AtomExplorer: el microscopio de fuerza atómica ideal para laboratorios de I+D

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es un instrumento de vanguardia diseñado para ofrecer un análisis de superficie preciso y de alta resolución a través de capacidades de escaneo avanzadas. Utilizando un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este microscopio permite un examen completo y detallado de las muestras, asegurando un mapeo topográfico preciso en todas las dimensiones. Esta capacidad de escaneo de muestra completa permite a los investigadores e ingenieros analizar estructuras de superficie con un detalle y repetibilidad excepcionales, lo que lo hace ideal para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales.

Una de las características destacadas de este Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico son sus capacidades de medición multifuncionales. Está equipado para realizar Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Estos diversos modos de medición amplían la utilidad del microscopio mucho más allá de la simple obtención de imágenes topográficas. La Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM) permite a los usuarios investigar las propiedades eléctricas a nanoescala, proporcionando información valiosa sobre la distribución de la carga superficial y las interacciones electrostáticas.

La Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) es otra funcionalidad crítica de este microscopio, que permite el mapeo detallado de dominios magnéticos y fuerzas magnéticas en la superficie de la muestra. Esta característica es particularmente útil en campos de investigación como el almacenamiento de datos, la espintrónica y el nanomagnetismo, donde la comprensión de las propiedades magnéticas a nanoescala es esencial. Además, el modo de Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM) ofrece una medición precisa del potencial superficial y las variaciones de la función de trabajo, que son cruciales para la inspección de superficies de semiconductores y otras aplicaciones de ciencia de materiales.

La función de Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) extiende las capacidades del microscopio al estudio de materiales piezoeléctricos. Este modo permite la visualización y caracterización de dominios piezoeléctricos, lo cual es importante en el desarrollo y optimización de sensores, actuadores y otros dispositivos piezoeléctricos. Juntas, estas mediciones multifuncionales hacen del Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico una herramienta versátil para los investigadores que trabajan en física, ciencia de materiales, electrónica e ingeniería.

El microscopio acomoda muestras de hasta un tamaño de Φ 25 mm, lo que cubre una amplia gama de dimensiones típicas de muestras encontradas en laboratorios de investigación y entornos industriales. Esta capacidad de tamaño de muestra asegura que los usuarios puedan analizar varios especímenes sin necesidad de una extensa preparación de la muestra o reducción de tamaño, preservando así la integridad de la muestra y agilizando el flujo de trabajo.

En términos de rendimiento, el microscopio cuenta con un nivel de ruido del eje Z excepcionalmente bajo de 0.04 nm. Este nivel de ruido ultrabajo es fundamental para lograr imágenes de alta resolución y mediciones de fuerza precisas, lo que permite la detección de características superficiales mínimas y variaciones sutiles en las propiedades de la muestra. Tal alta sensibilidad es particularmente beneficiosa al realizar la inspección de superficies de semiconductores, donde la detección de defectos y variaciones a nanoescala puede ser crucial para el rendimiento y la fiabilidad del dispositivo.

Para proteger las delicadas puntas de sonda utilizadas en la microscopía de fuerza atómica, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico incorpora una avanzada Tecnología de Protección de Puntas conocida como Modo de Inserción Segura de Aguja. Esta tecnología minimiza el riesgo de daño a la punta durante el acercamiento de la sonda y la interacción con la muestra, extendiendo la vida útil de las puntas y reduciendo los costos operativos. El Modo de Inserción Segura de Aguja asegura una colocación suave y segura de la punta, protegiendo tanto la muestra como el instrumento de daños accidentales.

En general, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es una herramienta indispensable para investigadores y profesionales que requieren un instrumento confiable, multifuncional y de alta precisión para el análisis de superficies a nanoescala. Su combinación de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, modos de medición multifuncionales, incluyendo Microscopía de Fuerza Electroestática EFM y Microscopía de Fuerza Magnética MFM, y una robusta protección de puntas lo hacen particularmente adecuado para aplicaciones como la inspección de superficies de semiconductores y la investigación avanzada de materiales. Con sus sobresalientes parámetros de rendimiento y capacidades versátiles, este microscopio representa un avance significativo en el campo de la tecnología de microscopía de fuerza atómica.

Características:

• Nombre del Producto: Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico
• Puntos de Muestreo de Imagen: 32*32 a 4096*4096
• Capacidad de Tamaño de Muestra: Φ 25 mm
• Rango de Escaneo: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Mediciones Multifuncionales que incluyen Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopio de Fuerza Magnética (MFM)
• Nivel de Ruido del Eje Z: 0.04 nm
• Ideal para el Análisis de Textura de Superficie
• Microscopio de I+D Industrial Perfecto para la inspección detallada de materiales
• Opciones disponibles para Comprar un Microscopio de Fuerza Atómica adaptado a sus necesidades de investigación

Parámetros Técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico AtomExplorer de Truth Instruments es una herramienta avanzada diseñada para una amplia gama de aplicaciones industriales y de investigación. Originario de CHINA, este AFM de alta estabilidad destaca por su método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, que permite un análisis de superficie preciso y completo. El AtomExplorer es ideal para profesionales que buscan mediciones confiables y multifuncionales en diversos entornos científicos e industriales.

Este microscopio de I+D industrial es perfectamente adecuado para laboratorios y centros de investigación que se centran en la ciencia de materiales, la nanotecnología y las industrias de semiconductores. Sus capacidades de medición multifuncionales incluyen Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), lo que lo convierte en un instrumento versátil para estudiar propiedades eléctricas, magnéticas y piezoeléctricas a nanoescala.

La tecnología de protección de puntas del producto, que presenta el Modo de Inserción Segura de Aguja, asegura la longevidad y la seguridad de las puntas de la sonda durante los delicados procesos de escaneo. Esta característica es especialmente beneficiosa en entornos donde la integridad de la muestra y la preservación de la sonda son críticas. Con una capacidad de tamaño de muestra de Φ 25 mm y puntos de muestreo de imagen que van desde 32*32 a 4096*4096, el AtomExplorer ofrece imágenes detalladas y de alta resolución adecuadas tanto para la investigación académica como para el control de calidad industrial.

En la aplicación práctica, el AFM de tipo Básico AtomExplorer se utiliza ampliamente en entornos de I+D industrial para analizar la topografía de la superficie, las propiedades mecánicas y las características eléctricas de los materiales. Apoya el desarrollo de nuevos materiales, la mejora de los procesos de fabricación y el aseguramiento de la calidad de los productos terminados. El AFM de alta estabilidad asegura resultados consistentes y precisos, que son cruciales para el avance de la nanotecnología y la investigación de microfabricación.

Las empresas e instituciones de investigación interesadas en este microscopio de vanguardia pueden contactar a Truth Instruments para obtener una cotización detallada, ya que el precio es negociable en función de los requisitos específicos. El AtomExplorer es una inversión confiable para aquellos que buscan mejorar sus capacidades analíticas con un microscopio de fuerza atómica multifuncional y de alto rendimiento.