AtomExplorer: O Microscópio de Força Atômica Ideal para Laboratórios de P&D

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é um instrumento de ponta projetado para fornecer análise de superfície precisa e de alta resolução por meio de recursos avançados de varredura. Utilizando um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, este microscópio permite um exame abrangente e detalhado das amostras, garantindo um mapeamento topográfico preciso em todas as dimensões. Essa capacidade de varredura de amostra completa permite que pesquisadores e engenheiros analisem estruturas de superfície com detalhes e repetibilidade excepcionais, tornando-o ideal para uma ampla gama de aplicações científicas e industriais.

Uma das características de destaque deste Microscópio de Força Atômica do tipo Básico são suas capacidades de medição multifuncionais. Ele está equipado para realizar Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM). Esses diversos modos de medição expandem a utilidade do microscópio muito além da simples imagem topográfica. A Microscopia de Força Eletrostática (EFM) permite que os usuários investiguem as propriedades elétricas na nanoescala, fornecendo informações valiosas sobre a distribuição de carga superficial e as interações eletrostáticas.

A Microscopia de Força Magnética (MFM) é outra funcionalidade crítica deste microscópio, permitindo o mapeamento detalhado de domínios magnéticos e forças magnéticas na superfície da amostra. Esse recurso é particularmente útil em áreas de pesquisa como armazenamento de dados, spintrônica e nanomagnetismo, onde a compreensão das propriedades magnéticas na nanoescala é essencial. Além disso, o modo de Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KPFM) oferece medição precisa do potencial de superfície e variações da função trabalho, que são cruciais para a inspeção de superfície de semicondutores e outras aplicações de ciência de materiais.

A função de Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) estende as capacidades do microscópio para o estudo de materiais piezoelétricos. Este modo permite a visualização e caracterização de domínios piezoelétricos, o que é importante no desenvolvimento e otimização de sensores, atuadores e outros dispositivos piezoelétricos. Juntas, essas medições multifuncionais tornam o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico uma ferramenta versátil para pesquisadores que trabalham em física, ciência de materiais, eletrônica e disciplinas de engenharia.

O microscópio acomoda amostras de até Φ 25 mm, o que abrange uma ampla gama de dimensões típicas de amostras encontradas em laboratórios de pesquisa e ambientes industriais. Essa capacidade de tamanho de amostra garante que os usuários possam analisar vários espécimes sem a necessidade de extensa preparação de amostras ou redução de tamanho, preservando assim a integridade da amostra e simplificando o fluxo de trabalho.

Em termos de desempenho, o microscópio possui um nível de ruído no eixo Z excepcionalmente baixo de 0,04 nm. Esse nível de ruído ultrabaixo é fundamental para obter imagens de alta resolução e medições precisas de força, permitindo a detecção de pequenas características de superfície e variações sutis nas propriedades da amostra. Essa alta sensibilidade é particularmente benéfica ao realizar a inspeção da superfície de semicondutores, onde a detecção de defeitos e variações na nanoescala pode ser crucial para o desempenho e a confiabilidade do dispositivo.

Para proteger as delicadas pontas de sonda usadas na microscopia de força atômica, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico incorpora uma Tecnologia Avançada de Proteção de Ponta conhecida como Modo de Inserção Segura da Agulha. Essa tecnologia minimiza o risco de danos à ponta durante a aproximação da sonda e o contato com a amostra, estendendo a vida útil das pontas e reduzindo os custos operacionais. O Modo de Inserção Segura da Agulha garante a colocação suave e segura da ponta, protegendo tanto a amostra quanto o instrumento contra danos acidentais.

No geral, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é uma ferramenta indispensável para pesquisadores e profissionais que exigem um instrumento confiável, multifuncional e de alta precisão para análise de superfície na nanoescala. Sua combinação de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, modos de medição multifuncionais — incluindo Microscopia de Força Eletrostática EFM e Microscopia de Força Magnética MFM — e proteção robusta da ponta o tornam particularmente adequado para aplicações como inspeção de superfície de semicondutores e pesquisa avançada de materiais. Com seus parâmetros de desempenho excepcionais e capacidades versáteis, este microscópio representa um avanço significativo no campo da tecnologia de microscopia de força atômica.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica do tipo Básico
• Pontos de Amostragem de Imagem: 32*32 a 4096*4096
• Capacidade de Tamanho da Amostra: Φ 25 mm
• Faixa de Varredura: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Medições Multifuncionais, incluindo Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscópio de Sonda Kelvin (KPFM), Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscópio de Força Magnética (MFM)
• Nível de Ruído no Eixo Z: 0,04 nm
• Ideal para Análise de Textura de Superfície
• Microscópio de P&D Industrial perfeito para inspeção detalhada de materiais
• Opções disponíveis para Comprar Microscópio de Força Atômica sob medida para suas necessidades de pesquisa

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico AtomExplorer da Truth Instruments é uma ferramenta avançada projetada para uma ampla gama de aplicações industriais e de pesquisa. Originário da CHINA, este AFM de alta estabilidade se destaca com seu método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, permitindo uma análise de superfície precisa e abrangente. O AtomExplorer é ideal para profissionais que buscam medições confiáveis e multifuncionais em vários ambientes científicos e industriais.

Este microscópio de P&D industrial é perfeitamente adequado para laboratórios e centros de pesquisa que se concentram em ciência de materiais, nanotecnologia e indústrias de semicondutores. Seus recursos de medição multifuncionais incluem Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM), tornando-o um instrumento versátil para estudar propriedades elétricas, magnéticas e piezoelétricas na nanoescala.

A tecnologia de proteção da ponta do produto, com o Modo de Inserção Segura da Agulha, garante a longevidade e a segurança das pontas da sonda durante processos de varredura delicados. Esse recurso é especialmente benéfico em ambientes onde a integridade da amostra e a preservação da sonda são críticas. Com uma capacidade de tamanho de amostra de Φ 25 mm e pontos de amostragem de imagem que variam de 32*32 a 4096*4096, o AtomExplorer oferece imagens detalhadas e de alta resolução adequadas para pesquisa acadêmica e controle de qualidade industrial.

Na aplicação prática, o AFM do tipo Básico AtomExplorer é usado extensivamente em configurações de P&D industrial para analisar a topografia da superfície, propriedades mecânicas e características elétricas dos materiais. Ele suporta o desenvolvimento de novos materiais, a melhoria dos processos de fabricação e a garantia de qualidade dos produtos acabados. O AFM de alta estabilidade garante resultados consistentes e precisos, que são cruciais para o avanço da nanotecnologia e da pesquisa de microfabricação.

Empresas e instituições de pesquisa interessadas neste microscópio de ponta podem entrar em contato com a Truth Instruments para obter uma cotação detalhada, pois o preço é negociável com base em requisitos específicos. O AtomExplorer é um investimento confiável para aqueles que visam aprimorar suas capacidades analíticas com um microscópio de força atômica multifuncional e de alto desempenho.