پلتفرم تشخیص همه‌کاره – ماژول‌های سفارشی و میکروسکوپ چند نیرو برای علم مواد

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک پلتفرم مشخصه یابی نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه دقت و تطبیق پذیری بی نظیر در تجزیه و تحلیل سطح طراحی شده است. با ظرفیت اندازه نمونه تا 25 میلی متر، این ابزار برای بررسی طیف گسترده ای از مواد و ساختارها در مقیاس نانو ایده آل است و آن را به ابزاری ضروری برای محققان و مهندسان در رشته های علمی مختلف تبدیل می کند.

یکی از ویژگی های برجسته این AFM، قابلیت تصویربرداری استثنایی آن است که دارای حداکثر وضوح 4096*4096 نقطه نمونه برداری برای تصویر پروب اسکن است. این وضوح فوق العاده بالا تضمین می کند که حتی ظریف ترین جزئیات سطح را می توان با دقت ثبت و تجزیه و تحلیل کرد، که امکان نقشه برداری توپوگرافی دقیق و مشخصه یابی جامع سطح در مقیاس نانو را فراهم می کند.

AFM از حالت های کاری متعددی پشتیبانی می کند و یک تجربه تجزیه و تحلیل بسیار انعطاف پذیر و قابل تنظیم را در اختیار کاربران قرار می دهد. این حالت ها شامل حالت تماس، حالت ضربه ای، حالت تصویربرداری فاز، حالت بالابر و حالت اسکن چند جهته است. هر حالت مزایای منحصر به فردی را ارائه می دهد و به ابزار اجازه می دهد تا با انواع نمونه ها و الزامات اندازه گیری سازگار شود. به عنوان مثال، حالت تماس امکان تعامل مستقیم با سطح نمونه را برای اندازه گیری دقیق ارتفاع فراهم می کند، در حالی که حالت ضربه ای با تماس متناوب با سطح، آسیب نمونه را کاهش می دهد. حالت تصویربرداری فاز توانایی بررسی خواص مواد را با تشخیص تغییرات در شیفت فاز اضافه می کند و حالت بالابر تصویربرداری غیر تماسی را با حفظ فاصله ثابت از سطح نمونه تسهیل می کند. حالت اسکن چند جهته با فعال کردن اسکن از جهات مختلف، جمع آوری داده ها را افزایش می دهد و دقت و جزئیات کلی تجزیه و تحلیل را بهبود می بخشد.

روش اسکن مورد استفاده توسط این AFM شامل اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ است که پوشش جامع و موقعیت یابی دقیق را در طول اندازه گیری ها تضمین می کند. این قابلیت اسکن سه بعدی به سیستم اجازه می دهد تا با دقت در تمام جهات در سطح نمونه حرکت کند و اطلاعات دقیقی را در سراسر ناحیه اسکن شده ثبت کند. چنین اسکن جامعی برای تولید پروفایل های سطح سه بعدی دقیق و برای بررسی ویژگی های نانومقیاس پیچیده که ممکن است در مناطق مختلف یک نمونه متفاوت باشد، بسیار مهم است.

از نظر عملکرد مکانیکی، AFM دقت فوق العاده ای را با مقادیر غیر خطی فقط 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z نشان می دهد. این سطح پایین غیر خطی به موقعیت یابی بسیار دقیق و داده های اندازه گیری قابل اعتماد ترجمه می شود که برای وظایف مشخصه یابی نانومقیاس که در آن انحرافات جزئی می تواند به طور قابل توجهی بر نتایج تأثیر بگذارد، بسیار مهم است. پایداری و دقتی که این ابزار ارائه می دهد، کاربران را قادر می سازد تا تجزیه و تحلیل های تکرارپذیر و قابل اعتمادی را انجام دهند که برای کاربردهای تحقیقاتی و صنعتی ضروری است.

علاوه بر این، AFM قابلیت های اندازه گیری غیر تماسی را در خود جای داده است که برای تجزیه و تحلیل نمونه های ظریف یا نرم بدون ایجاد آسیب حیاتی است. این ویژگی غیر تماسی، تطبیق پذیری ابزار را افزایش می دهد و به آن اجازه می دهد تا در کاربردهایی که حفظ یکپارچگی سطح نمونه در درجه اول اهمیت دارد، استفاده شود. با به حداقل رساندن تعامل فیزیکی، AFM می تواند به طور موثر مواد حساس مانند نمونه های بیولوژیکی، پلیمرها و لایه های نازک را مشخص کند.

به طور خلاصه، این میکروسکوپ نیروی اتمی به عنوان یک پلتفرم مشخصه یابی نانومقیاس قدرتمند مجهز به حالت های متعدد و فناوری اسکن پیشرفته برجسته است. ظرفیت نمونه بزرگ، تصویربرداری با وضوح فوق العاده بالا، حالت های کاری همه کاره، اسکن دقیق XYZ و غیر خطی بودن کم، آن را به ابزاری ضروری برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح تبدیل کرده است. چه به روش های اندازه گیری تماسی یا غیر تماسی نیاز داشته باشید، این AFM انعطاف پذیری و دقت لازم برای کشف جزئیات پیچیده ساختارهای نانومقیاس را فراهم می کند و از طیف گسترده ای از تحقیقات علمی و پیشرفت های تکنولوژیکی پشتیبانی می کند.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• محدوده اسکن: 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر
• نقطه نمونه برداری تصویر: حداکثر وضوح تصویر پروب اسکن 4096 * 4096 است
• روش اسکن: اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ
• غیر خطی بودن: 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z
• حالت های کاری: حالت تماس، حالت ضربه ای، حالت تصویربرداری فاز، حالت بالابر، حالت اسکن چند جهته
• SPM (میکروسکوپ پروب اسکن) با دقت بالا را برای نقشه برداری دقیق از خواص سطح فعال می کند
• به وضوح نانومتری برای تصویربرداری و تجزیه و تحلیل دقیق نانومقیاس دست می یابد

پارامترهای فنی:

برنامه های کاربردی:

میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments AtomEdge Pro که منشا آن از چین است، یک ابزار پیشرفته است که برای تجزیه و تحلیل دقیق و چند منظوره سطح طراحی شده است. قابلیت های پیشرفته آن، آن را برای طیف گسترده ای از موارد و سناریوهای کاربردی محصول ایده آل می کند و نیازهای تحقیقاتی و صنعتی را برآورده می کند.

به لطف حالت های اندازه گیری چند منظوره آن، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب اسکن کلوین (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) و اندازه گیری های منحنی نیرو، AtomEdge Pro تطبیق پذیری بی نظیری را ارائه می دهد. این به کاربران اجازه می دهد تا با جابجایی یکپارچه بین حالت های متعدد، مشخصه یابی جامع سطح را انجام دهند و امکان تجزیه و تحلیل دقیق خواص الکتریکی، مغناطیسی، پیزوالکتریک و مکانیکی مواد را فراهم می کند.

یکی از سناریوهای کاربردی کلیدی برای AtomEdge Pro در زمینه تحقیقات نانوتکنولوژی است، جایی که اسکن غیر تماسی برای جلوگیری از آسیب رساندن به نمونه های ظریف بسیار مهم است. حالت عملکرد غیر تماسی میکروسکوپ تضمین می کند که مورفولوژی و خواص سطح بدون تداخل فیزیکی با دقت اندازه گیری می شود و آن را برای تجزیه و تحلیل نمونه های بیولوژیکی، پلیمرها، نیمه هادی ها و مواد نانوساختار عالی می کند.

صنایعی مانند الکترونیک، علم مواد و ذخیره انرژی از قابلیت های تجزیه و تحلیل دقیق سطح AtomEdge Pro بسیار بهره مند می شوند. روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ آن همراه با حداکثر وضوح 4096*4096 نقطه نمونه برداری تصویر، امکان تصویربرداری با کیفیت بالا و نقشه برداری توپوگرافی دقیق از سطوح تا 25 میلی متر را فراهم می کند. این امر آن را به ابزاری عالی برای کنترل کیفیت، تجزیه و تحلیل خرابی و توسعه مواد تبدیل می کند.

علاوه بر این، سطح نویز کم ابزار در جهت Z، تنها 0.04 نانومتر، حساسیت و پایداری بالایی را در طول اندازه گیری ها تضمین می کند که برای تشخیص تغییرات ظریف سطح و انجام آزمایش های منحنی نیرو ضروری است. این ویژگی قابلیت کاربرد آن را در آزمایشگاه های علمی و محیط های صنعتی که دقت در آن ها بسیار مهم است، افزایش می دهد.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments AtomEdge Pro برای سناریوهایی که نیاز به تجزیه و تحلیل سطح غیر تماسی و با وضوح بالا در حالت های متعدد دارند، کاملاً مناسب است. چه برای تحقیقات دانشگاهی، توسعه مواد نوآورانه یا بازرسی های صنعتی دقیق باشد، این مدل AFM پیشرفته قابلیت های اندازه گیری قابل اعتماد و چند منظوره را برای پاسخگویی به چالش های تحلیلی متنوع ارائه می دهد.

پشتیبانی و خدمات:

محصول میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ما توسط یک تیم اختصاصی از کارشناسان فنی پشتیبانی می شود که متعهد به اطمینان از عملکرد بهینه و رضایت مشتری هستند. ما خدمات پشتیبانی فنی جامعی از جمله کمک در نصب، آموزش عملیاتی، راهنمایی تعمیر و نگهداری روتین و عیب یابی ارائه می دهیم.

کاربران می توانند به دفترچه های راهنمای کاربر دقیق، به روز رسانی نرم افزار و روش های کالیبراسیون دسترسی داشته باشند تا دقت و قابلیت اطمینان AFM را حفظ کنند. تیم پشتیبانی ما گزینه های تشخیص از راه دور و خدمات در محل را برای حل سریع هرگونه مشکل فنی ارائه می دهد.

علاوه بر این، ما برنامه های آموزشی سفارشی را متناسب با سطوح مختلف تخصص ارائه می دهیم و به کاربران کمک می کنیم تا قابلیت های میکروسکوپ نیروی اتمی خود را به حداکثر برسانند. خدمات تعمیر و نگهداری پیشگیرانه نیز برای افزایش طول عمر ابزار شما و اطمینان از عملکرد مداوم در دسترس است.

برای نیازهای تحقیق و توسعه، متخصصان ما خدمات مشاوره ای را برای بهینه سازی پیکربندی AFM و برنامه های کاربردی خاص برای اهداف علمی شما ارائه می دهند. ما متعهد به بهبود مستمر هستیم و از بازخورد کاربران برای ارتقای محصولات و خدمات خود استقبال می کنیم.

سوالات متداول:

Q1: نام تجاری و مدل این میکروسکوپ نیروی اتمی چیست؟

A1: میکروسکوپ نیروی اتمی با نام Truth Instruments و شماره مدل AtomEdge Pro است.

Q2: AtomEdge Pro در کجا تولید می شود؟

A2: میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro در چین تولید می شود.

Q3: AtomEdge Pro برای چه کاربردهایی مناسب است؟

A3: AtomEdge Pro برای تصویربرداری و اندازه گیری سطح با وضوح بالا در زمینه هایی مانند علم مواد، زیست شناسی و نانوتکنولوژی ایده آل است.

Q4: قابلیت وضوح AtomEdge Pro چیست؟

A4: AtomEdge Pro وضوح اتمی را ارائه می دهد و امکان تجزیه و تحلیل توپوگرافی سطح دقیق در مقیاس نانو را فراهم می کند.

Q5: آیا AtomEdge Pro از حالت های اسکن متعدد پشتیبانی می کند؟

A5: بله، AtomEdge Pro از حالت های اسکن مختلف از جمله حالت تماس، حالت ضربه ای و حالت غیر تماسی برای تطبیق با انواع نمونه ها و الزامات تصویربرداری پشتیبانی می کند.