0.15 Nm Mikroskop Resolusi Tinggi Mikroskop Atom Disesuaikan

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom adalah alat canggih yang dirancang untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis skala nano. Dengan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM ini menawarkan kemampuan pencitraan resolusi atom yang penting untuk berbagai aplikasi penelitian.

Dilengkapi dengan berbagai mode pencitraan termasuk Kontak, Tapping, Non-Kontak, Gaya Lateral, Modulasi Gaya, dan Pencitraan Fase, AFM ini menyediakan opsi serbaguna untuk menangkap topografi permukaan dan sifat-sifat berbagai sampel secara detail.

Salah satu fitur utama dari Mikroskop Gaya Atom ini adalah kemampuannya untuk mengakomodasi ukuran sampel hingga 200 mm, memungkinkan analisis berbagai bahan dan struktur. Baik Anda mempelajari sampel biologis, nanomaterial, atau film tipis, AFM ini menawarkan fleksibilitas untuk menangani berbagai jenis sampel dengan mudah.

Dengan rentang sudut pemindaian 0-360°, pengguna dapat secara tepat mengontrol orientasi dan posisi probe untuk menangkap gambar detail dari berbagai perspektif. Fungsionalitas ini sangat berguna untuk memeriksa sampel dengan geometri atau struktur kompleks yang memerlukan pencitraan dari berbagai sudut.

Mikroskop Gaya Atom mendukung berbagai jenis probe termasuk Silikon, Berlian, Emas, Platinum, dan probe Nanotube Karbon, memberikan fleksibilitas kepada pengguna untuk memilih probe yang paling sesuai untuk persyaratan eksperimen spesifik mereka. Baik Anda membutuhkan sensitivitas tinggi untuk sampel lunak atau daya tahan yang ditingkatkan untuk aplikasi yang menuntut, AFM ini menawarkan berbagai opsi probe untuk memenuhi kebutuhan Anda.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom adalah alat yang ampuh untuk analisis skala nano, menawarkan kemampuan pencitraan resolusi atom dan berbagai mode pencitraan yang serbaguna. Dengan fitur-fitur canggih dan opsi probe yang dapat disesuaikan, AFM ini menyediakan peneliti dengan alat yang mereka butuhkan untuk menjelajahi dan mengkarakterisasi berbagai bahan dan struktur dengan presisi dan akurasi.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Mode Pencitraan:
  • Kontak
  • Tapping
  • Non-Kontak
  • Gaya Lateral
  • Modulasi Gaya
  • Pencitraan Fase
• Jenis Probe:
  • Silikon
  • Berlian
  • Emas
  • Platinum
  • Nanotube Karbon
• Resolusi: 0.15 Nm (Resolusi Nanometer)
• Ukuran Sampel: Hingga 200 Mm
• Sudut Pemindaian: 0-360°

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomMax, yang berasal dari China, adalah alat serbaguna yang dirancang untuk pencitraan resolusi tinggi dan pengukuran presisi dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri.

Dengan mode pencitraan termasuk Kontak, Tapping, Non-Kontak, Gaya Lateral, Modulasi Gaya, dan Pencitraan Fase, AtomMax menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode yang cocok untuk berbagai jenis sampel dan kondisi permukaan. Baik menganalisis sampel biologis, polimer, film tipis, atau nanomaterial, AFM ini beradaptasi dengan berbagai kebutuhan pencitraan dengan presisi resolusi atom.

AtomMax mengakomodasi ukuran sampel hingga 200 mm, memberikan fleksibilitas untuk mempelajari sampel makroskopis sambil tetap menawarkan resolusi tinggi yang diperlukan untuk analisis detail. Rentang pemindaiannya 100 μm x 100 μm x 10 μm memungkinkan pencitraan komprehensif sampel dengan topografi dan dimensi yang bervariasi.

Dilengkapi dengan opsi probe seperti Silikon, Berlian, Emas, Platinum, dan Nanotube Karbon, AtomMax memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan pendekatan pencitraan mereka berdasarkan sifat sampel dan tingkat resolusi yang diinginkan. Resolusi 0,15 nm memastikan bahwa bahkan fitur terkecil pada sampel dapat ditangkap dan dianalisis secara akurat.

Kesempatan dan Skenario Aplikasi Produk:

• Ilmu Material: Mempelajari morfologi permukaan dan sifat mekanik material pada skala nano.
• Bioteknologi: Menyelidiki sampel biologis dengan presisi tinggi untuk tujuan penelitian dan pengembangan.
• Nanoteknologi: Mengkarakterisasi nanomaterial dan nanostruktur untuk berbagai aplikasi.
• Farmasi: Menganalisis sistem penghantaran obat dan formulasi farmasi dengan resolusi atom.
• Kimia Permukaan: Menjelajahi interaksi permukaan dan sifat kimia material.