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एटम एक्सप्लोरर: अनुसंधान एवं विकास प्रयोगशालाओं के लिए आदर्श परमाणु बल माइक्रोस्कोप

उत्पाद विवरण:बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे उन्नत स्कैनिंग क्षमताओं के माध्यम से सटीक, उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह विश्लेषण प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। एक XYZ तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग विधि का उपयोग करते हुए, यह माइक्रोस्कोप नमूनों की व्यापक और विस्तृत जांच ...
उत्पाद का विवरण
Z-Axis Noise Level: 0.04 एनएम
Scanning Method: XYZ थ्री-एक्सिस फुल-सैंपल स्कैनिंग
Tip Protection Technology: सुरक्षित सुई निवेशन मोड
Sample Size: Φ 25 मिमी
Multifunctional Measurements: इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन माइक्रोस्कोप (केपीएफएम), पीजोइलेक्ट्रि
Operating Mode: टैप मोड, संपर्क मोड, लिफ्ट मोड, फेज़ इमेजिंग मोड
Scanning Range: 100 μm×100 μm×10 μm / 30 μm×30 μm×5 μm
Image Sampling Points: 32×32-4096×4096

मूल गुण

ब्रांड नाम: Truth Instruments
मॉडल संख्या: AtomExplorer

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact Us For A Detailed Quote
उत्पाद का वर्णन

उत्पाद विवरण:

बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे उन्नत स्कैनिंग क्षमताओं के माध्यम से सटीक, उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह विश्लेषण प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। एक XYZ तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग विधि का उपयोग करते हुए, यह माइक्रोस्कोप नमूनों की व्यापक और विस्तृत जांच को सक्षम बनाता है, जो सभी आयामों में सटीक स्थलाकृतिक मानचित्रण सुनिश्चित करता है। यह पूर्ण-नमूना स्कैनिंग क्षमता शोधकर्ताओं और इंजीनियरों को असाधारण विस्तार और दोहराव के साथ सतह संरचनाओं का विश्लेषण करने की अनुमति देती है, जो इसे वैज्ञानिक और औद्योगिक अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए आदर्श बनाती है।

इस बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप की सबसे उत्कृष्ट विशेषताओं में से एक इसकी बहुआयामी माप क्षमताएं हैं। यह इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (EFM), स्कैनिंग केल्विन प्रोब फोर्स माइक्रोस्कोपी (KPFM), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (PFM), और मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (MFM) करने के लिए सुसज्जित है। ये विविध माप मोड माइक्रोस्कोप की उपयोगिता को साधारण स्थलाकृतिक इमेजिंग से बहुत आगे तक विस्तारित करते हैं। इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (EFM) उपयोगकर्ताओं को नैनोस्केल पर विद्युत गुणों की जांच करने की अनुमति देता है, जो सतह चार्ज वितरण और इलेक्ट्रोस्टैटिक इंटरैक्शन में मूल्यवान अंतर्दृष्टि प्रदान करता है।

मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (MFM) इस माइक्रोस्कोप की एक और महत्वपूर्ण कार्यक्षमता है, जो नमूना सतह पर चुंबकीय डोमेन और चुंबकीय बलों के विस्तृत मानचित्रण को सक्षम बनाती है। यह सुविधा डेटा स्टोरेज, स्पिंट्रोनिक्स और नैनोम্যাগनेटिज्म जैसे अनुसंधान क्षेत्रों में विशेष रूप से उपयोगी है, जहां नैनोस्केल पर चुंबकीय गुणों को समझना आवश्यक है। इसके अतिरिक्त, स्कैनिंग केल्विन प्रोब फोर्स माइक्रोस्कोपी (KPFM) मोड सतह क्षमता और कार्य फ़ंक्शन विविधताओं का सटीक माप प्रदान करता है, जो अर्धचालक सतह निरीक्षण और अन्य सामग्री विज्ञान अनुप्रयोगों के लिए महत्वपूर्ण हैं।

पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (PFM) फ़ंक्शन माइक्रोस्कोप की क्षमताओं को पीजोइलेक्ट्रिक सामग्री के अध्ययन तक बढ़ाता है। यह मोड पीजोइलेक्ट्रिक डोमेन के विज़ुअलाइज़ेशन और लक्षण वर्णन की अनुमति देता है, जो सेंसर, एक्चुएटर और अन्य पीजोइलेक्ट्रिक उपकरणों के विकास और अनुकूलन में महत्वपूर्ण है। एक साथ, ये बहुआयामी माप बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप को भौतिकी, सामग्री विज्ञान, इलेक्ट्रॉनिक्स और इंजीनियरिंग विषयों में काम करने वाले शोधकर्ताओं के लिए एक बहुमुखी उपकरण बनाते हैं।

माइक्रोस्कोप Φ 25 मिमी तक के आकार के नमूनों को समायोजित करता है, जो अनुसंधान प्रयोगशालाओं और औद्योगिक वातावरण में सामना किए जाने वाले विशिष्ट नमूना आयामों की एक विस्तृत श्रृंखला को कवर करता है। यह नमूना आकार क्षमता सुनिश्चित करती है कि उपयोगकर्ता व्यापक नमूना तैयारी या आकार में कमी की आवश्यकता के बिना विभिन्न नमूनों का विश्लेषण कर सकते हैं, जिससे नमूने की अखंडता बनी रहती है और कार्यप्रवाह सुव्यवस्थित होता है।

प्रदर्शन के मामले में, माइक्रोस्कोप 0.04 एनएम का असाधारण रूप से कम Z-अक्ष शोर स्तर का दावा करता है। यह अल्ट्रा-लो शोर फ्लोर उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और सटीक बल माप प्राप्त करने के लिए महत्वपूर्ण है, जो नमूना गुणों में मिनट सतह विशेषताओं और सूक्ष्म विविधताओं का पता लगाने में सक्षम बनाता है। ऐसी उच्च संवेदनशीलता विशेष रूप से अर्धचालक सतह निरीक्षण करते समय फायदेमंद होती है, जहां नैनोस्केल दोषों और विविधताओं का पता लगाना डिवाइस के प्रदर्शन और विश्वसनीयता के लिए महत्वपूर्ण हो सकता है।

एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोपी में उपयोग किए जाने वाले नाजुक जांच युक्तियों की रक्षा के लिए, बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप एक उन्नत टिप प्रोटेक्शन टेक्नोलॉजी को शामिल करता है जिसे सेफ नीडल इंसर्शन मोड के रूप में जाना जाता है। यह तकनीक जांच दृष्टिकोण और नमूना जुड़ाव के दौरान टिप क्षति के जोखिम को कम करती है, युक्तियों के जीवनकाल को बढ़ाती है और परिचालन लागत को कम करती है। सेफ नीडल इंसर्शन मोड सुचारू और सुरक्षित टिप प्लेसमेंट सुनिश्चित करता है, जो नमूने और उपकरण दोनों को आकस्मिक क्षति से बचाता है।

कुल मिलाकर, बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप उन शोधकर्ताओं और पेशेवरों के लिए एक अपरिहार्य उपकरण है जिन्हें नैनोस्केल सतह विश्लेषण के लिए एक विश्वसनीय, बहुआयामी और उच्च-सटीक उपकरण की आवश्यकता होती है। XYZ तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग, बहुआयामी माप मोड—जिसमें इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी EFM और मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी MFM शामिल हैं—और मजबूत टिप सुरक्षा का संयोजन इसे अर्धचालक सतह निरीक्षण और उन्नत सामग्री अनुसंधान जैसे अनुप्रयोगों के लिए विशेष रूप से उपयुक्त बनाता है। अपने उत्कृष्ट प्रदर्शन मापदंडों और बहुमुखी क्षमताओं के साथ, यह माइक्रोस्कोप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोपी तकनीक के क्षेत्र में एक महत्वपूर्ण प्रगति का प्रतिनिधित्व करता है।


विशेषताएँ:

  • उत्पाद का नाम: बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप
  • छवि नमूनाकरण बिंदु: 32*32 से 4096*4096
  • नमूना आकार क्षमता: Φ 25 मिमी
  • स्कैनिंग रेंज: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
  • इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (EFM), स्कैनिंग केल्विन प्रोब माइक्रोस्कोप (KPFM), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (PFM), और मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (MFM) सहित बहुआयामी माप
  • Z-अक्ष शोर स्तर: 0.04 एनएम
  • सतह बनावट विश्लेषण के लिए आदर्श
  • विस्तृत सामग्री निरीक्षण के लिए बिल्कुल सही औद्योगिक आर एंड डी माइक्रोस्कोप
  • अपनी शोध आवश्यकताओं के अनुरूप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप खरीदने के लिए उपलब्ध विकल्प

तकनीकी पैरामीटर:

ऑपरेटिंग मोड टैप मोड, कॉन्टैक्ट मोड, लिफ्ट मोड, फेज़ इमेजिंग मोड
Z-अक्ष शोर स्तर 0.04 एनएम
बहुआयामी माप इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (EFM), स्कैनिंग केल्विन माइक्रोस्कोप (KPFM), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (PFM), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (MFM)
स्कैनिंग विधि XYZ तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग
टिप प्रोटेक्शन टेक्नोलॉजी सेफ नीडल इंसर्शन मोड
स्कैनिंग रेंज 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
छवि नमूनाकरण बिंदु 32 * 32 - 4096 * 4096
नमूना आकार Φ 25 मिमी

अनुप्रयोग:

ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटॉमएक्सप्लोरर बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (AFM) एक उन्नत उपकरण है जिसे औद्योगिक और अनुसंधान अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए डिज़ाइन किया गया है। चीन से उत्पन्न, यह उच्च स्थिरता AFM XYZ तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग विधि के साथ खड़ा है, जो सटीक और व्यापक सतह विश्लेषण को सक्षम बनाता है। एटॉमएक्सप्लोरर उन पेशेवरों के लिए आदर्श है जो विभिन्न वैज्ञानिक और औद्योगिक वातावरण में विश्वसनीय और बहुआयामी माप की तलाश में हैं।

यह औद्योगिक आर एंड डी माइक्रोस्कोप सामग्री विज्ञान, नैनोप्रौद्योगिकी और अर्धचालक उद्योगों पर ध्यान केंद्रित करने वाली प्रयोगशालाओं और अनुसंधान केंद्रों के लिए पूरी तरह से उपयुक्त है। इसकी बहुआयामी माप क्षमताओं में इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (EFM), स्कैनिंग केल्विन प्रोब माइक्रोस्कोपी (KPFM), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (PFM), और मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (MFM) शामिल हैं, जो इसे नैनोस्केल पर विद्युत, चुंबकीय और पीजोइलेक्ट्रिक गुणों का अध्ययन करने के लिए एक बहुमुखी उपकरण बनाता है।

उत्पाद की टिप प्रोटेक्शन टेक्नोलॉजी, जिसमें सेफ नीडल इंसर्शन मोड शामिल है, नाजुक स्कैनिंग प्रक्रियाओं के दौरान जांच युक्तियों की दीर्घायु और सुरक्षा सुनिश्चित करती है। यह सुविधा उन वातावरणों में विशेष रूप से फायदेमंद है जहां नमूना अखंडता और जांच संरक्षण महत्वपूर्ण हैं। Φ 25 मिमी के नमूना आकार क्षमता और 32*32 से 4096*4096 तक की छवि नमूनाकरण बिंदुओं के साथ, एटॉमएक्सप्लोरर विस्तृत, उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग प्रदान करता है जो अकादमिक अनुसंधान और औद्योगिक गुणवत्ता नियंत्रण दोनों के लिए उपयुक्त है।

व्यावहारिक अनुप्रयोग में, एटॉमएक्सप्लोरर बेसिक-टाइप AFM का उपयोग औद्योगिक आर एंड डी सेटिंग्स में सतह स्थलाकृति, यांत्रिक गुणों और सामग्रियों की विद्युत विशेषताओं का विश्लेषण करने के लिए व्यापक रूप से किया जाता है। यह नई सामग्रियों के विकास, विनिर्माण प्रक्रियाओं में सुधार और तैयार उत्पादों की गुणवत्ता आश्वासन का समर्थन करता है। उच्च स्थिरता AFM लगातार और सटीक परिणाम सुनिश्चित करता है, जो नैनोप्रौद्योगिकी और माइक्रोफैब्रिकेशन अनुसंधान को आगे बढ़ाने के लिए महत्वपूर्ण हैं।

इस अत्याधुनिक माइक्रोस्कोप में रुचि रखने वाले व्यवसाय और अनुसंधान संस्थान विस्तृत उद्धरण के लिए ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स से संपर्क कर सकते हैं, क्योंकि विशिष्ट आवश्यकताओं के आधार पर कीमत पर बातचीत की जा सकती है। एटॉमएक्सप्लोरर उन लोगों के लिए एक विश्वसनीय निवेश है जो बहुआयामी, उच्च-प्रदर्शन एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप के साथ अपनी विश्लेषणात्मक क्षमताओं को बढ़ाना चाहते हैं।


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