AtomExplorer: Идеальный атомно-силовой микроскоп для исследовательских лабораторий

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп базового типа - это передовой прибор, предназначенный для обеспечения точного анализа поверхности с высоким разрешением с помощью передовых возможностей сканирования. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот микроскоп обеспечивает всестороннее и детальное исследование образцов, обеспечивая точное топографическое картирование во всех измерениях. Эта возможность сканирования всего образца позволяет исследователям и инженерам анализировать структуры поверхности с исключительной детализацией и повторяемостью, что делает его идеальным для широкого спектра научных и промышленных применений.

Одной из выдающихся особенностей этого атомно-силового микроскопа базового типа являются его многофункциональные возможности измерений. Он оснащен для выполнения электростатической силовой микроскопии (EFM), сканирующей зондовой микроскопии Кельвина (KPFM), пьезоэлектрической силовой микроскопии (PFM) и магнитной силовой микроскопии (MFM). Эти разнообразные режимы измерений расширяют полезность микроскопа далеко за пределы простого топографического изображения. Электростатическая силовая микроскопия (EFM) позволяет пользователям исследовать электрические свойства в наномасштабе, предоставляя ценную информацию о распределении поверхностного заряда и электростатических взаимодействиях.

Магнитная силовая микроскопия (MFM) - еще одна критическая функциональность этого микроскопа, обеспечивающая детальное картирование магнитных доменов и магнитных сил на поверхности образца. Эта функция особенно полезна в таких областях исследований, как хранение данных, спинтроника и наномагнетизм, где понимание магнитных свойств в наномасштабе имеет важное значение. Кроме того, режим сканирующей зондовой микроскопии Кельвина (KPFM) предлагает точное измерение поверхностного потенциала и изменений работы выхода, которые имеют решающее значение для контроля поверхности полупроводников и других применений материаловедения.

Функция пьезоэлектрической силовой микроскопии (PFM) расширяет возможности микроскопа в области изучения пьезоэлектрических материалов. Этот режим позволяет визуализировать и характеризовать пьезоэлектрические домены, что важно при разработке и оптимизации датчиков, приводов и других пьезоэлектрических устройств. Вместе эти многофункциональные измерения делают атомно-силовой микроскоп базового типа универсальным инструментом для исследователей, работающих в области физики, материаловедения, электроники и инженерных дисциплин.

Микроскоп вмещает образцы размером до Φ 25 мм, что охватывает широкий диапазон типичных размеров образцов, встречающихся в исследовательских лабораториях и промышленных условиях. Эта вместимость по размеру образца гарантирует, что пользователи могут анализировать различные образцы без необходимости обширной подготовки образца или уменьшения размера, тем самым сохраняя целостность образца и оптимизируя рабочий процесс.

С точки зрения производительности, микроскоп может похвастаться исключительно низким уровнем шума по оси Z - 0,04 нм. Этот сверхнизкий уровень шума имеет решающее значение для достижения изображения с высоким разрешением и точных измерений силы, позволяя обнаруживать мельчайшие особенности поверхности и незначительные изменения свойств образца. Такая высокая чувствительность особенно полезна при проведении контроля поверхности полупроводников, где обнаружение наноразмерных дефектов и изменений может иметь решающее значение для производительности и надежности устройства.

Для защиты хрупких зондовых наконечников, используемых в атомно-силовой микроскопии, атомно-силовой микроскоп базового типа включает в себя передовую технологию защиты наконечников, известную как режим безопасного ввода иглы. Эта технология минимизирует риск повреждения наконечника во время приближения зонда и взаимодействия с образцом, продлевая срок службы наконечников и снижая эксплуатационные расходы. Режим безопасного ввода иглы обеспечивает плавное и безопасное размещение наконечника, защищая как образец, так и прибор от случайных повреждений.

В целом, атомно-силовой микроскоп базового типа является незаменимым инструментом для исследователей и профессионалов, которым требуется надежный, многофункциональный и высокоточный прибор для наноразмерного анализа поверхности. Его сочетание сканирования образца по трем осям XYZ, многофункциональных режимов измерения, включая электростатическую силовую микроскопию EFM и магнитную силовую микроскопию MFM, и надежная защита наконечника делают его особенно подходящим для таких применений, как контроль поверхности полупроводников и передовые исследования материалов. Благодаря своим выдающимся параметрам производительности и универсальным возможностям этот микроскоп представляет собой значительный прогресс в области технологии атомно-силовой микроскопии.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп базового типа
• Точки дискретизации изображения: от 32*32 до 4096*4096
• Вместимость по размеру образца: Φ 25 мм
• Диапазон сканирования: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий зондовый микроскоп Кельвина (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Уровень шума по оси Z: 0,04 нм
• Идеально подходит для анализа текстуры поверхности
• Идеальный промышленный микроскоп для исследований и разработок для детального осмотра материалов
• Доступны варианты для покупки атомно-силового микроскопа, адаптированного к вашим исследовательским потребностям

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп (AFM) базового типа AtomExplorer от Truth Instruments - это передовой инструмент, предназначенный для широкого спектра промышленных и исследовательских применений. Этот AFM с высокой стабильностью, разработанный в Китае, выделяется своим методом сканирования всего образца по трем осям XYZ, обеспечивающим точный и всесторонний анализ поверхности. AtomExplorer идеально подходит для профессионалов, которым требуются надежные и многофункциональные измерения в различных научных и промышленных условиях.

Этот промышленный микроскоп для исследований и разработок идеально подходит для лабораторий и исследовательских центров, специализирующихся на материаловедении, нанотехнологиях и полупроводниковой промышленности. Его многофункциональные возможности измерения включают электростатическую силовую микроскопию (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM) и магнитную силовую микроскопию (MFM), что делает его универсальным инструментом для изучения электрических, магнитных и пьезоэлектрических свойств в наномасштабе.

Технология защиты наконечника продукта, включающая режим безопасного ввода иглы, обеспечивает долговечность и безопасность зондовых наконечников во время деликатных процессов сканирования. Эта функция особенно полезна в средах, где целостность образца и сохранение зонда имеют решающее значение. Благодаря вместимости образца Φ 25 мм и точкам дискретизации изображения от 32*32 до 4096*4096, AtomExplorer предлагает детальное изображение с высоким разрешением, подходящее как для академических исследований, так и для промышленного контроля качества.

На практике AFM базового типа AtomExplorer широко используется в промышленных условиях исследований и разработок для анализа топографии поверхности, механических свойств и электрических характеристик материалов. Он поддерживает разработку новых материалов, улучшение производственных процессов и обеспечение качества готовой продукции. AFM с высокой стабильностью обеспечивает последовательные и точные результаты, которые имеют решающее значение для развития нанотехнологий и микропроизводства.

Предприятия и исследовательские институты, заинтересованные в этом передовом микроскопе, могут связаться с Truth Instruments для получения подробной информации, поскольку цена подлежит обсуждению в зависимости от конкретных требований. AtomExplorer - это надежная инвестиция для тех, кто стремится расширить свои аналитические возможности с помощью многофункционального, высокопроизводительного атомно-силового микроскопа.