora la claridad de los datos.

Además, el AtomExplorer incorpora el Modo de Inserción Segura de Aguja, una tecnología de protección de puntas que garantiza la longevidad de la punta de la sonda y evita daños durante el acoplamiento de la muestra, lo que reduce el tiempo de inactividad y los costos de mantenimiento. Esta característica es particularmente beneficiosa en entornos de alto rendimiento donde la confiabilidad y la precisión son primordiales.

En resumen, el Truth Instruments AtomExplorer es un Microscopio AFM altamente adaptable adecuado para aplicaciones que requieren imágenes de topografía a nanoescala detalladas y mediciones de fuerza multifuncionales. Ya sea que se utilice en investigación académica, control de calidad industrial o desarrollo de materiales avanzados, las completas características y capacidades de escaneo de este instrumento lo convierten en una excelente opción. Para conocer los precios, el precio es negociable y se anima a los clientes interesados a ponerse en contacto con Truth Instruments para obtener una cotización detallada.