AtomExplorer AFM: geïntegreerde MFM, EFM en KFM voor materiaalanalyse

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om uitzonderlijke prestaties en veelzijdigheid te leveren voor een breed scala aan oppervlakteanalyse-toepassingen. Deze AFM-microscoop is ontwikkeld met geavanceerde technologie en biedt sub-nanometer resolutie AFM-mogelijkheden, waardoor onderzoekers en ingenieurs de oppervlakte topografie en eigenschappen met ongeëvenaarde precisie kunnen observeren en meten. Het uitstekende Z-as ruisniveau van slechts 0,04 nanometer zorgt ervoor dat zelfs de meest subtiele oppervlaktekenmerken nauwkeurig kunnen worden gedetecteerd en geanalyseerd, waardoor het een onmisbaar hulpmiddel is in de nanotechnologie, materiaalkunde en halfgeleideronderzoek.

Een van de opvallende kenmerken van de Atomic Force Microscope van het basistype is de multifunctionele meetmogelijkheden. Het ondersteunt een verscheidenheid aan geavanceerde scanning probe-technieken, waaronder Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM) en Magnetic Force Microscopy (MFM). Met deze multifunctionele metingen kunnen gebruikers niet alleen de oppervlaktemorfologie onderzoeken, maar ook de elektrische, piëzo-elektrische en magnetische eigenschappen van monsters met hoge gevoeligheid en ruimtelijke resolutie. Deze veelzijdigheid maakt de AFM ideaal voor uitgebreide karakterisering op nanoschaal in meerdere wetenschappelijke disciplines.

Het instrument werkt in verschillende modi om verschillende monstertypes en meetbehoeften te accommoderen. Het ondersteunt Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode, waardoor gebruikers de flexibiliteit hebben om de optimale scanningaanpak te kiezen. Tap Mode helpt schade aan het monster en slijtage van de tip te verminderen door periodiek contact te maken met het monsteroppervlak, terwijl Contact Mode continue interactie met het oppervlak mogelijk maakt, handig voor harde monsters. Lift Mode is vooral nuttig voor magnetische en elektrische krachtmetingen, en Phase Imaging Mode biedt inzicht in de materiaalsamenstelling en mechanische eigenschappen door faseverschuivingen tijdens het scannen te detecteren.

De AFM van het basistype beschikt over een uitgebreid beeldmonsterpuntbereik, van minimaal 32*32 punten tot maximaal 4096*4096 punten. Dit brede scala aan bemonsteringsresoluties stelt gebruikers in staat om een evenwicht te vinden tussen scansnelheid en beelddetail, afhankelijk van hun specifieke experimentele vereisten. Hogere bemonsteringspunten resulteren in meer gedetailleerde beelden, die ingewikkelde oppervlaktestructuren en kenmerken op nanoschaal met uitzonderlijke helderheid onthullen.

Om een uitgebreide oppervlakteanalyse te garanderen, maakt de microscoop gebruik van een XYZ drie-assige full-sample scanningmethode. Deze scantechniek biedt volledige driedimensionale beweging en positionering van het monsterplatform, waardoor precieze controle over de laterale (X- en Y-assen) en verticale (Z-as) richtingen mogelijk is. De drie-assige scanningmogelijkheid vergemakkelijkt de examinatie van complexe monstervormen en grote oppervlaktegebieden, waardoor de veelzijdigheid en bruikbaarheid van het instrument in diverse onderzoeksomgevingen wordt verbeterd.

Samenvattend is de Atomic Force Microscope van het basistype een krachtig en veelzijdig hulpmiddel dat sub-nanometer resolutie AFM-beeldvorming combineert met multifunctionele meetmogelijkheden, waaronder Magnetic Force Microscopy (MFM) en andere geavanceerde technieken. Het lage ruisniveau, de meerdere bedrijfsmodi, de hoge beeldmonsternamecapaciteit en het XYZ drie-assige scanningsysteem maken het een ideale keuze voor onderzoekers die op zoek zijn naar oppervlaktekarakterisering met hoge precisie. Of het nu gaat om het onderzoeken van elektrische, piëzo-elektrische, magnetische of topografische eigenschappen, deze AFM-microscoop levert betrouwbare en gedetailleerde gegevens, die doorbraken in de nanotechnologie en geavanceerd materiaalonderzoek ondersteunen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van het basistype
• Scannermethode: XYZ drie-assige full-sample scanning voor precieze topografiebeeldvorming op nanoschaal
• Multifunctionele metingen: Inclusief Electrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM) en Magnetic Force Microscope (MFM) mogelijkheden
• Scangebied: 100 μm * 100 μm * 10 μm en 30 μm * 30 μm * 5 μm opties beschikbaar
• Z-as ruisniveau: Ultra-laag ruisniveau van 0,04 nm zorgt voor beeldvorming met hoge resolutie
• Bedrijfsmodi: Ondersteunt Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode voor veelzijdige AFM-microscooptoepassingen
• Ontworpen als een Atomic Force Microscope van het basistype, geschikt voor gedetailleerde topografiebeeldvorming op nanoschaal

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomExplorer, een Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype, vervaardigd in China, is een geavanceerde microscoop op nanoschaal die is ontworpen om gedetailleerde oppervlaktestructuuranalyse te bieden met sub-nanometer resolutie AFM-mogelijkheden. Dit veelzijdige instrument is ideaal voor een breed scala aan producttoepassingsgelegenheden en -scenario's in zowel onderzoeks- als industriële omgevingen.

In academische en onderzoekslaboratoria wordt de AtomExplorer uitgebreid gebruikt voor materiaalkunde studies waarbij precieze oppervlaktekarakterisering cruciaal is. De mogelijkheid om in meerdere modi te werken - waaronder Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode - stelt onderzoekers in staat om de fysische en chemische eigenschappen van verschillende monsters met uitzonderlijke nauwkeurigheid te onderzoeken. De sub-nanometer resolutie AFM zorgt ervoor dat zelfs de kleinste oppervlaktekenmerken kunnen worden waargenomen en geanalyseerd, waardoor het onmisbaar is voor nanotechnologieonderzoek, halfgeleiderinspectie en biomoleculaire studies.

In de halfgeleiderindustrie speelt de AtomExplorer een cruciale rol bij kwaliteitscontrole en foutanalyse. De XYZ drie-assige full-sample scannermethode bestrijkt monsters tot Φ 25 mm, waardoor een uitgebreide oppervlaktestructuuranalyse wordt verkregen voor wafers, dunne films en micro-elektronische componenten. Het hoge beeldmonsterpuntbereik van 32*32 tot 4096*4096 maakt gedetailleerde beeldvorming en mapping van onregelmatigheden op nanoschaal mogelijk, wat cruciaal is voor de prestaties en betrouwbaarheid van het apparaat.

Voor industriële toepassingen zorgt het lage Z-as ruisniveau van 0,04 nm van de AtomExplorer voor stabiele en precieze metingen, zelfs in uitdagende omgevingen. Dit maakt het geschikt voor gebruik in gebieden zoals coatings, polymeren en nanocomposieten, waar de oppervlaktemorfologie de productkwaliteit beïnvloedt. De prijs is onderhandelbaar, waardoor bedrijven de investering kunnen afstemmen op hun specifieke behoeften en schaal.

Bovendien is de AtomExplorer een uitstekend hulpmiddel voor educatieve doeleinden en biedt het studenten en stagiairs praktische ervaring met geavanceerde AFM-technologie. Het robuuste ontwerp en de eenvoudige bediening maken het toegankelijk voor training in technieken voor oppervlaktekarakterisering op nanoschaal. Over het algemeen is de Truth Instruments AtomExplorer een betrouwbare, hoogwaardige microscoop op nanoschaal die voldoet aan de eisen van diverse toepassingsscenario's die een precieze oppervlaktestructuuranalyse en sub-nanometer resolutie AFM-beeldvorming vereisen.