Описание продукта:Микроскоп атомной силы базового типа (AFM) является передовым инструментом, предназначенным для обеспечения исключительных характеристик и универсальности для широкого спектра приложений для анализа поверхности.Проектировано с использованием передовых технологий, этот микроскоп AFM ...

Описание продукта: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsСоздан с использованием передовых технологий.Эта модель AFM предлагает исклю...