Plataforma de detección todo-en-uno Modulos personalizados y microscopía de múltiples fuerzas para la ciencia de materiales

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una plataforma de caracterización a nanoescala de vanguardia diseñada para proporcionar una precisión y versatilidad sin precedentes en el análisis de la superficie.Con una capacidad de tamaño de muestra de hasta 25 mm, este instrumento es ideal para investigar una amplia gama de materiales y estructuras a nanoescala, por lo que es una herramienta esencial para investigadores e ingenieros de diversas disciplinas científicas.

Una de las características destacadas de este AFM es su excepcional capacidad de imagen, que cuenta con una resolución máxima de 4096 * 4096 puntos de muestreo para la imagen de la sonda de escaneo.Esta resolución ultra alta asegura que incluso los detalles más finos de la superficie puedan ser capturados y analizados con precisión, que permite un mapeo topográfico detallado y una caracterización completa de la superficie a nanoescala.

El AFM admite múltiples modos de trabajo, proporcionando a los usuarios una experiencia de análisis altamente flexible y personalizable.y Modo de escaneo multidireccionalCada modo ofrece ventajas únicas, permitiendo al instrumento adaptarse a diferentes tipos de muestras y requisitos de medición.Modo de contacto permite la interacción directa con la superficie de la muestra para mediciones precisas de la altura, mientras que el modo Tap reduce el daño de la muestra al entrar en contacto intermitente con la superficie.y el modo de elevación facilita la obtención de imágenes sin contacto manteniendo una distancia constante de la superficie de la muestraEl modo de escaneo multidireccional mejora la adquisición de datos al permitir escaneos desde varias orientaciones, mejorando la precisión general y el detalle del análisis.

El método de escaneo utilizado por este AFM consiste en un escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, que garantiza una cobertura completa y un posicionamiento preciso durante las mediciones.Esta capacidad de escaneo tridimensional permite al sistema navegar meticulosamente la superficie de la muestra en todas las direcciones, capturando información detallada en todo el área escaneada.Tal escaneo integral es crítico para generar perfiles de superficie 3D precisos e investigar características complejas a nanoescala que pueden variar en diferentes regiones de una muestra..

En términos de rendimiento mecánico, el AFM demuestra una precisión sobresaliente con valores de no linealidad de sólo 0,15% en la dirección XY y 1% en la dirección Z.Este bajo nivel de no linealidad se traduce en un posicionamiento muy preciso y datos de medición confiables, que son cruciales para las tareas de caracterización a nanoescala donde las desviaciones mínimas pueden afectar significativamente los resultados.La estabilidad y la precisión ofrecidas por este instrumento permiten a los usuarios realizar análisis repetibles y fiables, esencial tanto para la investigación como para las aplicaciones industriales.

Además, el AFM incorpora capacidades de medición sin contacto, que son vitales para analizar muestras delicadas o blandas sin causar daños.Esta característica sin contacto mejora la versatilidad del instrumento, lo que permite su uso en aplicaciones donde la preservación de la integridad de la superficie de la muestra es primordial.el AFM puede caracterizar eficazmente materiales sensibles como muestras biológicas., polímeros y películas finas.

En resumen, este microscopio de fuerza atómica se destaca como una potente plataforma de caracterización a nanoescala equipada con múltiples modos y tecnología de escaneo avanzada.Imágenes de resolución ultra alta, modos de trabajo versátiles, escaneo XYZ preciso y baja no linealidad lo convierten en un instrumento indispensable para el análisis de superficie detallado.,Este AFM proporciona la flexibilidad y la precisión necesarias para descubrir los detalles intrincados de las estructuras a nanoescala, apoyando una amplia gama de investigaciones científicas y desarrollos tecnológicos.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Rango de exploración: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Punto de muestreo de imagen: la resolución máxima de la imagen de la sonda de exploración es 4096 * 4096
• Método de escaneo: XYZ escaneo de muestra completa en tres ejes
• No linealidad: 0,15% en dirección XY y 1% en dirección Z
• Modo de trabajo: Modo de contacto, Modo de toque, Modo de imagen de fase, Modo de elevación, Modo de escaneo multidireccional
• Permite el SPM de alta precisión (microscopía de sonda de exploración) para el mapeo detallado de las propiedades de la superficie
• Alcanza una resolución nanométrica para obtener imágenes y análisis precisos a nanoescala

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es un instrumento de última generación diseñado para el análisis de superficies preciso y multifuncional.Sus capacidades avanzadas lo hacen ideal para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos, que satisface tanto las necesidades de investigación como las industriales.

Gracias a sus modos de medición multifuncionales, incluidos el microscopio de fuerza electrostática (EFM), el microscopio de fuerza de la sonda de escaneo Kelvin (KPFM), el microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM),Microscopio de fuerza magnética (MFM), y mediciones de la curva de fuerza, el AtomEdge Pro ofrece una versatilidad incomparable.que permite un análisis detallado de las, propiedades magnéticas, piezoeléctricas y mecánicas de los materiales.

Uno de los escenarios de aplicación clave para el AtomEdge Pro es en el campo de la investigación en nanotecnología, donde el escaneo sin contacto es crítico para evitar dañar muestras delicadas.El modo de funcionamiento sin contacto del microscopio asegura que la morfología y las propiedades de la superficie se miden con precisión sin interferencias físicas, lo que lo hace perfecto para analizar muestras biológicas, polímeros, semiconductores y materiales nanoestructurados.

Industrias como la electrónica, la ciencia de los materiales y el almacenamiento de energía se benefician enormemente de las capacidades de análisis de superficie precisas del AtomEdge Pro. Its XYZ three-axis full sample scanning method combined with a maximum resolution of 4096*4096 image sampling points allows for high-definition imaging and detailed topographical mapping of surfaces up to 25 mm in sizeEsto lo convierte en una excelente herramienta para el control de calidad, el análisis de fallas y el desarrollo de materiales.

Además, el bajo nivel de ruido del instrumento en la dirección Z, a tan sólo 0,04 nm, garantiza una alta sensibilidad y estabilidad durante las mediciones.que es esencial para la detección de variaciones sutiles de la superficie y la realización de experimentos de curva de fuerzaEste atributo mejora su aplicabilidad en laboratorios científicos y entornos industriales donde la precisión es primordial.

En resumen, el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es perfectamente adecuado para escenarios que requieren análisis de superficie de alta resolución sin contacto en múltiples modos.Ya sea para la investigación académica, el desarrollo de materiales innovadores o la inspección industrial rigurosa, este modelo avanzado de AFM ofrece capacidades de medición fiables y multifuncionales para satisfacer diversos desafíos analíticos.

Apoyo y servicios:

Nuestro producto de microscopio de fuerza atómica (AFM) cuenta con el apoyo de un equipo dedicado de expertos técnicos comprometidos a garantizar un rendimiento óptimo y la satisfacción del cliente.Ofrecemos servicios integrales de apoyo técnico, incluyendo asistencia en la instalación, capacitación operativa, guía de mantenimiento de rutina y solución de problemas.

Los usuarios pueden acceder a manuales de usuario detallados, actualizaciones de software y procedimientos de calibración para mantener la precisión y fiabilidad del AFM.Nuestro equipo de soporte proporciona diagnóstico remoto y opciones de servicio in situ para resolver rápidamente cualquier problema técnico.

Además, ofrecemos programas de capacitación personalizados adaptados a diferentes niveles de experiencia, ayudando a los usuarios a maximizar las capacidades de su microscopio de fuerza atómica.Los servicios de mantenimiento preventivo también están disponibles para extender la vida útil de su instrumento y garantizar un rendimiento constante.

Para las necesidades de investigación y desarrollo, nuestros especialistas ofrecen servicios de consultoría para optimizar las configuraciones y aplicaciones de AFM específicas de sus objetivos científicos.Estamos comprometidos con la mejora continua y damos la bienvenida a los comentarios de los usuarios para mejorar nuestros productos y servicios.

Preguntas frecuentes:

P1: ¿Cuál es la marca y el modelo de este microscopio de fuerza atómica?

R1: El microscopio de la Fuerza Atómica tiene la marca de Truth Instruments y el número de modelo es AtomEdge Pro.

P2: ¿Dónde se fabrica el AtomEdge Pro?

R2: El AtomEdge Pro Microscopio de Fuerza Atómica es fabricado en China.

P3: ¿Para qué aplicaciones es adecuado el AtomEdge Pro?

R3: El AtomEdge Pro es ideal para imágenes y mediciones de superficie de alta resolución en campos como la ciencia de materiales, la biología y la nanotecnología.

P4: ¿Cuál es la capacidad de resolución del AtomEdge Pro?

A4: El AtomEdge Pro ofrece resolución a nivel atómico, permitiendo un análisis detallado de la topografía superficial a nanoescala.

P5: ¿El AtomEdge Pro admite múltiples modos de escaneo?

R5: Sí, el AtomEdge Pro admite varios modos de escaneo, incluidos el modo de contacto, el modo de toque y el modo sin contacto para adaptarse a diferentes tipos de muestras y requisitos de imágenes.