AtomExplorer: De ideale atoomkrachtmicroscoop voor R&D-laboratoria

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscoop van het basistype is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om nauwkeurige oppervlakteanalyse met hoge resolutie te leveren door middel van geavanceerde scanmogelijkheden. Met behulp van een XYZ-drie-assige full-sample scanmethode maakt deze microscoop een uitgebreid en gedetailleerd onderzoek van monsters mogelijk, waardoor een nauwkeurige topografische mapping over alle dimensies wordt gegarandeerd. Deze full-sample scanmogelijkheid stelt onderzoekers en ingenieurs in staat om oppervlaktestructuren met uitzonderlijke details en herhaalbaarheid te analyseren, waardoor het ideaal is voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen.

Een van de opvallende kenmerken van deze Atomic Force Microscoop van het basistype zijn de multifunctionele meetmogelijkheden. Hij is uitgerust om Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Kracht Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM) en Magnetische Kracht Microscopie (MFM) uit te voeren. Deze diverse meetmodi breiden de bruikbaarheid van de microscoop ver uit boven eenvoudige topografische beeldvorming. Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM) stelt gebruikers in staat om elektrische eigenschappen op de nanoschaal te onderzoeken, wat waardevolle inzichten oplevert in de verdeling van de oppervlaktelading en elektrostatische interacties.

Magnetische Kracht Microscopie (MFM) is een andere cruciale functionaliteit van deze microscoop, die de gedetailleerde mapping van magnetische domeinen en magnetische krachten op het monsteroppervlak mogelijk maakt. Deze functie is met name handig op onderzoeksgebieden zoals gegevensopslag, spintronica en nanomagnetisme, waar het begrijpen van magnetische eigenschappen op de nanoschaal essentieel is. Bovendien biedt de Scanning Kelvin Probe Kracht Microscopie (KPFM)-modus een nauwkeurige meting van de oppervlaktepotentiaal en variaties in de werkfunctie, die cruciaal zijn voor de inspectie van het oppervlak van halfgeleiders en andere materiaalkundige toepassingen.

De Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM)-functie breidt de mogelijkheden van de microscoop uit naar de studie van piëzo-elektrische materialen. Deze modus maakt de visualisatie en karakterisering van piëzo-elektrische domeinen mogelijk, wat belangrijk is bij de ontwikkeling en optimalisatie van sensoren, actuatoren en andere piëzo-elektrische apparaten. Samen maken deze multifunctionele metingen de Atomic Force Microscoop van het basistype tot een veelzijdig hulpmiddel voor onderzoekers die werkzaam zijn in de natuurkunde, materiaalkunde, elektronica en technische disciplines.

De microscoop is geschikt voor monsters tot een afmeting van Φ 25 mm, wat een breed scala aan typische monsterdimensies omvat die worden aangetroffen in onderzoekslaboratoria en industriële omgevingen. Deze monstergroottecapaciteit zorgt ervoor dat gebruikers verschillende specimens kunnen analyseren zonder uitgebreide monstervoorbereiding of -reductie, waardoor de integriteit van het monster behouden blijft en de workflow wordt gestroomlijnd.

Qua prestaties beschikt de microscoop over een uitzonderlijk laag Z-as ruisniveau van 0,04 nm. Deze ultralage ruisvloer is cruciaal voor het bereiken van beeldvorming met hoge resolutie en nauwkeurige krachtmetingen, waardoor de detectie van minuscule oppervlaktekenmerken en subtiele variaties in monstereigenschappen mogelijk wordt. Een dergelijke hoge gevoeligheid is met name gunstig bij het uitvoeren van de inspectie van het oppervlak van halfgeleiders, waarbij het detecteren van defecten en variaties op de nanoschaal cruciaal kan zijn voor de prestaties en betrouwbaarheid van het apparaat.

Om de delicate proberips te beschermen die worden gebruikt in atoomkrachtmicroscopie, bevat de Atomic Force Microscoop van het basistype een geavanceerde Tip Protection Technology, bekend als Safe Needle Insertion Mode. Deze technologie minimaliseert het risico op beschadiging van de tip tijdens de benadering van de probe en de interactie met het monster, waardoor de levensduur van de tips wordt verlengd en de operationele kosten worden verlaagd. Safe Needle Insertion Mode zorgt voor een soepele en veilige tip-plaatsing, waardoor zowel het monster als het instrument worden beschermd tegen onbedoelde schade.

Over het algemeen is de Atomic Force Microscoop van het basistype een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers en professionals die een betrouwbaar, multifunctioneel en zeer nauwkeurig instrument nodig hebben voor oppervlakteanalyse op nanoschaal. De combinatie van XYZ-drie-assige full-sample scanning, multifunctionele meetmodi - waaronder Elektrostatische Kracht Microscopie EFM en Magnetische Kracht Microscopie MFM - en robuuste tipbescherming maakt het bijzonder geschikt voor toepassingen zoals de inspectie van het oppervlak van halfgeleiders en geavanceerd materiaalonderzoek. Met zijn uitstekende prestatieparameters en veelzijdige mogelijkheden vertegenwoordigt deze microscoop een aanzienlijke vooruitgang op het gebied van atoomkrachtmicroscopietechnologie.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscoop van het basistype
• Beeldbemonsteringspunten: 32*32 tot 4096*4096
• Monstergroottecapaciteit: Φ 25 mm
• Scanbereik: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Multifunctionele metingen, waaronder Elektrostatische Kracht Microscoop (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscoop (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscoop (PFM) en Magnetische Kracht Microscoop (MFM)
• Z-as ruisniveau: 0,04 nm
• Ideaal voor oppervlaktestructuuranalyse
• Perfecte industriële R&D-microscoop voor gedetailleerde materiaalinspectie
• Opties beschikbaar om Atomic Force Microscoop te kopen, afgestemd op uw onderzoeksbehoeften

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscoop (AFM) van het basistype is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor een breed scala aan industriële en onderzoekstoepassingen. Afkomstig uit CHINA, onderscheidt deze AFM met hoge stabiliteit zich door zijn XYZ-drie-assige full-sample scanmethode, die nauwkeurige en uitgebreide oppervlakteanalyse mogelijk maakt. De AtomExplorer is ideaal voor professionals die op zoek zijn naar betrouwbare en multifunctionele metingen in verschillende wetenschappelijke en industriële omgevingen.

Deze industriële R&D-microscoop is perfect geschikt voor laboratoria en onderzoekscentra die zich richten op materiaalkunde, nanotechnologie en de halfgeleiderindustrie. De multifunctionele meetmogelijkheden omvatten Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM) en Magnetische Kracht Microscopie (MFM), waardoor het een veelzijdig instrument is voor het bestuderen van elektrische, magnetische en piëzo-elektrische eigenschappen op de nanoschaal.

De tipbeschermingstechnologie van het product, met Safe Needle Insertion Mode, zorgt voor de levensduur en veiligheid van de proberips tijdens delicate scanprocessen. Deze functie is vooral handig in omgevingen waar de integriteit van het monster en het behoud van de probe cruciaal zijn. Met een monstergroottecapaciteit van Φ 25 mm en beeldbemonsteringspunten variërend van 32*32 tot 4096*4096, biedt de AtomExplorer gedetailleerde beeldvorming met hoge resolutie die geschikt is voor zowel academisch onderzoek als industriële kwaliteitscontrole.

In de praktijk wordt de AtomExplorer AFM van het basistype uitgebreid gebruikt in industriële R&D-omgevingen om de oppervlakte topografie, mechanische eigenschappen en elektrische kenmerken van materialen te analyseren. Het ondersteunt de ontwikkeling van nieuwe materialen, de verbetering van productieprocessen en de kwaliteitsborging van eindproducten. De AFM met hoge stabiliteit zorgt voor consistente en nauwkeurige resultaten, die cruciaal zijn voor het bevorderen van nanotechnologie- en microfabricageonderzoek.

Bedrijven en onderzoeksinstituten die geïnteresseerd zijn in deze geavanceerde microscoop kunnen contact opnemen met Truth Instruments voor een gedetailleerde offerte, aangezien de prijs onderhandelbaar is op basis van specifieke vereisten. De AtomExplorer is een betrouwbare investering voor degenen die hun analytische mogelijkheden willen verbeteren met een multifunctionele, hoogwaardige atoomkrachtmicroscoop.