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0.15 Nm Microscopi ad alta risoluzione Microscopi atomici personalizzati

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and
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0.15 Nm Microscopi ad alta risoluzione

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Microscopi ad alta risoluzione personalizzati

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Microscopi atomici personalizzati

Name: Microscopi ad alta risoluzione
Imaging Modes: Contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza, imaging di fase
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Resolution: 0,15 nm
Scanning Angle: 0-360 °
Probe Type: Silicio, diamante, oro, platino, nanotubo di carbonio
Sample Size: Fino a 200 mm

Proprietà di base

Marchio: Truth Instruments
Numero di modello: Atmax

Proprietà Commerciali

Prezzo: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condizioni di pagamento: T/t
Descrizione di prodotto

Microscopio avanzato di forza atomica per immagini ad alta risoluzione

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica è uno strumento di ultima generazione progettato per l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi su nanoscala.questo AFM offre capacità di imaging a risoluzione atomica essenziali per una vasta gamma di applicazioni di ricerca.

Equipaggiato con molteplici modalità di imaging tra cui contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza e imaging di fase,questo AFM fornisce opzioni versatili per la cattura della topografia dettagliata della superficie e delle proprietà di vari campioni.

Una delle caratteristiche chiave di questo microscopio è la sua capacità di ospitare campioni fino a 200 mm, consentendo l'analisi di una vasta gamma di materiali e strutture.Se si stanno studiando campioni biologici, nanomateriali o pellicole sottili, questo AFM offre la flessibilità di gestire con facilità diversi tipi di campioni.

Con un angolo di scansione compreso tra 0 e 360°, gli utenti possono controllare con precisione l'orientamento e il posizionamento della sonda per catturare immagini dettagliate da diverse prospettive.Questa funzionalità è particolarmente utile per l'esame di campioni con geometrie o strutture complesse che richiedono immagini da più angolazioni.

Il Microscopio della Forza Atomica supporta vari tipi di sonde, tra cui sonde a silicio, diamanti, oro, platino e nanotubi di carbonio,fornire agli utenti la flessibilità di scegliere la sonda più adatta alle loro esigenze sperimentali specifiche. Sia che abbiate bisogno di un'elevata sensibilità per campioni morbidi o una maggiore durata per applicazioni impegnative, questo AFM offre una gamma di opzioni di sonda per soddisfare le vostre esigenze.

In sintesi, il microscopio della forza atomica è uno strumento potente per l'analisi su nanoscala, offrendo capacità di imaging a risoluzione atomica e una gamma versatile di modalità di imaging.Con le sue funzionalità avanzate e le opzioni di sonda personalizzabili, questo AFM fornisce ai ricercatori gli strumenti necessari per esplorare e caratterizzare una vasta gamma di materiali e strutture con precisione e precisione.

Caratteristiche:

  • Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
  • Moduli di immagine:
    • Contatto
    • Sfruttare
    • Non a contatto
    • Forza laterale
    • Modulazione della forza
    • Imaging di fase
  • Tipo di sonda:
    • Silicio
    • Diamante
    • D'oro
    • Altri prodotti
    • Nanotubi di carbonio
  • Risoluzione: 0,15 Nm (risoluzione nanometrica)
  • Dimensione del campione: fino a 200 mm
  • Angolo di scansione: 0-360°

Parametri tecnici:

Dimensione del campione Fino a 200 mm
Risoluzione 0.15 nm
Distanza di scansione 100 μm x 100 μm x 10 μm
Tipo di sonda Silicio, diamanti, oro, platino, nanotubi di carbonio
Moduli di immagini Contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza, imaging di fase
Angolo di scansione 0-360°

Applicazioni:

Strumenti di Verità AtomMax Microscopio della Forza Atomica, originario della Cina,è uno strumento versatile progettato per l'imaging ad alta risoluzione e le misurazioni precise in varie applicazioni scientifiche e industriali.

Con modalità di imaging tra cui contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza e imaging di fase,l'AtomMax offre capacità di misurazione multi-modo adatte a una vasta gamma di tipi di campioni e condizioni di superficie. Che si tratti di analizzare campioni biologici, polimeri, film sottili o nanomateriali, questo AFM si adatta a diverse esigenze di imaging con precisione di risoluzione atomica.

L'AtomMax può ospitare campioni fino a 200 mm, fornendo flessibilità per lo studio di campioni macroscopici pur offrendo l'alta risoluzione richiesta per analisi dettagliate.La sua gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm consente di ottenere immagini complete di campioni con diverse topografie e dimensioni.

Equipaggiato con opzioni di sonda come Silicio, Diamante, Oro, Platino e Nanotubi di Carbonio,l'AtomMax consente agli utenti di personalizzare il loro approccio di imaging in base alle proprietà del campione e ai livelli di risoluzione desideratiLa risoluzione di 0,15 nm assicura che anche le caratteristiche più piccole di un campione possano essere catturate e analizzate con precisione.

Occasioni e scenari di applicazione del prodotto:

  • Scienze dei materiali: studiare la morfologia superficiale e le proprietà meccaniche dei materiali su scala nanometrica.
  • Biotecnologia: indagare su campioni biologici con elevata precisione a fini di ricerca e sviluppo.
  • Nanotecnologia: caratterizzare i nanomateriali e le nanostrutture per varie applicazioni.
  • Farmaci: analizzare i sistemi di somministrazione dei farmaci e le formulazioni farmaceutiche con risoluzione atomica.
  • Chimica superficiale: esplora le interazioni superficiali e le proprietà chimiche dei materiali.
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