AtomExplorer: R&D 연구소를 위한 이상적인 원자력 현미경

제품 설명:

Basic-type 원자력 현미경은 첨단 스캔 기능을 통해 정밀하고 고해상도 표면 분석을 제공하도록 설계된 최첨단 장비입니다. XYZ 3축 전체 샘플 스캔 방식을 활용하여 이 현미경은 샘플에 대한 포괄적이고 상세한 검사를 가능하게 하여 모든 차원에서 정확한 지형 매핑을 보장합니다. 이 전체 샘플 스캔 기능은 연구원과 엔지니어가 뛰어난 세부 사항과 반복성으로 표면 구조를 분석할 수 있도록 하여 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 이상적입니다.

이 Basic-type 원자력 현미경의 뛰어난 기능 중 하나는 다기능 측정 기능입니다. 전기장력 현미경(EFM), 주사 켈빈 프로브력 현미경(KPFM), 압전력 현미경(PFM) 및 자기력 현미경(MFM)을 수행하도록 장착되어 있습니다. 이러한 다양한 측정 모드는 단순한 지형 이미징을 넘어 현미경의 유용성을 확장합니다. 전기장력 현미경(EFM)을 통해 사용자는 나노 규모에서 전기적 특성을 조사하여 표면 전하 분포 및 정전기적 상호 작용에 대한 귀중한 통찰력을 얻을 수 있습니다.

자기력 현미경(MFM)은 이 현미경의 또 다른 중요한 기능으로, 샘플 표면의 자기 도메인 및 자기력을 상세하게 매핑할 수 있습니다. 이 기능은 데이터 저장, 스핀트로닉스 및 나노자성 분야와 같이 나노 규모에서 자기적 특성을 이해하는 것이 필수적인 연구 분야에서 특히 유용합니다. 또한 주사 켈빈 프로브력 현미경(KPFM) 모드는 반도체 표면 검사 및 기타 재료 과학 응용 분야에 중요한 표면 전위 및 일함수 변화의 정밀한 측정을 제공합니다.

압전력 현미경(PFM) 기능은 현미경의 기능을 압전 재료 연구로 확장합니다. 이 모드를 통해 압전 도메인을 시각화하고 특성화할 수 있으며, 이는 센서, 액추에이터 및 기타 압전 장치의 개발 및 최적화에 중요합니다. 이러한 다기능 측정을 통해 Basic-type 원자력 현미경은 물리학, 재료 과학, 전자 공학 및 엔지니어링 분야에서 연구하는 연구원에게 다재다능한 도구가 됩니다.

이 현미경은 최대 Φ 25mm 크기의 샘플을 수용할 수 있으며, 이는 연구 실험실 및 산업 환경에서 발생하는 일반적인 샘플 치수를 포괄합니다. 이 샘플 크기 용량은 사용자가 광범위한 샘플 준비 또는 크기 감소 없이 다양한 표본을 분석할 수 있도록 하여 샘플의 무결성을 유지하고 워크플로우를 간소화합니다.

성능 측면에서 이 현미경은 0.04nm의 매우 낮은 Z축 노이즈 레벨을 자랑합니다. 이 초저 노이즈 플로어는 고해상도 이미징 및 정밀한 힘 측정을 달성하는 데 중요하며, 샘플 특성의 미세한 표면 특징 및 미묘한 변화를 감지할 수 있습니다. 이러한 높은 감도는 나노 규모 결함 및 변화를 감지하는 것이 장치 성능 및 신뢰성에 중요한 반도체 표면 검사를 수행할 때 특히 유용합니다.

원자력 현미경에 사용되는 섬세한 프로브 팁을 보호하기 위해 Basic-type 원자력 현미경은 Safe Needle Insertion Mode로 알려진 고급 팁 보호 기술을 통합합니다. 이 기술은 프로브 접근 및 샘플 결합 중에 팁 손상 위험을 최소화하여 팁의 수명을 연장하고 운영 비용을 절감합니다. Safe Needle Insertion Mode는 부드럽고 안전한 팁 배치를 보장하여 샘플과 장비를 우발적인 손상으로부터 보호합니다.

전반적으로 Basic-type 원자력 현미경은 나노 규모 표면 분석을 위해 신뢰할 수 있고 다기능하며 고정밀 장비가 필요한 연구원 및 전문가에게 필수적인 도구입니다. XYZ 3축 전체 샘플 스캔, 전기장력 현미경 EFM 및 자기력 현미경 MFM을 포함한 다기능 측정 모드, 강력한 팁 보호 기능의 조합은 반도체 표면 검사 및 첨단 재료 연구와 같은 응용 분야에 특히 적합합니다. 뛰어난 성능 매개변수와 다재다능한 기능을 갖춘 이 현미경은 원자력 현미경 기술 분야에서 상당한 발전을 나타냅니다.

특징:

• 제품명: Basic-type 원자력 현미경
• 이미지 샘플링 포인트: 32*32 ~ 4096*4096
• 샘플 크기 용량: Φ 25 mm
• 스캔 범위: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• 전기장력 현미경(EFM), 주사 켈빈 프로브 현미경(KPFM), 압전력 현미경(PFM) 및 자기력 현미경(MFM)을 포함한 다기능 측정
• Z축 노이즈 레벨: 0.04 nm
• 표면 질감 분석에 이상적
• 상세한 재료 검사를 위한 완벽한 산업 R&D 현미경
• 연구 요구 사항에 맞게 조정된 원자력 현미경 구매 옵션 제공

기술 매개변수:

응용 분야:

Truth Instruments AtomExplorer Basic-type 원자력 현미경(AFM)은 광범위한 산업 및 연구 응용 분야를 위해 설계된 고급 도구입니다. 중국에서 시작된 이 고안정성 AFM은 XYZ 3축 전체 샘플 스캔 방식으로 돋보이며, 정밀하고 포괄적인 표면 분석을 가능하게 합니다. AtomExplorer는 다양한 과학 및 산업 환경에서 신뢰할 수 있고 다기능적인 측정을 원하는 전문가에게 이상적입니다.

이 산업 R&D 현미경은 재료 과학, 나노 기술 및 반도체 산업에 중점을 둔 실험실 및 연구 센터에 완벽하게 적합합니다. 다기능 측정 기능에는 전기장력 현미경(EFM), 주사 켈빈 프로브 현미경(KPFM), 압전력 현미경(PFM) 및 자기력 현미경(MFM)이 포함되어 나노 규모에서 전기적, 자기적 및 압전적 특성을 연구하기 위한 다재다능한 장비입니다.

Safe Needle Insertion Mode를 특징으로 하는 제품의 팁 보호 기술은 섬세한 스캔 과정에서 프로브 팁의 수명과 안전을 보장합니다. 이 기능은 샘플 무결성 및 프로브 보존이 중요한 환경에서 특히 유용합니다. Φ 25 mm의 샘플 크기 용량과 32*32에서 4096*4096까지의 이미지 샘플링 포인트를 갖춘 AtomExplorer는 학술 연구 및 산업 품질 관리 모두에 적합한 상세하고 고해상도 이미징을 제공합니다.

실제 응용 분야에서 AtomExplorer Basic-type AFM은 재료의 표면 지형, 기계적 특성 및 전기적 특성을 분석하기 위해 산업 R&D 환경에서 광범위하게 사용됩니다. 새로운 재료 개발, 제조 공정 개선 및 완제품의 품질 보증을 지원합니다. 고안정성 AFM은 나노 기술 및 마이크로 제작 연구를 발전시키는 데 중요한 일관되고 정확한 결과를 보장합니다.

이 최첨단 현미경에 관심 있는 기업 및 연구 기관은 특정 요구 사항에 따라 가격이 협상 가능하므로 Truth Instruments에 자세한 견적을 문의할 수 있습니다. AtomExplorer는 다기능적이고 고성능 원자력 현미경으로 분석 기능을 향상시키려는 사람들에게 믿을 수 있는 투자입니다.