AtomExplorer: il microscopio atomico ideale per i laboratori di ricerca e sviluppo

Descrizione del prodotto:

Il microscopio di forza atomica di tipo base è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire analisi superficiali precise e ad alta risoluzione attraverso capacità di scansione avanzate.Utilizzo di un metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ, questo microscopio consente un esame completo e dettagliato dei campioni, garantendo una mappatura topografica accurata in tutte le dimensioni.Questa capacità di scansione completa di campioni consente a ricercatori e ingegneri di analizzare le strutture superficiali con eccezionale dettaglio e ripetibilità, che lo rende ideale per una vasta gamma di applicazioni scientifiche e industriali.

Una delle caratteristiche più importanti di questo microscopio di forza atomica di tipo base è la sua capacità di misurazione multifunzionale.Microscopia di forza di sonda di Kelvin di scansione (KPFM)Queste diverse modalità di misurazione espandono l'utilità del microscopio ben oltre la semplice imaging topografica.La microscopia elettrostatica delle forze (EFM) consente agli utenti di studiare le proprietà elettriche a nanoscala, fornendo preziose informazioni sulla distribuzione delle cariche superficiali e sulle interazioni elettrostatiche.

La microscopia a forza magnetica (MFM) è un'altra funzionalità critica di questo microscopio, che consente la mappatura dettagliata dei domini magnetici e delle forze magnetiche sulla superficie del campione.Questa caratteristica è particolarmente utile nei campi di ricerca come lo stoccaggio dei datiIn particolare, la ricerca scientifica ha permesso di sviluppare un'ampia gamma di approcci per la ricerca e la ricerca sul magnetismo, la spintronica e il nanomagnetismo, dove è essenziale comprendere le proprietà magnetiche su scala nanometrica.la modalità di microscopia di forza della sonda di Kelvin (KPFM) offre una misurazione precisa del potenziale superficiale e delle variazioni della funzione di lavoro, che sono fondamentali per l'ispezione delle superfici dei semiconduttori e per altre applicazioni della scienza dei materiali.

La funzione di microscopia della forza piezoelettrica (PFM) estende le capacità del microscopio allo studio dei materiali piezoelettrici.Questa modalità consente la visualizzazione e la caratterizzazione di domini piezoelettrici, che è importante per lo sviluppo e l'ottimizzazione di sensori, attuatori e altri dispositivi piezoelettrici.Queste misure multifunzionali rendono il Microscopio di Forza Atomica di tipo base uno strumento versatile per i ricercatori che lavorano in fisica, scienze dei materiali, elettronica e ingegneria.

Il microscopio può contenere campioni fino a una dimensione di Φ 25 mm, che copre una vasta gamma di dimensioni tipiche dei campioni presenti nei laboratori di ricerca e negli ambienti industriali.Questa capacità di misurazione del campione consente agli utenti di analizzare vari campioni senza la necessità di una preparazione estensiva del campione o di una riduzione delle dimensioni., preservando così l'integrità del campione e semplificando il flusso di lavoro.

In termini di prestazioni, il microscopio vanta un livello di rumore sull'asse Z eccezionalmente basso di 0,04 nm.Questo pavimento a bassissimo rumore è fondamentale per ottenere immagini ad alta risoluzione e misurazioni di forza preciseQuesta elevata sensibilità è particolarmente utile durante l'ispezione delle superfici dei semiconduttori.quando il rilevamento di difetti e variazioni su scala nanometrica può essere cruciale per le prestazioni e l'affidabilità del dispositivo.

Per proteggere le delicate punte della sonda utilizzate nella microscopia a forza atomica, il microscopio a forza atomica di tipo Basic incorpora una tecnologia avanzata di protezione delle punte nota come modalità di inserimento sicuro dell'ago.Questa tecnologia riduce al minimo il rischio di danni alla punta durante l'approccio della sonda e l'impegno del campione, prolungando la durata di vita delle punte e riducendo i costi operativi.proteggere sia il campione che lo strumento da danni accidentali.

Nel complesso, il microscopio di forza atomica di tipo base è uno strumento indispensabile per ricercatori e professionisti che necessitano di un microscopio affidabile, multifunzionale,e strumento ad alta precisione per l'analisi superficiale su scala nanometricaLa sua combinazione di scansione a campione completo a tre assi XYZ, multifunctional measurement modes—including Electrostatic Force Microscopy EFM and Magnetic Force Microscopy MFM—and robust tip protection make it particularly well-suited for applications such as semiconductor surface inspection and advanced materials researchCon i suoi parametri di prestazione eccezionali e le sue capacità versatili, questo microscopio rappresenta un significativo progresso nel campo della tecnologia di microscopia a forza atomica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica di tipo base
• Punti di campionamento delle immagini: 32*32 a 4096*4096
• Capacità di campionamento: Φ 25 mm
• Distanza di scansione: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Misurazioni multifunzionali, tra cui microscopio elettrostatico (EFM), microscopio a sonda di Kelvin (KPFM), microscopio a forza piezoelettrica (PFM) e microscopio a forza magnetica (MFM)
• Livello di rumore dell'asse Z: 0,04 nm
• Ideale per l'analisi della consistenza superficiale
• Microscopio per la ricerca e lo sviluppo industriale per l'ispezione dettagliata dei materiali
• Opzioni disponibili per acquistare Microscopio di forza atomica su misura per le vostre esigenze di ricerca

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) è uno strumento avanzato progettato per un'ampia gamma di applicazioni industriali e di ricerca.questo AFM ad alta stabilità si distingue per il suo metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZL'AtomExplorer è l'ideale per i professionisti in cerca di misurazioni affidabili e multifunzionali in vari ambienti scientifici e industriali.

Questo microscopio industriale di ricerca e sviluppo è perfettamente adatto a laboratori e centri di ricerca incentrati sulle scienze dei materiali, sulla nanotecnologia e sulle industrie dei semiconduttori.Le sue capacità di misurazione multifunzionale includono la microscopia elettrostatica della forza (EFM), scanning kelvin probe microscopy (kpfm), piezoelectric force microscopy (pfm) e magnetic force microscopy (mfm), rendendolo uno strumento versatile per lo studio die proprietà piezoelettriche su scala nanometrica.

La tecnologia di protezione della punta del prodotto, con modalità di inserimento sicuro dell'ago, garantisce la longevità e la sicurezza delle punte della sonda durante i processi di scansione delicati.Questa caratteristica è particolarmente utile in ambienti in cui l'integrità del campione e la conservazione della sonda sono criticheCon una capacità di campionamento di Φ 25 mm e punti di campionamento dell'immagine che vanno da 32*32 a 4096*4096, l'AtomExplorer offreimmagini ad alta risoluzione adatte sia alla ricerca accademica che al controllo della qualità industriale.

In pratica, l'AFM di tipo AtomExplorer Basic è ampiamente utilizzato in ambito di ricerca e sviluppo industriale per analizzare la topografia superficiale, le proprietà meccaniche,e caratteristiche elettriche dei materialiEsso sostiene lo sviluppo di nuovi materiali, il miglioramento dei processi di fabbricazione e la garanzia della qualità dei prodotti finiti.L'AFM ad alta stabilità garantisce risultati coerenti e precisi, che sono fondamentali per far progredire la ricerca sulla nanotecnologia e la microfabbricazione.

Le imprese e gli istituti di ricerca interessati a questo microscopio di ultima generazione possono contattare Truth Instruments per un preventivo dettagliato, poiché il prezzo è negoziabile in base a specifiche esigenze.L'AtomExplorer è un investimento affidabile per coloro che intendono migliorare le loro capacità analitiche con un, microscopio di forza atomica ad alte prestazioni.