English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
AtomExplorer: میکروسکوپ نیروی اتمی ایدهآل برای آزمایشگاههای تحقیق و توسعه
ویژگی های اساسی
املاک تجاری
توضیحات محصول:
میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه تجزیه و تحلیل سطح دقیق و با وضوح بالا از طریق قابلیت های اسکن پیشرفته طراحی شده است. با استفاده از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، این میکروسکوپ امکان بررسی جامع و دقیق نمونه ها را فراهم می کند و از نقشه برداری توپوگرافی دقیق در تمام ابعاد اطمینان حاصل می کند. این قابلیت اسکن کامل نمونه به محققان و مهندسان اجازه می دهد تا ساختارهای سطحی را با جزئیات و تکرارپذیری استثنایی تجزیه و تحلیل کنند و آن را برای طیف گسترده ای از کاربردهای علمی و صنعتی ایده آل می کند.
یکی از ویژگی های برجسته این میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه، قابلیت های اندازه گیری چند منظوره آن است. این دستگاه مجهز به انجام میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) است. این حالت های اندازه گیری متنوع، کاربرد میکروسکوپ را فراتر از تصویربرداری توپوگرافی ساده گسترش می دهد. میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) به کاربران اجازه می دهد تا خواص الکتریکی را در مقیاس نانو بررسی کنند و بینش های ارزشمندی را در مورد توزیع بار سطحی و فعل و انفعالات الکترواستاتیک ارائه دهند.
میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) یکی دیگر از عملکردهای مهم این میکروسکوپ است که امکان نقشه برداری دقیق از دامنه های مغناطیسی و نیروهای مغناطیسی را بر روی سطح نمونه فراهم می کند. این ویژگی به ویژه در زمینه های تحقیقاتی مانند ذخیره سازی داده ها، اسپینترونیک و نانومغناطیس مفید است، جایی که درک خواص مغناطیسی در مقیاس نانو ضروری است. علاوه بر این، حالت میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM) اندازه گیری دقیقی از پتانسیل سطح و تغییرات تابع کار ارائه می دهد که برای بازرسی سطح نیمه هادی و سایر کاربردهای علم مواد بسیار مهم است.
عملکرد میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) قابلیت های میکروسکوپ را به مطالعه مواد پیزوالکتریک گسترش می دهد. این حالت امکان تجسم و مشخصه سازی دامنه های پیزوالکتریک را فراهم می کند که در توسعه و بهینه سازی سنسورها، محرک ها و سایر دستگاه های پیزوالکتریک مهم است. این اندازه گیری های چند منظوره با هم، میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه را به ابزاری همه کاره برای محققانی تبدیل می کند که در رشته های فیزیک، علم مواد، الکترونیک و مهندسی فعالیت می کنند.
این میکروسکوپ نمونه هایی تا اندازه Φ 25 میلی متر را در خود جای می دهد که طیف وسیعی از ابعاد نمونه های معمولی را که در آزمایشگاه های تحقیقاتی و محیط های صنعتی با آن مواجه می شوند، پوشش می دهد. این ظرفیت اندازه نمونه تضمین می کند که کاربران می توانند نمونه های مختلف را بدون نیاز به آماده سازی گسترده نمونه یا کاهش اندازه تجزیه و تحلیل کنند، در نتیجه یکپارچگی نمونه را حفظ کرده و گردش کار را ساده می کنند.
از نظر عملکرد، این میکروسکوپ دارای سطح نویز محور Z فوق العاده کم 0.04 نانومتر است. این کف نویز فوق العاده کم برای دستیابی به تصویربرداری با وضوح بالا و اندازه گیری دقیق نیرو بسیار مهم است و امکان تشخیص ویژگی های سطحی کوچک و تغییرات ظریف در خواص نمونه را فراهم می کند. چنین حساسیت بالایی به ویژه هنگام انجام بازرسی سطح نیمه هادی مفید است، جایی که تشخیص نقص ها و تغییرات در مقیاس نانو می تواند برای عملکرد و قابلیت اطمینان دستگاه بسیار مهم باشد.
برای محافظت از نوک های پروب ظریف مورد استفاده در میکروسکوپ نیروی اتمی، میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه فناوری پیشرفته حفاظت از نوک را که به عنوان حالت درج سوزن ایمن شناخته می شود، در خود جای داده است. این فناوری خطر آسیب نوک را در هنگام نزدیک شدن پروب و درگیر شدن نمونه به حداقل می رساند، طول عمر نوک ها را افزایش می دهد و هزینه های عملیاتی را کاهش می دهد. حالت درج سوزن ایمن، قرارگیری صاف و ایمن نوک را تضمین می کند و از نمونه و ابزار در برابر آسیب های تصادفی محافظت می کند.
به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه یک ابزار ضروری برای محققان و متخصصانی است که به یک ابزار قابل اعتماد، چند منظوره و با دقت بالا برای تجزیه و تحلیل سطح در مقیاس نانو نیاز دارند. ترکیب آن از اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، حالت های اندازه گیری چند منظوره—از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک EFM و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی MFM—و محافظت قوی از نوک، آن را به ویژه برای کاربردهایی مانند بازرسی سطح نیمه هادی و تحقیقات پیشرفته مواد مناسب می کند. این میکروسکوپ با پارامترهای عملکرد برجسته و قابلیت های همه کاره خود، نشان دهنده پیشرفت قابل توجهی در زمینه فناوری میکروسکوپ نیروی اتمی است.
ویژگی ها:
- نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه
- نقاط نمونه برداری تصویر: 32*32 تا 4096*4096
- ظرفیت اندازه نمونه: Φ 25 میلی متر
- محدوده اسکن: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
- اندازه گیری های چند منظوره از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
- سطح نویز محور Z: 0.04 نانومتر
- ایده آل برای تجزیه و تحلیل بافت سطح
- میکروسکوپ تحقیق و توسعه صنعتی عالی برای بازرسی دقیق مواد
- گزینه های موجود برای خرید میکروسکوپ نیروی اتمی متناسب با نیازهای تحقیقاتی شما
پارامترهای فنی:
| حالت عملیاتی | حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر، حالت تصویربرداری فاز |
| سطح نویز محور Z | 0.04 نانومتر |
| اندازه گیری های چند منظوره | میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) |
| روش اسکن | اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ |
| فناوری حفاظت از نوک | حالت درج سوزن ایمن |
| محدوده اسکن | 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm |
| نقاط نمونه برداری تصویر | 32 * 32 - 4096 * 4096 |
| اندازه نمونه | Φ 25 میلی متر |
برنامه های کاربردی:
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نوع پایه AtomExplorer از Truth Instruments یک ابزار پیشرفته است که برای طیف گسترده ای از کاربردهای صنعتی و تحقیقاتی طراحی شده است. این AFM با پایداری بالا که از چین منشا می گیرد، با روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ خود متمایز است و امکان تجزیه و تحلیل سطح دقیق و جامع را فراهم می کند. AtomExplorer برای متخصصانی ایده آل است که به دنبال اندازه گیری های قابل اعتماد و چند منظوره در محیط های علمی و صنعتی مختلف هستند.
این میکروسکوپ تحقیق و توسعه صنعتی کاملاً برای آزمایشگاه ها و مراکز تحقیقاتی که بر علم مواد، نانوفناوری و صنایع نیمه هادی تمرکز دارند، مناسب است. قابلیت های اندازه گیری چند منظوره آن شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) است که آن را به ابزاری همه کاره برای مطالعه خواص الکتریکی، مغناطیسی و پیزوالکتریک در مقیاس نانو تبدیل می کند.
فناوری حفاظت از نوک محصول، با داشتن حالت درج سوزن ایمن، طول عمر و ایمنی نوک های پروب را در طول فرآیندهای اسکن ظریف تضمین می کند. این ویژگی به ویژه در محیط هایی که یکپارچگی نمونه و حفظ پروب بسیار مهم است، مفید است. AtomExplorer با ظرفیت اندازه نمونه Φ 25 میلی متر و نقاط نمونه برداری تصویر از 32*32 تا 4096*4096، تصویربرداری دقیق و با وضوح بالا را ارائه می دهد که برای تحقیقات دانشگاهی و کنترل کیفیت صنعتی مناسب است.
در کاربرد عملی، AtomExplorer Basic-type AFM به طور گسترده در تنظیمات تحقیق و توسعه صنعتی برای تجزیه و تحلیل توپوگرافی سطح، خواص مکانیکی و ویژگی های الکتریکی مواد استفاده می شود. این امر از توسعه مواد جدید، بهبود فرآیندهای تولید و تضمین کیفیت محصولات نهایی پشتیبانی می کند. AFM با پایداری بالا نتایج سازگار و دقیقی را تضمین می کند که برای پیشبرد تحقیقات نانوفناوری و ریزساخت بسیار مهم است.
کسب و کارها و موسسات تحقیقاتی که به این میکروسکوپ پیشرفته علاقه مند هستند می توانند برای دریافت قیمت دقیق با Truth Instruments تماس بگیرند، زیرا قیمت بر اساس الزامات خاص قابل مذاکره است. AtomExplorer یک سرمایه گذاری قابل اعتماد برای کسانی است که قصد دارند قابلیت های تحلیلی خود را با یک میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره و با کارایی بالا افزایش دهند.
