กล้องจุลทรรศน์ความละเอียดสูง 0.15 นาโนเมตร กล้องจุลทรรศน์อะตอมแบบปรับแต่ง

รายละเอียดสินค้า:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ระดับนาโน ด้วยช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10 μm AFM นี้ให้ความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม ซึ่งจำเป็นสำหรับการใช้งานวิจัยที่หลากหลาย

AFM นี้มาพร้อมกับโหมดการถ่ายภาพหลายโหมด รวมถึง Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation และ Phase Imaging ซึ่งให้ตัวเลือกที่หลากหลายสำหรับการจับภาพลักษณะพื้นผิวและคุณสมบัติของตัวอย่างต่างๆ

คุณสมบัติหลักประการหนึ่งของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมนี้คือความสามารถในการรองรับขนาดตัวอย่างได้ถึง 200 มม. ทำให้สามารถวิเคราะห์วัสดุและโครงสร้างได้หลากหลาย ไม่ว่าคุณจะศึกษาตัวอย่างทางชีวภาพ วัสดุนาโน หรือฟิล์มบาง AFM นี้มีความยืดหยุ่นในการจัดการตัวอย่างประเภทต่างๆ ได้อย่างง่ายดาย

ด้วยช่วงมุมการสแกน 0-360° ผู้ใช้สามารถควบคุมการวางแนวและการวางตำแหน่งของโพรบได้อย่างแม่นยำเพื่อจับภาพโดยละเอียดจากมุมมองที่แตกต่างกัน ฟังก์ชันนี้มีประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบตัวอย่างที่มีรูปทรงเรขาคณิตหรือโครงสร้างที่ซับซ้อนซึ่งต้องใช้การถ่ายภาพจากหลายมุม

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมรองรับโพรบหลายประเภท รวมถึง Silicon, Diamond, Gold, Platinum และ Carbon Nanotube ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้มีความยืดหยุ่นในการเลือกโพรบที่เหมาะสมที่สุดสำหรับความต้องการในการทดลองเฉพาะของตน ไม่ว่าคุณต้องการความไวสูงสำหรับตัวอย่างอ่อนนุ่ม หรือความทนทานที่เพิ่มขึ้นสำหรับการใช้งานที่ต้องการ AFM นี้มีตัวเลือกโพรบที่หลากหลายเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมืออันทรงพลังสำหรับการวิเคราะห์ระดับนาโน โดยให้ความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดอะตอมและโหมดการถ่ายภาพที่หลากหลาย ด้วยคุณสมบัติขั้นสูงและตัวเลือกโพรบที่ปรับแต่งได้ AFM นี้ช่วยให้นักวิจัยมีเครื่องมือที่จำเป็นในการสำรวจและจำแนกวัสดุและโครงสร้างที่หลากหลายด้วยความแม่นยำและความถูกต้อง

คุณสมบัติ:

• ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
• โหมดการถ่ายภาพ:
  • Contact
  • Tapping
  • Non-Contact
  • Lateral Force
  • Force Modulation
  • Phase Imaging
• ประเภทโพรบ:
  • Silicon
  • Diamond
  • Gold
  • Platinum
  • Carbon Nanotube
• ความละเอียด: 0.15 Nm (ความละเอียดนาโนเมตร)
• ขนาดตัวอย่าง: สูงสุด 200 มม.
• มุมการสแกน: 0-360°

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

การใช้งาน:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม AtomMax ของ Truth Instruments ซึ่งมีต้นกำเนิดจากประเทศจีน เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์ที่ออกแบบมาสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงและการวัดที่แม่นยำในการใช้งานทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรมต่างๆ

ด้วยโหมดการถ่ายภาพ ได้แก่ Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation และ Phase Imaging AtomMax ให้ความสามารถในการวัดหลายโหมดที่เหมาะสมสำหรับตัวอย่างประเภทต่างๆ และสภาพพื้นผิว ไม่ว่าจะวิเคราะห์ตัวอย่างทางชีวภาพ โพลิเมอร์ ฟิล์มบาง หรือวัสดุนาโน AFM นี้ปรับให้เข้ากับความต้องการในการถ่ายภาพที่แตกต่างกันด้วยความแม่นยำระดับอะตอม

AtomMax รองรับขนาดตัวอย่างได้ถึง 200 มม. ทำให้มีความยืดหยุ่นในการศึกษาตัวอย่างขนาดใหญ่ในขณะที่ยังคงให้ความละเอียดสูงที่จำเป็นสำหรับการวิเคราะห์โดยละเอียด ช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm ช่วยให้สามารถถ่ายภาพตัวอย่างที่มีลักษณะและขนาดที่แตกต่างกันได้อย่างครอบคลุม

AtomMax มาพร้อมกับตัวเลือกโพรบ เช่น Silicon, Diamond, Gold, Platinum และ Carbon Nanotube ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถปรับแต่งแนวทางการถ่ายภาพตามคุณสมบัติของตัวอย่างและระดับความละเอียดที่ต้องการ ความละเอียด 0.15 nm ช่วยให้มั่นใจได้ว่าแม้แต่คุณสมบัติที่เล็กที่สุดบนตัวอย่างก็สามารถจับภาพและวิเคราะห์ได้อย่างแม่นยำ

โอกาสและการใช้งานผลิตภัณฑ์:

• วิทยาศาสตร์วัสดุ: ศึกษาสัณฐานวิทยาพื้นผิวและคุณสมบัติทางกลของวัสดุในระดับนาโน
• เทคโนโลยีชีวภาพ: ตรวจสอบตัวอย่างทางชีวภาพด้วยความแม่นยำสูงเพื่อวัตถุประสงค์ในการวิจัยและพัฒนา
• นาโนเทคโนโลยี: จำแนกวัสดุนาโนและโครงสร้างนาโนสำหรับการใช้งานต่างๆ
• เภสัชกรรม: วิเคราะห์ระบบนำส่งยาและสูตรเภสัชกรรมด้วยความละเอียดอะตอม
• เคมีพื้นผิว: สำรวจปฏิสัมพันธ์พื้นผิวและคุณสมบัติทางเคมีของวัสดุ