AtomExplorer: le microscope de force atomique idéal pour les laboratoires de R&D

Description du produit:

Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce microscope permet un examen complet et détaillé des échantillons, assurant une cartographie topographique précise dans toutes les dimensions.Cette capacité de numérisation d'échantillons complets permet aux chercheurs et aux ingénieurs d'analyser les structures de surface avec un détail et une répétabilité exceptionnels, ce qui le rend idéal pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles.

L'une des caractéristiques remarquables de ce microscope de force atomique de type Basic est sa capacité de mesure multifonctionnelle.Microscopie par force de sonde à balayage Kelvin (KPFM)Ces différents modes de mesure étendent l'utilité du microscope bien au-delà de la simple imagerie topographique.La microscopie de force électrostatique (EFM) permet aux utilisateurs d'étudier les propriétés électriques à l'échelle nanométrique, fournissant des informations précieuses sur la répartition des charges de surface et les interactions électrostatiques.

La microscopie par force magnétique (MFM) est une autre fonctionnalité critique de ce microscope, permettant la cartographie détaillée des domaines magnétiques et des forces magnétiques sur la surface de l'échantillon.Cette fonctionnalité est particulièrement utile dans les domaines de la recherche tels que le stockage de donnéesLa recherche sur les propriétés magnétiques à l'échelle nanométrique est essentielle.le mode de microscopie de force de sonde à balayage Kelvin (KPFM) offre une mesure précise du potentiel de surface et des variations de la fonction de travail, qui sont cruciales pour l'inspection de surface des semi-conducteurs et d'autres applications en sciences des matériaux.

La fonction de microscopie par force piézoélectrique (PFM) étend les capacités du microscope à l'étude des matériaux piézoélectriques.Ce mode permet la visualisation et la caractérisation des domaines piézoélectriques, qui est important dans le développement et l'optimisation de capteurs, actionneurs et autres dispositifs piézoélectriques.Ces mesures multifonctionnelles font du microscope de force atomique de type Basic un outil polyvalent pour les chercheurs travaillant dans la physique, les sciences des matériaux, l'électronique et l'ingénierie.

Le microscope peut accueillir des échantillons jusqu'à une taille de Φ 25 mm, ce qui couvre un large éventail de dimensions d'échantillons typiques rencontrées dans les laboratoires de recherche et les environnements industriels.Cette capacité de taille de l'échantillon permet aux utilisateurs d'analyser divers échantillons sans avoir à préparer des échantillons ou à réduire leur taille., préservant ainsi l'intégrité de l'échantillon et rationalisant le flux de travail.

En termes de performances, le microscope dispose d'un niveau de bruit exceptionnellement bas de 0,04 nm sur l'axe Z.Ce plancher ultra-faible bruit est essentiel pour obtenir des images haute résolution et des mesures de force précisesCette grande sensibilité est particulièrement utile lors de l'inspection de la surface des semi-conducteurs.où la détection de défauts et de variations à l'échelle nanométrique peut être cruciale pour les performances et la fiabilité du dispositif.

Pour protéger les extrémités délicates de la sonde utilisées dans la microscopie de force atomique, le microscope de force atomique de type Basic intègre une technologie de protection de pointe avancée connue sous le nom de mode d'insertion d'aiguille sûre.Cette technologie minimise le risque de dommages à la pointe lors de l'approche de la sonde et de l'engagement de l'échantillon, ce qui prolonge la durée de vie des pointes et réduit les coûts d'exploitation.protéger l'échantillon et l'instrument contre les dommages accidentels.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique de type Basic est un outil indispensable pour les chercheurs et les professionnels qui ont besoin d'un microscope fiable, multifonctionnel,et un instrument de haute précision pour l'analyse de surface à l'échelle nanométriqueSa combinaison de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, multifunctional measurement modes—including Electrostatic Force Microscopy EFM and Magnetic Force Microscopy MFM—and robust tip protection make it particularly well-suited for applications such as semiconductor surface inspection and advanced materials researchAvec ses excellents paramètres de performance et ses capacités polyvalentes, ce microscope représente une avancée significative dans le domaine de la technologie de microscopie à force atomique.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• Points d'échantillonnage d'image: 32*32 à 4096*4096
• Taille de l'échantillon Capacité: Φ 25 mm
• Plage de balayage: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Mesures multifonctionnelles, y compris le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à sonde à scanner Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM) et le microscope à force magnétique (MFM)
• Niveau sonore de l'axe Z: 0,04 nm
• Idéal pour l'analyse de la texture de surface
• Microscope industriel parfait de R&D pour l'inspection détaillée des matériaux
• Options disponibles pour acheter le microscope de la force atomique adapté à vos besoins de recherche

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique (AFM) AtomExplorer est un outil avancé conçu pour un large éventail d'applications industrielles et de recherche.Ce AFM de haute stabilité se distingue par sa méthode de numérisation à échantillon complet à trois axes XYZL'AtomExplorer est idéal pour les professionnels qui recherchent des mesures fiables et multifonctionnelles dans divers environnements scientifiques et industriels.

Ce microscope de R&D industriel est parfaitement adapté aux laboratoires et aux centres de recherche spécialisés dans les sciences des matériaux, la nanotechnologie et les industries des semi-conducteurs.Ses capacités de mesure multifonctionnelles comprennent la microscopie de force électrostatique (EFM), la microscopie à sonde Kelvin à balayage (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et la microscopie à force magnétique (MFM), ce qui en fait un instrument polyvalent pour l'étude électrique, magnétique,et propriétés piézoélectriques à l'échelle nanométrique.

La technologie de protection de la pointe du produit, avec le mode d'insertion de l'aiguille en toute sécurité, assure la longévité et la sécurité des extrémités de la sonde lors de processus de numérisation délicats.Cette caractéristique est particulièrement bénéfique dans les environnements où l'intégrité de l'échantillon et la préservation de la sonde sont essentiellesAvec une capacité d'échantillonnage de Φ 25 mm et des points d'échantillonnage d'images allant de 32*32 à 4096*4096, l'AtomExplorer offre desd'imagerie haute résolution adaptée à la recherche académique et au contrôle de la qualité industrielle.

En application pratique, l'AFM de type AtomExplorer Basic est largement utilisé dans les milieux de R&D industriels pour analyser la topographie de surface, les propriétés mécaniques,et caractéristiques électriques des matériauxElle soutient le développement de nouveaux matériaux, l'amélioration des procédés de fabrication et l'assurance de la qualité des produits finis.L'AFM à haute stabilité assure des résultats cohérents et précis, qui sont cruciales pour faire progresser la recherche en nanotechnologie et en microfabrication.

Les entreprises et les instituts de recherche intéressés par ce microscope de pointe peuvent contacter Truth Instruments pour obtenir un devis détaillé, car le prix est négociable en fonction des besoins spécifiques.L'AtomExplorer est un investissement fiable pour ceux qui cherchent à améliorer leurs capacités analytiques avec un, microscope à force atomique à haute performance.