ऑल-इन-वन डिटेक्शन प्लेटफ़ॉर्म – कस्टम मॉड्यूल और मैटेरियल्स साइंस के लिए मल्टी-फ़ोर्स माइक्रोस्कोपी
कस्टम मॉड्यूल के साथ परमाणु बल माइक्रोस्कोप
,सामग्री विज्ञान के लिए मल्टी-फ़ोर्स माइक्रोस्कोपी
,माइक्रोस्कोपी के लिए ऑल-इन-वन डिटेक्शन प्लेटफ़ॉर्म
मूल गुण
उत्पाद विवरण:
परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक नैनोस्केल लक्षण वर्णन प्लेटफ़ॉर्म है जिसे सतह विश्लेषण में अद्वितीय सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। 25 मिमी तक की नमूना आकार क्षमता के साथ, यह उपकरण नैनोस्केल पर विभिन्न प्रकार की सामग्रियों और संरचनाओं की जांच के लिए आदर्श है, जो इसे विभिन्न वैज्ञानिक विषयों में शोधकर्ताओं और इंजीनियरों के लिए एक आवश्यक उपकरण बनाता है।
इस एएफएम की सबसे उत्कृष्ट विशेषताओं में से एक इसकी असाधारण इमेजिंग क्षमता है, जो स्कैनिंग जांच छवि के लिए 4096*4096 नमूना बिंदुओं का अधिकतम रिज़ॉल्यूशन रखती है। यह अल्ट्रा-हाई रिज़ॉल्यूशन सुनिश्चित करता है कि सबसे बारीक सतह विवरणों को भी सटीक रूप से कैप्चर और विश्लेषण किया जा सकता है, जिससे नैनोस्केल पर विस्तृत स्थलाकृतिक मानचित्रण और व्यापक सतह लक्षण वर्णन सक्षम होता है।
एएफएम कई कार्यशील मोड का समर्थन करता है, जो उपयोगकर्ताओं को एक अत्यधिक लचीला और अनुकूलन योग्य विश्लेषण अनुभव प्रदान करता है। इन मोड में कॉन्टैक्ट मोड, टैप मोड, फेज़ इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड और मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड शामिल हैं। प्रत्येक मोड अद्वितीय लाभ प्रदान करता है, जिससे उपकरण विभिन्न नमूना प्रकारों और माप आवश्यकताओं के अनुकूल हो सकता है। उदाहरण के लिए, कॉन्टैक्ट मोड सटीक ऊंचाई माप के लिए नमूना सतह के साथ सीधे संपर्क को सक्षम बनाता है, जबकि टैप मोड सतह के साथ रुक-रुक कर संपर्क करके नमूना क्षति को कम करता है। फेज़ इमेजिंग मोड फेज़ शिफ्ट में भिन्नता का पता लगाकर सामग्री गुणों की जांच करने की क्षमता जोड़ता है, और लिफ्ट मोड नमूना सतह से एक स्थिर दूरी बनाए रखकर गैर-संपर्क इमेजिंग की सुविधा प्रदान करता है। मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड विभिन्न ओरिएंटेशन से स्कैन को सक्षम करके डेटा अधिग्रहण को बढ़ाता है, जिससे विश्लेषण की समग्र सटीकता और विस्तार में सुधार होता है।
इस एएफएम द्वारा उपयोग की जाने वाली स्कैनिंग विधि में XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग शामिल है, जो माप के दौरान व्यापक कवरेज और सटीक स्थिति सुनिश्चित करती है। यह त्रि-आयामी स्कैनिंग क्षमता सिस्टम को सभी दिशाओं में नमूना सतह को सावधानीपूर्वक नेविगेट करने की अनुमति देती है, जो पूरे स्कैन किए गए क्षेत्र में विस्तृत जानकारी कैप्चर करती है। इस तरह की व्यापक स्कैनिंग सटीक 3डी सतह प्रोफाइल उत्पन्न करने और जटिल नैनोस्केल विशेषताओं की जांच करने के लिए महत्वपूर्ण है जो नमूने के विभिन्न क्षेत्रों में भिन्न हो सकती हैं।
यांत्रिक प्रदर्शन के संदर्भ में, एएफएम XY दिशा में केवल 0.15% और Z दिशा में 1% की गैर-रैखिकता मान के साथ उत्कृष्ट सटीकता प्रदर्शित करता है। गैर-रैखिकता का यह निम्न स्तर अत्यधिक सटीक स्थिति और विश्वसनीय माप डेटा में तब्दील होता है, जो नैनोस्केल लक्षण वर्णन कार्यों के लिए महत्वपूर्ण हैं जहां मिनट विचलन परिणामों को महत्वपूर्ण रूप से प्रभावित कर सकते हैं। इस उपकरण द्वारा प्रदान की जाने वाली स्थिरता और सटीकता उपयोगकर्ताओं को दोहराए जाने योग्य और विश्वसनीय विश्लेषण करने में सक्षम बनाती है, जो अनुसंधान और औद्योगिक अनुप्रयोगों दोनों के लिए आवश्यक है।
इसके अतिरिक्त, एएफएम गैर-संपर्क माप क्षमताओं को शामिल करता है, जो नाजुक या नरम नमूनों का नुकसान पहुंचाए बिना विश्लेषण करने के लिए महत्वपूर्ण हैं। यह गैर-संपर्क सुविधा उपकरण की बहुमुखी प्रतिभा को बढ़ाती है, जिससे इसका उपयोग उन अनुप्रयोगों में किया जा सकता है जहां नमूना सतह की अखंडता को संरक्षित करना सर्वोपरि है। भौतिक संपर्क को कम करके, एएफएम जैविक नमूनों, पॉलिमर और पतली फिल्मों जैसी संवेदनशील सामग्रियों को प्रभावी ढंग से चित्रित कर सकता है।
संक्षेप में, यह परमाणु बल माइक्रोस्कोप कई मोड और उन्नत स्कैनिंग तकनीक से लैस एक शक्तिशाली नैनोस्केल लक्षण वर्णन प्लेटफ़ॉर्म के रूप में खड़ा है। इसकी बड़ी नमूना क्षमता, अल्ट्रा-हाई रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग, बहुमुखी कार्यशील मोड, सटीक XYZ स्कैनिंग और कम गैर-रैखिकता इसे विस्तृत सतह विश्लेषण के लिए एक अपरिहार्य उपकरण बनाते हैं। चाहे आपको संपर्क या गैर-संपर्क माप विधियों की आवश्यकता हो, यह एएफएम नैनोस्केल संरचनाओं के जटिल विवरणों को उजागर करने के लिए आवश्यक लचीलापन और सटीकता प्रदान करता है, जो विभिन्न वैज्ञानिक जांच और तकनीकी विकास का समर्थन करता है।
विशेषताएँ:
- उत्पाद का नाम: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
- स्कैनिंग रेंज: 100 μm * 100 μm * 10 μm
- छवि नमूना बिंदु: स्कैनिंग जांच छवि का अधिकतम रिज़ॉल्यूशन 4096 * 4096 है
- स्कैनिंग विधि: XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग
- गैर-रैखिकता: XY दिशा में 0.15% और Z दिशा में 1%
- कार्यशील मोड: कॉन्टैक्ट मोड, टैप मोड, फेज़ इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड, मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड
- विस्तृत सतह संपत्ति मानचित्रण के लिए उच्च परिशुद्धता SPM (स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोपी) को सक्षम करता है
- सटीक नैनोस्केल इमेजिंग और विश्लेषण के लिए नैनोमीटर रिज़ॉल्यूशन प्राप्त करता है
तकनीकी पैरामीटर:
| स्कैनिंग रेंज | 100 μm * 100 μm * 10 μm |
| Z दिशा में शोर का स्तर | 0.04 Nm |
| कार्यशील मोड | कॉन्टैक्ट मोड, टैप मोड, फेज़ इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड, मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड |
| नमूना आकार | 25 मिमी |
| बहुक्रियाशील माप | इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन माइक्रोस्कोप (केपीएफएम), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (पीएफएम), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एमएफएम), फोर्स कर्व |
| स्कैनिंग विधि | XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग |
| छवि नमूना बिंदु | स्कैनिंग जांच छवि का अधिकतम रिज़ॉल्यूशन 4096 * 4096 है |
| स्कैनिंग दर | 0.1 - 30 हर्ट्ज |
| गैर-रैखिकता | XY दिशा में 0.15% और Z दिशा में 1% |
अनुप्रयोग:
चीन से उत्पन्न ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप, सटीक और बहुक्रियाशील सतह विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्याधुनिक उपकरण है। इसकी उन्नत क्षमताएं इसे उत्पाद अनुप्रयोग अवसरों और परिदृश्यों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए आदर्श बनाती हैं, जो अनुसंधान और औद्योगिक दोनों आवश्यकताओं को पूरा करती हैं।
इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन प्रोब फोर्स माइक्रोस्कोप (केपीएफएम), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (पीएफएम), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एमएफएम), और फोर्स कर्व माप सहित इसके बहुक्रियाशील माप मोड के लिए धन्यवाद, एटमएज प्रो अद्वितीय बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करता है। यह उपयोगकर्ताओं को कई मोड के बीच निर्बाध रूप से स्विच करके व्यापक सतह लक्षण वर्णन करने की अनुमति देता है, जिससे सामग्रियों के विद्युत, चुंबकीय, पीजोइलेक्ट्रिक और यांत्रिक गुणों का विस्तृत विश्लेषण सक्षम होता है।
एटमएज प्रो के लिए प्रमुख अनुप्रयोग परिदृश्यों में से एक नैनोप्रौद्योगिकी अनुसंधान के क्षेत्र में है, जहां नाजुक नमूनों को नुकसान से बचाने के लिए गैर-संपर्क स्कैनिंग महत्वपूर्ण है। माइक्रोस्कोप का गैर-संपर्क संचालन मोड सुनिश्चित करता है कि सतह की आकृति विज्ञान और गुणों को भौतिक हस्तक्षेप के बिना सटीक रूप से मापा जाता है, जिससे यह जैविक नमूनों, पॉलिमर, अर्धचालकों और नैनोस्ट्रक्चर्ड सामग्रियों के विश्लेषण के लिए एकदम सही है।
इलेक्ट्रॉनिक्स, सामग्री विज्ञान और ऊर्जा भंडारण जैसे उद्योग एटमएज प्रो की सटीक सतह विश्लेषण क्षमताओं से बहुत लाभान्वित होते हैं। इसकी XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग विधि 4096*4096 छवि नमूना बिंदुओं के अधिकतम रिज़ॉल्यूशन के साथ संयुक्त रूप से 25 मिमी तक की सतहों की उच्च-परिभाषा इमेजिंग और विस्तृत स्थलाकृतिक मानचित्रण की अनुमति देती है। यह इसे गुणवत्ता नियंत्रण, विफलता विश्लेषण और सामग्री विकास के लिए एक उत्कृष्ट उपकरण बनाता है।
इसके अलावा, Z दिशा में उपकरण का कम शोर स्तर, केवल 0.04 एनएम पर, माप के दौरान उच्च संवेदनशीलता और स्थिरता की गारंटी देता है, जो सूक्ष्म सतह विविधताओं का पता लगाने और बल वक्र प्रयोगों का संचालन करने के लिए आवश्यक है। यह विशेषता वैज्ञानिक प्रयोगशालाओं और औद्योगिक वातावरण में इसकी प्रयोज्यता को बढ़ाती है जहां सटीकता सर्वोपरि है।
संक्षेप में, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप उन परिदृश्यों के लिए पूरी तरह से उपयुक्त है जो कई मोड में गैर-संपर्क, उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह विश्लेषण की मांग करते हैं। चाहे वह अकादमिक अनुसंधान, अभिनव सामग्री विकास, या कठोर औद्योगिक निरीक्षण के लिए हो, यह उन्नत एएफएम मॉडल विविध विश्लेषणात्मक चुनौतियों को पूरा करने के लिए विश्वसनीय और बहुक्रियाशील माप क्षमताएं प्रदान करता है।
सहायता और सेवाएँ:
हमारे परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) उत्पाद को तकनीकी विशेषज्ञों की एक समर्पित टीम द्वारा समर्थित किया जाता है जो इष्टतम प्रदर्शन और ग्राहक संतुष्टि सुनिश्चित करने के लिए प्रतिबद्ध हैं। हम स्थापना सहायता, परिचालन प्रशिक्षण, नियमित रखरखाव मार्गदर्शन और समस्या निवारण सहित व्यापक तकनीकी सहायता सेवाएं प्रदान करते हैं।
उपयोगकर्ता एएफएम की सटीकता और विश्वसनीयता को बनाए रखने के लिए विस्तृत उपयोगकर्ता मैनुअल, सॉफ़्टवेयर अपडेट और अंशांकन प्रक्रियाओं तक पहुंच सकते हैं। हमारी सहायता टीम किसी भी तकनीकी समस्या को तुरंत हल करने के लिए दूरस्थ निदान और ऑन-साइट सेवा विकल्प प्रदान करती है।
इसके अतिरिक्त, हम विभिन्न स्तरों की विशेषज्ञता के अनुरूप अनुकूलित प्रशिक्षण कार्यक्रम प्रदान करते हैं, जो उपयोगकर्ताओं को अपने परमाणु बल माइक्रोस्कोप की क्षमताओं को अधिकतम करने में मदद करते हैं। निवारक रखरखाव सेवाएं भी आपके उपकरण के जीवनकाल को बढ़ाने और लगातार प्रदर्शन सुनिश्चित करने के लिए उपलब्ध हैं।
अनुसंधान और विकास आवश्यकताओं के लिए, हमारे विशेषज्ञ आपके वैज्ञानिक उद्देश्यों के लिए विशिष्ट एएफएम कॉन्फ़िगरेशन और अनुप्रयोगों को अनुकूलित करने के लिए परामर्श सेवाएं प्रदान करते हैं। हम निरंतर सुधार के लिए प्रतिबद्ध हैं और अपने उत्पादों और सेवाओं को बढ़ाने के लिए उपयोगकर्ता प्रतिक्रिया का स्वागत करते हैं।
अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न:
Q1: इस परमाणु बल माइक्रोस्कोप का ब्रांड और मॉडल क्या है?
A1: परमाणु बल माइक्रोस्कोप को ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स के रूप में ब्रांड किया गया है और मॉडल नंबर एटमएज प्रो है।
Q2: एटमएज प्रो का निर्माण कहाँ होता है?
A2: एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप का निर्माण चीन में होता है।
Q3: एटमएज प्रो किन अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त है?
A3: एटमएज प्रो सामग्री विज्ञान, जीव विज्ञान और नैनोप्रौद्योगिकी जैसे क्षेत्रों में उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह इमेजिंग और माप के लिए आदर्श है।
Q4: एटमएज प्रो की रिज़ॉल्यूशन क्षमता क्या है?
A4: एटमएज प्रो परमाणु-स्तर का रिज़ॉल्यूशन प्रदान करता है, जो नैनोस्केल पर विस्तृत सतह स्थलाकृति विश्लेषण की अनुमति देता है।
Q5: क्या एटमएज प्रो कई स्कैनिंग मोड का समर्थन करता है?
A5: हाँ, एटमएज प्रो विभिन्न नमूना प्रकारों और इमेजिंग आवश्यकताओं को समायोजित करने के लिए संपर्क मोड, टैपिंग मोड और गैर-संपर्क मोड सहित विभिन्न स्कैनिंग मोड का समर्थन करता है।