0.15 Nm hochauflösende Mikroskope angepasste Atommikroskope
0.15 Nm hochauflösende Mikroskope
,Mikroskope mit hoher Auflösung
,Individuelle Atommikroskope
Grundlegende Eigenschaften
Immobilienhandel
Fortgeschrittenes Rasterkraftmikroskop für hochauflösende Bildgebung
Produktbeschreibung:
Das Rasterkraftmikroskop ist ein hochmodernes Werkzeug, das für hochauflösende Bildgebung und Nanoanalyse entwickelt wurde. Mit einem Scanbereich von 100 μm X 100 μm X 10 μm bietet dieses AFM atomare Auflösungsbildgebungsfähigkeiten, die für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen unerlässlich sind.
Ausgestattet mit mehreren Bildgebungsmodi, darunter Kontakt, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation und Phasenbildgebung, bietet dieses AFM vielseitige Optionen zur Erfassung detaillierter Oberflächentopographien und -eigenschaften verschiedener Proben.
Eines der Hauptmerkmale dieses Rasterkraftmikroskops ist seine Fähigkeit, Probengrößen von bis zu 200 mm aufzunehmen, was die Analyse einer Vielzahl von Materialien und Strukturen ermöglicht. Egal, ob Sie biologische Proben, Nanomaterialien oder dünne Filme untersuchen, dieses AFM bietet die Flexibilität, verschiedene Probentypen problemlos zu handhaben.
Mit einem Scanwinkelbereich von 0-360° können Benutzer die Ausrichtung und Positionierung der Sonde präzise steuern, um detaillierte Bilder aus verschiedenen Perspektiven aufzunehmen. Diese Funktionalität ist besonders nützlich für die Untersuchung von Proben mit komplexen Geometrien oder Strukturen, die eine Bildgebung aus mehreren Winkeln erfordern.
Das Rasterkraftmikroskop unterstützt verschiedene Sondentypen, darunter Silizium, Diamant, Gold, Platin und Kohlenstoff-Nanoröhren-Sonden, wodurch Benutzer die Flexibilität haben, die am besten geeignete Sonde für ihre spezifischen experimentellen Anforderungen auszuwählen. Egal, ob Sie eine hohe Empfindlichkeit für weiche Proben oder eine erhöhte Haltbarkeit für anspruchsvolle Anwendungen benötigen, dieses AFM bietet eine Reihe von Sondenoptionen, um Ihre Anforderungen zu erfüllen.
Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug für die Nanoanalyse ist, das atomare Auflösungsbildgebungsfähigkeiten und eine vielseitige Palette von Bildgebungsmodi bietet. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und anpassbaren Sondenoptionen bietet dieses AFM Forschern die Werkzeuge, die sie benötigen, um eine Vielzahl von Materialien und Strukturen mit Präzision und Genauigkeit zu erforschen und zu charakterisieren.
Merkmale:
- Produktname: Rasterkraftmikroskop
- Bildgebungsmodi:
- Kontakt
- Tapping
- Non-Contact
- Lateral Force
- Force Modulation
- Phasenbildgebung
- Sondentyp:
- Silizium
- Diamant
- Gold
- Platin
- Kohlenstoff-Nanoröhre
- Auflösung: 0,15 Nm (Nanometer-Auflösung)
- Probengröße: Bis zu 200 mm
- Scanwinkel: 0-360°
Technische Parameter:
Probengröße | Bis zu 200 mm |
Auflösung | 0,15 nm |
Scanbereich | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
Sondentyp | Silizium, Diamant, Gold, Platin, Kohlenstoff-Nanoröhre |
Bildgebungsmodi | Kontakt, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, Phasenbildgebung |
Scanwinkel | 0-360° |
Anwendungen:
Das Truth Instruments AtomMax Rasterkraftmikroskop, das aus China stammt, ist ein vielseitiges Werkzeug, das für hochauflösende Bildgebung und präzise Messungen in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde.
Mit Bildgebungsmodi wie Kontakt, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation und Phasenbildgebung bietet das AtomMax Multi-Mode-Messfähigkeiten, die für eine Vielzahl von Probentypen und Oberflächenbedingungen geeignet sind. Ob bei der Analyse biologischer Proben, Polymere, dünner Filme oder Nanomaterialien, dieses AFM passt sich mit atomarer Auflösungspräzision an unterschiedliche Bildgebungsanforderungen an.
Das AtomMax bietet Platz für Probengrößen von bis zu 200 mm und bietet Flexibilität bei der Untersuchung makroskopischer Proben, während es gleichzeitig die hohe Auflösung bietet, die für eine detaillierte Analyse erforderlich ist. Sein Scanbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm ermöglicht eine umfassende Bildgebung von Proben mit unterschiedlichen Topographien und Abmessungen.
Ausgestattet mit Sondenoptionen wie Silizium, Diamant, Gold, Platin und Kohlenstoff-Nanoröhren ermöglicht das AtomMax den Benutzern, ihren Bildgebungsansatz basierend auf den Probeneigenschaften und den gewünschten Auflösungsstufen anzupassen. Die 0,15 nm Auflösung stellt sicher, dass selbst die kleinsten Merkmale auf einer Probe genau erfasst und analysiert werden können.
Produktanwendungsanlässe und -szenarien:
- Materialwissenschaft: Untersuchung der Oberflächenmorphologie und der mechanischen Eigenschaften von Materialien im Nanobereich.
- Biotechnologie: Untersuchung biologischer Proben mit hoher Präzision für Forschungs- und Entwicklungszwecke.
- Nanotechnologie: Charakterisierung von Nanomaterialien und Nanostrukturen für verschiedene Anwendungen.
- Pharmazeutika: Analyse von Arzneimittelabgabesystemen und pharmazeutischen Formulierungen mit atomarer Auflösung.
- Oberflächenchemie: Erforschung von Oberflächenwechselwirkungen und chemischen Eigenschaften von Materialien.