AtomExplorer AFM: Интегрированный MFM, EFM и KFM для анализа материалов

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы базового типа (AFM) является передовым инструментом, предназначенным для обеспечения исключительных характеристик и универсальности для широкого спектра приложений для анализа поверхности.Проектировано с использованием передовых технологий, этот микроскоп AFM предлагает возможности AFM с разрешением ниже нанометров, что позволяет исследователям и инженерам наблюдать и измерять топографию поверхности и свойства с непревзойденной точностью.Его выдающийся уровень шума Z-оси всего 0..04 нанометров гарантирует, что даже самые тонкие черты поверхности могут быть обнаружены и проанализированы точно, что делает его незаменимым инструментом в области нанотехнологий, материаловедения,и исследования полупроводников.

Одной из отличительных особенностей микроскопа атомной силы базового типа являются его многофункциональные возможности измерения.включая микроскопию электростатической силы (EFM), сканирующая микроскопия силовых зондов Кельвина (KPFM), пиезоэлектрическая микроскопия сил (PFM) и микроскопия магнитных сил (MFM).Эти многофункциональные измерения позволяют пользователям исследовать не только морфологию поверхности, но и электрическую, пьезоэлектрические и магнитные свойства образцов с высокой чувствительностью и пространственным разрешением.Эта универсальность делает AFM идеальным для всеобъемлющей наноразмерной характеристики в нескольких научных дисциплинах.

Инструмент работает в нескольких режимах для удовлетворения различных типов образцов и потребностей в измерениях.предоставление гибкости пользователям в выборе оптимального подхода сканированияРежим нажатия помогает уменьшить повреждение образца и изнашивание кончиков путем периодического контакта с поверхностью образца, в то время как режим контакта позволяет непрерывно взаимодействовать с поверхностью, что полезно для твердых образцов.Режим подъема особенно полезен для измерения магнитной и электрической силы, а режим фазовой визуализации предлагает представление о составе материала и механических свойствах путем обнаружения сдвигов фаз во время сканирования.

AFM базового типа имеет широкий диапазон точек отбора образцов изображения, от минимум 32*32 точек до максимум 4096*4096 точек.Этот широкий диапазон разрешений выборки позволяет пользователям балансировать между скоростью сканирования и детальностью изображения в соответствии с их конкретными экспериментальными требованиямиБолее высокие точки отбора результатом более подробных изображений, раскрывающих сложные поверхностные структуры и наноразмерные особенности с исключительной ясностью.

Для обеспечения полного анализа поверхности микроскоп использует трехосевой метод сканирования XYZ.Этот метод сканирования обеспечивает полное трехмерное движение и позиционирование этапа образца, позволяющий точно контролировать боковые (оси X и Y) и вертикальные (оси Z) направления.Трехосная возможность сканирования облегчает исследование сложной геометрии образца и больших площадей поверхности, повышая универсальность и удобство использования инструмента в различных исследовательских условиях.

Подводя итог, микроскоп атомной силы базового типа - это мощный и универсальный инструмент, который сочетает в себе визуализацию AFM с разрешением ниже нанометров с многофункциональными возможностями измерения.включая микроскопию магнитной силы (MFM) и другие передовые методыНизкий уровень шума, множество режимов работы, высокая возможность отбора образцов изображения,и XYZ трехосевой системы сканирования делают его идеальным выбором для исследователей, ищущих высокоточную характеристику поверхностиНезависимо от того, изучает ли он электрические, пьезоэлектрические, магнитные или топографические свойства, этот микроскоп AFM предоставляет надежные и подробные данные.поддержка прорывов в области нанонауки и исследования передовых материалов.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы базового типа
• Способ сканирования: XYZ Трехосный сканирование полного образца для точного наномасштабного топографического изображения
• Многофункциональные измерительные приборы: включают электростатический силовой микроскоп (ЭФМ), сканирующий Кельвинский микроскоп (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM),и возможности магнитного микроскопа (MFM)
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм и 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм варианты доступны
• Уровень шума Z-оси: Ультранизкий уровень шума 0,04 нм обеспечивает изображение с высоким разрешением
• Режимы работы: поддерживает режим Tap, контактный режим, режим Lift и режим фазового изображения для универсальных приложений микроскопа AFM
• Разработан как базовый микроскоп атомной силы, подходящий для детальной топографической визуализации на наномасштабе

Технические параметры:

Применение:

The Truth Instruments AtomExplorer, микроскоп атомной силы базового типа (AFM), изготовленный в Китае,представляет собой передовой микроскоп на наномасштабе, предназначенный для обеспечения детального анализа текстуры поверхности с возможностями AFM с разрешением до нанометраЭтот универсальный инструмент идеально подходит для широкого спектра случаев и сценариев применения продукции как в исследовательской, так и в промышленной среде.

В академических и исследовательских лабораториях AtomExplorer широко используется для материаловедческих исследований, где важна точная характеристика поверхности.Способность работать в нескольких режимах, включая Tap Mode, контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации позволяет исследователям исследовать физические и химические свойства различных образцов с исключительной точностью.AFM с разрешением ниже нанометра обеспечивает наблюдение и анализ даже самых мелких поверхностных признаков, что делает его незаменимым для исследований в области нанотехнологий, инспекции полупроводников и биомолекулярных исследований.

В полупроводниковой промышленности AtomExplorer играет решающую роль в контроле качества и анализе сбоев.предоставление комплексного анализа текстуры поверхности для пластинокВысокие точки отбора образцов изображения варьируются от 32*32 до 4096*4096, что позволяет получать подробные изображения и картографировать наноразмерные нарушения поверхности.которые имеют решающее значение для производительности и надежности устройства.

Для промышленных применений низкий уровень шума оси Z AtomExplorer на 0,04 нм обеспечивает стабильные и точные измерения даже в сложных условиях.Это делает его подходящим для использования в таких областях, как покрытияПоскольку цена подлежит обсуждению, предприятия могут адаптировать инвестиции в соответствии со своими конкретными потребностями и масштабом.

Кроме того, AtomExplorer является отличным инструментом для образовательных целей, предоставляя студентам и обучающимся практический опыт использования передовых технологий AFM.Его надежная конструкция и простота работы делают его доступным для обучения методам характеристики поверхности на наномасштабеВ целом, Truth Instruments AtomExplorer является надежным,высокопроизводительный микроскоп на наноуровне, который отвечает требованиям различных сценариев применения, требующих точного анализа текстуры поверхности и визуализации AFM с разрешением ниже нанометров.