logo

0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and
Детали продукта
Выделить:

0Микроскопы высокого разрешения.15 Нм

,

Микроскопы высокого разрешения

,

Атомные микроскопы на заказ

Name: Микроскопы высокого разрешения
Imaging Modes: Контакт, постукивание, бесконтактная, боковая сила, силовая модуляция, фазовая визуализация
Scanning Range: 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм
Resolution: 0,15 нм
Scanning Angle: 0-360 °
Probe Type: Кремний, бриллиант, золото, платина, углеродные нанотрубки
Sample Size: До 200 мм

Основные свойства

Наименование марки: Truth Instruments
Номер модели: Atommax

Торговая недвижимость

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Условия оплаты: T/T.
Характер продукции

Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлагает возможности визуализации с атомным разрешением, которые необходимы для широкого спектра исследовательских применений.

Оснащенный несколькими режимами визуализации, включая контактный, тапинг, бесконтактный, латеральной силы, модуляции силы и фазовой визуализации, этот АСМ предоставляет универсальные варианты для захвата детальной топографии поверхности и свойств различных образцов.

Одной из ключевых особенностей этого атомно-силового микроскопа является его способность вмещать образцы размером до 200 мм, что позволяет анализировать широкий спектр материалов и структур. Независимо от того, изучаете ли вы биологические образцы, наноматериалы или тонкие пленки, этот АСМ предлагает гибкость для легкой обработки различных типов образцов.

С диапазоном углов сканирования 0-360° пользователи могут точно контролировать ориентацию и положение зонда для получения детальных изображений с разных точек зрения. Эта функциональность особенно полезна для исследования образцов со сложной геометрией или структурами, требующими визуализации с нескольких углов.

Атомно-силовой микроскоп поддерживает различные типы зондов, включая кремниевые, алмазные, золотые, платиновые и углеродные нанотрубчатые зонды, что дает пользователям возможность выбирать наиболее подходящий зонд для своих конкретных экспериментальных требований. Независимо от того, нужна ли вам высокая чувствительность для мягких образцов или повышенная прочность для требовательных применений, этот АСМ предлагает ряд вариантов зондов для удовлетворения ваших потребностей.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это мощный инструмент для наноразмерного анализа, предлагающий возможности визуализации с атомным разрешением и универсальный диапазон режимов визуализации. Благодаря своим передовым функциям и настраиваемым вариантам зондов, этот АСМ предоставляет исследователям инструменты, необходимые для изучения и характеристики широкого спектра материалов и структур с точностью и аккуратностью.

 

Особенности:

  • Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
  • Режимы визуализации:
    • Контактный
    • Тапинг
    • Бесконтактный
    • Латеральной силы
    • Модуляция силы
    • Фазовая визуализация
  • Тип зонда:
    • Кремний
    • Алмаз
    • Золото
    • Платина
    • Углеродная нанотрубка
  • Разрешение: 0,15 нм (нанометровое разрешение)
  • Размер образца: до 200 мм
  • Угол сканирования: 0-360°
 

Технические параметры:

Размер образца До 200 мм
Разрешение 0,15 нм
Диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм
Тип зонда Кремний, алмаз, золото, платина, углеродная нанотрубка
Режимы визуализации Контактный, тапинг, бесконтактный, латеральной силы, модуляция силы, фазовая визуализация
Угол сканирования 0-360°
 

Применения:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomMax, произведенный в Китае, является универсальным инструментом, предназначенным для высокоразрешающей визуализации и точных измерений в различных научных и промышленных областях.

С режимами визуализации, включающими контактный, тапинг, бесконтактный, латеральной силы, модуляции силы и фазовой визуализации, AtomMax предлагает многорежимные возможности измерения, подходящие для широкого спектра типов образцов и условий поверхности. Будь то анализ биологических образцов, полимеров, тонких пленок или наноматериалов, этот АСМ адаптируется к различным потребностям визуализации с точностью атомного разрешения.

AtomMax вмещает образцы размером до 200 мм, обеспечивая гибкость для изучения макроскопических образцов, сохраняя при этом высокое разрешение, необходимое для детального анализа. Его диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм позволяет проводить комплексную визуализацию образцов с различной топографией и размерами.

Оснащенный вариантами зондов, такими как кремний, алмаз, золото, платина и углеродные нанотрубки, AtomMax позволяет пользователям адаптировать свой подход к визуализации в зависимости от свойств образца и желаемого уровня разрешения. Разрешение 0,15 нм гарантирует, что даже самые маленькие детали на образце могут быть точно зафиксированы и проанализированы.

Случаи и сценарии применения продукта:

  • Материаловедение: изучение морфологии поверхности и механических свойств материалов в наномасштабе.
  • Биотехнология: исследование биологических образцов с высокой точностью для целей исследований и разработок.
  • Нанотехнология: характеристика наноматериалов и наноструктур для различных применений.
  • Фармацевтика: анализ систем доставки лекарств и фармацевтических составов с атомным разрешением.
  • Химия поверхности: изучение поверхностных взаимодействий и химических свойств материалов.
Отправить запрос

Получите быструю цитату