All-in-One Platform Deteksi Custom Module & Multi-Force Microscopy Untuk Ilmu Bahan

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah platform karakterisasi skala nano mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan keserbagunaan yang tak tertandingi dalam analisis permukaan. Dengan kapasitas ukuran sampel hingga 25 mm, instrumen ini sangat ideal untuk menyelidiki berbagai bahan dan struktur pada skala nano, menjadikannya alat penting bagi para peneliti dan insinyur di berbagai disiplin ilmu.

Salah satu fitur unggulan dari AFM ini adalah kemampuan pencitraannya yang luar biasa, dengan resolusi maksimum 4096*4096 titik sampling untuk gambar probe pemindaian. Resolusi ultra-tinggi ini memastikan bahwa bahkan detail permukaan terkecil pun dapat ditangkap dan dianalisis secara akurat, memungkinkan pemetaan topografi yang detail dan karakterisasi permukaan yang komprehensif pada skala nano.

AFM mendukung beberapa mode kerja, memberikan pengguna pengalaman analisis yang sangat fleksibel dan dapat disesuaikan. Mode-mode ini meliputi Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, dan Mode Pemindaian Multi-arah. Setiap mode menawarkan keunggulan unik, yang memungkinkan instrumen beradaptasi dengan berbagai jenis sampel dan persyaratan pengukuran. Misalnya, Mode Kontak memungkinkan interaksi langsung dengan permukaan sampel untuk pengukuran tinggi yang presisi, sementara Mode Ketuk mengurangi kerusakan sampel dengan secara intermiten menyentuh permukaan. Mode Pencitraan Fase menambahkan kemampuan untuk menyelidiki sifat material dengan mendeteksi variasi dalam pergeseran fase, dan Mode Angkat memfasilitasi pencitraan non-kontak dengan menjaga jarak konstan dari permukaan sampel. Mode Pemindaian Multi-arah meningkatkan perolehan data dengan memungkinkan pemindaian dari berbagai orientasi, meningkatkan akurasi dan detail keseluruhan dari analisis.

Metode pemindaian yang digunakan oleh AFM ini melibatkan pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, yang memastikan cakupan yang komprehensif dan penentuan posisi yang tepat selama pengukuran. Kemampuan pemindaian tiga dimensi ini memungkinkan sistem untuk menavigasi permukaan sampel secara cermat ke segala arah, menangkap informasi detail di seluruh area yang dipindai. Pemindaian komprehensif semacam itu sangat penting untuk menghasilkan profil permukaan 3D yang akurat dan untuk menyelidiki fitur skala nano kompleks yang mungkin bervariasi di berbagai wilayah sampel.

Dalam hal kinerja mekanis, AFM menunjukkan presisi luar biasa dengan nilai nonlinieritas hanya 0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z. Tingkat nonlinieritas yang rendah ini diterjemahkan ke dalam penentuan posisi yang sangat akurat dan data pengukuran yang andal, yang sangat penting untuk tugas karakterisasi skala nano di mana penyimpangan kecil dapat secara signifikan memengaruhi hasil. Stabilitas dan presisi yang ditawarkan oleh instrumen ini memungkinkan pengguna untuk melakukan analisis yang dapat diulang dan dapat dipercaya, yang penting untuk aplikasi penelitian dan industri.

Selain itu, AFM menggabungkan kemampuan pengukuran non-kontak, yang sangat penting untuk menganalisis sampel yang halus atau lunak tanpa menyebabkan kerusakan. Fitur non-kontak ini meningkatkan keserbagunaan instrumen, yang memungkinkannya digunakan dalam aplikasi di mana menjaga integritas permukaan sampel adalah yang terpenting. Dengan meminimalkan interaksi fisik, AFM dapat secara efektif mengkarakterisasi bahan sensitif seperti spesimen biologis, polimer, dan film tipis.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom ini menonjol sebagai platform karakterisasi skala nano yang kuat yang dilengkapi dengan berbagai mode dan teknologi pemindaian canggih. Kapasitas sampelnya yang besar, pencitraan resolusi ultra-tinggi, mode kerja yang serbaguna, pemindaian XYZ yang presisi, dan nonlinieritas yang rendah menjadikannya instrumen yang sangat diperlukan untuk analisis permukaan yang detail. Apakah Anda memerlukan metode pengukuran kontak atau non-kontak, AFM ini memberikan fleksibilitas dan akurasi yang dibutuhkan untuk mengungkap detail rumit dari struktur skala nano, mendukung berbagai penyelidikan ilmiah dan pengembangan teknologi.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Rentang Pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Titik Sampling Gambar: Resolusi maksimum dari gambar probe pemindaian adalah 4096 * 4096
• Metode Pemindaian: Pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ
• Nonlinieritas: 0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z
• Mode Kerja: Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, Mode Pemindaian Multi-arah
• Memungkinkan SPM (Scanning Probe Microscopy) presisi tinggi untuk pemetaan properti permukaan yang detail
• Mencapai resolusi nanometer untuk pencitraan dan analisis skala nano yang akurat

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, yang berasal dari China, adalah instrumen canggih yang dirancang untuk analisis permukaan yang presisi dan multifungsi. Kemampuan canggihnya membuatnya ideal untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk, yang melayani kebutuhan penelitian dan industri.

Berkat mode pengukuran multifungsinya, termasuk Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskop Gaya Probe Kelvin Pemindaian (KPFM), Mikroskop Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskop Gaya Magnetik (MFM), dan pengukuran Kurva Gaya, AtomEdge Pro menawarkan keserbagunaan yang tak tertandingi. Hal ini memungkinkan pengguna untuk melakukan karakterisasi permukaan yang komprehensif dengan beralih dengan mulus antara beberapa mode, memungkinkan analisis detail dari sifat listrik, magnetik, piezoelektrik, dan mekanik dari bahan.

Salah satu skenario aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah di bidang penelitian nanoteknologi, di mana pemindaian non-kontak sangat penting untuk menghindari kerusakan sampel yang halus. Mode operasi non-kontak mikroskop memastikan bahwa morfologi dan sifat permukaan diukur secara akurat tanpa gangguan fisik, menjadikannya sempurna untuk menganalisis sampel biologis, polimer, semikonduktor, dan bahan berstruktur nano.

Industri seperti elektronik, ilmu material, dan penyimpanan energi sangat diuntungkan dari kemampuan analisis permukaan presisi AtomEdge Pro. Metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang dikombinasikan dengan resolusi maksimum 4096*4096 titik sampling gambar memungkinkan pencitraan definisi tinggi dan pemetaan topografi permukaan yang detail hingga ukuran 25 mm. Ini menjadikannya alat yang sangat baik untuk kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan pengembangan material.

Selain itu, tingkat kebisingan instrumen yang rendah dalam arah Z, hanya 0,04 nm, menjamin sensitivitas dan stabilitas yang tinggi selama pengukuran, yang sangat penting untuk mendeteksi variasi permukaan yang halus dan melakukan eksperimen kurva gaya. Atribut ini meningkatkan kegunaannya di laboratorium ilmiah dan lingkungan industri di mana presisi adalah yang terpenting.

Singkatnya, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope sangat cocok untuk skenario yang menuntut analisis permukaan non-kontak, resolusi tinggi di berbagai mode. Baik itu untuk penelitian akademis, pengembangan material inovatif, atau inspeksi industri yang ketat, model AFM canggih ini memberikan kemampuan pengukuran yang andal dan multifungsi untuk memenuhi tantangan analitis yang beragam.

Dukungan dan Layanan:

Produk Mikroskop Gaya Atom (AFM) kami didukung oleh tim ahli teknis yang berdedikasi yang berkomitmen untuk memastikan kinerja optimal dan kepuasan pelanggan. Kami menawarkan layanan dukungan teknis yang komprehensif termasuk bantuan instalasi, pelatihan operasional, panduan perawatan rutin, dan pemecahan masalah.

Pengguna dapat mengakses manual pengguna terperinci, pembaruan perangkat lunak, dan prosedur kalibrasi untuk menjaga keakuratan dan keandalan AFM. Tim dukungan kami menyediakan diagnostik jarak jauh dan opsi layanan di tempat untuk dengan cepat menyelesaikan masalah teknis apa pun.

Selain itu, kami menawarkan program pelatihan khusus yang disesuaikan dengan berbagai tingkat keahlian, membantu pengguna untuk memaksimalkan kemampuan Mikroskop Gaya Atom mereka. Layanan perawatan preventif juga tersedia untuk memperpanjang umur instrumen Anda dan memastikan kinerja yang konsisten.

Untuk kebutuhan penelitian dan pengembangan, spesialis kami menyediakan layanan konsultasi untuk mengoptimalkan konfigurasi dan aplikasi AFM yang spesifik untuk tujuan ilmiah Anda. Kami berkomitmen untuk perbaikan berkelanjutan dan menyambut umpan balik pengguna untuk meningkatkan produk dan layanan kami.

FAQ:

Q1: Apa merek dan model Mikroskop Gaya Atom ini?

A1: Mikroskop Gaya Atom bermerek Truth Instruments dan nomor modelnya adalah AtomEdge Pro.

Q2: Di mana AtomEdge Pro diproduksi?

A2: Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro diproduksi di China.

Q3: Untuk aplikasi apa AtomEdge Pro cocok?

A3: AtomEdge Pro sangat ideal untuk pencitraan dan pengukuran permukaan resolusi tinggi di bidang seperti ilmu material, biologi, dan nanoteknologi.

Q4: Apa kemampuan resolusi dari AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro menawarkan resolusi tingkat atom, yang memungkinkan analisis topografi permukaan yang detail pada skala nano.

Q5: Apakah AtomEdge Pro mendukung beberapa mode pemindaian?

A5: Ya, AtomEdge Pro mendukung berbagai mode pemindaian termasuk mode kontak, mode tapping, dan mode non-kontak untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan persyaratan pencitraan.