Piattaforma di rilevamento all-in-one Moduli personalizzati e microscopia multi-forza per la scienza dei materiali

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è una piattaforma di caratterizzazione nanoscopica all'avanguardia progettata per fornire precisione e versatilità senza pari nell'analisi delle superfici. Con una capacità di dimensioni del campione fino a 25 mm, questo strumento è ideale per indagare un'ampia gamma di materiali e strutture su scala nanometrica, rendendolo uno strumento essenziale per ricercatori e ingegneri in varie discipline scientifiche.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM è l'eccezionale capacità di imaging, che vanta una risoluzione massima di 4096*4096 punti di campionamento per l'immagine della sonda di scansione. Questa risoluzione ultra-elevata assicura che anche i dettagli superficiali più fini possano essere catturati e analizzati con precisione, consentendo una mappatura topografica dettagliata e una caratterizzazione completa della superficie su scala nanometrica.

L'AFM supporta molteplici modalità di funzionamento, offrendo agli utenti un'esperienza di analisi altamente flessibile e personalizzabile. Queste modalità includono Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode e Multi-directional Scanning Mode. Ogni modalità offre vantaggi unici, consentendo allo strumento di adattarsi a diversi tipi di campioni e requisiti di misurazione. Ad esempio, la Contact Mode consente l'interazione diretta con la superficie del campione per misurazioni precise dell'altezza, mentre la Tap Mode riduce i danni al campione contattando la superficie in modo intermittente. La Phase Imaging Mode aggiunge la capacità di indagare le proprietà dei materiali rilevando le variazioni degli sfasamenti e la Lift Mode facilita l'imaging senza contatto mantenendo una distanza costante dalla superficie del campione. La Multi-directional Scanning Mode migliora l'acquisizione dei dati consentendo scansioni da varie orientazioni, migliorando l'accuratezza e i dettagli complessivi dell'analisi.

Il metodo di scansione utilizzato da questo AFM prevede la scansione completa del campione a tre assi XYZ, che garantisce una copertura completa e un posizionamento preciso durante le misurazioni. Questa capacità di scansione tridimensionale consente al sistema di navigare meticolosamente sulla superficie del campione in tutte le direzioni, acquisendo informazioni dettagliate sull'intera area scansionata. Tale scansione completa è fondamentale per generare profili superficiali 3D accurati e per indagare complesse caratteristiche nanoscopiche che possono variare in diverse regioni di un campione.

In termini di prestazioni meccaniche, l'AFM dimostra una precisione eccezionale con valori di non linearità di soli 0,15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z. Questo basso livello di non linearità si traduce in un posizionamento altamente accurato e in dati di misurazione affidabili, che sono cruciali per le attività di caratterizzazione nanoscopica in cui minime deviazioni possono influire in modo significativo sui risultati. La stabilità e la precisione offerte da questo strumento consentono agli utenti di condurre analisi ripetibili e affidabili, essenziali sia per la ricerca che per le applicazioni industriali.

Inoltre, l'AFM incorpora capacità di misurazione senza contatto, che sono fondamentali per l'analisi di campioni delicati o morbidi senza causare danni. Questa funzione senza contatto migliora la versatilità dello strumento, consentendo di utilizzarlo in applicazioni in cui la conservazione dell'integrità della superficie del campione è fondamentale. Riducendo al minimo l'interazione fisica, l'AFM può caratterizzare efficacemente materiali sensibili come campioni biologici, polimeri e film sottili.

In sintesi, questo Microscopio a Forza Atomica si distingue come una potente piattaforma di caratterizzazione nanoscopica dotata di molteplici modalità e tecnologia di scansione avanzata. La sua ampia capacità di campionamento, l'imaging ad altissima risoluzione, le modalità di funzionamento versatili, la scansione XYZ precisa e la bassa non linearità lo rendono uno strumento indispensabile per l'analisi dettagliata delle superfici. Sia che tu necessiti di metodi di misurazione a contatto o senza contatto, questo AFM offre la flessibilità e la precisione necessarie per scoprire gli intricati dettagli delle strutture nanoscopiche, supportando un'ampia gamma di indagini scientifiche e sviluppi tecnologici.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Intervallo di scansione: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Punto di campionamento dell'immagine: la risoluzione massima dell'immagine della sonda di scansione è 4096 * 4096
• Metodo di scansione: scansione completa del campione a tre assi XYZ
• Non linearità: 0,15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z
• Modalità di funzionamento: Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode, Multi-directional Scanning Mode
• Consente SPM (Scanning Probe Microscopy) ad alta precisione per la mappatura dettagliata delle proprietà della superficie
• Raggiunge la risoluzione nanometrica per l'imaging e l'analisi accurati su scala nanometrica

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per un'analisi di superficie precisa e multifunzionale. Le sue capacità avanzate lo rendono ideale per un'ampia gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto, soddisfacendo sia le esigenze di ricerca che quelle industriali.

Grazie alle sue modalità di misurazione multifunzionali, tra cui Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio a Forza a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopio a Forza Magnetica (MFM) e misurazioni della Curva di Forza, l'AtomEdge Pro offre una versatilità senza pari. Ciò consente agli utenti di eseguire una caratterizzazione completa della superficie passando senza problemi tra più modalità, consentendo un'analisi dettagliata delle proprietà elettriche, magnetiche, piezoelettriche e meccaniche dei materiali.

Uno degli scenari applicativi chiave per l'AtomEdge Pro è nel campo della ricerca sulla nanotecnologia, dove la scansione senza contatto è fondamentale per evitare di danneggiare campioni delicati. La modalità di funzionamento senza contatto del microscopio assicura che la morfologia e le proprietà della superficie siano misurate con precisione senza interferenze fisiche, rendendolo perfetto per l'analisi di campioni biologici, polimeri, semiconduttori e materiali nanostrutturati.

Settori come l'elettronica, la scienza dei materiali e lo stoccaggio dell'energia traggono grandi benefici dalle precise capacità di analisi della superficie dell'AtomEdge Pro. Il suo metodo di scansione completa del campione a tre assi XYZ combinato con una risoluzione massima di 4096*4096 punti di campionamento dell'immagine consente l'imaging ad alta definizione e la mappatura topografica dettagliata di superfici fino a 25 mm di dimensioni. Questo lo rende uno strumento eccellente per il controllo qualità, l'analisi dei guasti e lo sviluppo dei materiali.

Inoltre, il basso livello di rumore dello strumento nella direzione Z, a soli 0,04 nm, garantisce un'elevata sensibilità e stabilità durante le misurazioni, essenziale per rilevare sottili variazioni della superficie e condurre esperimenti sulla curva di forza. Questo attributo ne aumenta l'applicabilità nei laboratori scientifici e negli ambienti industriali in cui la precisione è fondamentale.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è perfettamente adatto a scenari che richiedono un'analisi di superficie senza contatto e ad alta risoluzione su più modalità. Che si tratti di ricerca accademica, sviluppo di materiali innovativi o ispezione industriale rigorosa, questo modello AFM avanzato offre capacità di misurazione affidabili e multifunzionali per soddisfare diverse sfide analitiche.

Supporto e servizi:

Il nostro prodotto Microscopio a Forza Atomica (AFM) è supportato da un team dedicato di esperti tecnici impegnati a garantire prestazioni ottimali e la soddisfazione del cliente. Offriamo servizi di supporto tecnico completi, tra cui assistenza all'installazione, formazione operativa, guida alla manutenzione ordinaria e risoluzione dei problemi.

Gli utenti possono accedere a manuali utente dettagliati, aggiornamenti software e procedure di calibrazione per mantenere l'accuratezza e l'affidabilità dell'AFM. Il nostro team di supporto fornisce diagnostica remota e opzioni di assistenza in loco per risolvere rapidamente eventuali problemi tecnici.

Inoltre, offriamo programmi di formazione personalizzati su misura per diversi livelli di competenza, aiutando gli utenti a massimizzare le capacità del loro Microscopio a Forza Atomica. Sono inoltre disponibili servizi di manutenzione preventiva per prolungare la durata dello strumento e garantire prestazioni costanti.

Per le esigenze di ricerca e sviluppo, i nostri specialisti forniscono servizi di consulenza per ottimizzare le configurazioni AFM e le applicazioni specifiche per i tuoi obiettivi scientifici. Ci impegniamo per il miglioramento continuo e accogliamo con favore il feedback degli utenti per migliorare i nostri prodotti e servizi.

FAQ:

Q1: Qual è il marchio e il modello di questo Microscopio a Forza Atomica?

A1: Il Microscopio a Forza Atomica è marchiato Truth Instruments e il numero di modello è AtomEdge Pro.

Q2: Dove viene prodotto l'AtomEdge Pro?

A2: Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro è prodotto in Cina.

Q3: Per quali applicazioni è adatto l'AtomEdge Pro?

A3: L'AtomEdge Pro è ideale per l'imaging e la misurazione di superfici ad alta risoluzione in settori come la scienza dei materiali, la biologia e la nanotecnologia.

Q4: Qual è la capacità di risoluzione dell'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro offre una risoluzione a livello atomico, consentendo un'analisi dettagliata della topografia della superficie su scala nanometrica.

Q5: L'AtomEdge Pro supporta più modalità di scansione?

A5: Sì, l'AtomEdge Pro supporta varie modalità di scansione tra cui la modalità a contatto, la modalità a vibrazione e la modalità senza contatto per adattarsi a diversi tipi di campioni e requisiti di imaging.