Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
Многофункциональный микроскоп атомной силы
Многофункциональный микроскоп атомной силы Модель продукта: AtomEdge Pro Описание продукта: Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как кон... -
Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение
Наноразмерный потенциал с атомно-силовым микроскопом для получения изображений высокого разрешения Описание продукта: Одной из ключевых особенностей АСМ является впечатляющий диапазон сканирования, составляющий 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм. Этот широкий диапазон позволяет детально отображать и анализи... -
0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы
Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлага... -
250 нм Керр микроскоп высокого разрешения
Многофункциональный спин-тестовый магнитооптический микроскоп Керра Модель продукта: KMPL-S Описание оборудования: Этот прибор обеспечивает высокоточное магнитодоменное изображение магнитных материалов и спинтронных чипов с разрешением до 250 нм. Он оснащен высокоинтеллектуальной системой управления ... -
Наноразмерное 3D изображение для полупроводников и исследования передовых материалов
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый и универсальный инструмент, предназначенный для обеспечения точной характеристики поверхности с помощью нескольких режимов работы.Этот многофункциональный микроскоп включает в себя ряд методов, включая электростатическую микроскопию ... -
Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост... -
AtomExplorer: Идеальный атомно-силовой микроскоп для исследовательских лабораторий
Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп базового типа - это передовой прибор, предназначенный для обеспечения точного анализа поверхности с высоким разрешением с помощью передовых возможностей сканирования. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот микроскоп обеспечивает всестор... -
Универсальная платформа обнаружения – пользовательские модули и многосиловая микроскопия для материаловедения
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для ... -
AtomExplorer: Субнанометровый микроскоп атомной силы
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и надежный прибор, предназначенный для получения точных изображений наноразмерной топографии с исключительной точностью и стабильностью. Разработанный для исследователей и профессионалов, которым требуются высокопрои...