logo

0.15 Nm High Resolution Microscopes Op maat gemaakte atoommicroscopen

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and
Productdetails
Markeren:

0.15 Nm microscopen met hoge resolutie

,

Gepersonaliseerde microscopen met hoge resolutie

,

Op maat gemaakte atoommicroscopen

Name: Microscopen met hoge resolutie
Imaging Modes: Contact, tikken, contactloze, laterale kracht, krachtmodulatie, fasebeeldvorming
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Resolution: 0,15 nm
Scanning Angle: 0-360 °
Probe Type: Silicium, diamant, goud, platina, koolstof nanobuis
Sample Size: tot 200 mm

Basiseigenschappen

Merknaam: Truth Instruments
Modelnummer: Atommax

Handelsgoederen

Prijs: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Betalingsvoorwaarden: T/t
Productomschrijving

Geavanceerde Atomic Force Microscoop voor Hoge-Resolutie Beeldvorming

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscoop is een geavanceerd hulpmiddel ontworpen voor beeldvorming met hoge resolutie en analyse op nanoschaal. Met een scanbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm biedt deze AFM beeldvormingsmogelijkheden met atomaire resolutie die essentieel zijn voor een breed scala aan onderzoekstoepassingen.

Uitgerust met meerdere beeldvormingsmodi, waaronder Contact, Tapping, Non-Contact, Laterale Kracht, Krachtmodulatie en Fasebeeldvorming, biedt deze AFM veelzijdige opties voor het vastleggen van gedetailleerde oppervlakte topografie en eigenschappen van verschillende monsters.

Een van de belangrijkste kenmerken van deze Atomic Force Microscoop is de mogelijkheid om monstermaten tot 200 mm te accommoderen, waardoor de analyse van een breed scala aan materialen en structuren mogelijk is. Of u nu biologische monsters, nanomaterialen of dunne films bestudeert, deze AFM biedt de flexibiliteit om diverse monstertypes met gemak te verwerken.

Met een scanningshoekbereik van 0-360° kunnen gebruikers de oriëntatie en positionering van de probe nauwkeurig regelen om gedetailleerde beelden vanuit verschillende perspectieven vast te leggen. Deze functionaliteit is met name handig voor het onderzoeken van monsters met complexe geometrieën of structuren die beeldvorming vanuit meerdere hoeken vereisen.

De Atomic Force Microscoop ondersteunt verschillende probetypes, waaronder Silicon, Diamant, Goud, Platina en Koolstof Nanobuis probes, waardoor gebruikers de flexibiliteit hebben om de meest geschikte probe te kiezen voor hun specifieke experimentele vereisten. Of u nu een hoge gevoeligheid nodig heeft voor zachte monsters of verbeterde duurzaamheid voor veeleisende toepassingen, deze AFM biedt een reeks probe-opties om aan uw behoeften te voldoen.

Kortom, de Atomic Force Microscoop is een krachtig hulpmiddel voor analyse op nanoschaal, dat beeldvormingsmogelijkheden met atomaire resolutie en een veelzijdig scala aan beeldvormingsmodi biedt. Met zijn geavanceerde functies en aanpasbare probe-opties biedt deze AFM onderzoekers de tools die ze nodig hebben om een breed scala aan materialen en structuren met precisie en nauwkeurigheid te verkennen en te karakteriseren.

 

Kenmerken:

  • Productnaam: Atomic Force Microscoop
  • Beeldvormingsmodi:
    • Contact
    • Tapping
    • Non-Contact
    • Laterale Kracht
    • Krachtmodulatie
    • Fasebeeldvorming
  • Probetype:
    • Silicon
    • Diamant
    • Goud
    • Platina
    • Koolstof Nanobuis
  • Resolutie: 0,15 Nm (Nanometer Resolutie)
  • Monstermaten: Tot 200 Mm
  • Scanningshoek: 0-360°
 

Technische parameters:

Monstermaten Tot 200 mm
Resolutie 0,15 nm
Scanbereik 100 μm x 100 μm x 10 μm
Probetype Silicon, Diamant, Goud, Platina, Koolstof Nanobuis
Beeldvormingsmodi Contact, Tapping, Non-Contact, Laterale Kracht, Krachtmodulatie, Fasebeeldvorming
Scanningshoek 0-360°
 

Toepassingen:

Truth Instruments AtomMax Atomic Force Microscoop, afkomstig uit China, is een veelzijdig hulpmiddel ontworpen voor beeldvorming met hoge resolutie en precieze metingen in verschillende wetenschappelijke en industriële toepassingen.

Met beeldvormingsmodi waaronder Contact, Tapping, Non-Contact, Laterale Kracht, Krachtmodulatie en Fasebeeldvorming, biedt de AtomMax multi-mode meetmogelijkheden die geschikt zijn voor een breed scala aan monstertypes en oppervlaktecondities. Of het nu gaat om het analyseren van biologische monsters, polymeren, dunne films of nanomaterialen, deze AFM past zich aan verschillende beeldvormingsbehoeften aan met atomaire resolutie precisie.

De AtomMax is geschikt voor monstermaten tot 200 mm, wat flexibiliteit biedt voor het bestuderen van macroscopische monsters en toch de hoge resolutie biedt die nodig is voor gedetailleerde analyse. Het scanbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm maakt uitgebreide beeldvorming van monsters met verschillende topografieën en afmetingen mogelijk.

Uitgerust met probe-opties zoals Silicon, Diamant, Goud, Platina en Koolstof Nanobuis, stelt de AtomMax gebruikers in staat hun beeldvormingsaanpak af te stemmen op basis van monstereigenschappen en gewenste resolutieniveaus. De 0,15 nm resolutie zorgt ervoor dat zelfs de kleinste kenmerken op een monster nauwkeurig kunnen worden vastgelegd en geanalyseerd.

Producttoepassingsgelegenheden en scenario's:

  • Materiaalkunde: Bestudeer de oppervlaktemorfologie en mechanische eigenschappen van materialen op nanoschaal.
  • Biotechnologie: Onderzoek biologische monsters met hoge precisie voor onderzoeks- en ontwikkelingsdoeleinden.
  • Nanotechnologie: Karakteriseer nanomaterialen en nanostructuren voor verschillende toepassingen.
  • Farmaceutica: Analyseer geneesmiddelafgiftesystemen en farmaceutische formuleringen met atomaire resolutie.
  • Oppervlaktechemie: Verken oppervlakte-interacties en chemische eigenschappen van materialen.
Stuur een aanvraag

Krijg een snel citaat