All-in-One-detectieplatform - aangepaste modules en multi-force microscopie voor materiaalwetenschappen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd platform voor karakterisering op nanoschaal, ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden bij oppervlakteanalyse. Met een samplegroottecapaciteit tot 25 mm is dit instrument ideaal voor het onderzoeken van een breed scala aan materialen en structuren op nanoschaal, waardoor het een essentieel hulpmiddel is voor onderzoekers en ingenieurs in verschillende wetenschappelijke disciplines.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM is de uitzonderlijke beeldvormingsmogelijkheid, met een maximale resolutie van 4096*4096 samplingpunten voor het scanning probe-beeld. Deze ultra-hoge resolutie zorgt ervoor dat zelfs de fijnste oppervlaktedetails nauwkeurig kunnen worden vastgelegd en geanalyseerd, waardoor gedetailleerde topografische mapping en uitgebreide oppervlaktekarakterisering op nanoschaal mogelijk worden.

De AFM ondersteunt meerdere werkmodi, waardoor gebruikers een zeer flexibele en aanpasbare analyse-ervaring krijgen. Deze modi omvatten Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-directionele Scanning Mode. Elke modus biedt unieke voordelen, waardoor het instrument zich kan aanpassen aan verschillende sampletypen en meetvereisten. Contact Mode maakt bijvoorbeeld directe interactie met het sampleoppervlak mogelijk voor precieze hoogtemetingen, terwijl Tap Mode sampleschade vermindert door periodiek contact te maken met het oppervlak. Phase Imaging Mode voegt de mogelijkheid toe om materiaaleigenschappen te onderzoeken door variaties in faseverschuivingen te detecteren, en Lift Mode vergemakkelijkt niet-contact beeldvorming door een constante afstand tot het sampleoppervlak te behouden. De Multi-directionele Scanning Mode verbetert de data-acquisitie door scans vanuit verschillende oriëntaties mogelijk te maken, waardoor de algehele nauwkeurigheid en detail van de analyse worden verbeterd.

De scanmethode die door deze AFM wordt gebruikt, omvat XYZ-drie-assige volledige sample-scanning, wat zorgt voor uitgebreide dekking en precieze positionering tijdens metingen. Deze driedimensionale scanningmogelijkheid stelt het systeem in staat om het sampleoppervlak in alle richtingen zorgvuldig te navigeren, waarbij gedetailleerde informatie over het gehele gescande gebied wordt vastgelegd. Dergelijke uitgebreide scanning is cruciaal voor het genereren van nauwkeurige 3D-oppervlakteprofielen en voor het onderzoeken van complexe kenmerken op nanoschaal die kunnen variëren over verschillende regio's van een sample.

Wat de mechanische prestaties betreft, toont de AFM uitstekende precisie met non-lineariteitswaarden van slechts 0,15% in de XY-richting en 1% in de Z-richting. Dit lage niveau van non-lineariteit vertaalt zich in zeer nauwkeurige positionering en betrouwbare meetgegevens, die cruciaal zijn voor karakteriseringstaken op nanoschaal waarbij kleine afwijkingen de resultaten aanzienlijk kunnen beïnvloeden. De stabiliteit en precisie die dit instrument biedt, stellen gebruikers in staat om herhaalbare en betrouwbare analyses uit te voeren, essentieel voor zowel onderzoek als industriële toepassingen.

Bovendien bevat de AFM niet-contact meetmogelijkheden, die essentieel zijn voor het analyseren van delicate of zachte samples zonder schade te veroorzaken. Deze niet-contactfunctie verbetert de veelzijdigheid van het instrument, waardoor het kan worden gebruikt in toepassingen waarbij het behoud van de integriteit van het sampleoppervlak van het grootste belang is. Door fysieke interactie te minimaliseren, kan de AFM gevoelige materialen zoals biologische specimens, polymeren en dunne films effectief karakteriseren.

Samenvattend, deze Atomic Force Microscope onderscheidt zich als een krachtig platform voor karakterisering op nanoschaal, uitgerust met meerdere modi en geavanceerde scantechnologie. De grote samplecapaciteit, ultra-hoge resolutie beeldvorming, veelzijdige werkmodi, precieze XYZ-scanning en lage non-lineariteit maken het een onmisbaar instrument voor gedetailleerde oppervlakteanalyse. Of u nu contact- of niet-contact meetmethoden nodig heeft, deze AFM biedt de flexibiliteit en nauwkeurigheid die nodig zijn om de ingewikkelde details van structuren op nanoschaal te onthullen, ter ondersteuning van een breed scala aan wetenschappelijk onderzoek en technologische ontwikkelingen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scangebied: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Beeld-samplingpunt: Maximale resolutie van het scanning probe-beeld is 4096 * 4096
• Scanmethode: XYZ-drie-assige volledige sample-scanning
• Non-lineariteit: 0,15% in de XY-richting en 1% in de Z-richting
• Werkmodi: Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode, Multi-directionele Scanning Mode
• Maakt SPM (Scanning Probe Microscopy) met hoge precisie mogelijk voor gedetailleerde mapping van oppervlakte-eigenschappen
• Bereikt nanometerresolutie voor nauwkeurige beeldvorming en analyse op nanoschaal

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, afkomstig uit China, is een state-of-the-art instrument dat is ontworpen voor precieze en multifunctionele oppervlakteanalyse. De geavanceerde mogelijkheden maken het ideaal voor een breed scala aan producttoepassingen en scenario's, en voldoen aan zowel onderzoeks- als industriële behoeften.

Dankzij de multifunctionele meetmodi, waaronder Elektrostatische Krachtmicroscoop (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piëzo-elektrische Krachtmicroscoop (PFM), Magnetische Krachtmicroscoop (MFM) en Krachtcurvemetingen, biedt de AtomEdge Pro ongeëvenaarde veelzijdigheid. Hierdoor kunnen gebruikers uitgebreide oppervlaktekarakterisering uitvoeren door naadloos te schakelen tussen meerdere modi, waardoor gedetailleerde analyse van elektrische, magnetische, piëzo-elektrische en mechanische eigenschappen van materialen mogelijk wordt.

Een van de belangrijkste toepassingsscenario's voor de AtomEdge Pro is op het gebied van nanotechnologieonderzoek, waar niet-contact scanning cruciaal is om schade aan delicate samples te voorkomen. De niet-contact werking van de microscoop zorgt ervoor dat de oppervlaktemorfologie en -eigenschappen nauwkeurig worden gemeten zonder fysieke interferentie, waardoor het perfect is voor het analyseren van biologische samples, polymeren, halfgeleiders en nanogestructureerde materialen.

Industrieën zoals elektronica, materiaalkunde en energieopslag profiteren enorm van de precieze oppervlakte-analysemogelijkheden van de AtomEdge Pro. De XYZ-drie-assige volledige sample-scanmethode in combinatie met een maximale resolutie van 4096*4096 beeld-samplingpunten maakt high-definition beeldvorming en gedetailleerde topografische mapping van oppervlakken tot 25 mm groot mogelijk. Dit maakt het een uitstekend hulpmiddel voor kwaliteitscontrole, foutanalyse en materiaalontwikkeling.

Bovendien garandeert het lage ruisniveau van het instrument in de Z-richting, van slechts 0,04 nm, een hoge gevoeligheid en stabiliteit tijdens metingen, wat essentieel is voor het detecteren van subtiele oppervlaktevariaties en het uitvoeren van krachtcurve-experimenten. Deze eigenschap verbetert de toepasbaarheid ervan in wetenschappelijke laboratoria en industriële omgevingen waar precisie van het grootste belang is.

Samenvattend, de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is perfect geschikt voor scenario's die niet-contact, hoge-resolutie oppervlakteanalyse in meerdere modi vereisen. Of het nu gaat om academisch onderzoek, innovatieve materiaalontwikkeling of rigoureuze industriële inspectie, dit geavanceerde AFM-model levert betrouwbare en multifunctionele meetmogelijkheden om aan diverse analytische uitdagingen te voldoen.

Ondersteuning en diensten:

Ons Atomic Force Microscope (AFM)-product wordt ondersteund door een toegewijd team van technische experts die zich inzetten voor optimale prestaties en klanttevredenheid. We bieden uitgebreide technische ondersteuningsdiensten, waaronder installatiehulp, operationele training, routinematige onderhoudsrichtlijnen en probleemoplossing.

Gebruikers hebben toegang tot gedetailleerde gebruikershandleidingen, software-updates en kalibratieprocedures om de nauwkeurigheid en betrouwbaarheid van de AFM te behouden. Ons ondersteuningsteam biedt opties voor diagnose op afstand en service ter plaatse om eventuele technische problemen snel op te lossen.

Daarnaast bieden we op maat gemaakte trainingsprogramma's die zijn afgestemd op verschillende expertiseniveaus, waardoor gebruikers de mogelijkheden van hun Atomic Force Microscope kunnen maximaliseren. Preventieve onderhoudsdiensten zijn ook beschikbaar om de levensduur van uw instrument te verlengen en consistente prestaties te garanderen.

Voor onderzoeks- en ontwikkelingsbehoeften bieden onze specialisten consultancydiensten om AFM-configuraties en -toepassingen te optimaliseren die specifiek zijn voor uw wetenschappelijke doelstellingen. We streven naar continue verbetering en verwelkomen feedback van gebruikers om onze producten en diensten te verbeteren.

FAQ:

V1: Wat is het merk en model van deze Atomic Force Microscope?

A1: De Atomic Force Microscope is van het merk Truth Instruments en het modelnummer is AtomEdge Pro.

V2: Waar wordt de AtomEdge Pro geproduceerd?

A2: De AtomEdge Pro Atomic Force Microscope wordt geproduceerd in China.

V3: Voor welke toepassingen is de AtomEdge Pro geschikt?

A3: De AtomEdge Pro is ideaal voor beeldvorming en meting met hoge resolutie in gebieden als materiaalkunde, biologie en nanotechnologie.

V4: Wat is de resolutiecapaciteit van de AtomEdge Pro?

A4: De AtomEdge Pro biedt resolutie op atomair niveau, waardoor gedetailleerde analyse van de oppervlakte topografie op nanoschaal mogelijk is.

V5: Ondersteunt de AtomEdge Pro meerdere scanmodi?

A5: Ja, de AtomEdge Pro ondersteunt verschillende scanmodi, waaronder contactmodus, tapping-modus en niet-contactmodus om verschillende sampletypen en beeldvormingsvereisten te accommoderen.