Plataforma de detecção tudo-em-um Modulos personalizados e microscopia de força múltipla para ciência dos materiais

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma plataforma de caracterização em nanoescala de ponta, projetada para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis na análise de superfície. Com uma capacidade de tamanho de amostra de até 25 mm, este instrumento é ideal para investigar uma ampla gama de materiais e estruturas na nanoescala, tornando-o uma ferramenta essencial para pesquisadores e engenheiros em várias disciplinas científicas.

Uma das características de destaque deste AFM é sua excepcional capacidade de imagem, com uma resolução máxima de 4096*4096 pontos de amostragem para a imagem da sonda de varredura. Esta resolução ultra-alta garante que até os menores detalhes da superfície possam ser capturados e analisados com precisão, permitindo o mapeamento topográfico detalhado e a caracterização abrangente da superfície na nanoescala.

O AFM suporta múltiplos modos de trabalho, proporcionando aos usuários uma experiência de análise altamente flexível e personalizável. Esses modos incluem Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift e Modo de Varredura Multidirecional. Cada modo oferece vantagens únicas, permitindo que o instrumento se adapte a diferentes tipos de amostras e requisitos de medição. Por exemplo, o Modo de Contato permite a interação direta com a superfície da amostra para medições precisas de altura, enquanto o Modo Tap reduz os danos à amostra, entrando em contato intermitentemente com a superfície. O Modo de Imagem de Fase adiciona a capacidade de investigar as propriedades do material, detectando variações nas mudanças de fase, e o Modo Lift facilita a imagem sem contato, mantendo uma distância constante da superfície da amostra. O Modo de Varredura Multidirecional aprimora a aquisição de dados, permitindo varreduras de várias orientações, melhorando a precisão geral e os detalhes da análise.

O método de varredura utilizado por este AFM envolve a varredura completa da amostra em três eixos XYZ, o que garante uma cobertura abrangente e posicionamento preciso durante as medições. Essa capacidade de varredura tridimensional permite que o sistema navegue meticulosamente pela superfície da amostra em todas as direções, capturando informações detalhadas em toda a área varrida. Essa varredura abrangente é fundamental para gerar perfis de superfície 3D precisos e para investigar características em nanoescala complexas que podem variar em diferentes regiões de uma amostra.

Em termos de desempenho mecânico, o AFM demonstra precisão excepcional com valores de não linearidade de apenas 0,15% na direção XY e 1% na direção Z. Esse baixo nível de não linearidade se traduz em posicionamento altamente preciso e dados de medição confiáveis, que são cruciais para tarefas de caracterização em nanoescala, onde pequenas desvios podem impactar significativamente os resultados. A estabilidade e a precisão oferecidas por este instrumento permitem que os usuários conduzam análises repetíveis e confiáveis, essenciais tanto para pesquisa quanto para aplicações industriais.

Além disso, o AFM incorpora recursos de medição sem contato, que são vitais para analisar amostras delicadas ou macias sem causar danos. Esse recurso sem contato aprimora a versatilidade do instrumento, permitindo que ele seja usado em aplicações onde a preservação da integridade da superfície da amostra é fundamental. Ao minimizar a interação física, o AFM pode caracterizar efetivamente materiais sensíveis, como espécimes biológicos, polímeros e filmes finos.

Em resumo, este Microscópio de Força Atômica se destaca como uma poderosa plataforma de caracterização em nanoescala, equipada com múltiplos modos e tecnologia de varredura avançada. Sua grande capacidade de amostra, imagem de resolução ultra-alta, modos de trabalho versáteis, varredura XYZ precisa e baixa não linearidade o tornam um instrumento indispensável para análise detalhada de superfície. Se você precisa de métodos de medição por contato ou sem contato, este AFM oferece a flexibilidade e a precisão necessárias para descobrir os detalhes intrincados das estruturas em nanoescala, apoiando uma ampla gama de investigações científicas e desenvolvimentos tecnológicos.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
• Faixa de Varredura: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Ponto de Amostragem da Imagem: A resolução máxima da imagem da sonda de varredura é 4096 * 4096
• Método de Varredura: Varredura completa da amostra em três eixos XYZ
• Não Linearidade: 0,15% na direção XY e 1% na direção Z
• Modos de Trabalho: Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift, Modo de Varredura Multidirecional
• Permite SPM (Microscopia de Sonda de Varredura) de alta precisão para mapeamento detalhado das propriedades da superfície
• Atinge resolução em nanômetros para imagem e análise precisas em nanoescala

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments, originário da China, é um instrumento de última geração projetado para análise de superfície precisa e multifuncional. Seus recursos avançados o tornam ideal para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação de produtos, atendendo às necessidades de pesquisa e industriais.

Graças aos seus modos de medição multifuncionais, incluindo Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscópio de Força de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM), Microscópio de Força Magnética (MFM) e medições de Curva de Força, o AtomEdge Pro oferece versatilidade incomparável. Isso permite que os usuários realizem caracterização abrangente da superfície, alternando perfeitamente entre vários modos, permitindo a análise detalhada das propriedades elétricas, magnéticas, piezoelétricas e mecânicas dos materiais.

Um dos principais cenários de aplicação para o AtomEdge Pro é no campo da pesquisa em nanotecnologia, onde a varredura sem contato é fundamental para evitar danos a amostras delicadas. O modo de operação sem contato do microscópio garante que a morfologia e as propriedades da superfície sejam medidas com precisão, sem interferência física, tornando-o perfeito para analisar amostras biológicas, polímeros, semicondutores e materiais nanoestruturados.

Indústrias como eletrônica, ciência dos materiais e armazenamento de energia se beneficiam muito das capacidades de análise de superfície precisa do AtomEdge Pro. Seu método de varredura completa da amostra em três eixos XYZ, combinado com uma resolução máxima de 4096*4096 pontos de amostragem de imagem, permite imagens de alta definição e mapeamento topográfico detalhado de superfícies de até 25 mm de tamanho. Isso o torna uma excelente ferramenta para controle de qualidade, análise de falhas e desenvolvimento de materiais.

Além disso, o baixo nível de ruído do instrumento na direção Z, de apenas 0,04 nm, garante alta sensibilidade e estabilidade durante as medições, o que é essencial para detectar variações sutis na superfície e conduzir experimentos de curva de força. Esse atributo aprimora sua aplicabilidade em laboratórios científicos e ambientes industriais onde a precisão é fundamental.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é perfeitamente adequado para cenários que exigem análise de superfície sem contato e de alta resolução em vários modos. Seja para pesquisa acadêmica, desenvolvimento de materiais inovadores ou inspeção industrial rigorosa, este modelo AFM avançado oferece capacidades de medição confiáveis e multifuncionais para atender a diversos desafios analíticos.

Suporte e Serviços:

Nosso produto Microscópio de Força Atômica (AFM) é suportado por uma equipe dedicada de especialistas técnicos comprometidos em garantir o desempenho ideal e a satisfação do cliente. Oferecemos serviços abrangentes de suporte técnico, incluindo assistência na instalação, treinamento operacional, orientação de manutenção de rotina e solução de problemas.

Os usuários podem acessar manuais detalhados, atualizações de software e procedimentos de calibração para manter a precisão e a confiabilidade do AFM. Nossa equipe de suporte oferece diagnósticos remotos e opções de serviço no local para resolver rapidamente quaisquer problemas técnicos.

Além disso, oferecemos programas de treinamento personalizados, adaptados a diferentes níveis de experiência, ajudando os usuários a maximizar os recursos de seu Microscópio de Força Atômica. Serviços de manutenção preventiva também estão disponíveis para estender a vida útil do seu instrumento e garantir um desempenho consistente.

Para necessidades de pesquisa e desenvolvimento, nossos especialistas fornecem serviços de consultoria para otimizar as configurações e aplicações do AFM específicas para seus objetivos científicos. Estamos comprometidos com a melhoria contínua e agradecemos o feedback dos usuários para aprimorar nossos produtos e serviços.

Perguntas Frequentes:

P1: Qual é a marca e o modelo deste Microscópio de Força Atômica?

A1: O Microscópio de Força Atômica é da marca Truth Instruments e o número do modelo é AtomEdge Pro.

P2: Onde o AtomEdge Pro é fabricado?

A2: O Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro é fabricado na China.

P3: Para quais aplicações o AtomEdge Pro é adequado?

A3: O AtomEdge Pro é ideal para imagem e medição de superfície de alta resolução em áreas como ciência dos materiais, biologia e nanotecnologia.

P4: Qual é a capacidade de resolução do AtomEdge Pro?

A4: O AtomEdge Pro oferece resolução em nível atômico, permitindo a análise detalhada da topografia da superfície na nanoescala.

P5: O AtomEdge Pro suporta vários modos de varredura?

A5: Sim, o AtomEdge Pro suporta vários modos de varredura, incluindo modo de contato, modo de toque e modo sem contato para acomodar diferentes tipos de amostras e requisitos de imagem.