0میکروسکوپ های رزولوشن بالا 15 نانو متری میکروسکوپ های اتمی سفارشی

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری پیشرفته است که برای تصویربرداری با وضوح بالا و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو طراحی شده است. این AFM با محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر، قابلیت‌های تصویربرداری با وضوح اتمی را ارائه می‌دهد که برای طیف گسترده‌ای از کاربردهای تحقیقاتی ضروری است.

این AFM که به حالت‌های تصویربرداری متعددی از جمله تماس، ضربه‌ای، غیر تماسی، نیروی جانبی، مدولاسیون نیرو و تصویربرداری فاز مجهز است، گزینه‌های متنوعی را برای ثبت توپوگرافی و خواص سطحی نمونه‌های مختلف ارائه می‌دهد.

یکی از ویژگی‌های کلیدی این میکروسکوپ نیروی اتمی، توانایی آن در جای دادن اندازه‌های نمونه تا 200 میلی‌متر است که امکان تجزیه و تحلیل طیف گسترده‌ای از مواد و ساختارها را فراهم می‌کند. چه در حال مطالعه نمونه‌های بیولوژیکی، مواد نانو یا لایه‌های نازک باشید، این AFM انعطاف‌پذیری لازم برای رسیدگی به انواع نمونه‌های مختلف را با سهولت ارائه می‌دهد.

با محدوده زاویه اسکن 0-360 درجه، کاربران می‌توانند جهت‌گیری و موقعیت کاوشگر را برای ثبت تصاویر دقیق از زوایای مختلف به دقت کنترل کنند. این قابلیت به ویژه برای بررسی نمونه‌هایی با هندسه یا ساختارهای پیچیده که نیاز به تصویربرداری از زوایای متعدد دارند، مفید است.

میکروسکوپ نیروی اتمی از انواع مختلف کاوشگر از جمله سیلیکون، الماس، طلا، پلاتین و کاوشگرهای نانولوله کربنی پشتیبانی می‌کند و به کاربران این امکان را می‌دهد تا مناسب‌ترین کاوشگر را برای نیازهای آزمایشی خاص خود انتخاب کنند. چه به حساسیت بالا برای نمونه‌های نرم نیاز داشته باشید یا دوام بیشتری برای کاربردهای سخت، این AFM طیف وسیعی از گزینه‌های کاوشگر را برای پاسخگویی به نیازهای شما ارائه می‌دهد.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری قدرتمند برای تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو است که قابلیت‌های تصویربرداری با وضوح اتمی و طیف متنوعی از حالت‌های تصویربرداری را ارائه می‌دهد. این AFM با ویژگی‌های پیشرفته و گزینه‌های کاوشگر قابل تنظیم، ابزارهایی را در اختیار محققان قرار می‌دهد که برای کاوش و شناسایی طیف گسترده‌ای از مواد و ساختارها با دقت و صحت نیاز دارند.

ویژگی‌ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• حالت‌های تصویربرداری:
  • تماس
  • ضربه ای
  • غیر تماسی
  • نیروی جانبی
  • مدولاسیون نیرو
  • تصویربرداری فاز
• نوع کاوشگر:
  • سیلیکون
  • الماس
  • طلا
  • پلاتین
  • نانولوله کربنی
• وضوح: 0.15 نانومتر (وضوح نانومتری)
• اندازه نمونه: تا 200 میلی‌متر
• زاویه اسکن: 0-360 درجه

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomMax از Truth Instruments، که منشا آن از چین است، ابزاری همه کاره است که برای تصویربرداری با وضوح بالا و اندازه‌گیری دقیق در کاربردهای مختلف علمی و صنعتی طراحی شده است.

AtomMax با حالت‌های تصویربرداری از جمله تماس، ضربه‌ای، غیر تماسی، نیروی جانبی، مدولاسیون نیرو و تصویربرداری فاز، قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته را ارائه می‌دهد که برای طیف گسترده‌ای از انواع نمونه‌ها و شرایط سطحی مناسب است. این AFM چه در حال تجزیه و تحلیل نمونه‌های بیولوژیکی، پلیمرها، لایه‌های نازک یا مواد نانو باشد، با دقت وضوح اتمی با نیازهای تصویربرداری مختلف سازگار می‌شود.

AtomMax اندازه‌های نمونه تا 200 میلی‌متر را در خود جای می‌دهد و انعطاف‌پذیری را برای مطالعه نمونه‌های ماکروسکوپی فراهم می‌کند و در عین حال وضوح بالایی را که برای تجزیه و تحلیل دقیق مورد نیاز است، ارائه می‌دهد. محدوده اسکن 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر آن امکان تصویربرداری جامع از نمونه‌ها با توپوگرافی و ابعاد مختلف را فراهم می‌کند.

AtomMax که به گزینه‌های کاوشگر مانند سیلیکون، الماس، طلا، پلاتین و نانولوله کربنی مجهز است، کاربران را قادر می‌سازد تا رویکرد تصویربرداری خود را بر اساس خواص نمونه و سطوح وضوح مورد نظر تنظیم کنند. وضوح 0.15 نانومتر تضمین می‌کند که حتی کوچکترین ویژگی‌های یک نمونه را می‌توان به دقت ثبت و تجزیه و تحلیل کرد.

موارد و سناریوهای کاربرد محصول:

• علم مواد: مطالعه مورفولوژی سطح و خواص مکانیکی مواد در مقیاس نانو.
• بیوتکنولوژی: بررسی نمونه‌های بیولوژیکی با دقت بالا برای اهداف تحقیق و توسعه.
• نانوتکنولوژی: شناسایی مواد نانو و نانوساختارها برای کاربردهای مختلف.
• داروسازی: تجزیه و تحلیل سیستم‌های دارورسانی و فرمولاسیون‌های دارویی با وضوح اتمی.
• شیمی سطح: بررسی فعل و انفعالات سطحی و خواص شیمیایی مواد.