AtomExplorer: Das ideale Rasterkraftmikroskop für F&E-Labore

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop des Grundtyps ist ein hochmodernes Instrument, das durch fortschrittliche Scanning-Fähigkeiten eine präzise Oberflächenanalyse mit hoher Auflösung ermöglicht.Verwendung einer dreiachsigen XYZ-Vollproben-ScanmethodeDas Mikroskop ermöglicht eine umfassende und detaillierte Untersuchung der Proben und sorgt für eine genaue topographische Kartierung in allen Dimensionen.Durch die vollständige Probenscanning-Fähigkeit können Forscher und Ingenieure Oberflächenstrukturen mit außergewöhnlicher Detailliertheit und Wiederholgenauigkeit analysieren, so dass es sich ideal für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen eignet.

Eine der herausragenden Eigenschaften dieses Atomkraftmikroskops des Grundtyps sind seine multifunktionalen Messfunktionen.Scanning-Kelvin-Sonde-Kraftmikroskopie (KPFM)Diese unterschiedlichen Messmodi erweitern den Nutzen des Mikroskops weit über die einfache topographische Bildgebung hinaus.Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM) ermöglicht es Benutzern, elektrische Eigenschaften im Nanobereich zu untersuchen, die wertvolle Einblicke in die Oberflächenladungsverteilung und elektrostatische Wechselwirkungen liefern.

Die Magnetkraftmikroskopie (MFM) ist eine weitere wichtige Funktion dieses Mikroskops, die die detaillierte Kartierung von Magnetgebieten und Magnetkräften auf der Probenoberfläche ermöglicht.Diese Funktion ist besonders nützlich in Forschungsbereichen wie der DatenspeicherungIn den letzten Jahren hat sich die Zahl der Arbeitsplätze in der Industrie in den letzten zehn Jahren erhöht.Der Modus "Scanning Kelvin Probe Force Microscopy" (KPFM) bietet eine präzise Messung des Oberflächenpotentials und der Arbeitsfunktionsvariationen, die für die Oberflächenkontrolle von Halbleitern und andere Anwendungen in der Materialwissenschaft von entscheidender Bedeutung sind.

Die Funktion der Piezoelektrischen Kraftmikroskopie (PFM) erweitert die Fähigkeiten des Mikroskops auf das Studium piezoelektrischer Materialien.Dieser Modus ermöglicht die Visualisierung und Charakterisierung piezoelektrischer Domänen, die bei der Entwicklung und Optimierung von Sensoren, Aktoren und anderen piezoelektrischen Geräten wichtig ist.Diese multifunktionalen Messungen machen das Atomkraftmikroskop des Grundtyps zu einem vielseitigen Werkzeug für Forscher, die in der Physik arbeiten., Materialwissenschaften, Elektronik und Ingenieurwissenschaften.

Das Mikroskop kann Proben bis zu einer Größe von Φ 25 mm aufnehmen, was eine breite Palette typischer Probenabmessungen in Forschungslaboren und Industrieumgebungen abdeckt.Diese Kapazität der Probengröße stellt sicher, dass die Anwender verschiedene Proben analysieren können, ohne dass eine umfangreiche Probenvorbereitung oder Größenreduzierung erforderlich ist., wodurch die Integrität der Probe gewahrt und der Arbeitsablauf optimiert wird.

In Bezug auf die Leistung verfügt das Mikroskop über einen außergewöhnlich niedrigen Geräuschpegel der Z-Achse von 0,04 nm.Dieser ultra-niedrige Lärmboden ist entscheidend für hochauflösende Bildgebung und präzise KraftmessungenDiese hohe Empfindlichkeit ist besonders bei der Durchführung der Oberflächenprüfung von Halbleitern von Vorteil.bei denen die Erkennung von Defekten und Variationen im Nanobereich für die Leistungsfähigkeit und Zuverlässigkeit des Geräts entscheidend sein kann.

Um die empfindlichen Sondenspitzen zu schützen, die in der Atomkraftmikroskopie verwendet werden, enthält das Atomkraftmikroskop des Basistyps eine fortschrittliche Spitzenschutztechnologie, die als Safe Needle Insertion Mode bekannt ist.Diese Technologie minimiert das Risiko von Spitze Schäden während der Sonde Annäherung und Probenbindung, wodurch die Lebensdauer der Spitzen verlängert und die Betriebskosten gesenkt werden.Schutz der Probe und des Geräts vor versehentlichen Beschädigungen.

Insgesamt ist das Atomkraftmikroskop des Grundtyps ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher und Fachleute, die ein zuverlässiges, multifunktionales,und hochpräzises Instrument für die Oberflächenanalyse im NanobereichDie Kombination von XYZ-Drei-Achsen-Full-Sample-Scannen, multifunctional measurement modes—including Electrostatic Force Microscopy EFM and Magnetic Force Microscopy MFM—and robust tip protection make it particularly well-suited for applications such as semiconductor surface inspection and advanced materials researchMit seinen hervorragenden Leistungsparametern und seinen vielseitigen Fähigkeiten stellt dieses Mikroskop einen bedeutenden Fortschritt im Bereich der Atomkraftmikroskopie dar.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop des Grundtyps
• Bildprobenpunkte: 32*32 bis 4096*4096
• Probengröße Kapazität: Φ 25 mm
• Messbereich: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Multifunktionale Messungen einschließlich Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scanning Kelvin Probe Mikroskop (KPFM), Piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM) und Magnetkraftmikroskop (MFM)
• Z-Achsen Geräuschpegel: 0,04 nm
• Ideal für die Oberflächentexturanalyse
• Perfektes Mikroskop für industrielle Forschung und Entwicklung zur detaillierten Materialprüfung
• Optionen zum Kauf von Atomkraftmikroskop für Ihre Forschung

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomExplorer Basic-Type Atomic Force Microscope (AFM) ist ein fortschrittliches Werkzeug, das für eine Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen entwickelt wurde.Diese hohe Stabilität AFM zeichnet sich durch seine XYZ-Drei-Achsen-Full-Sample-Scan-MethodeDer AtomExplorer ist ideal für Fachleute, die in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Umgebungen zuverlässige und multifunktionale Messungen anstreben.

Dieses industrielle Forschungs- und Entwicklungsmikroskop eignet sich hervorragend für Laboratorien und Forschungszentren, die sich auf Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Halbleiterindustrie konzentrieren.Zu seinen multifunktionalen Messfunktionen gehört die Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM) und Magnetic Force Microscopy (MFM), so dass es ein vielseitiges Instrument für die Untersuchung von elektrischen, magnetischen,und piezoelektrische Eigenschaften auf der Nanoskala.

Die Technologie zum Schutz der Spitze des Produkts mit dem Safe Needle Insertion Mode gewährleistet die Langlebigkeit und Sicherheit der Spitze der Sonden während empfindlicher Scanning-Prozesse.Diese Eigenschaft ist besonders nützlich in Umgebungen, in denen die Probenintegrität und die Erhaltung der Sonde von entscheidender Bedeutung sindMit einer Probengrößenkapazität von Φ 25 mm und Bildprobenpunkten zwischen 32*32 und 4096*4096 bietet der AtomExplorer detaillierteBildgebung mit hoher Auflösung für akademische Forschung und industrielle Qualitätskontrolle.

In der Praxis wird der AtomExplorer Basic-Typ-AFM in industriellen Forschungs- und Entwicklungseinrichtungen eingesetzt, um Oberflächentopographie, mechanische Eigenschaften,und elektrische Eigenschaften der MaterialienSie unterstützt die Entwicklung neuer Materialien, die Verbesserung der Herstellungsprozesse und die Qualitätssicherung der fertigen Produkte.Die hohe Stabilität des AFM gewährleistet einheitliche und genaue Ergebnisse, die für die Weiterentwicklung der Nanotechnologie und der Mikrofabrikationsforschung von entscheidender Bedeutung sind.

Unternehmen und Forschungseinrichtungen, die an diesem hochmodernen Mikroskop interessiert sind, können sich an Truth Instruments wenden, um ein detailliertes Angebot zu erhalten, da der Preis auf der Grundlage spezifischer Anforderungen verhandelbar ist.Der AtomExplorer ist eine zuverlässige Investition für diejenigen, die ihre analytischen Fähigkeiten mit einem multifunktionalen, Hochleistungs-Atomkraftmikroskop.