Универсальная платформа обнаружения – пользовательские модули и многосиловая микроскопия для материаловедения

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для исследования широкого спектра материалов и структур на наноуровне, что делает его незаменимым инструментом для исследователей и инженеров в различных научных дисциплинах.

Одной из выдающихся особенностей этого АСМ является его исключительная способность к визуализации, обеспечивающая максимальное разрешение 4096*4096 точек дискретизации для изображения зонда сканирования. Это сверхвысокое разрешение гарантирует, что даже мельчайшие детали поверхности могут быть точно зафиксированы и проанализированы, что позволяет проводить детальное топографическое картирование и всестороннюю характеризацию поверхности на наноуровне.

АСМ поддерживает несколько рабочих режимов, предоставляя пользователям чрезвычайно гибкий и настраиваемый опыт анализа. Эти режимы включают контактный режим, режим касания, режим фазовой визуализации, режим подъема и режим многонаправленного сканирования. Каждый режим предлагает уникальные преимущества, позволяя прибору адаптироваться к различным типам образцов и требованиям к измерениям. Например, контактный режим обеспечивает прямое взаимодействие с поверхностью образца для точных измерений высоты, в то время как режим касания уменьшает повреждение образца за счет прерывистого контакта с поверхностью. Режим фазовой визуализации добавляет возможность исследования свойств материала путем обнаружения изменений фазовых сдвигов, а режим подъема облегчает бесконтактную визуализацию, поддерживая постоянное расстояние от поверхности образца. Режим многонаправленного сканирования улучшает сбор данных, обеспечивая сканирование с различных ориентаций, повышая общую точность и детализацию анализа.

Метод сканирования, используемый этим АСМ, включает в себя трехкоординатное сканирование образца по осям XYZ, что обеспечивает всесторонний охват и точное позиционирование во время измерений. Эта трехмерная возможность сканирования позволяет системе тщательно перемещаться по поверхности образца во всех направлениях, захватывая подробную информацию по всей сканируемой области. Такое всестороннее сканирование имеет решающее значение для создания точных 3D-профилей поверхности и для исследования сложных наноразмерных особенностей, которые могут различаться в разных областях образца.

С точки зрения механических характеристик, АСМ демонстрирует выдающуюся точность со значениями нелинейности всего 0,15% в направлении XY и 1% в направлении Z. Этот низкий уровень нелинейности приводит к высокоточной позиционировке и надежным данным измерений, которые имеют решающее значение для задач наноразмерной характеризации, где незначительные отклонения могут существенно повлиять на результаты. Стабильность и точность, предлагаемые этим прибором, позволяют пользователям проводить повторяемые и заслуживающие доверия анализы, что необходимо как для исследований, так и для промышленных применений.

Кроме того, АСМ включает в себя возможности бесконтактных измерений, которые жизненно важны для анализа хрупких или мягких образцов, не вызывая повреждений. Эта бесконтактная функция повышает универсальность прибора, позволяя использовать его в приложениях, где сохранение целостности поверхности образца имеет первостепенное значение. Минимизируя физическое взаимодействие, АСМ может эффективно характеризовать чувствительные материалы, такие как биологические образцы, полимеры и тонкие пленки.

В заключение, этот атомно-силовой микроскоп выделяется как мощная платформа для наноразмерной характеризации, оснащенная несколькими режимами и передовой технологией сканирования. Большая емкость образца, сверхвысокое разрешение изображения, универсальные рабочие режимы, точное XYZ-сканирование и низкая нелинейность делают его незаменимым инструментом для детального анализа поверхности. Независимо от того, требуются ли вам контактные или бесконтактные методы измерения, этот АСМ обеспечивает гибкость и точность, необходимые для раскрытия сложных деталей наноразмерных структур, поддерживая широкий спектр научных исследований и технологических разработок.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм
• Точка дискретизации изображения: Максимальное разрешение изображения зонда сканирования составляет 4096 * 4096
• Метод сканирования: трехкоординатное сканирование образца по осям XYZ
• Нелинейность: 0,15% в направлении XY и 1% в направлении Z
• Рабочие режимы: контактный режим, режим касания, режим фазовой визуализации, режим подъема, режим многонаправленного сканирования
• Обеспечивает высокоточную SPM (сканирующая зондовая микроскопия) для детального картирования свойств поверхности
• Достигает нанометрового разрешения для точной визуализации и анализа на наноуровне

Технические параметры:

Применение:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro, произведенный в Китае, представляет собой современный прибор, предназначенный для точного и многофункционального анализа поверхности. Его расширенные возможности делают его идеальным для широкого спектра случаев и сценариев применения продукта, удовлетворяя как исследовательские, так и промышленные потребности.

Благодаря своим многофункциональным режимам измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий кельвин-зондовый силовой микроскоп (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), магнитный силовой микроскоп (MFM) и измерения кривой силы, AtomEdge Pro предлагает непревзойденную универсальность. Это позволяет пользователям выполнять всестороннюю характеризацию поверхности, плавно переключаясь между несколькими режимами, обеспечивая детальный анализ электрических, магнитных, пьезоэлектрических и механических свойств материалов.

Одним из ключевых сценариев применения AtomEdge Pro является область нанотехнологических исследований, где бесконтактное сканирование имеет решающее значение для предотвращения повреждения хрупких образцов. Бесконтактный режим работы микроскопа гарантирует, что морфология и свойства поверхности измеряются точно, без физического вмешательства, что делает его идеальным для анализа биологических образцов, полимеров, полупроводников и наноструктурированных материалов.

Такие отрасли, как электроника, материаловедение и хранение энергии, получают большую выгоду от точных возможностей анализа поверхности AtomEdge Pro. Его метод трехкоординатного сканирования образца по осям XYZ в сочетании с максимальным разрешением 4096*4096 точек дискретизации изображения позволяет получать изображения высокой четкости и детальное топографическое картирование поверхностей размером до 25 мм. Это делает его отличным инструментом для контроля качества, анализа отказов и разработки материалов.

Кроме того, низкий уровень шума прибора в направлении Z, всего 0,04 нм, гарантирует высокую чувствительность и стабильность во время измерений, что необходимо для обнаружения незначительных изменений поверхности и проведения экспериментов с кривой силы. Этот атрибут расширяет его применимость в научных лабораториях и промышленных условиях, где точность имеет первостепенное значение.

В заключение, атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro идеально подходит для сценариев, требующих бесконтактного анализа поверхности с высоким разрешением в нескольких режимах. Будь то академические исследования, разработка инновационных материалов или строгий промышленный контроль, эта передовая модель АСМ обеспечивает надежные и многофункциональные возможности измерения для решения различных аналитических задач.

Поддержка и услуги:

Наш продукт - атомно-силовой микроскоп (АСМ) - поддерживается специализированной командой технических экспертов, стремящихся обеспечить оптимальную производительность и удовлетворенность клиентов. Мы предлагаем комплексные услуги технической поддержки, включая помощь в установке, обучение эксплуатации, руководство по текущему обслуживанию и устранение неполадок.

Пользователи могут получить доступ к подробным руководствам пользователя, обновлениям программного обеспечения и процедурам калибровки для поддержания точности и надежности АСМ. Наша служба поддержки предоставляет варианты удаленной диагностики и обслуживания на месте для быстрого решения любых технических проблем.

Кроме того, мы предлагаем индивидуальные программы обучения, адаптированные к различным уровням опыта, помогая пользователям максимально использовать возможности своего атомно-силового микроскопа. Также доступны услуги профилактического обслуживания для продления срока службы вашего прибора и обеспечения стабильной работы.

Для нужд исследований и разработок наши специалисты предоставляют консультационные услуги для оптимизации конфигураций АСМ и приложений, специфичных для ваших научных целей. Мы стремимся к постоянному совершенствованию и приветствуем отзывы пользователей для улучшения наших продуктов и услуг.

FAQ:

В1: Какова марка и модель этого атомно-силового микроскопа?

О1: Атомно-силовой микроскоп имеет марку Truth Instruments, а номер модели - AtomEdge Pro.

В2: Где производится AtomEdge Pro?

О2: Атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro производится в Китае.

В3: Для каких применений подходит AtomEdge Pro?

О3: AtomEdge Pro идеально подходит для получения изображений поверхности с высоким разрешением и измерений в таких областях, как материаловедение, биология и нанотехнологии.

В4: Каковы возможности разрешения AtomEdge Pro?

О4: AtomEdge Pro предлагает разрешение на атомном уровне, позволяя проводить детальный анализ топографии поверхности на наноуровне.

В5: Поддерживает ли AtomEdge Pro несколько режимов сканирования?

О5: Да, AtomEdge Pro поддерживает различные режимы сканирования, включая контактный режим, режим касания и бесконтактный режим, чтобы соответствовать различным типам образцов и требованиям к визуализации.