All-in-One-Detektionsplattform Custom Module & Multi-Force Mikroskopie für die Materialwissenschaft

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist eine hochmoderne Plattform zur Charakterisierung im Nanobereich, die beispiellose Präzision und Vielseitigkeit in der Oberflächenanalyse bietet. Mit einer Probengrößenkapazität von bis zu 25 mm ist dieses Instrument ideal für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien und Strukturen im Nanobereich und somit ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher und Ingenieure in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen.

Eines der herausragenden Merkmale dieses AFM ist seine außergewöhnliche Abbildungsfähigkeit mit einer maximalen Auflösung von 4096*4096 Abtastpunkten für das Rastersonenbild. Diese ultrahohe Auflösung stellt sicher, dass selbst feinste Oberflächendetails genau erfasst und analysiert werden können, was eine detaillierte topografische Kartierung und eine umfassende Oberflächencharakterisierung im Nanobereich ermöglicht.

Das AFM unterstützt mehrere Arbeitsmodi und bietet den Benutzern eine hochflexible und anpassbare Analyseerfahrung. Zu diesen Modi gehören Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus und Multi-Direktionaler-Scanning-Modus. Jeder Modus bietet einzigartige Vorteile, so dass sich das Instrument an verschiedene Probentypen und Messanforderungen anpassen kann. Beispielsweise ermöglicht der Kontaktmodus die direkte Interaktion mit der Probenoberfläche für präzise Höhenmessungen, während der Tap-Modus die Probenbeschädigung durch intermittierenden Kontakt mit der Oberfläche reduziert. Der Phasenbildgebungsmodus fügt die Fähigkeit hinzu, Materialeigenschaften durch Erkennung von Variationen in Phasenverschiebungen zu untersuchen, und der Lift-Modus erleichtert die berührungslose Bildgebung durch Aufrechterhaltung eines konstanten Abstands von der Probenoberfläche. Der Multi-Direktionale-Scanning-Modus verbessert die Datenerfassung, indem er Scans aus verschiedenen Ausrichtungen ermöglicht, wodurch die Gesamtgenauigkeit und Detailgenauigkeit der Analyse verbessert werden.

Die von diesem AFM verwendete Scanmethode beinhaltet ein XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning, das eine umfassende Abdeckung und präzise Positionierung während der Messungen gewährleistet. Diese dreidimensionale Scanfähigkeit ermöglicht es dem System, die Probenoberfläche in alle Richtungen sorgfältig zu navigieren und detaillierte Informationen über den gesamten gescannten Bereich zu erfassen. Ein solches umfassendes Scannen ist entscheidend für die Erstellung genauer 3D-Oberflächenprofile und für die Untersuchung komplexer Nanomerkmale, die über verschiedene Bereiche einer Probe variieren können.

In Bezug auf die mechanische Leistung zeigt das AFM eine hervorragende Präzision mit Nichtlinearitätswerten von nur 0,15 % in der XY-Richtung und 1 % in der Z-Richtung. Dieses geringe Maß an Nichtlinearität führt zu einer hochgenauen Positionierung und zuverlässigen Messdaten, die für Charakterisierungsaufgaben im Nanobereich, bei denen geringfügige Abweichungen die Ergebnisse erheblich beeinflussen können, von entscheidender Bedeutung sind. Die Stabilität und Präzision, die dieses Instrument bietet, ermöglichen es den Benutzern, wiederholbare und vertrauenswürdige Analysen durchzuführen, die sowohl für Forschungs- als auch für industrielle Anwendungen unerlässlich sind.

Darüber hinaus verfügt das AFM über berührungslose Messfunktionen, die für die Analyse empfindlicher oder weicher Proben ohne Beschädigung unerlässlich sind. Diese berührungslose Funktion erhöht die Vielseitigkeit des Instruments und ermöglicht den Einsatz in Anwendungen, bei denen die Erhaltung der Integrität der Probenoberfläche von größter Bedeutung ist. Durch die Minimierung der physischen Interaktion kann das AFM empfindliche Materialien wie biologische Proben, Polymere und Dünnschichten effektiv charakterisieren.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass dieses Rasterkraftmikroskop als eine leistungsstarke Plattform zur Charakterisierung im Nanobereich hervorsticht, die mit mehreren Modi und fortschrittlicher Scantechnologie ausgestattet ist. Seine große Probenkapazität, die ultrahochauflösende Bildgebung, die vielseitigen Arbeitsmodi, das präzise XYZ-Scannen und die geringe Nichtlinearität machen es zu einem unverzichtbaren Instrument für die detaillierte Oberflächenanalyse. Unabhängig davon, ob Sie Kontakt- oder berührungslose Messmethoden benötigen, bietet dieses AFM die Flexibilität und Genauigkeit, die erforderlich sind, um die komplizierten Details von Nanostrukturen aufzudecken und eine breite Palette wissenschaftlicher Untersuchungen und technologischer Entwicklungen zu unterstützen.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Scanbereich: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Bildabtastpunkt: Die maximale Auflösung des Rastersonenbildes beträgt 4096 * 4096
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning
• Nichtlinearität: 0,15 % in der XY-Richtung und 1 % in der Z-Richtung
• Arbeitsmodi: Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus, Multi-Direktionaler-Scanning-Modus
• Ermöglicht hochpräzise SPM (Rastersonenmikroskopie) für detaillierte Oberflächeneigenschaftskartierung
• Erzielt Nanometerauflösung für genaue Nanoimaging und -analyse

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop, das aus China stammt, ist ein hochmodernes Instrument, das für die präzise und multifunktionale Oberflächenanalyse entwickelt wurde. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es ideal für eine Vielzahl von Produktanwendungen und -szenarien, die sowohl den Forschungs- als auch den industriellen Anforderungen gerecht werden.

Dank seiner multifunktionalen Messmodi, einschließlich Elektrostatikkraftmikroskop (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskop (KPFM), piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM), magnetisches Kraftmikroskop (MFM) und Kraftkurvenmessungen, bietet das AtomEdge Pro eine beispiellose Vielseitigkeit. Dies ermöglicht es Benutzern, eine umfassende Oberflächencharakterisierung durchzuführen, indem sie nahtlos zwischen mehreren Modi wechseln und so eine detaillierte Analyse der elektrischen, magnetischen, piezoelektrischen und mechanischen Eigenschaften von Materialien ermöglichen.

Eines der wichtigsten Anwendungsszenarien für das AtomEdge Pro ist der Bereich der Nanotechnologieforschung, in dem berührungsloses Scannen entscheidend ist, um eine Beschädigung empfindlicher Proben zu vermeiden. Der berührungslose Betriebsmodus des Mikroskops stellt sicher, dass die Oberflächenmorphologie und -eigenschaften ohne physische Störungen genau gemessen werden, was es perfekt für die Analyse biologischer Proben, Polymere, Halbleiter und nanostrukturierter Materialien macht.

Branchen wie Elektronik, Materialwissenschaften und Energiespeicherung profitieren stark von den präzisen Oberflächenanalysefähigkeiten des AtomEdge Pro. Seine XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanmethode in Kombination mit einer maximalen Auflösung von 4096*4096 Bildabtastpunkten ermöglicht hochauflösende Bildgebung und detaillierte topografische Kartierung von Oberflächen bis zu 25 mm Größe. Dies macht es zu einem hervorragenden Werkzeug für Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Materialentwicklung.

Darüber hinaus garantiert der geringe Rauschpegel des Instruments in Z-Richtung von nur 0,04 nm eine hohe Empfindlichkeit und Stabilität während der Messungen, was für die Erkennung subtiler Oberflächenvariationen und die Durchführung von Kraftkurvenexperimenten unerlässlich ist. Dieses Attribut erhöht seine Anwendbarkeit in wissenschaftlichen Labors und industriellen Umgebungen, in denen Präzision von größter Bedeutung ist.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop perfekt für Szenarien geeignet ist, die eine berührungslose, hochauflösende Oberflächenanalyse über mehrere Modi hinweg erfordern. Ob für die akademische Forschung, die Entwicklung innovativer Materialien oder die strenge industrielle Inspektion, dieses fortschrittliche AFM-Modell bietet zuverlässige und multifunktionale Messmöglichkeiten, um vielfältigen Analyseherausforderungen gerecht zu werden.

Support und Services:

Unser Rasterkraftmikroskop (AFM) wird von einem engagierten Team von technischen Experten unterstützt, die sich dafür einsetzen, optimale Leistung und Kundenzufriedenheit zu gewährleisten. Wir bieten umfassende technische Supportleistungen, einschließlich Installationsunterstützung, Betriebsschulungen, Anleitung zur routinemäßigen Wartung und Fehlerbehebung.

Benutzer können auf detaillierte Benutzerhandbücher, Software-Updates und Kalibrierungsverfahren zugreifen, um die Genauigkeit und Zuverlässigkeit des AFM aufrechtzuerhalten. Unser Support-Team bietet Ferndiagnose- und Vor-Ort-Serviceoptionen, um technische Probleme schnell zu lösen.

Darüber hinaus bieten wir maßgeschneiderte Schulungsprogramme an, die auf unterschiedliche Fachkenntnisse zugeschnitten sind und den Benutzern helfen, die Fähigkeiten ihres Rasterkraftmikroskops zu maximieren. Präventive Wartungsdienste sind ebenfalls verfügbar, um die Lebensdauer Ihres Instruments zu verlängern und eine gleichbleibende Leistung zu gewährleisten.

Für Forschungs- und Entwicklungsbedürfnisse bieten unsere Spezialisten Beratungsleistungen an, um AFM-Konfigurationen und -Anwendungen speziell auf Ihre wissenschaftlichen Ziele abzustimmen. Wir sind bestrebt, uns kontinuierlich zu verbessern und freuen uns über das Feedback der Benutzer, um unsere Produkte und Dienstleistungen zu verbessern.

FAQ:

Q1: Was sind die Marke und das Modell dieses Rasterkraftmikroskops?

A1: Das Rasterkraftmikroskop ist unter der Marke Truth Instruments erhältlich und die Modellnummer ist AtomEdge Pro.

Q2: Wo wird das AtomEdge Pro hergestellt?

A2: Das AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop wird in China hergestellt.

Q3: Für welche Anwendungen ist das AtomEdge Pro geeignet?

A3: Das AtomEdge Pro ist ideal für hochauflösende Oberflächenbildgebung und -messung in Bereichen wie Materialwissenschaften, Biologie und Nanotechnologie.

Q4: Wie hoch ist die Auflösungsfähigkeit des AtomEdge Pro?

A4: Das AtomEdge Pro bietet eine Auflösung auf atomarer Ebene und ermöglicht eine detaillierte Oberflächentopographieanalyse im Nanobereich.

Q5: Unterstützt das AtomEdge Pro mehrere Scanmodi?

A5: Ja, das AtomEdge Pro unterstützt verschiedene Scanmodi, darunter Kontaktmodus, Tapping-Modus und berührungslosen Modus, um unterschiedlichen Probentypen und Bildgebungsanforderungen gerecht zu werden.