0.15 Nm Microscopes à haute résolution Microscopes atomiques personnalisés

Description du produit :

Le microscope à force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce AFM offre des capacités d'imagerie à résolution atomique qui sont essentielles pour un large éventail d'applications de recherche.

Équipé de plusieurs modes d'imagerie, notamment Contact, Tapping, Non-Contact, Force latérale, Modulation de force et Imagerie de phase, ce AFM offre des options polyvalentes pour capturer la topographie et les propriétés de surface détaillées de divers échantillons.

L'une des principales caractéristiques de ce microscope à force atomique est sa capacité à accueillir des échantillons d'une taille allant jusqu'à 200 mm, ce qui permet l'analyse d'un large éventail de matériaux et de structures. Que vous étudiiez des échantillons biologiques, des nanomatériaux ou des couches minces, ce AFM offre la flexibilité nécessaire pour traiter facilement divers types d'échantillons.

Avec une plage d'angle de balayage de 0 à 360 °, les utilisateurs peuvent contrôler avec précision l'orientation et le positionnement de la sonde pour capturer des images détaillées sous différents angles. Cette fonctionnalité est particulièrement utile pour examiner des échantillons avec des géométries ou des structures complexes qui nécessitent une imagerie sous plusieurs angles.

Le microscope à force atomique prend en charge divers types de sondes, notamment les sondes en silicium, en diamant, en or, en platine et en nanotubes de carbone, ce qui donne aux utilisateurs la flexibilité de choisir la sonde la plus adaptée à leurs exigences expérimentales spécifiques. Que vous ayez besoin d'une sensibilité élevée pour les échantillons mous ou d'une durabilité accrue pour les applications exigeantes, ce AFM offre une gamme d'options de sondes pour répondre à vos besoins.

En résumé, le microscope à force atomique est un outil puissant pour l'analyse à l'échelle nanométrique, offrant des capacités d'imagerie à résolution atomique et une gamme polyvalente de modes d'imagerie. Avec ses fonctionnalités avancées et ses options de sondes personnalisables, ce AFM fournit aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour explorer et caractériser un large éventail de matériaux et de structures avec précision et exactitude.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Modes d'imagerie :
  • Contact
  • Tapping
  • Non-Contact
  • Force latérale
  • Modulation de force
  • Imagerie de phase
• Type de sonde :
  • Silicium
  • Diamant
  • Or
  • Platine
  • Nanotube de carbone
• Résolution : 0,15 Nm (résolution en nanomètres)
• Taille de l'échantillon : jusqu'à 200 mm
• Angle de balayage : 0-360 °

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique AtomMax de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil polyvalent conçu pour l'imagerie haute résolution et les mesures précises dans diverses applications scientifiques et industrielles.

Avec des modes d'imagerie, notamment Contact, Tapping, Non-Contact, Force latérale, Modulation de force et Imagerie de phase, l'AtomMax offre des capacités de mesure multi-modes adaptées à un large éventail de types d'échantillons et de conditions de surface. Qu'il s'agisse d'analyser des échantillons biologiques, des polymères, des couches minces ou des nanomatériaux, ce AFM s'adapte aux différents besoins d'imagerie avec une précision de résolution atomique.

L'AtomMax peut accueillir des échantillons d'une taille allant jusqu'à 200 mm, offrant une flexibilité pour l'étude d'échantillons macroscopiques tout en offrant la haute résolution requise pour une analyse détaillée. Sa plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm permet une imagerie complète d'échantillons avec des topographies et des dimensions variables.

Équipé d'options de sondes telles que le silicium, le diamant, l'or, le platine et le nanotube de carbone, l'AtomMax permet aux utilisateurs d'adapter leur approche d'imagerie en fonction des propriétés de l'échantillon et des niveaux de résolution souhaités. La résolution de 0,15 nm garantit que même les plus petites caractéristiques d'un échantillon peuvent être capturées et analysées avec précision.

Occasions et scénarios d'application du produit :

• Science des matériaux : Étudier la morphologie de surface et les propriétés mécaniques des matériaux à l'échelle nanométrique.
• Biotechnologie : Étudier des échantillons biologiques avec une grande précision à des fins de recherche et de développement.
• Nanotechnologie : Caractériser les nanomatériaux et les nanostructures pour diverses applications.
• Produits pharmaceutiques : Analyser les systèmes d'administration de médicaments et les formulations pharmaceutiques avec une résolution atomique.
• Chimie de surface : Explorer les interactions de surface et les propriétés chimiques des matériaux.