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0.15 Nm Microscópios de Alta Resolução Microscópios Atómicos Personalizados

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and
Detalhes do produto
Destacar:

0.15 Nm Microscópios de Alta Resolução

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Microscópios de alta resolução personalizados

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Microscópios Atômicos Personalizados

Name: Microscópios de alta resolução
Imaging Modes: Contato, tapping, sem contato, força lateral, modulação de força, imagem de fase
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Resolution: 0,15 nm
Scanning Angle: 0-360 °
Probe Type: Silício, diamante, ouro, platina, nanotubo de carbono
Sample Size: Até 200 mm

Propriedades básicas

Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: ATOMMAX

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto

Microscópio de Força Atômica Avançado para Imagem de Alta Resolução

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta de ponta projetada para imagem de alta resolução e análise em nanoescala. Com uma faixa de varredura de 100 μm X 100 μm X 10 μm, este AFM oferece capacidades de imagem com resolução atômica que são essenciais para uma ampla gama de aplicações de pesquisa.

Equipado com múltiplos modos de imagem, incluindo Contato, Tapping, Não Contato, Força Lateral, Modulação de Força e Imagem de Fase, este AFM oferece opções versáteis para capturar a topografia e as propriedades da superfície detalhadas de várias amostras.

Uma das principais características deste Microscópio de Força Atômica é sua capacidade de acomodar tamanhos de amostra de até 200 mm, permitindo a análise de uma ampla gama de materiais e estruturas. Seja você estudando amostras biológicas, nanomateriais ou filmes finos, este AFM oferece a flexibilidade para lidar com diversos tipos de amostras com facilidade.

Com uma faixa de ângulo de varredura de 0-360°, os usuários podem controlar com precisão a orientação e o posicionamento da sonda para capturar imagens detalhadas de diferentes perspectivas. Essa funcionalidade é particularmente útil para examinar amostras com geometrias ou estruturas complexas que exigem imagem de múltiplos ângulos.

O Microscópio de Força Atômica suporta vários tipos de sondas, incluindo Silício, Diamante, Ouro, Platina e Nanotubos de Carbono, dando aos usuários a flexibilidade de escolher a sonda mais adequada para seus requisitos experimentais específicos. Seja você precisando de alta sensibilidade para amostras macias ou maior durabilidade para aplicações exigentes, este AFM oferece uma variedade de opções de sondas para atender às suas necessidades.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta poderosa para análise em nanoescala, oferecendo capacidades de imagem com resolução atômica e uma gama versátil de modos de imagem. Com seus recursos avançados e opções de sonda personalizáveis, este AFM fornece aos pesquisadores as ferramentas de que precisam para explorar e caracterizar uma ampla gama de materiais e estruturas com precisão e exatidão.

 

Características:

  • Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
  • Modos de Imagem:
    • Contato
    • Tapping
    • Não Contato
    • Força Lateral
    • Modulação de Força
    • Imagem de Fase
  • Tipo de Sonda:
    • Silício
    • Diamante
    • Ouro
    • Platina
    • Nanotubo de Carbono
  • Resolução: 0,15 Nm (Resolução em Nanômetros)
  • Tamanho da Amostra: Até 200 Mm
  • Ângulo de Varredura: 0-360°
 

Parâmetros Técnicos:

Tamanho da Amostra Até 200 mm
Resolução 0,15 nm
Faixa de Varredura 100 μm x 100 μm x 10 μm
Tipo de Sonda Silício, Diamante, Ouro, Platina, Nanotubo de Carbono
Modos de Imagem Contato, Tapping, Não Contato, Força Lateral, Modulação de Força, Imagem de Fase
Ângulo de Varredura 0-360°
 

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica AtomMax da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta versátil projetada para imagem de alta resolução e medições precisas em várias aplicações científicas e industriais.

Com modos de imagem, incluindo Contato, Tapping, Não Contato, Força Lateral, Modulação de Força e Imagem de Fase, o AtomMax oferece capacidades de medição multi-modo adequadas para uma ampla gama de tipos de amostras e condições de superfície. Seja analisando amostras biológicas, polímeros, filmes finos ou nanomateriais, este AFM se adapta a diferentes necessidades de imagem com precisão de resolução atômica.

O AtomMax acomoda tamanhos de amostra de até 200 mm, proporcionando flexibilidade para estudar amostras macroscópicas, mantendo a alta resolução necessária para análise detalhada. Sua faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm permite a imagem abrangente de amostras com topografias e dimensões variadas.

Equipado com opções de sonda como Silício, Diamante, Ouro, Platina e Nanotubo de Carbono, o AtomMax permite que os usuários adaptem sua abordagem de imagem com base nas propriedades da amostra e nos níveis de resolução desejados. A resolução de 0,15 nm garante que mesmo os menores recursos em uma amostra possam ser capturados e analisados com precisão.

Ocasiões e Cenários de Aplicação do Produto:

  • Ciência dos Materiais: Estudar a morfologia da superfície e as propriedades mecânicas dos materiais na nanoescala.
  • Biotecnologia: Investigar amostras biológicas com alta precisão para fins de pesquisa e desenvolvimento.
  • Nanotecnologia: Caracterizar nanomateriais e nanoestruturas para diversas aplicações.
  • Produtos Farmacêuticos: Analisar sistemas de administração de medicamentos e formulações farmacêuticas com resolução atômica.
  • Química de Superfícies: Explorar interações de superfície e propriedades químicas dos materiais.
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