AtomExplorer: Mikroskop Gaya Atom Ideal untuk Laboratorium R&D

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar adalah instrumen canggih yang dirancang untuk memberikan analisis permukaan yang presisi dan resolusi tinggi melalui kemampuan pemindaian tingkat lanjut. Dengan menggunakan metode pemindaian penuh-sampel tiga-sumbu XYZ, mikroskop ini memungkinkan pemeriksaan sampel yang komprehensif dan detail, memastikan pemetaan topografi yang akurat di semua dimensi. Kemampuan pemindaian penuh-sampel ini memungkinkan para peneliti dan insinyur untuk menganalisis struktur permukaan dengan detail dan pengulangan yang luar biasa, menjadikannya ideal untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri.

Salah satu fitur unggulan dari Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar ini adalah kemampuan pengukuran multifungsinya. Alat ini dilengkapi untuk melakukan Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Gaya Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM). Mode pengukuran yang beragam ini memperluas kegunaan mikroskop jauh melampaui pencitraan topografi sederhana. Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM) memungkinkan pengguna untuk menyelidiki sifat-sifat listrik pada skala nano, memberikan wawasan berharga tentang distribusi muatan permukaan dan interaksi elektrostatik.

Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM) adalah fungsi penting lainnya dari mikroskop ini, yang memungkinkan pemetaan detail domain magnetik dan gaya magnetik pada permukaan sampel. Fitur ini sangat berguna di bidang penelitian seperti penyimpanan data, spintronik, dan nanomagnetisme, di mana pemahaman sifat magnetik pada skala nano sangat penting. Selain itu, mode Mikroskopi Gaya Probe Kelvin Pindai (KPFM) menawarkan pengukuran presisi potensi permukaan dan variasi fungsi kerja, yang sangat penting untuk inspeksi permukaan semikonduktor dan aplikasi ilmu material lainnya.

Fungsi Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM) memperluas kemampuan mikroskop ke dalam studi material piezoelektrik. Mode ini memungkinkan visualisasi dan karakterisasi domain piezoelektrik, yang penting dalam pengembangan dan optimalisasi sensor, aktuator, dan perangkat piezoelektrik lainnya. Bersama-sama, pengukuran multifungsi ini menjadikan Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar sebagai alat serbaguna bagi para peneliti yang bekerja di berbagai disiplin ilmu fisika, ilmu material, elektronika, dan teknik.

Mikroskop ini dapat menampung sampel hingga ukuran Φ 25 mm, yang mencakup berbagai dimensi sampel tipikal yang ditemukan di laboratorium penelitian dan lingkungan industri. Kapasitas ukuran sampel ini memastikan bahwa pengguna dapat menganalisis berbagai spesimen tanpa perlu persiapan sampel yang ekstensif atau pengurangan ukuran, sehingga menjaga integritas sampel dan merampingkan alur kerja.

Dalam hal kinerja, mikroskop ini menawarkan tingkat kebisingan sumbu-Z yang sangat rendah yaitu 0,04 nm. Lantai kebisingan ultra-rendah ini sangat penting untuk mencapai pencitraan resolusi tinggi dan pengukuran gaya yang presisi, memungkinkan deteksi fitur permukaan kecil dan variasi halus dalam sifat sampel. Sensitivitas tinggi seperti itu sangat bermanfaat ketika melakukan inspeksi permukaan semikonduktor, di mana mendeteksi cacat dan variasi skala nano dapat menjadi sangat penting untuk kinerja dan keandalan perangkat.

Untuk melindungi ujung probe halus yang digunakan dalam mikroskopi gaya atom, Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar menggabungkan Teknologi Perlindungan Ujung canggih yang dikenal sebagai Mode Penyisipan Jarum Aman. Teknologi ini meminimalkan risiko kerusakan ujung selama pendekatan probe dan keterlibatan sampel, memperpanjang umur ujung dan mengurangi biaya operasional. Mode Penyisipan Jarum Aman memastikan penempatan ujung yang mulus dan aman, melindungi sampel dan instrumen dari kerusakan yang tidak disengaja.

Secara keseluruhan, Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar adalah alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan profesional yang membutuhkan instrumen yang andal, multifungsi, dan presisi tinggi untuk analisis permukaan skala nano. Kombinasi pemindaian penuh-sampel tiga-sumbu XYZ, mode pengukuran multifungsi—termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik EFM dan Mikroskopi Gaya Magnetik MFM—dan perlindungan ujung yang kuat membuatnya sangat cocok untuk aplikasi seperti inspeksi permukaan semikonduktor dan penelitian material tingkat lanjut. Dengan parameter kinerja yang luar biasa dan kemampuan serbaguna, mikroskop ini merupakan kemajuan signifikan di bidang teknologi mikroskopi gaya atom.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar
• Titik Pengambilan Sampel Gambar: 32*32 hingga 4096*4096
• Kapasitas Ukuran Sampel: Φ 25 mm
• Rentang Pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Pengukuran Multifungsi termasuk Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskop Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskop Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskop Gaya Magnetik (MFM)
• Tingkat Kebisingan Sumbu-Z: 0,04 nm
• Ideal untuk Analisis Tekstur Permukaan
• Mikroskop R&D Industri yang Sempurna untuk inspeksi material detail
• Opsi yang tersedia untuk Membeli Mikroskop Gaya Atom yang disesuaikan dengan kebutuhan penelitian Anda

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) tipe-Dasar Truth Instruments AtomExplorer adalah alat canggih yang dirancang untuk berbagai aplikasi industri dan penelitian. Berasal dari CHINA, AFM stabilitas tinggi ini menonjol dengan metode pemindaian penuh-sampel tiga-sumbu XYZ, yang memungkinkan analisis permukaan yang presisi dan komprehensif. AtomExplorer sangat ideal untuk para profesional yang mencari pengukuran yang andal dan multifungsi di berbagai lingkungan ilmiah dan industri.

Mikroskop R&D industri ini sangat cocok untuk laboratorium dan pusat penelitian yang berfokus pada ilmu material, nanoteknologi, dan industri semikonduktor. Kemampuan pengukuran multifungsinya termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM), menjadikannya instrumen serbaguna untuk mempelajari sifat listrik, magnetik, dan piezoelektrik pada skala nano.

Teknologi perlindungan ujung produk, yang menampilkan Mode Penyisipan Jarum Aman, memastikan umur panjang dan keamanan ujung probe selama proses pemindaian yang halus. Fitur ini sangat bermanfaat di lingkungan di mana integritas sampel dan pelestarian probe sangat penting. Dengan kapasitas ukuran sampel Φ 25 mm dan titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 hingga 4096*4096, AtomExplorer menawarkan pencitraan detail beresolusi tinggi yang cocok untuk penelitian akademis dan kontrol kualitas industri.

Dalam aplikasi praktis, AFM tipe-Dasar AtomExplorer digunakan secara luas dalam pengaturan R&D industri untuk menganalisis topografi permukaan, sifat mekanik, dan karakteristik listrik material. Ini mendukung pengembangan material baru, peningkatan proses manufaktur, dan jaminan kualitas produk jadi. AFM stabilitas tinggi memastikan hasil yang konsisten dan akurat, yang sangat penting untuk memajukan penelitian nanoteknologi dan fabrikasi mikro.

Bisnis dan lembaga penelitian yang tertarik dengan mikroskop canggih ini dapat menghubungi Truth Instruments untuk penawaran detail, karena harga dapat dinegosiasikan berdasarkan persyaratan tertentu. AtomExplorer adalah investasi yang dapat diandalkan bagi mereka yang bertujuan untuk meningkatkan kemampuan analitis mereka dengan mikroskop gaya atom multifungsi berkinerja tinggi.