Πλατφόρμα Ανίχνευσης All-in-One – Προσαρμοσμένες Ενότητες & Μικροσκοπία Πολλαπλών Δυνάμεων για την Επιστήμη των Υλικών

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι μια πρωτοποριακή πλατφόρμα χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα που έχει σχεδιαστεί για να παρέχει απαράμιλλη ακρίβεια και ευελιξία στην ανάλυση της επιφάνειας.Με χωρητικότητα δειγματοληψίας έως 25 mm, αυτό το όργανο είναι ιδανικό για τη διερεύνηση ενός ευρέος φάσματος υλικών και δομών σε νανοκλίμακα, καθιστώντας το ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς σε διάφορους επιστημονικούς κλάδους.

Ένα από τα σημαντικότερα χαρακτηριστικά αυτού του AFM είναι η εξαιρετική ικανότητα απεικόνισης, με μέγιστη ανάλυση 4096*4096 σημείων δειγματοληψίας για την εικόνα του ανιχνευτικού.Αυτή η εξαιρετικά υψηλή ανάλυση εξασφαλίζει ότι ακόμη και οι πιο λεπτές λεπτομέρειες της επιφάνειας μπορούν να καταγραφούν και να αναλυθούν με ακρίβεια, επιτρέποντας λεπτομερή τοπογραφική χαρτογράφηση και ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό της επιφάνειας σε νανοκλίμακα.

Το AFM υποστηρίζει πολλαπλές λειτουργίες, παρέχοντας στους χρήστες μια εξαιρετικά ευέλικτη και προσαρμόσιμη εμπειρία ανάλυσης.και Πολυδιάστατη λειτουργία σαρώσεωςΚάθε λειτουργία προσφέρει μοναδικά πλεονεκτήματα, επιτρέποντας στο όργανο να προσαρμόζεται σε διαφορετικούς τύπους δειγμάτων και απαιτήσεις μέτρησης.Η λειτουργία επαφής επιτρέπει την άμεση αλληλεπίδραση με την επιφάνεια δείγματος για ακριβείς μετρήσεις ύψουςΗ λειτουργία απεικόνισης φάσης προσθέτει τη δυνατότητα διερεύνησης των ιδιοτήτων του υλικού εντοπίζοντας μεταβολές στις μετατοπίσεις φάσης,και η λειτουργία ανύψωσης διευκολύνει την απεικόνιση χωρίς επαφή διατηρώντας σταθερή απόσταση από την επιφάνεια του δείγματοςΗ πολλαπλής κατεύθυνσης λειτουργία σάρωσης ενισχύει την απόκτηση δεδομένων, επιτρέποντας σάρωση από διάφορες κατευθύνσεις, βελτιώνοντας τη συνολική ακρίβεια και λεπτομέρεια της ανάλυσης.

Η μέθοδος σάρωσης που χρησιμοποιείται από αυτό το AFM περιλαμβάνει σάρωση πλήρους δείγματος σε τρεις άξονες XYZ, η οποία εξασφαλίζει ολοκληρωμένη κάλυψη και ακριβή τοποθέτηση κατά τη διάρκεια των μετρήσεων.Αυτή η δυνατότητα τρισδιάστατης σάρωσης επιτρέπει στο σύστημα να περιηγηθεί σχολαστικά στην επιφάνεια δείγματος σε όλες τις κατευθύνσεις, καταγράφοντας λεπτομερείς πληροφορίες σε ολόκληρη την περιοχή που σαρώθηκε.Μια τέτοια ολοκληρωμένη σάρωση είναι κρίσιμη για τη δημιουργία ακριβών προφίλ επιφάνειας 3D και για την έρευνα σύνθετων χαρακτηριστικών νανοκλίμακας που μπορεί να διαφέρουν σε διαφορετικές περιοχές ενός δείγματος..

Όσον αφορά τις μηχανικές επιδόσεις, το AFM επιδεικνύει εξαιρετική ακρίβεια με τιμές μη γραμμικότητας μόλις 0,15% στην κατεύθυνση XY και 1% στην κατεύθυνση Z.Αυτό το χαμηλό επίπεδο μη γραμμικότητας μεταφράζεται σε πολύ ακριβή τοποθέτηση και αξιόπιστα δεδομένα μέτρησης, οι οποίες είναι κρίσιμες για εργασίες χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα, όπου μικροσκοπικές αποκλίσεις μπορούν να επηρεάσουν σημαντικά τα αποτελέσματα.Η σταθερότητα και η ακρίβεια που προσφέρει αυτό το όργανο επιτρέπουν στους χρήστες να πραγματοποιούν επαναλαμβανόμενες και αξιόπιστες αναλύσεις, απαραίτητη τόσο για την έρευνα όσο και για τις βιομηχανικές εφαρμογές.

Επιπλέον, το AFM ενσωματώνει δυνατότητες μέτρησης χωρίς επαφή, οι οποίες είναι ζωτικής σημασίας για την ανάλυση ευαίσθητων ή μαλακών δειγμάτων χωρίς να προκαλεί ζημιά.Αυτό το χαρακτηριστικό χωρίς επαφή ενισχύει την ευελιξία του οργάνου, επιτρέποντάς του να χρησιμοποιείται σε εφαρμογές όπου η διατήρηση της ακεραιότητας της επιφάνειας δείγματος είναι πρωταρχικής σημασίας.το AFM μπορεί να χαρακτηρίσει αποτελεσματικά ευαίσθητα υλικά, όπως βιολογικά δείγματα, πολυμερούς και λεπτές ταινίες.

Συνοπτικά, αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης ξεχωρίζει ως μια ισχυρή πλατφόρμα χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα, εξοπλισμένη με πολλαπλές λειτουργίες και προηγμένη τεχνολογία σάρωσης.απεικόνιση υπερυψηλής ανάλυσης, ευπροσάρμοστες λειτουργίες, ακριβής σάρωση XYZ και χαμηλή μη γραμμικότητα το καθιστούν ένα απαραίτητο όργανο για λεπτομερή ανάλυση επιφάνειας.,Το παρόν AFM παρέχει την ευελιξία και την ακρίβεια που απαιτούνται για την αποκάλυψη των περίπλοκων λεπτομερειών των δομών σε νανοκλίμακα, υποστηρίζοντας ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών ερευνών και τεχνολογικών εξελίξεων.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
• Περιοχή σάρωσης: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Σημείο δειγματοληψίας εικόνας: Η μέγιστη ανάλυση της εικόνας του ανιχνευτή σαρώσεως είναι 4096 * 4096
• Μέθοδος σάρωσης: σάρωση πλήρους δείγματος σε τρεις άξονες XYZ
• Μη γραμμικότητα: 0,15% στην κατεύθυνση XY και 1% στην κατεύθυνση Z
• Τρόποι λειτουργίας: Τρόπος επαφής, Τρόπος κτύπησης, Τρόπος απεικόνισης φάσης, Τρόπος ανύψωσης, Τρόπος πολλαπλής κατεύθυνσης σάρωσης
• Ενεργοποιεί υψηλής ακρίβειας SPM (Μικροσκόπηση ανιχνευτών σάρωσης) για λεπτομερή χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφάνειας
• Επιτυγχάνει ανάλυση νανομέτρου για ακριβή απεικόνιση και ανάλυση σε νανοκλίμακα

Τεχνικές παραμέτρους:

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα σύγχρονο όργανο που έχει σχεδιαστεί για ακριβή και πολυλειτουργική ανάλυση επιφάνειας.Οι προηγμένες δυνατότητές του το καθιστούν ιδανικό για ένα ευρύ φάσμα περιπτώσεων και σεναρίων εφαρμογής προϊόντων, που καλύπτει τόσο τις ερευνητικές όσο και τις βιομηχανικές ανάγκες.

Χάρη στους πολυλειτουργικούς τρόπους μέτρησης, συμπεριλαμβανομένου του μικροσκόπου ηλεκτροστατικής δύναμης (EFM), του μικροσκόπου δύναμης ανίχνευσης Kelvin (KPFM), του μικροσκόπου πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM),Μικροσκόπιο μαγνητικής δύναμης (MFM)Το AtomEdge Pro προσφέρει απαράμιλλη ευελιξία. Αυτό επιτρέπει στους χρήστες να εκτελούν ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφάνειας αλλάζοντας απρόσκοπτα μεταξύ πολλαπλών τρόπων,που επιτρέπουν λεπτομερή ανάλυση των ηλεκτρικών, μαγνητικές, πιεζοηλεκτρικές και μηχανικές ιδιότητες των υλικών.

Ένα από τα βασικά σενάρια εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στον τομέα της έρευνας στη νανοτεχνολογία, όπου η μη επαφή με τη σαρώση είναι κρίσιμη για να αποφευχθεί η βλάβη ευαίσθητων δειγμάτων.Η λειτουργία του μικροσκοπίου χωρίς επαφή εξασφαλίζει την ακριβή μέτρηση της μορφολογίας και των ιδιοτήτων της επιφάνειας χωρίς φυσικές παρεμβολές, το οποίο το καθιστά ιδανικό για την ανάλυση βιολογικών δειγμάτων, πολυμερών, ημιαγωγών και νανοδομημένων υλικών.

Βιομηχανίες όπως η ηλεκτρονική, η επιστήμη των υλικών και η αποθήκευση ενέργειας επωφελούνται σημαντικά από τις ακριβείς δυνατότητες ανάλυσης επιφάνειας του AtomEdge Pro. Its XYZ three-axis full sample scanning method combined with a maximum resolution of 4096*4096 image sampling points allows for high-definition imaging and detailed topographical mapping of surfaces up to 25 mm in sizeΑυτό το καθιστά ένα εξαιρετικό εργαλείο για τον έλεγχο ποιότητας, την ανάλυση αποτυχιών και την ανάπτυξη υλικών.

Επιπλέον, το χαμηλό επίπεδο θορύβου του οργάνου προς την κατεύθυνση Z, σε μόλις 0,04 nm, εγγυάται υψηλή ευαισθησία και σταθερότητα κατά τη διάρκεια των μετρήσεων,που είναι απαραίτητο για την ανίχνευση λεπτών διακυμάνσεων επιφάνειας και τη διεξαγωγή πειραμάτων καμπύλης δύναμηςΗ ιδιότητα αυτή ενισχύει την εφαρμογή της σε επιστημονικά εργαστήρια και βιομηχανικά περιβάλλοντα όπου η ακρίβεια είναι πρωταρχικής σημασίας.

Συνοπτικά, το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope είναι ιδανικό για σενάρια που απαιτούν ανάλυση επιφάνειας χωρίς επαφή και υψηλής ανάλυσης σε πολλαπλές λειτουργίες.Είτε είναι για ακαδημαϊκή έρευνα, την καινοτόμο ανάπτυξη υλικών ή τη αυστηρή βιομηχανική επιθεώρηση, αυτό το προηγμένο μοντέλο AFM παρέχει αξιόπιστες και πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης για την αντιμετώπιση διαφορετικών αναλυτικών προκλήσεων.

Υποστήριξη και υπηρεσίες:

Το προϊόν μας με το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) υποστηρίζεται από μια εξειδικευμένη ομάδα τεχνικών εμπειρογνωμόνων που δεσμεύονται να εξασφαλίζουν βέλτιστες επιδόσεις και ικανοποίηση των πελατών.Προσφέρουμε ολοκληρωμένες υπηρεσίες τεχνικής υποστήριξης, συμπεριλαμβανομένης της βοήθειας εγκατάστασης, λειτουργική εκπαίδευση, καθοδήγηση ρουτίνας συντήρησης και αντιμετώπιση προβλημάτων.

Οι χρήστες μπορούν να έχουν πρόσβαση σε λεπτομερή εγχειρίδια χρήστη, ενημερώσεις λογισμικού και διαδικασίες βαθμονόμησης για τη διατήρηση της ακρίβειας και της αξιοπιστίας του AFM.Η ομάδα υποστήριξής μας παρέχει εξ αποστάσεως διαγνωστική και επιλογές εξυπηρέτησης επί τόπου για την ταχεία επίλυση τυχόν τεχνικών προβλημάτων.

Επιπλέον, προσφέρουμε εξατομικευμένα προγράμματα κατάρτισης προσαρμοσμένα σε διαφορετικά επίπεδα εμπειρογνωμοσύνης, βοηθώντας τους χρήστες να μεγιστοποιήσουν τις δυνατότητες του μικροσκόπου ατομικής δύναμης.Υπηρεσίες προληπτικής συντήρησης είναι επίσης διαθέσιμες για να παρατείνει τη διάρκεια ζωής του οργάνου σας και να εξασφαλίσει σταθερή απόδοση.

Για τις ανάγκες έρευνας και ανάπτυξης, οι ειδικοί μας παρέχουν συμβουλευτικές υπηρεσίες για τη βελτιστοποίηση των διαμορφώσεων και των εφαρμογών AFM που είναι ειδικές για τους επιστημονικούς στόχους σας.Δεσμευόμαστε για συνεχή βελτίωση και καλωσορίζουμε τα σχόλια των χρηστών για να βελτιώσουμε τα προϊόντα και τις υπηρεσίες μας.

Γενικά ερωτήματα:

Ε1: Ποια είναι η μάρκα και το μοντέλο αυτού του μικροσκόπου ατομικής δύναμης;

Α1: Το μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης έχει την επωνυμία Truth Instruments και ο αριθμός μοντέλου είναι AtomEdge Pro.

Ε2: Πού κατασκευάζεται το AtomEdge Pro;

Α2: Το μικροσκόπιο πυρηνικών δυνάμεων AtomEdge Pro κατασκευάζεται στην Κίνα.

Ε3: Για ποιες εφαρμογές είναι κατάλληλο το AtomEdge Pro;

Α3: Το AtomEdge Pro είναι ιδανικό για απεικόνιση και μέτρηση επιφάνειας υψηλής ανάλυσης σε τομείς όπως η επιστήμη των υλικών, η βιολογία και η νανοτεχνολογία.

Ε4: Ποια είναι η ικανότητα ανάλυσης του AtomEdge Pro;

Α4: Το AtomEdge Pro προσφέρει ανάλυση ατομικού επιπέδου, επιτρέποντας λεπτομερή ανάλυση τοπογραφίας επιφάνειας σε νανοκλίμακα.

Ε5: Υποστηρίζει το AtomEdge Pro πολλαπλές λειτουργίες σάρωσης;

Α5: Ναι, το AtomEdge Pro υποστηρίζει διάφορες λειτουργίες σάρωσης, συμπεριλαμβανομένης της λειτουργίας επαφής, της λειτουργίας πατημασιού και της λειτουργίας χωρίς επαφή, για να ικανοποιεί διαφορετικούς τύπους δειγμάτων και απαιτήσεις απεικόνισης.