Plateforme de détection tout-en-un – Modules personnalisés et microscopie multi-forces pour la science des matériaux

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est idéal pour étudier un large éventail de matériaux et de structures à l'échelle nanométrique, ce qui en fait un outil essentiel pour les chercheurs et les ingénieurs de diverses disciplines scientifiques.

L'une des caractéristiques remarquables de cet AFM est sa capacité d'imagerie exceptionnelle, avec une résolution maximale de 4096*4096 points d'échantillonnage pour l'image de la sonde de balayage.Cette résolution ultra-haute permet de capturer et d'analyser avec précision même les moindres détails de la surface, permettant une cartographie topographique détaillée et une caractérisation complète de la surface à l'échelle nanométrique.

L'AFM prend en charge plusieurs modes de travail, offrant aux utilisateurs une expérience d'analyse très flexible et personnalisable.et Mode de numérisation multidirectionnelleChaque mode offre des avantages uniques, permettant à l'instrument de s'adapter à différents types d'échantillons et à différentes exigences de mesure.Le mode contact permet une interaction directe avec la surface de l'échantillon pour des mesures précises de la hauteurLe mode d'imagerie de phase ajoute la possibilité d'étudier les propriétés du matériau en détectant des variations dans les changements de phase,et le mode Ascension facilite l'imagerie sans contact en maintenant une distance constante de la surface de l'échantillonLe mode de numérisation multidirectionnelle améliore l'acquisition de données en permettant des numérisations à partir de diverses orientations, améliorant ainsi la précision globale et le détail de l'analyse.

La méthode de balayage utilisée par ce AFM consiste en un balayage complet des échantillons XYZ à trois axes, qui assure une couverture complète et un positionnement précis pendant les mesures.Cette capacité de balayage en trois dimensions permet au système de naviguer méticuleusement sur la surface de l'échantillon dans toutes les directions, capturant des informations détaillées sur l'ensemble de la zone scannée.Un tel balayage complet est essentiel pour générer des profils de surface 3D précis et pour étudier des caractéristiques complexes à l'échelle nanométrique qui peuvent varier selon les régions d'un échantillon..

En termes de performances mécaniques, l'AFM démontre une précision exceptionnelle avec des valeurs de non-linéarité de seulement 0,15% dans la direction XY et 1% dans la direction Z.Ce faible niveau de non-linéarité se traduit par un positionnement très précis et des données de mesure fiables, qui sont cruciales pour les tâches de caractérisation à l'échelle nanométrique où des écarts mineurs peuvent avoir un impact significatif sur les résultats.La stabilité et la précision offertes par cet instrument permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses répétables et fiables, essentiels à la fois pour la recherche et les applications industrielles.

En outre, l'AFM intègre des capacités de mesure sans contact, qui sont essentielles pour analyser des échantillons délicats ou mous sans causer de dommages.Cette fonction sans contact améliore la polyvalence de l'instrument, ce qui lui permet d'être utilisé dans des applications où la préservation de l'intégrité de la surface de l'échantillon est primordiale.l'AFM peut caractériser efficacement les matières sensibles telles que les spécimens biologiques, polymères et films minces.

En résumé, ce microscope de force atomique se distingue par sa puissante plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique, dotée de plusieurs modes et d'une technologie de balayage avancée.d'imagerie à très haute résolution, les modes de travail polyvalents, le balayage XYZ précis et la faible non-linéarité en font un instrument indispensable pour l'analyse détaillée des surfaces.,Ce AFM offre la souplesse et la précision nécessaires pour découvrir les détails complexes des structures à l'échelle nanométrique, ce qui soutient un large éventail d'enquêtes scientifiques et de développements technologiques.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Plage de balayage: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Point d'échantillonnage d'image: la résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096 * 4096
• Méthode de numérisation: numérisation complète de l'échantillon sur trois axes XYZ
• Non linéaire: 0,15% dans la direction XY et 1% dans la direction Z
• Mode de fonctionnement: mode contact, mode tap, mode d'imagerie de phase, mode ascenseur, mode de balayage multidirectionnel
• Permet une SPM de haute précision (microscopie par sonde de balayage) pour une cartographie détaillée des propriétés de surface
• Réalise une résolution nanométrique pour une imagerie et une analyse précises à l'échelle nanométrique

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique Truth Instruments AtomEdge Pro, originaire de Chine, est un instrument de pointe conçu pour une analyse de surface précise et multifonctionnelle.Ses capacités avancées le rendent idéal pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits, répondant à la fois aux besoins de la recherche et à ceux de l'industrie.

Grâce à ses modes de mesure multifonctionnels, dont le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à force de sonde à balayage Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM),Microscope à force magnétique (MFM), et les mesures de la courbe de force, l'AtomEdge Pro offre une polyvalence inégalée.permettant une analyse détaillée de l'énergie électrique, magnétiques, piézoélectriques et mécaniques des matériaux.

L'un des scénarios d'application clés pour l'AtomEdge Pro est dans le domaine de la recherche en nanotechnologie, où le balayage sans contact est essentiel pour éviter d'endommager des échantillons délicats.Le mode de fonctionnement sans contact du microscope permet de mesurer avec précision la morphologie et les propriétés de la surface sans interférence physique., ce qui le rend parfait pour analyser des échantillons biologiques, des polymères, des semi-conducteurs et des matériaux nanostructurés.

Des industries telles que l'électronique, la science des matériaux et le stockage d'énergie bénéficient grandement des capacités d'analyse de surface précises de l'AtomEdge Pro. Its XYZ three-axis full sample scanning method combined with a maximum resolution of 4096*4096 image sampling points allows for high-definition imaging and detailed topographical mapping of surfaces up to 25 mm in sizeCela en fait un excellent outil pour le contrôle de la qualité, l'analyse des défaillances et le développement des matériaux.

En outre, le faible niveau sonore de l'instrument dans la direction Z, à seulement 0,04 nm, garantit une grande sensibilité et stabilité lors des mesures,qui est essentiel pour détecter de subtiles variations de surface et mener des expériences de courbe de forceCet attribut améliore son applicabilité dans les laboratoires scientifiques et les environnements industriels où la précision est primordiale.

En résumé, le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est parfaitement adapté aux scénarios qui exigent une analyse de surface sans contact et haute résolution sur plusieurs modes.Que ce soit pour la recherche académiqueQu'il s'agisse d'un système de mesure de l'aérodynamique, d'un développement de matériaux innovant ou d'une inspection industrielle rigoureuse, ce modèle avancé de AFM offre des capacités de mesure fiables et multifonctionnelles pour répondre à divers défis analytiques.

Assistance et services:

Notre produit AFM est soutenu par une équipe dédiée d'experts techniques engagés à assurer des performances optimales et la satisfaction du client.Nous offrons des services complets de support technique, y compris l'assistance à l'installation, la formation opérationnelle, l'orientation en maintenance de routine et le dépannage.

Les utilisateurs peuvent accéder à des manuels d'utilisation détaillés, des mises à jour logicielles et des procédures d'étalonnage pour maintenir l'exactitude et la fiabilité de l'AFM.Notre équipe de support fournit des diagnostics à distance et des options de service sur place pour résoudre rapidement tout problème technique.

De plus, nous offrons des programmes de formation personnalisés adaptés aux différents niveaux d'expertise, aidant les utilisateurs à maximiser les capacités de leur microscope à force atomique.Des services d'entretien préventif sont également disponibles pour prolonger la durée de vie de votre instrument et assurer une performance constante.

Pour les besoins de recherche et de développement, nos spécialistes fournissent des services de consultation pour optimiser les configurations et les applications AFM spécifiques à vos objectifs scientifiques.Nous nous engageons à l'amélioration continue et accueillons favorablement les commentaires des utilisateurs pour améliorer nos produits et services.

FAQ:

Q1: Quelle est la marque et le modèle de ce microscope à force atomique?

R1: Le microscope de la force atomique est marqué comme Truth Instruments et le numéro de modèle est AtomEdge Pro.

Q2: Où est fabriqué l'AtomEdge Pro?

R2: Le microscope AtomEdge Pro est fabriqué en Chine.

Q3: Pour quelles applications l'AtomEdge Pro est-il adapté?

R3: L'AtomEdge Pro est idéal pour l'imagerie et la mesure de surface haute résolution dans des domaines tels que la science des matériaux, la biologie et la nanotechnologie.

Q4: Quelle est la capacité de résolution de l'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro offre une résolution au niveau atomique, permettant une analyse détaillée de la topographie de surface à l'échelle nanométrique.

Q5: L'AtomEdge Pro prend-il en charge plusieurs modes de numérisation?

R5: Oui, l'AtomEdge Pro prend en charge divers modes de numérisation, y compris le mode de contact, le mode de tapping et le mode sans contact pour répondre aux différents types d'échantillons et aux exigences d'imagerie.