0.15 Nm Microscopi ad alta risoluzione Microscopi atomici personalizzati
0.15 Nm Microscopi ad alta risoluzione
,Microscopi ad alta risoluzione personalizzati
,Microscopi atomici personalizzati
Proprietà di base
Proprietà Commerciali
Microscopio avanzato di forza atomica per immagini ad alta risoluzione
Descrizione del prodotto:
Il microscopio della forza atomica è uno strumento di ultima generazione progettato per l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi su nanoscala.questo AFM offre capacità di imaging a risoluzione atomica essenziali per una vasta gamma di applicazioni di ricerca.
Equipaggiato con molteplici modalità di imaging tra cui contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza e imaging di fase,questo AFM fornisce opzioni versatili per la cattura della topografia dettagliata della superficie e delle proprietà di vari campioni.
Una delle caratteristiche chiave di questo microscopio è la sua capacità di ospitare campioni fino a 200 mm, consentendo l'analisi di una vasta gamma di materiali e strutture.Se si stanno studiando campioni biologici, nanomateriali o pellicole sottili, questo AFM offre la flessibilità di gestire con facilità diversi tipi di campioni.
Con un angolo di scansione compreso tra 0 e 360°, gli utenti possono controllare con precisione l'orientamento e il posizionamento della sonda per catturare immagini dettagliate da diverse prospettive.Questa funzionalità è particolarmente utile per l'esame di campioni con geometrie o strutture complesse che richiedono immagini da più angolazioni.
Il Microscopio della Forza Atomica supporta vari tipi di sonde, tra cui sonde a silicio, diamanti, oro, platino e nanotubi di carbonio,fornire agli utenti la flessibilità di scegliere la sonda più adatta alle loro esigenze sperimentali specifiche. Sia che abbiate bisogno di un'elevata sensibilità per campioni morbidi o una maggiore durata per applicazioni impegnative, questo AFM offre una gamma di opzioni di sonda per soddisfare le vostre esigenze.
In sintesi, il microscopio della forza atomica è uno strumento potente per l'analisi su nanoscala, offrendo capacità di imaging a risoluzione atomica e una gamma versatile di modalità di imaging.Con le sue funzionalità avanzate e le opzioni di sonda personalizzabili, questo AFM fornisce ai ricercatori gli strumenti necessari per esplorare e caratterizzare una vasta gamma di materiali e strutture con precisione e precisione.
Caratteristiche:
- Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
- Moduli di immagine:
- Contatto
- Sfruttare
- Non a contatto
- Forza laterale
- Modulazione della forza
- Imaging di fase
- Tipo di sonda:
- Silicio
- Diamante
- D'oro
- Altri prodotti
- Nanotubi di carbonio
- Risoluzione: 0,15 Nm (risoluzione nanometrica)
- Dimensione del campione: fino a 200 mm
- Angolo di scansione: 0-360°
Parametri tecnici:
Dimensione del campione | Fino a 200 mm |
Risoluzione | 0.15 nm |
Distanza di scansione | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
Tipo di sonda | Silicio, diamanti, oro, platino, nanotubi di carbonio |
Moduli di immagini | Contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza, imaging di fase |
Angolo di scansione | 0-360° |
Applicazioni:
Strumenti di Verità AtomMax Microscopio della Forza Atomica, originario della Cina,è uno strumento versatile progettato per l'imaging ad alta risoluzione e le misurazioni precise in varie applicazioni scientifiche e industriali.
Con modalità di imaging tra cui contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza e imaging di fase,l'AtomMax offre capacità di misurazione multi-modo adatte a una vasta gamma di tipi di campioni e condizioni di superficie. Che si tratti di analizzare campioni biologici, polimeri, film sottili o nanomateriali, questo AFM si adatta a diverse esigenze di imaging con precisione di risoluzione atomica.
L'AtomMax può ospitare campioni fino a 200 mm, fornendo flessibilità per lo studio di campioni macroscopici pur offrendo l'alta risoluzione richiesta per analisi dettagliate.La sua gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm consente di ottenere immagini complete di campioni con diverse topografie e dimensioni.
Equipaggiato con opzioni di sonda come Silicio, Diamante, Oro, Platino e Nanotubi di Carbonio,l'AtomMax consente agli utenti di personalizzare il loro approccio di imaging in base alle proprietà del campione e ai livelli di risoluzione desideratiLa risoluzione di 0,15 nm assicura che anche le caratteristiche più piccole di un campione possano essere catturate e analizzate con precisione.
Occasioni e scenari di applicazione del prodotto:
- Scienze dei materiali: studiare la morfologia superficiale e le proprietà meccaniche dei materiali su scala nanometrica.
- Biotecnologia: indagare su campioni biologici con elevata precisione a fini di ricerca e sviluppo.
- Nanotecnologia: caratterizzare i nanomateriali e le nanostrutture per varie applicazioni.
- Farmaci: analizzare i sistemi di somministrazione dei farmaci e le formulazioni farmaceutiche con risoluzione atomica.
- Chimica superficiale: esplora le interazioni superficiali e le proprietà chimiche dei materiali.